JPH039525B2 - - Google Patents
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- JPH039525B2 JPH039525B2 JP59166493A JP16649384A JPH039525B2 JP H039525 B2 JPH039525 B2 JP H039525B2 JP 59166493 A JP59166493 A JP 59166493A JP 16649384 A JP16649384 A JP 16649384A JP H039525 B2 JPH039525 B2 JP H039525B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- adjustment signal
- track
- center line
- adjustment
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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- Adjustment Of The Magnetic Head Position Track Following On Tapes (AREA)
- Moving Of The Head To Find And Align With The Track (AREA)
- Digital Magnetic Recording (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は、両面ヘツドドライブ用アライメント
デイスクに係り磁気デイスクドライブ装置におけ
る上／下ヘツド組立品あるいはドライブ組立品の
調整に用いるアライメントデイスクで、特に
100TPi（トラツク／インチ）以上の高密度化され
たドライブ装置に好適であり、高精度の調整作業
が可能な両面ヘツドドライブ用アライメントデイ
スクに関するものである。
デイスクに係り磁気デイスクドライブ装置におけ
る上／下ヘツド組立品あるいはドライブ組立品の
調整に用いるアライメントデイスクで、特に
100TPi（トラツク／インチ）以上の高密度化され
たドライブ装置に好適であり、高精度の調整作業
が可能な両面ヘツドドライブ用アライメントデイ
スクに関するものである。
従来例である、BASF社出願に係る特公昭59−
7142号公報に述べている「調整兼コントロール用
磁気記録円板」には、トラツク径調整信号が書き
込まれており、ドライブ装置におけるトラツク径
方向の調整は可能なものであつた。
7142号公報に述べている「調整兼コントロール用
磁気記録円板」には、トラツク径調整信号が書き
込まれており、ドライブ装置におけるトラツク径
方向の調整は可能なものであつた。
しかしながら、このようなものを含め、一般的
に、磁気デイスクドライブ装置におけるデータの
互換性のため必要な、トラツク径調整信号，イン
デツクスタイミング調整信号，アジマス調整信号
などを全て有している訳ではなく、高密度化され
たドライブ装置のデータ互換性の保障が、未だ十
全でないという、さらに改善すべき余地を残して
いるものということができる。
に、磁気デイスクドライブ装置におけるデータの
互換性のため必要な、トラツク径調整信号，イン
デツクスタイミング調整信号，アジマス調整信号
などを全て有している訳ではなく、高密度化され
たドライブ装置のデータ互換性の保障が、未だ十
全でないという、さらに改善すべき余地を残して
いるものということができる。
次に、また、従来例に係るアライメントデイス
ク上の信号の配置を示す平面図である第５図を用
いて、他の従来例を説明する。
ク上の信号の配置を示す平面図である第５図を用
いて、他の従来例を説明する。
すなわち、アライメントデイスク５０には、外
周側のトラツクにインデツクスタイミング調整信
号５１を設け、中心部のトラツクに、トラツク径
調整信号５２として中心軸５３より、規定寸法で
ある略ε＝0.1mm偏心させて基準径より略δ／２
＝0.075mmだけ大きい径大信号５４と、同一寸法
だけ小さい径小信号５５とを設けて、いわゆるキ
ヤツツアイ信号で検知する方法を用い、内周側の
トラツクにアジマス調整信号５６を、CW信号５
７，CCW信号５８により設けてあり、IDXはイ
ンデツクスタイミング検知点である。
周側のトラツクにインデツクスタイミング調整信
号５１を設け、中心部のトラツクに、トラツク径
調整信号５２として中心軸５３より、規定寸法で
ある略ε＝0.1mm偏心させて基準径より略δ／２
＝0.075mmだけ大きい径大信号５４と、同一寸法
だけ小さい径小信号５５とを設けて、いわゆるキ
ヤツツアイ信号で検知する方法を用い、内周側の
トラツクにアジマス調整信号５６を、CW信号５
７，CCW信号５８により設けてあり、IDXはイ
ンデツクスタイミング検知点である。
なお、CW信号というのは、時計回り方向に角
度を付けてある信号、CCW信号というのは、反
時計回り方向に角度を付けてある信号である。
度を付けてある信号、CCW信号というのは、反
時計回り方向に角度を付けてある信号である。
また、アライメントデイスク５０の裏面にも、
略同一の信号が書き込まれているものである。
略同一の信号が書き込まれているものである。
本方式に係るものを用いれば、ドライブ組立品
の調整チエツクは可能であるが、後述する第７図
に示す上／下ヘツド組立品の上，下のヘツドのト
ラツク径方向（Ｘ方向），インデツクスタイミン
グ方向（Ｙ方向），アジマス方向（θ方向）の調
整信号が、各々別々のトラツクに入つており、特
に高密度化されて、Ｘ，Ｙ，θ方向の組立精度を
要求される100TPiクラス以上用の上／下ヘツド
組立品を組立てる場合に、例えばＸ方向の微調整
により、少なからず、Ｙ，θ方向も変化するとい
う現象を生じ、要求される組立精度に組立てるの
に、長大な時間を必要とし、また組立て精度を向
上させようとすると、組立時間が幾何級数的に増
大するために、あるレベル以上の組立精度が実現
できないという欠点があり、生産性向上の面より
改良が望まれていたものである。
の調整チエツクは可能であるが、後述する第７図
に示す上／下ヘツド組立品の上，下のヘツドのト
ラツク径方向（Ｘ方向），インデツクスタイミン
グ方向（Ｙ方向），アジマス方向（θ方向）の調
整信号が、各々別々のトラツクに入つており、特
に高密度化されて、Ｘ，Ｙ，θ方向の組立精度を
要求される100TPiクラス以上用の上／下ヘツド
組立品を組立てる場合に、例えばＸ方向の微調整
により、少なからず、Ｙ，θ方向も変化するとい
う現象を生じ、要求される組立精度に組立てるの
に、長大な時間を必要とし、また組立て精度を向
上させようとすると、組立時間が幾何級数的に増
大するために、あるレベル以上の組立精度が実現
できないという欠点があり、生産性向上の面より
改良が望まれていたものである。
本発明は、上記の要求により、100TPiクラス
以上用の上／下ヘツド組立品を、生産性よく組立
て調整するように、同一トラツク上にトラツク径
方向（Ｘ方向），インデツクスタイミング方向
（Ｙ方向），アジマス方向（θ方向）の調整信号
を、適正に配置して、例えばＸ方向の微調整で生
じるＹ，θ方向の変化も同時に検知できるように
し、これに加えて、両面ヘツドドライブを調整す
る場合に生じるアライメントデイスクチヤツキン
グ時の誤差の影響をなくして、組立時間の短縮
化，組立精度の向上を図れる、両面ヘツドドライ
ブ用アライメントデイスクの提供を、その目的と
するものである。
以上用の上／下ヘツド組立品を、生産性よく組立
て調整するように、同一トラツク上にトラツク径
方向（Ｘ方向），インデツクスタイミング方向
（Ｙ方向），アジマス方向（θ方向）の調整信号
を、適正に配置して、例えばＸ方向の微調整で生
じるＹ，θ方向の変化も同時に検知できるように
し、これに加えて、両面ヘツドドライブを調整す
る場合に生じるアライメントデイスクチヤツキン
グ時の誤差の影響をなくして、組立時間の短縮
化，組立精度の向上を図れる、両面ヘツドドライ
ブ用アライメントデイスクの提供を、その目的と
するものである。
本発明に係る両面ヘツドドライブ用アライメン
トデイスクの構成は、少なくとも、一つのデイス
クに対して、上面および下面の二つのヘツドを有
する磁気デイスクドライブを調整する両面ヘツド
ドライブ用アライメントデイスクにおいて、(イ)ト
ラツク径調整信号として、規定の調整信号トラツ
ク中心線から幾何学的に交番に内周側と外周側と
へ延びる内周側信号，外周側信号を配置し、ま
た、(ロ)インデツクスタイミング調整信号として、
調整信号トラツク中心線上でインデツクスタイミ
ング検知後の規定時間後に現われるタイミング信
号を配置するようにし、さらに、(ハ)アジマス調整
信号として、調整信号トラツク中心線上で中心軸
より延びる各半径線と時間回りで規定の交角を有
するＲ／Ｗヘツドで書き込まれたCW信号と、反
時間回りで規定の交角を有するＲ／Ｗヘツドで書
き込まれたCCW信号を配置するようにしたアラ
イメントデイスクであつて、前記(イ)、(ロ)、(ハ)の各
信号をデイスクの上、下両面に設け、かつ前記ト
ラツク径調整信号として、規定の調整信号トラツ
ク中心線から幾何学的に交番に内周側と外周側と
へ延びて配置された当該内周側信号と外周側信号
を一対として、４〜96対を、中心軸に関して中心
対称に設け、さらに前記アジマス調整信号とし
て、調整信号トラツク中心線上で中心より延びる
各半径線と時間回りで規定の交角を有するＲ／Ｗ
ヘツドで書き込まれたCW信号と、反時間回りで
規定の交角を有するＲ／Ｗヘツドで書き込まれた
CCW信号の配置における当該CW信号とCCW信
号とを一組として、４〜96組を、中心軸に関して
中心対称に設けたことを特徴とするものである。
なお、本発明においては、前記トラツク径調整信
号およびアジマス調整信号の数を、試作実験によ
り実用に供し得る範囲を選択して各々４〜96対お
よび４〜96組とした。
トデイスクの構成は、少なくとも、一つのデイス
クに対して、上面および下面の二つのヘツドを有
する磁気デイスクドライブを調整する両面ヘツド
ドライブ用アライメントデイスクにおいて、(イ)ト
ラツク径調整信号として、規定の調整信号トラツ
ク中心線から幾何学的に交番に内周側と外周側と
へ延びる内周側信号，外周側信号を配置し、ま
た、(ロ)インデツクスタイミング調整信号として、
調整信号トラツク中心線上でインデツクスタイミ
ング検知後の規定時間後に現われるタイミング信
号を配置するようにし、さらに、(ハ)アジマス調整
信号として、調整信号トラツク中心線上で中心軸
より延びる各半径線と時間回りで規定の交角を有
するＲ／Ｗヘツドで書き込まれたCW信号と、反
時間回りで規定の交角を有するＲ／Ｗヘツドで書
き込まれたCCW信号を配置するようにしたアラ
イメントデイスクであつて、前記(イ)、(ロ)、(ハ)の各
信号をデイスクの上、下両面に設け、かつ前記ト
ラツク径調整信号として、規定の調整信号トラツ
ク中心線から幾何学的に交番に内周側と外周側と
へ延びて配置された当該内周側信号と外周側信号
を一対として、４〜96対を、中心軸に関して中心
対称に設け、さらに前記アジマス調整信号とし
て、調整信号トラツク中心線上で中心より延びる
各半径線と時間回りで規定の交角を有するＲ／Ｗ
ヘツドで書き込まれたCW信号と、反時間回りで
規定の交角を有するＲ／Ｗヘツドで書き込まれた
CCW信号の配置における当該CW信号とCCW信
号とを一組として、４〜96組を、中心軸に関して
中心対称に設けたことを特徴とするものである。
なお、本発明においては、前記トラツク径調整信
号およびアジマス調整信号の数を、試作実験によ
り実用に供し得る範囲を選択して各々４〜96対お
よび４〜96組とした。
本発明に係る両面ヘツドドライブ用アライメン
トデイスクの各実施例を、各図を参照して説明す
る。
トデイスクの各実施例を、各図を参照して説明す
る。
まず、第１図は、本発明の一実施例に係る両面
ヘツドドライブ用アライメントデイスク上の信号
の配置を示す平面図、第２図は、第１図のアライ
メントデイスクを用いた場合の調整されるべき
上、下ヘツド組立品での再生波形をオシロスコー
プ上に映した状態図である。
ヘツドドライブ用アライメントデイスク上の信号
の配置を示す平面図、第２図は、第１図のアライ
メントデイスクを用いた場合の調整されるべき
上、下ヘツド組立品での再生波形をオシロスコー
プ上に映した状態図である。
第１図において、両面ヘツドドライブ用アライ
メントデイスク１の調整信号トラツク中心線２上
には、(イ)に係るトラツク径調整信号１０として、
調整信号トラツク中心線２から幾何学的に交番に
内周側と外周側へ延びる内周側信号１１、外周側
信号１２を１対として８対、中心軸３に関して中
心対称に設けてある。
メントデイスク１の調整信号トラツク中心線２上
には、(イ)に係るトラツク径調整信号１０として、
調整信号トラツク中心線２から幾何学的に交番に
内周側と外周側へ延びる内周側信号１１、外周側
信号１２を１対として８対、中心軸３に関して中
心対称に設けてある。
また、(ロ)に係るインデツクスタイミング調整信
号２０として、調整信号トラツク中心線２上で、
インデツクスタイミング検知点（IDX）２２より
規定時間Ｔ（第２図参照）後にタイミング信号２
１を配置してある。
号２０として、調整信号トラツク中心線２上で、
インデツクスタイミング検知点（IDX）２２より
規定時間Ｔ（第２図参照）後にタイミング信号２
１を配置してある。
さらに、(ハ)に係るアジマス調整信号３０とし
て、調整信号トラツク中心線２上で、中心軸３よ
り延びる各半径線ｌと、時間回りで規定の交角
α′，αを有するＲ／Ｗヘツドで書き込まれたCW
信号３１，反時計回りで規定の交角α，α′を有す
るＲ／Ｗヘツドで書き込まれたCCW信号３２を
１ブロツク対として、上記８対のトラツク径調整
信号１０と交互に８対配置してある。
て、調整信号トラツク中心線２上で、中心軸３よ
り延びる各半径線ｌと、時間回りで規定の交角
α′，αを有するＲ／Ｗヘツドで書き込まれたCW
信号３１，反時計回りで規定の交角α，α′を有す
るＲ／Ｗヘツドで書き込まれたCCW信号３２を
１ブロツク対として、上記８対のトラツク径調整
信号１０と交互に８対配置してある。
しかして、上述の交角α′，αというのは、中心
軸３と各半径線ｌとを結ぶ線と信号書き込みヘツ
ドのギヤツプの長手方向線とのなす角度である。
軸３と各半径線ｌとを結ぶ線と信号書き込みヘツ
ドのギヤツプの長手方向線とのなす角度である。
また、両面ヘツドドライブ用アライメントデイ
スク１の裏面にも略同一の信号が書き込まれてい
るものである。
スク１の裏面にも略同一の信号が書き込まれてい
るものである。
本構成による両面ヘツドドライブ用アライメン
トデイスク１は、アライメント信号書込み装置の
略示斜視図である第６図に示す信号書込み装置６
０によつて信号書込みが行われるものである。
トデイスク１は、アライメント信号書込み装置の
略示斜視図である第６図に示す信号書込み装置６
０によつて信号書込みが行われるものである。
すなわち、両面ヘツドドライブ用アライメント
デイスク１は、シヤフト６１で回転支持されるハ
ブ受け部６２にチヤツクされ、シヤフト６１の中
心と信号書き込みヘツド６５との距離Ｌを、測長
機Ａ６４を用いて光学的に測定可能にし、書き込
み時には、信号書き込み装置６０に、両面ヘツド
ドライブ用アライメントデイスク１を装着した状
態で寸法測定可能とするように、別の測長機Ｂ６
３が配置されており、再現性の高い信号書込み装
置６０としてある。
デイスク１は、シヤフト６１で回転支持されるハ
ブ受け部６２にチヤツクされ、シヤフト６１の中
心と信号書き込みヘツド６５との距離Ｌを、測長
機Ａ６４を用いて光学的に測定可能にし、書き込
み時には、信号書き込み装置６０に、両面ヘツド
ドライブ用アライメントデイスク１を装着した状
態で寸法測定可能とするように、別の測長機Ｂ６
３が配置されており、再現性の高い信号書込み装
置６０としてある。
ここで、本実施例で示す両面ヘツドドライブ用
アライメントデイスク１を用いて、第７図に示す
上／下ヘツド組立品７０を調整する場合を説明す
る。
アライメントデイスク１を用いて、第７図に示す
上／下ヘツド組立品７０を調整する場合を説明す
る。
しかして、第７図の(イ)は、上／下ヘツド組立品
の側断面図、同(ロ)は、(イ)のＰ方向透視図である。
の側断面図、同(ロ)は、(イ)のＰ方向透視図である。
すなわち、第７図には、上／下ヘツド組立品７
０に、100TPiクラスで要求される組立精度をＰ
方向の透視状態で示しており、下ヘツド７１と上
ヘツド７２とは、トラツク径方向（Ｘ方向）は、
ｘ＝±10μｍ以内、インデツクスタイミング方向
（Ｙ方向）は、ｙ＝±50μｍ以内、アジマス方向
（θ方向）は、中心軸３より伸びる半径線ｌを基
準として、Ｒ／ＷコアのギヤツプをθL，θU＝±
12′以内に調整組立てする必要がある。
０に、100TPiクラスで要求される組立精度をＰ
方向の透視状態で示しており、下ヘツド７１と上
ヘツド７２とは、トラツク径方向（Ｘ方向）は、
ｘ＝±10μｍ以内、インデツクスタイミング方向
（Ｙ方向）は、ｙ＝±50μｍ以内、アジマス方向
（θ方向）は、中心軸３より伸びる半径線ｌを基
準として、Ｒ／ＷコアのギヤツプをθL，θU＝±
12′以内に調整組立てする必要がある。
そこで、調整しようとする上／下ヘツド組立品
７０を、調整用ドライブに組込み、両面ヘツドド
ライブ用アライメントデイスク１を装着して、
上，下ヘツド各々よりの出力を、さきのオシロス
コープ４０上に映せば、そのインデツクスタイミ
ングよりの先頭部分（1/8周分）のパターンは、
第２図に示すものとなる。
７０を、調整用ドライブに組込み、両面ヘツドド
ライブ用アライメントデイスク１を装着して、
上，下ヘツド各々よりの出力を、さきのオシロス
コープ４０上に映せば、そのインデツクスタイミ
ングよりの先頭部分（1/8周分）のパターンは、
第２図に示すものとなる。
前後したけれども、第２図の上側は上ヘツド、
下側は下ヘツドの位置関係を電気的に表示してお
り、次のことを判別できるものである。
下側は下ヘツドの位置関係を電気的に表示してお
り、次のことを判別できるものである。
(イ) トラツク径方向（Ｘ方向）は、VRLA／VRLBと
VRUA／VRUBとの関係より、ｘ＝±10μｍに対して
許容されるか否か。
VRUA／VRUBとの関係より、ｘ＝±10μｍに対して
許容されるか否か。
(ロ) インデツクスタイミング方向（Ｙ方向）は、
タイミング信号２１の立上がり点の上、下ヘツド
におけるずれ量Δtより、ｙ＝±50μｍ以内に対し
て許容されるか否か。
タイミング信号２１の立上がり点の上、下ヘツド
におけるずれ量Δtより、ｙ＝±50μｍ以内に対し
て許容されるか否か。
(ハ) アジマス方向（θ方向）は、V〓LA／V〓LBと
V〓UA／V〓UBとの関係より、上、下各々のヘツドの
Ｒ／Ｗギヤツプのアジマス角θL，θU＝±12′以内
に対して許容されか否か。
V〓UA／V〓UBとの関係より、上、下各々のヘツドの
Ｒ／Ｗギヤツプのアジマス角θL，θU＝±12′以内
に対して許容されか否か。
したがつて、Ｘ，Ｙ，θ方向の組立精度を、一
つのオシロスコープ４０上に映し出すことができ
るものである。
つのオシロスコープ４０上に映し出すことができ
るものである。
一般的に、上／下ヘツド組立品で、Ｘ，Ｙ，θ
方向を微調整する場合の例として、例えばＸ方向
を微調整すれば、必ずＹ，θ方向の精度も変化す
るために、このＸ，Ｙ，θ方向を、同一のオシロ
スコープ４０上で同時にチエツクできることは、
上／下ヘツドを仮組立てをして調整する時間を大
幅に短縮化することができ、あわせて100TPiク
ラスより高密度化した場合に要求される、より高
精度組立の実現が可能となる。
方向を微調整する場合の例として、例えばＸ方向
を微調整すれば、必ずＹ，θ方向の精度も変化す
るために、このＸ，Ｙ，θ方向を、同一のオシロ
スコープ４０上で同時にチエツクできることは、
上／下ヘツドを仮組立てをして調整する時間を大
幅に短縮化することができ、あわせて100TPiク
ラスより高密度化した場合に要求される、より高
精度組立の実現が可能となる。
例えば、100TPiクラスでの実施例では、既述
の第５図で示す従来方式では、20〜30分間、１台
の上／下ヘツド組立品を第７図の組立精度に調整
するのに要していたが、本実施例に係る第１図の
両面ヘツドドライブ用アライメントデイスクを用
いる方式においては、所要時間が３〜10分と、大
幅に短縮化できたものである。
の第５図で示す従来方式では、20〜30分間、１台
の上／下ヘツド組立品を第７図の組立精度に調整
するのに要していたが、本実施例に係る第１図の
両面ヘツドドライブ用アライメントデイスクを用
いる方式においては、所要時間が３〜10分と、大
幅に短縮化できたものである。
ところで、第８図に示すように、一般に、アラ
イメントデイスク製作時の中心軸O1と、実際に
このアライメントデイスクを用いて両面ヘツドド
ライブを調整する場合の中心軸O2とは同一には
ならず、アライメントデイスクチヤツキング時の
誤差δを生じ、したがつてアライメント信号Ａの
記録されている半径をｒとして、A′点の信号で
は、θ＝tan-1（ｒ／δ）の角度誤差をアジマス調整 信号に生じる。ちなみに、具体例として、３イン
チCFD規格のトラツク３９で計算すれば、r39＝
22.594mm、チヤツキング誤差δ＝0.01mmとして、
θ＝tan-1（0.01／22.594）＝1.5′のアジマス角度誤
差を生じる。そして、これは両面ヘツドドライブ
の組立精度±12′に対して無視できない量であり、
一般には、両面ヘツドドライブの互換性維持のた
め、組立精度を±10.5′へ厳しくする必要があり、
余分な組立調整時間を生じることは否めない。
イメントデイスク製作時の中心軸O1と、実際に
このアライメントデイスクを用いて両面ヘツドド
ライブを調整する場合の中心軸O2とは同一には
ならず、アライメントデイスクチヤツキング時の
誤差δを生じ、したがつてアライメント信号Ａの
記録されている半径をｒとして、A′点の信号で
は、θ＝tan-1（ｒ／δ）の角度誤差をアジマス調整 信号に生じる。ちなみに、具体例として、３イン
チCFD規格のトラツク３９で計算すれば、r39＝
22.594mm、チヤツキング誤差δ＝0.01mmとして、
θ＝tan-1（0.01／22.594）＝1.5′のアジマス角度誤
差を生じる。そして、これは両面ヘツドドライブ
の組立精度±12′に対して無視できない量であり、
一般には、両面ヘツドドライブの互換性維持のた
め、組立精度を±10.5′へ厳しくする必要があり、
余分な組立調整時間を生じることは否めない。
これに対し、本発明においては、第１図に示す
ように、トラツク径調整信号１０として、規定の
調整信号トラツク中心線２から幾何学的に交番に
内周側と外周側とへ延びて配置された内周側信号
１１と外周側信号１２とを一対として、４〜96対
を、中心軸３に関して中心対称に設け、さらに前
記アジマス調整信号３０として、調整信号トラツ
ク中心線２上で中心よる延びる各半径線ｌと時計
回りで規定の交角α，α′を有するＲ／Ｗヘツドで
書き込まれたCW信号３１と、反時計回りで規定
の交角α，α′を有するＲ／Ｗヘツドで書き込まれ
たCCW信号３２の配置における当該CW信号３
１とCCW信号３２を一組として、４〜96組を、
中心軸３に関して中心対称に設けたものであつ
て、前記４〜96組のアジマス調整信号３０の平均
値を用いることで当該アジマス調整信号３０に発
生する角度誤差、すなわちアライメントデイスク
を用いて両面ヘツドドライブを調整する場合に生
じるアライメントデイスクチヤツキング時の誤差
の影響をなくすことができる。
ように、トラツク径調整信号１０として、規定の
調整信号トラツク中心線２から幾何学的に交番に
内周側と外周側とへ延びて配置された内周側信号
１１と外周側信号１２とを一対として、４〜96対
を、中心軸３に関して中心対称に設け、さらに前
記アジマス調整信号３０として、調整信号トラツ
ク中心線２上で中心よる延びる各半径線ｌと時計
回りで規定の交角α，α′を有するＲ／Ｗヘツドで
書き込まれたCW信号３１と、反時計回りで規定
の交角α，α′を有するＲ／Ｗヘツドで書き込まれ
たCCW信号３２の配置における当該CW信号３
１とCCW信号３２を一組として、４〜96組を、
中心軸３に関して中心対称に設けたものであつ
て、前記４〜96組のアジマス調整信号３０の平均
値を用いることで当該アジマス調整信号３０に発
生する角度誤差、すなわちアライメントデイスク
を用いて両面ヘツドドライブを調整する場合に生
じるアライメントデイスクチヤツキング時の誤差
の影響をなくすことができる。
次に、第３図は、他の実施例に係る両面ヘツド
ドライブ用アライメントデイスク上の信号の配置
を示す平面図、第４図は、第３図のアライメント
デイスクを用いた場合の調整されるべき上、下ヘ
ツド組立品での再生波形をオシロスコープ上に映
した状態図である。
ドライブ用アライメントデイスク上の信号の配置
を示す平面図、第４図は、第３図のアライメント
デイスクを用いた場合の調整されるべき上、下ヘ
ツド組立品での再生波形をオシロスコープ上に映
した状態図である。
しかして、この第３図に示すものは、第１図で
示す調整信号トラツク中心線２のほかに、調整信
号トラツク中心線Ａ４を設け、この調整信号トラ
ツク中心線Ａ４上には、トラツク径調整信号１０
のみを配置したことを特徴とするものである。
示す調整信号トラツク中心線２のほかに、調整信
号トラツク中心線Ａ４を設け、この調整信号トラ
ツク中心線Ａ４上には、トラツク径調整信号１０
のみを配置したことを特徴とするものである。
本実施例に係る調整信号トラツク中心線Ａ４上
に、上／下ヘツド組立品７０を移動させれば、両
面ヘツドドライブ用アライメントデイスク１Ａの
一周の信号を用いて、オシロスコープ上に、第４
図に示す上／下ヘツドのトラツク径方向（Ｘ方
向）のみの信号が表示され、パターン認識によつ
て、最も高精度が要求されるトラツク径方向（Ｘ
方向）の精度であるｘ＝±10μｍ以内を容易に判
別できるものである。
に、上／下ヘツド組立品７０を移動させれば、両
面ヘツドドライブ用アライメントデイスク１Ａの
一周の信号を用いて、オシロスコープ上に、第４
図に示す上／下ヘツドのトラツク径方向（Ｘ方
向）のみの信号が表示され、パターン認識によつ
て、最も高精度が要求されるトラツク径方向（Ｘ
方向）の精度であるｘ＝±10μｍ以内を容易に判
別できるものである。
また、第１図では、インデツクスタイミング調
整信号に係る規定時間Ｔを規定するものとして、
特別に信号を設けたが、この規定時間Ｔは、例え
ば、トラツク径調整信号１０の立上がり点、ある
いはアジマス調整信号３０の立上り点を用いるこ
とも可能である。
整信号に係る規定時間Ｔを規定するものとして、
特別に信号を設けたが、この規定時間Ｔは、例え
ば、トラツク径調整信号１０の立上がり点、ある
いはアジマス調整信号３０の立上り点を用いるこ
とも可能である。
さらに第１〜４図の実施例では、上／下ヘツド
組立品７０の調整について説明したが、これは、
同時にドライブ組立品での調整・点検に用いるこ
とができるのは勿論である。
組立品７０の調整について説明したが、これは、
同時にドライブ組立品での調整・点検に用いるこ
とができるのは勿論である。
本発明に係る上記実施例によれば、両面ヘツド
ドライブ用アライメントデイスク１，１Ａの一つ
のトラツクである調整信号トラツク中心線２上
に、トラツク径方向（Ｘ方向）、インデツクスタ
イミング方向（Ｙ方向）、アジマス方向（θ方向）
の三つの方向の調整信号が書き込まれており、
100TPi以上の高密度化されたドライブ装置で用
いる上／下ヘツド組立品に要求される組立精度を
一つのオシロスコープ上に表示でき、したがつ
て、Ｘ，Ｙ，θの各々の要求精度に対する現在の
調整精度をフイードバツクできるので、上／下ヘ
ツドを組立・調整する時間を大幅に短縮可能であ
り、あわせて、今後さらに高密度化の要求が生じ
る場合にも利用できる、高精度な上／下ヘツド組
立品の提供が可能である。
ドライブ用アライメントデイスク１，１Ａの一つ
のトラツクである調整信号トラツク中心線２上
に、トラツク径方向（Ｘ方向）、インデツクスタ
イミング方向（Ｙ方向）、アジマス方向（θ方向）
の三つの方向の調整信号が書き込まれており、
100TPi以上の高密度化されたドライブ装置で用
いる上／下ヘツド組立品に要求される組立精度を
一つのオシロスコープ上に表示でき、したがつ
て、Ｘ，Ｙ，θの各々の要求精度に対する現在の
調整精度をフイードバツクできるので、上／下ヘ
ツドを組立・調整する時間を大幅に短縮可能であ
り、あわせて、今後さらに高密度化の要求が生じ
る場合にも利用できる、高精度な上／下ヘツド組
立品の提供が可能である。
また、同一の両面ヘツドドライブ用アライメン
トデイスクを用いて、ドライブ組立品の調整・点
検が可能なのは勿論である。
トデイスクを用いて、ドライブ組立品の調整・点
検が可能なのは勿論である。
本発明によるときは、100TPiクラス以上用の
上／下ヘツド組立品を生産性よく組立・調整すべ
く、同一トラツク上にトラツク径方向（Ｘ方向）、
インデツクスタイミング方向（Ｙ方向）、アジマ
ス方向（θ方向）の調整信号を適正に配置して、
例えばＸ方向の微調整で生じるＹ，θ方向の変化
も同時に検知できるようにし、これに加えて、両
面ヘツドドライブを調整する場合に生じるアライ
メントデイスクチヤツキング時の誤差の影響をな
くして、組立時間の短縮化，組立精度の向上など
を図れる両面ヘツドドライブ用アライメントデイ
スクを提供することができるもので、実用的効果
にすぐれた発明と称しうる。
上／下ヘツド組立品を生産性よく組立・調整すべ
く、同一トラツク上にトラツク径方向（Ｘ方向）、
インデツクスタイミング方向（Ｙ方向）、アジマ
ス方向（θ方向）の調整信号を適正に配置して、
例えばＸ方向の微調整で生じるＹ，θ方向の変化
も同時に検知できるようにし、これに加えて、両
面ヘツドドライブを調整する場合に生じるアライ
メントデイスクチヤツキング時の誤差の影響をな
くして、組立時間の短縮化，組立精度の向上など
を図れる両面ヘツドドライブ用アライメントデイ
スクを提供することができるもので、実用的効果
にすぐれた発明と称しうる。
第１図は、本発明の一実施例に係る両面ヘツド
ドライブ用アライメントデイスク上の信号の配置
を示す平面図、第２図は、第１図のアライメント
デイスクを用いた場合の調整されるべき上，下ヘ
ツド組立品での再生波形をオシロスコープ上に映
した状態図、第３図は他の実施例に係る両面ヘツ
ドドライブ用アライメントデイスク上の信号の配
置を示す平面図、第４図は、第３図のアライメン
トデイスクを用いた場合の調整されるべき上／下
ヘツド組立品での再生波形をオシロスコープ上に
映した状態図、第５図は、従来のアライメントデ
イスク上の信号の配置を示す平面図、第６図は、
アライメント信号書込み装置の略示斜視図、第７
図の(イ)は、上／下ヘツド組立品の側断面図、同(ロ)
は、(イ)のＰ方向透視図、第８図は両面ヘツドドラ
イブ用アライメントデイスクを用いて両面ヘツド
ドライブを調整する場合に生じるアライメントデ
イスクチヤツキング時の誤差を説明するための部
分平面図である。 １，１Ａ……両面ヘツドドライブ用アライメン
トデイスク、２……調整信号トラツク中心線、３
……中心軸、４……調整信号トラツク中心線Ａ、
１０……トラツク径調整信号、１１……内周側信
号、１２……外周側信号、２０……インデツクス
タイミング調整信号、２１……タイミング信号、
２２……インデツクスタイミング検知点（IDX）、
３０……アジマス調整信号、３１……CW信号、
３２……CCW信号、ｌ……半径線、α，α′……
規定の交角、４０……オシロスコープ、６０……
信号書き込み装置、６１……シヤフト、６２……
ハブ受け部、６３……測長機Ｂ、６４……測長機
Ａ、６５……信号書込みヘツド、７０……上／下
ヘツド組立品、７１……下ヘツド、７２……上ヘ
ツド、O1……アライメントデイスク製作時の中
心軸、O2……両面ヘツドドライブを調整する場
合の中心軸、δ……アライメントデイスクチヤツ
キング時の誤差、Ａ，A′……アライメント信号、
ｒ……アライメント信号の記録されている半径、
θ……アジマス角度誤差。
ドライブ用アライメントデイスク上の信号の配置
を示す平面図、第２図は、第１図のアライメント
デイスクを用いた場合の調整されるべき上，下ヘ
ツド組立品での再生波形をオシロスコープ上に映
した状態図、第３図は他の実施例に係る両面ヘツ
ドドライブ用アライメントデイスク上の信号の配
置を示す平面図、第４図は、第３図のアライメン
トデイスクを用いた場合の調整されるべき上／下
ヘツド組立品での再生波形をオシロスコープ上に
映した状態図、第５図は、従来のアライメントデ
イスク上の信号の配置を示す平面図、第６図は、
アライメント信号書込み装置の略示斜視図、第７
図の(イ)は、上／下ヘツド組立品の側断面図、同(ロ)
は、(イ)のＰ方向透視図、第８図は両面ヘツドドラ
イブ用アライメントデイスクを用いて両面ヘツド
ドライブを調整する場合に生じるアライメントデ
イスクチヤツキング時の誤差を説明するための部
分平面図である。 １，１Ａ……両面ヘツドドライブ用アライメン
トデイスク、２……調整信号トラツク中心線、３
……中心軸、４……調整信号トラツク中心線Ａ、
１０……トラツク径調整信号、１１……内周側信
号、１２……外周側信号、２０……インデツクス
タイミング調整信号、２１……タイミング信号、
２２……インデツクスタイミング検知点（IDX）、
３０……アジマス調整信号、３１……CW信号、
３２……CCW信号、ｌ……半径線、α，α′……
規定の交角、４０……オシロスコープ、６０……
信号書き込み装置、６１……シヤフト、６２……
ハブ受け部、６３……測長機Ｂ、６４……測長機
Ａ、６５……信号書込みヘツド、７０……上／下
ヘツド組立品、７１……下ヘツド、７２……上ヘ
ツド、O1……アライメントデイスク製作時の中
心軸、O2……両面ヘツドドライブを調整する場
合の中心軸、δ……アライメントデイスクチヤツ
キング時の誤差、Ａ，A′……アライメント信号、
ｒ……アライメント信号の記録されている半径、
θ……アジマス角度誤差。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 少なくとも、一つのデイスクに対して、上面
および下面の二つのヘツドを有する磁気デイスク
ドライブを調整する両面ヘツドドライブ用アライ
メントデイスクにおいて、(イ)トラツク径調整信号
として、規定の調整信号トラツク中心線から幾何
学的に交番に内周側と外周側とへ延びる内周側信
号、外周側信号を配置し、また、(ロ)インデツクス
タイミング調整信号として、調整信号トラツク中
心線上でインデツクスタイミング検知後の規定時
間経過後に現れるようにタイミング信号を配置す
るようにし、さらに、(ハ)アジマス調整信号とし
て、調整信号トラツク中心線上で中心軸より延び
る各半経線と時間回りで規定の交角を有するＲ／
Ｗヘツドで書き込まれたCW信号と、反時間回り
で規定の交角を有するＲ／Ｗヘツドで書き込まれ
たCCW信号を配置するようにしたアライメント
デイスクであつて、前記(イ)、(ロ)、(ハ)の各信号をデ
イスクの上、下両面に設け、かつ前記トラツク径
調整信号として、規定の調整信号トラツク中心線
から幾何学的に交番に内周側と外周側とへ延びて
配置された内周側信号と外周側信号とを一対とし
て、４〜96対を、中心軸に関して中心対称に設
け、さらに前記アジマス調整信号として、調整信
号トラツク中心線上で中心より延びる各半径線と
時間回りで規定の交角を有するＲ／Ｗヘツドで書
き込まれたCW信号と、反時計回りで規定の交角
を有するＲ／Ｗヘツドで書き込まれたCCW信号
の配置における当該CW信号とCCW信号とを一
組として、４〜96組を、中心軸に関して中心対称
に設けたことを特徴とする両面ヘツドドライブ用
アライメントデイスク。 ２ 特許請求の範囲第１項記載のものにおいて、
インデツクスタイミング調整信号として、調整信
号トラツク中心線上でインデツクスタイミング検
知後の規定時間後に現われるようにタイミング信
号を配置するようにした当該規定時間として、ト
ラツク径調整信号あるいはアジマス調整信号の信
号立上がり点を利用するようにしたものである両
面ヘツドドライブ用アライメントデイスク。 ３ 特許請求の範囲第１項記載のものにおいて、
調整信号トラツク中心線におけるトラツク径調整
信号、インデツクスタイミング調整信号、アジマ
ス調整信号を設けたほかに、別のトラツク上に別
の調整信号トラツク中心線を設け、この別の調整
信号トラツクの中心線上には、トラツク径調整信
号のみを配置するようにしたものである両面ヘツ
ドドライブ用アライメントデイスク。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16649384A JPS6145409A (ja) | 1984-08-10 | 1984-08-10 | 両面ヘツドドライブ用アライメントデイスク |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16649384A JPS6145409A (ja) | 1984-08-10 | 1984-08-10 | 両面ヘツドドライブ用アライメントデイスク |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6145409A JPS6145409A (ja) | 1986-03-05 |
| JPH039525B2 true JPH039525B2 (ja) | 1991-02-08 |
Family
ID=15832396
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16649384A Granted JPS6145409A (ja) | 1984-08-10 | 1984-08-10 | 両面ヘツドドライブ用アライメントデイスク |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6145409A (ja) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62149020A (ja) * | 1985-12-24 | 1987-07-03 | Oki Electric Ind Co Ltd | アライメントデイスク |
| JPS62234221A (ja) * | 1986-04-04 | 1987-10-14 | Hitachi Ltd | 磁気デイスク駆動装置のトラツキング調整装置 |
| US4992893A (en) * | 1986-02-19 | 1991-02-12 | Hitachi, Ltd. | Alignment disk for magnetic disk driving apparatus and method and apparatus for verifying tracking error of the magnetic disk driving apparatus |
| JPS63306573A (ja) * | 1987-06-05 | 1988-12-14 | Sharp Corp | 情報記録円盤再生装置 |
| JP2712187B2 (ja) * | 1987-08-31 | 1998-02-10 | ソニー株式会社 | アライメント・ディスク |
| JP4018771B2 (ja) | 1997-03-17 | 2007-12-05 | 富士通株式会社 | 磁気ディスク、磁気記録再生方法及び磁気ディスク装置 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5942631A (ja) * | 1982-09-03 | 1984-03-09 | Hitachi Ltd | 磁気ヘツド位置測定用記録媒体 |
| JPS59107422A (ja) * | 1982-12-09 | 1984-06-21 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 磁気ヘツド位置測定用デイスク |
-
1984
- 1984-08-10 JP JP16649384A patent/JPS6145409A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6145409A (ja) | 1986-03-05 |
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