JPH04193268A - 超音波診断装置の遅延時間発生装置 - Google Patents
超音波診断装置の遅延時間発生装置Info
- Publication number
- JPH04193268A JPH04193268A JP2327825A JP32782590A JPH04193268A JP H04193268 A JPH04193268 A JP H04193268A JP 2327825 A JP2327825 A JP 2327825A JP 32782590 A JP32782590 A JP 32782590A JP H04193268 A JPH04193268 A JP H04193268A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- delay time
- normalized
- diagnostic apparatus
- delay
- equation
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 title description 2
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims description 21
- 238000002604 ultrasonography Methods 0.000 claims description 21
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 20
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 4
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 2
- 239000000523 sample Substances 0.000 abstract description 24
- 238000011084 recovery Methods 0.000 abstract 3
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 20
- 238000000034 method Methods 0.000 description 11
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 10
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 10
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 10
- 108700027089 Hirudo medicinalis macrolin Proteins 0.000 description 4
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 3
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 3
- 230000001186 cumulative effect Effects 0.000 description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 description 2
- 230000001131 transforming effect Effects 0.000 description 2
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 230000001934 delay Effects 0.000 description 1
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 1
- 238000001727 in vivo Methods 0.000 description 1
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 1
- 238000013139 quantization Methods 0.000 description 1
- 230000000717 retained effect Effects 0.000 description 1
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
- Ultra Sonic Daignosis Equipment (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、アレイ振動子を構成する各振動素子の送受信
号に遅延時間を与える超音波診断装置の遅延時間発生装
置に関する。
号に遅延時間を与える超音波診断装置の遅延時間発生装
置に関する。
[従来の技術]
医療の分野において、超音波を用いて生体内の断層像な
どを得る超音波診断装置か活用されている。
どを得る超音波診断装置か活用されている。
この超音波診断装置においては、−膜内にアレイ振動子
にて超音波の送受波か行われている。そして、アレイ振
動子を構成する複数の振動素子における各振動素子の送
受信号にそれぞれ異なる遅延時間を与えることにより、
超音波ビームの電子偏向や電子フォーカスが行われてい
る。例えば、電子走査の手法として、電子セクタ走査が
知られており、また電子フォーカスの手法として、ダイ
ナミックフォーカス法などが知られている。
にて超音波の送受波か行われている。そして、アレイ振
動子を構成する複数の振動素子における各振動素子の送
受信号にそれぞれ異なる遅延時間を与えることにより、
超音波ビームの電子偏向や電子フォーカスが行われてい
る。例えば、電子走査の手法として、電子セクタ走査が
知られており、また電子フォーカスの手法として、ダイ
ナミックフォーカス法などが知られている。
第6図には、超音波ビームの電子偏向及び電子フォーカ
スの概念が示されている。
スの概念が示されている。
第6図において、超音波の送受波は、直線上にN個配列
されたアレイ振動子10にて行われている。そして、ア
レイ振動子を構成する各振動素子10aには、それぞれ
送受信号の遅延を行う遅延器12aが設けられている。
されたアレイ振動子10にて行われている。そして、ア
レイ振動子を構成する各振動素子10aには、それぞれ
送受信号の遅延を行う遅延器12aが設けられている。
そして、i番目の振動素子10aに接続されている遅延
器12aに与えられる遅延時間は、例えば、次の第1式
で表すことができる。
器12aに与えられる遅延時間は、例えば、次の第1式
で表すことができる。
τi
= (f −(f2+ (i−Δp (m+1) /2
) 2−2Δpf (m+1)s inθ/2)l/2
)/C+K ・・・(第1式)
ただし、fは焦点距離、mは振動素子の総数、Δpは微
小振動素子間の間隔、θは超音波の偏向角度、Cは超音
波の媒体(例えば、生体)中における伝搬速度を示して
いる。また、Kは物理的に実現できない負の遅延時間を
避けるための正の定数である。
) 2−2Δpf (m+1)s inθ/2)l/2
)/C+K ・・・(第1式)
ただし、fは焦点距離、mは振動素子の総数、Δpは微
小振動素子間の間隔、θは超音波の偏向角度、Cは超音
波の媒体(例えば、生体)中における伝搬速度を示して
いる。また、Kは物理的に実現できない負の遅延時間を
避けるための正の定数である。
従って、このような第1式で求められる遅延時°間を各
振動素子に接続された遅延器に与えることにより、超音
波ビームをθ方向に偏向でき、かつ焦点距離fの位置で
超音波ビームの集束を行うことができる。
振動素子に接続された遅延器に与えることにより、超音
波ビームをθ方向に偏向でき、かつ焦点距離fの位置で
超音波ビームの集束を行うことができる。
ところで、従来の超音波診断装置では、上記第1式を予
め計算して遅延時間を求め、求められた遅延時間を例え
ばROMのような記憶装置に格納していた。そして、超
音波の送波及び受波毎にROMから遅延時間を読み出し
て上記遅延器12’aに与えていた。
め計算して遅延時間を求め、求められた遅延時間を例え
ばROMのような記憶装置に格納していた。そして、超
音波の送波及び受波毎にROMから遅延時間を読み出し
て上記遅延器12’aに与えていた。
ここで、理想的な条件の下で、記憶装置に格納される遅
延時間の情報量を以下に概算する。
延時間の情報量を以下に概算する。
まず、振動素子が128個あるとすると、各振動素子に
ついて遅延時間を保持する必要があるため、遅延時間は
128種類保持する必要がある。
ついて遅延時間を保持する必要があるため、遅延時間は
128種類保持する必要がある。
次に、焦点距離fについて考えると、超音波診断装置で
は送信時及び受信時に一般的にダイナミックフォーカス
が行われるため、例えばfについては32種類の遅延時
間が必要である。
は送信時及び受信時に一般的にダイナミックフォーカス
が行われるため、例えばfについては32種類の遅延時
間が必要である。
また、超音波ビームの偏向角度θが256方向設定され
ている場合、遅延時間は256種類必要 −である
。
ている場合、遅延時間は256種類必要 −である
。
そして、振動素子の間隔Δpについては、これは探触子
固有の値であり探触子の種類によって異なるため、例え
ば32種類の探触子を用いるためには、Δpについて3
2種類の遅延時間を保持する必要がある。
固有の値であり探触子の種類によって異なるため、例え
ば32種類の探触子を用いるためには、Δpについて3
2種類の遅延時間を保持する必要がある。
このような各パラメータについての組合せを考えると、
1つの遅延時間を10ビツトで表した場合、保持すべき
遅延時間の情報量は、40Mバイトになり、非常に大き
な情報量となる。
1つの遅延時間を10ビツトで表した場合、保持すべき
遅延時間の情報量は、40Mバイトになり、非常に大き
な情報量となる。
このように、理想的に遅延時間の情報量を計算すると、
大容量記憶装置が必要となり、また記憶装置へのアクセ
スに時間が要するなど不具合が生じる。
大容量記憶装置が必要となり、また記憶装置へのアクセ
スに時間が要するなど不具合が生じる。
そこで、従来においては、接続できる探触子の種類を減
らすと共に、それ以外のパラメータの種類を半分以下に
して、情報量を減らし、それを大容量のROMなどに格
納していたが、超音波診断精度を上げるための障害とな
っていた。
らすと共に、それ以外のパラメータの種類を半分以下に
して、情報量を減らし、それを大容量のROMなどに格
納していたが、超音波診断精度を上げるための障害とな
っていた。
上記問題を解決するために、特開平1〜193679号
で、保持すべき遅延時間の情報量を削減した遅延時間発
生装置が提案されている。
で、保持すべき遅延時間の情報量を削減した遅延時間発
生装置が提案されている。
この従来の装置を説明する前に、以下に第1式で示した
遅延時間計算式を別の数学的な表現に書き換える。
遅延時間計算式を別の数学的な表現に書き換える。
第7図には、X軸方向に沿うアレイ振動子と焦点Fとの
位置関係が幾何学的に示されている。
位置関係が幾何学的に示されている。
ここにおいて、0は超音波ビーム形成に係る中心点であ
り、Pは中心点OがらX隔てた振動素子の位置を示して
いる。
り、Pは中心点OがらX隔てた振動素子の位置を示して
いる。
図において、焦点Fと中心点0との間の距離(焦点距離
)fを半径として、焦点Fを中心に半径fの円弧を描く
と、この円弧は焦点Fに集束する超音波の波面と考える
ことができる。従って、各振動素子でこのような波面を
合成するには、図に示される円弧とX軸との間の距離に
相当する時間差を送受信号に付与すればよいことが理解
される。
)fを半径として、焦点Fを中心に半径fの円弧を描く
と、この円弧は焦点Fに集束する超音波の波面と考える
ことができる。従って、各振動素子でこのような波面を
合成するには、図に示される円弧とX軸との間の距離に
相当する時間差を送受信号に付与すればよいことが理解
される。
ここで、Pの位置にある振動素子について考える。なお
、図において、焦点Fと振動素子の位置Pとを含む直線
が円弧と交わる点がQで示されている。
、図において、焦点Fと振動素子の位置Pとを含む直線
が円弧と交わる点がQで示されている。
図において、距離■は、以下の第2式で示される。
PQ−f−(f +x −2xfsinθ)l/2
・・・(第2式) そして、超音波が距離−PQ−を伝搬する時間、すなわ
ちPの位置にある振動素子に付与する遅延時間τは、次
の第3式で示される。
・・・(第2式) そして、超音波が距離−PQ−を伝搬する時間、すなわ
ちPの位置にある振動素子に付与する遅延時間τは、次
の第3式で示される。
τ−P Q/C
−(f (f2+x2
一2x f s i nθ戸/2)/c・・・(第3式
) 従って、各振動素子についてこのτを求めることにより
、超音波の波面の合成が実現でき、超音波ビームの偏向
及び集束が行える。
) 従って、各振動素子についてこのτを求めることにより
、超音波の波面の合成が実現でき、超音波ビームの偏向
及び集束が行える。
さて、上述した特開平1−193679号で提案された
遅延時間発生装置では、上記第3式をXに関して3次の
項までマクロ−リン級数展開する手法により遅延時間の
発生を実現している。
遅延時間発生装置では、上記第3式をXに関して3次の
項までマクロ−リン級数展開する手法により遅延時間の
発生を実現している。
以下に、参考としてその計算式を示す。(この式の詳細
については特開平1−193679号参照) 1M(X、θ) 一τM(0,θ)十xτ ′(0,θ)+X2r しく0.θ)/2! M(0,θ)/3! =(a x +a x +a、x)/C・・・
(第4式) ただし、 am−cos2θ/(2f) al m5inθ そして、この従来の装置は、それぞれフィードバックル
ープをもつ3つの加算器と、各加算器毎に設けられた加
算係数(a 1〜a a )を発生するROMと、など
から構成され、前記3つの加算器を3段直列に接続して
上記第4式の計算が電気的に実現されている。
については特開平1−193679号参照) 1M(X、θ) 一τM(0,θ)十xτ ′(0,θ)+X2r しく0.θ)/2! M(0,θ)/3! =(a x +a x +a、x)/C・・・
(第4式) ただし、 am−cos2θ/(2f) al m5inθ そして、この従来の装置は、それぞれフィードバックル
ープをもつ3つの加算器と、各加算器毎に設けられた加
算係数(a 1〜a a )を発生するROMと、など
から構成され、前記3つの加算器を3段直列に接続して
上記第4式の計算が電気的に実現されている。
従って、この従来の遅延時間発生装置では、基本的に、
上記第4式における各Xの項の係数a1〜a3のみをR
OMに保持すればよいので、遅延時間発生に係る情報量
の削減が図れる。
上記第4式における各Xの項の係数a1〜a3のみをR
OMに保持すればよいので、遅延時間発生に係る情報量
の削減が図れる。
[発明が解決しようとする課題]
しかしながら、上記従来の遅延時間発生装置においては
、得られる遅延時間の精度が十分でないという問題があ
る。すなわち、マクロ−リン級数展開した後の第4式に
おいて、Xの絶対値か大きくなると求められる遅延時間
の精度が悪くなるという問題がある。
、得られる遅延時間の精度が十分でないという問題があ
る。すなわち、マクロ−リン級数展開した後の第4式に
おいて、Xの絶対値か大きくなると求められる遅延時間
の精度が悪くなるという問題がある。
ここで、マクロ−リン級数展開の手法による遅延時間誤
差を求めるため、上記第3式と上記第4式に、f=1c
lomm、lxl−25mm、 θ−〇@を代入し、
更に超音波の伝搬速度Cを1.53 X 10’mm/
n sとして両者を比較すると、遅延時間発生に係る
誤差は31nsと求められる。
差を求めるため、上記第3式と上記第4式に、f=1c
lomm、lxl−25mm、 θ−〇@を代入し、
更に超音波の伝搬速度Cを1.53 X 10’mm/
n sとして両者を比較すると、遅延時間発生に係る
誤差は31nsと求められる。
また、上記特開平1−193679号の遅延時間発生装
置では、上記第3式の級数展開の手法として、ルジャン
ドル多項式を用いる方法も提案されている。しかしなが
ら、上記各値を代入した結論を述べると、この方法によ
っても、その誤差は38n sである。
置では、上記第3式の級数展開の手法として、ルジャン
ドル多項式を用いる方法も提案されている。しかしなが
ら、上記各値を代入した結論を述べると、この方法によ
っても、その誤差は38n sである。
ところで、一般に、送受信号の遅延には上述したように
遅延器などの遅延素子が用いられている。
遅延器などの遅延素子が用いられている。
そして、遅延素子における最小遅延時間である量子化さ
れた遅延単位は、一般に、送受波される超音波の周期の
10分の1程度に短くする必要がある。
れた遅延単位は、一般に、送受波される超音波の周期の
10分の1程度に短くする必要がある。
従って、遅延時間発生装置にて発生される遅延時間の誤
差は、上記量子化された最小単位時間内に収まれば実際
上問題は生じない。
差は、上記量子化された最小単位時間内に収まれば実際
上問題は生じない。
このような前提の下、例えば、超音波診断装置において
5MHzの超音波を用いる場合には、上記遅延素子の量
子化単位時間は20ns程度にする必要がある。
5MHzの超音波を用いる場合には、上記遅延素子の量
子化単位時間は20ns程度にする必要がある。
しかしながら、上記従来の装置で発生される遅延時間の
誤差は、上述した値から理解されるように、この要求さ
れる2On s以内に収まっておらず、場合により精度
上問題があると言える。
誤差は、上述した値から理解されるように、この要求さ
れる2On s以内に収まっておらず、場合により精度
上問題があると言える。
以上のことから、マクロ−リン級数展開あるいはルジャ
ンドル多項式を用いて計算式の近似を行う方法では、十
分な精度が得られない場合がある。
ンドル多項式を用いて計算式の近似を行う方法では、十
分な精度が得られない場合がある。
一方、この精度を上げるため、級数展開をXについて第
4次の項まで行うことも可能であるが、この場合には、
装置が非常に複雑化し、また迅速な遅延時間の発生が困
難になるという問題かある。
4次の項まで行うことも可能であるが、この場合には、
装置が非常に複雑化し、また迅速な遅延時間の発生が困
難になるという問題かある。
本発明は、上記従来の課題に鑑みなされたものであり、
その目的は、遅延時間発生に係る精度を一定内に維持し
つつ記憶装置に格納する遅延時間の情報量を削減するこ
とのできる超音波診断装置の遅延時間発生装置を提供す
ることにある。
その目的は、遅延時間発生に係る精度を一定内に維持し
つつ記憶装置に格納する遅延時間の情報量を削減するこ
とのできる超音波診断装置の遅延時間発生装置を提供す
ることにある。
[課題を解決するための手段]
上記目的を達成するために、本発明は以下の原理を用い
る。
る。
発明の原理
本発明は、上記i3式を以下のように式変形することに
より実現される。以下に、再び第3式を引用し、その式
変形について説明する。
より実現される。以下に、再び第3式を引用し、その式
変形について説明する。
τ−PQ/C
= (f−(f2+x2
一2xfsinθ) 112) /C
・・・(第3式)
まず、第7図で示したアレイ振動子の超音波ビーム形成
中心点Oから遅延時間発生に係る振動素子の位置Pまで
の距離Xを焦点距離fで除したものを規格化位置Xと定
義する。
中心点Oから遅延時間発生に係る振動素子の位置Pまで
の距離Xを焦点距離fで除したものを規格化位置Xと定
義する。
Xmx/f ゛ ・・・(第5式)
従って、これを式変形するとx−Xfとなり、このXを
上記第3式に代入する。すると、次の第6式が得られる
。
従って、これを式変形するとx−Xfとなり、このXを
上記第3式に代入する。すると、次の第6式が得られる
。
r−(1(1+X2−2Xsinθ戸/2)/ (C/
f) ・・・(第6式)そして、
この第6式の両辺を超音波伝搬時間f/C(上記超音波
ビーム形成中心点から焦点Fまでの超音波の伝搬時間)
で割ったのが次の第7式%式%(12 ・・・(第7式) ここで、左辺は、遅延時間τを超音波伝搬時間(f /
C)で除したものであり、これを規格化遅延時間Tと定
義する。
f) ・・・(第6式)そして、
この第6式の両辺を超音波伝搬時間f/C(上記超音波
ビーム形成中心点から焦点Fまでの超音波の伝搬時間)
で割ったのが次の第7式%式%(12 ・・・(第7式) ここで、左辺は、遅延時間τを超音波伝搬時間(f /
C)で除したものであり、これを規格化遅延時間Tと定
義する。
T−τ/ (f/C) ・・・(第8
式)従って、この規格化遅延時間Tは、以下の第9式に
示すように、上記規格化位置Xと超音波の偏同角度θと
の関数であり、この第′9式上で焦点距離f及び各振動
子間の間隔Δpに依存しないことが理解される。
式)従って、この規格化遅延時間Tは、以下の第9式に
示すように、上記規格化位置Xと超音波の偏同角度θと
の関数であり、この第′9式上で焦点距離f及び各振動
子間の間隔Δpに依存しないことが理解される。
T (X、 θ)
=1− (1+X” −2XS i nθ)1/2・・
・(第9式) このように、規格化遅延時間T及び規格化位置Xの概念
を導入することにより、2つのノくラメータで、すなわ
ちX及びθて表されるTをテーブル化して保持すること
により、遅延時間発生に係る記憶装置に格納される情報
量の削減を図ることが可能となる。なおζ規格化遅延時
間Tから遅延時間τへの復元は、上記第8式から理解さ
れるように、規格化遅延時間Tにf/Cを乗算すればよ
い。
・(第9式) このように、規格化遅延時間T及び規格化位置Xの概念
を導入することにより、2つのノくラメータで、すなわ
ちX及びθて表されるTをテーブル化して保持すること
により、遅延時間発生に係る記憶装置に格納される情報
量の削減を図ることが可能となる。なおζ規格化遅延時
間Tから遅延時間τへの復元は、上記第8式から理解さ
れるように、規格化遅延時間Tにf/Cを乗算すればよ
い。
第1図は、以上説明した原理をブロック図で示したもの
である。ここにおいて、超音波診断装置本体から偏向角
度情報θ、焦点距離情報f、プローブの種類の情報P(
振動素子間の間隔Δp及び振動素子数mの情報を含む)
が供給されている。
である。ここにおいて、超音波診断装置本体から偏向角
度情報θ、焦点距離情報f、プローブの種類の情報P(
振動素子間の間隔Δp及び振動素子数mの情報を含む)
が供給されている。
図において、規格化位置発生部10は、超音波診断装置
本体からf及びPを入力して、上記第5式の演算を行い
、規格化位置Xを発生するものである。ここで、Xは、
振動素子の間隔Δpに振動素子のアドレスiを乗算した
ものに相当する。
本体からf及びPを入力して、上記第5式の演算を行い
、規格化位置Xを発生するものである。ここで、Xは、
振動素子の間隔Δpに振動素子のアドレスiを乗算した
ものに相当する。
そして、規格化位置発生部10にて発生された規格化位
置Xは、上記θ情報と共に、規格化遅延時間テーブル1
2に入力されている。
置Xは、上記θ情報と共に、規格化遅延時間テーブル1
2に入力されている。
この規格化遅延時間テーブル12は、上述したように、
規格化遅延時間Tを規格化位置X及び偏向角度θの関数
としてテーブル化したものである。
規格化遅延時間Tを規格化位置X及び偏向角度θの関数
としてテーブル化したものである。
従って、上記X及びθに対応する規格化遅延時間Tが出
力されることになる。
力されることになる。
そして、出力された規格化遅延時間Tは、単位復元演算
部14に入力される。
部14に入力される。
この単位復元演算部14は、以下に示す第10式を演算
して、規格化遅延時間Tから遅延時間τを求めている。
して、規格化遅延時間Tから遅延時間τを求めている。
τ−T・ (f/C)十K ・・・(第10式)
ただし、Kは、負の遅延時間を避けるための定数である
。
ただし、Kは、負の遅延時間を避けるための定数である
。
以上のように、規格化遅延時間テーブルのパラメータは
X及びθの2つのみてあり、従来と比べ少なくとも1つ
のパラメータを排除できるという利点を有する。
X及びθの2つのみてあり、従来と比べ少なくとも1つ
のパラメータを排除できるという利点を有する。
次に、第2図を用いて、線形補間を前提とした上記規格
化遅延テーブルでの標本化について述べる。
化遅延テーブルでの標本化について述べる。
規格化遅延時間テーブルにおいて規格化遅延時間Tを定
める2つのパラメータ、すなわちX及びθに対し、その
両者あるいはそのうちの一方を標本化することにより、
規格化遅延時間テーブルにおける保持される情報量の大
幅な削減を図ることが可能である。
める2つのパラメータ、すなわちX及びθに対し、その
両者あるいはそのうちの一方を標本化することにより、
規格化遅延時間テーブルにおける保持される情報量の大
幅な削減を図ることが可能である。
第2図(A)には、その−例として、Xのみが所定のサ
ンプル間隔で標本化されてテーブルが構成された規格化
遅延時間テーブル16が示されている。なお、(B)に
はテーブルの概念が示されている。
ンプル間隔で標本化されてテーブルが構成された規格化
遅延時間テーブル16が示されている。なお、(B)に
はテーブルの概念が示されている。
また、この第2図(A)には、上記標本化にて生ずる精
度の劣化を補うための補間処理部18が示されている。
度の劣化を補うための補間処理部18が示されている。
従って、あるθ及びXが特定されると、これによって規
格化遅延時間テーブル16から隣り合う2つの遅延時間
Tl、T2 (又はT1.ΔT)か求められることにな
る。そして、補間処理部18にて前記求められたT1.
T2 (又はTt、 ΔT)をXの重み付けで線形補
間処理することにより、上記標本化に伴う精度の劣化を
補いつつ遅延時間τの発生を行うことが可能である。
格化遅延時間テーブル16から隣り合う2つの遅延時間
Tl、T2 (又はT1.ΔT)か求められることにな
る。そして、補間処理部18にて前記求められたT1.
T2 (又はTt、 ΔT)をXの重み付けで線形補
間処理することにより、上記標本化に伴う精度の劣化を
補いつつ遅延時間τの発生を行うことが可能である。
なお、標本化の点数は、要求される精度に応じて適宜に
定めればよい。
定めればよい。
上記原理を適用した課題解決の手段
上記原理を適用した本発明に係る遅延時間発生装置は以
下の構成を有する。
下の構成を有する。
まず、請求項(1)記載の発明は、超音波ビーム形成中
心点から遅延時間τ発生に係る振動素子までの距離Xを
焦点距離fて除した規格化位置Xを発生する規格化位置
発生手段と、規格化位置X及び偏向角度θで定められる
規格化遅延時間Tを保持する規格化遅延時間テーブルと
、を含み、規格化遅延時間テーブルにて求められた規格
化遅延時間Tに所定の単位復元演算を行って遅延時間τ
を発生することを特徴とする。
心点から遅延時間τ発生に係る振動素子までの距離Xを
焦点距離fて除した規格化位置Xを発生する規格化位置
発生手段と、規格化位置X及び偏向角度θで定められる
規格化遅延時間Tを保持する規格化遅延時間テーブルと
、を含み、規格化遅延時間テーブルにて求められた規格
化遅延時間Tに所定の単位復元演算を行って遅延時間τ
を発生することを特徴とする。
また、請求項(3)記載の発明は、上記規格化位置発生
手段と、規格化位置X及び偏向角度θで定められる規格
化遅延時間Tに前記焦点距離fと超音波の伝搬速度Cと
で定まる単位復元係数(f/C)を乗算した遅延時間り
を保持する遅延時間テーブルと、を含むことを特徴とす
る。
手段と、規格化位置X及び偏向角度θで定められる規格
化遅延時間Tに前記焦点距離fと超音波の伝搬速度Cと
で定まる単位復元係数(f/C)を乗算した遅延時間り
を保持する遅延時間テーブルと、を含むことを特徴とす
る。
更に、請求項(2)及び(4)記載の発明は、規格化遅
延時間T又は遅延時間りを定めるパラメータのうち少な
くとも1つが標本化されてその標本化されたサンプル点
についてT又はDが保持され、更に標本化に伴う精度の
劣化を補う補間処理手段が設けられたことを特徴とする
。
延時間T又は遅延時間りを定めるパラメータのうち少な
くとも1つが標本化されてその標本化されたサンプル点
についてT又はDが保持され、更に標本化に伴う精度の
劣化を補う補間処理手段が設けられたことを特徴とする
。
[作用コ
上記請求項(1)記載の本発明の構成によれば、規格化
位置発生手段にて、遅延時間τ発生に係る振動素子につ
いての規格化位置Xか発生される。
位置発生手段にて、遅延時間τ発生に係る振動素子につ
いての規格化位置Xか発生される。
そして、発生された規格化位置Xは、偏向角度θと共に
、規格化遅延時間テーブルに人力され、その両者で定め
られる規格化遅延時間Tが出力される。
、規格化遅延時間テーブルに人力され、その両者で定め
られる規格化遅延時間Tが出力される。
従って、出力された規格化遅延時間Tについて所定の単
位復元演算を行うことにより、遅延時間τを発生するこ
とが可能となる。
位復元演算を行うことにより、遅延時間τを発生するこ
とが可能となる。
また、請求項(3)記載の本発明の構成によれば、上記
規格化遅延時間テーブルの代りに遅延時間テーブルを設
けることにより、上述した単位復元演算を行わずに直接
遅延時間りを求めることか可能である。
規格化遅延時間テーブルの代りに遅延時間テーブルを設
けることにより、上述した単位復元演算を行わずに直接
遅延時間りを求めることか可能である。
ここで、遅延時間テーブルに格納される遅延時間りは、
規格化位置X及び偏向角度θで定められる規格化遅延時
間Tに焦点距離fで定まる単位復元係数(f /C)を
乗算したものであり、テーブルにおける入力パラメータ
が請求項(1)記載の本発明の構成に比べ1つ増す反面
、遅延時間テーブルから直接遅延時間りを求められると
いう利点を有する。
規格化位置X及び偏向角度θで定められる規格化遅延時
間Tに焦点距離fで定まる単位復元係数(f /C)を
乗算したものであり、テーブルにおける入力パラメータ
が請求項(1)記載の本発明の構成に比べ1つ増す反面
、遅延時間テーブルから直接遅延時間りを求められると
いう利点を有する。
従って、遅延時間テーブル以後の回路の構成か簡易にな
る。なお、遅延時間りは、単位復元係数(f /C)が
規格化位置X及び偏向角度θに依存しないため、請求項
(1)記載の本発明の構成と遅延時間発生に係る精度は
同一である。
る。なお、遅延時間りは、単位復元係数(f /C)が
規格化位置X及び偏向角度θに依存しないため、請求項
(1)記載の本発明の構成と遅延時間発生に係る精度は
同一である。
また、請求項(2)及び(4)記載の本発明の構成によ
れば、補間処理手段による線形補間を前提として、テー
ブルにおける入力パラメータの標本化を行うことができ
るので、テーブルに保持される情報量の大幅な削減がで
きるという利点を有する。
れば、補間処理手段による線形補間を前提として、テー
ブルにおける入力パラメータの標本化を行うことができ
るので、テーブルに保持される情報量の大幅な削減がで
きるという利点を有する。
[実施例]
以下、本発明の好適な実施例を図面に基づいて説明する
。
。
第3図には、本発明に係る遅延時間発生装置の好適な実
施例が示されている。この第3図に示される遅延時間発
生装置は、第1図で示した構成を更に具体化したもので
ある。なお、この装置は、例えば超音波診断装置などに
組み込まれる。
施例が示されている。この第3図に示される遅延時間発
生装置は、第1図で示した構成を更に具体化したもので
ある。なお、この装置は、例えば超音波診断装置などに
組み込まれる。
図において、この装置は、規格化位置Xを発生する規格
化位置発生部22と、発生された規格化位置Xと偏向角
度θとを入力して規格化遅延時間Tを出力する規格化遅
延時間テーブル(以下、テーブルという)24と、テー
ブル24から出力された規格化遅延時間Tに対して線形
補間を行う補間処理部26と、補間処理部26から出力
された規格化遅延時間Tに対して所定の単位復元演算を
行う単位復元演算部28と、から構成されている。
化位置発生部22と、発生された規格化位置Xと偏向角
度θとを入力して規格化遅延時間Tを出力する規格化遅
延時間テーブル(以下、テーブルという)24と、テー
ブル24から出力された規格化遅延時間Tに対して線形
補間を行う補間処理部26と、補間処理部26から出力
された規格化遅延時間Tに対して所定の単位復元演算を
行う単位復元演算部28と、から構成されている。
ここで、規格化位置発生部22から出力された規格化位
置Xのうち整数部XRは、超音波診断装置本体から整数
値で与えられる偏向角度θと共に、テーブル24に入力
されている。
置Xのうち整数部XRは、超音波診断装置本体から整数
値で与えられる偏向角度θと共に、テーブル24に入力
されている。
一方、規格化位置発生部22から出力された規格化位置
Xのうち小数部rは、補間処理部26に供給されており
、その線形補間処理に係る重み付けに供されている。
Xのうち小数部rは、補間処理部26に供給されており
、その線形補間処理に係る重み付けに供されている。
なお、本実施例においては、θの種類が256種類とさ
ほど大きくないため、θについては標本化しておらず、
Xについてのみ標本化が行われている。もちろん、θに
ついて標本化を行ってもよい。この標本化、特にサンプ
ル点数の計算につぃては後に詳述する。
ほど大きくないため、θについては標本化しておらず、
Xについてのみ標本化が行われている。もちろん、θに
ついて標本化を行ってもよい。この標本化、特にサンプ
ル点数の計算につぃては後に詳述する。
まず、このような本実施例のテーブル24に対して規格
化位置Xを発生する規格化位置発生部22について説明
する。
化位置Xを発生する規格化位置発生部22について説明
する。
この規格化位置発生部22は、超音波診断装置本体から
プローブ情報P(振動素子間の間隔Δp及び振動素子数
mの情報を含む)及び焦点距離情報fを入力して後述す
る累積係数α及び加算初期値βを出力する加算係数発生
器30と、一方の入力端子に累積係数αが入力され他方
の入力端子にフィードバックされた規格化位置Xが供給
された加算器32と、超音波診断装置本体から供給され
るクロック1に従って前記加算器32の出力値を一時的
に格納するレジスタ34と、から構成されている。なお
、レジスタ34には、最初の加算動作時に、加算係数発
生器30から加算初期値βが供給される。
プローブ情報P(振動素子間の間隔Δp及び振動素子数
mの情報を含む)及び焦点距離情報fを入力して後述す
る累積係数α及び加算初期値βを出力する加算係数発生
器30と、一方の入力端子に累積係数αが入力され他方
の入力端子にフィードバックされた規格化位置Xが供給
された加算器32と、超音波診断装置本体から供給され
るクロック1に従って前記加算器32の出力値を一時的
に格納するレジスタ34と、から構成されている。なお
、レジスタ34には、最初の加算動作時に、加算係数発
生器30から加算初期値βが供給される。
このように構成された規格化位置発生部22の動作原理
について以下に説明する。
について以下に説明する。
まず、第5式から、1番目の振動子についての規格化位
置Xは、次のように表すことができる。
置Xは、次のように表すことができる。
X−Δp(i −(m+1)/2)/f・・・(第12
式) たたし、mは振動素子の総数である。
式) たたし、mは振動素子の総数である。
テーブル24における規格化位置Xに関する標本化のサ
ンプル間隔をΔXとし、更にテーブル24におけるXに
ついての中心のアドレスをXoとして、テーブル24に
おけるXのアドレスを整数で与えるために、上記第12
式を以下の第13式に書き変える。
ンプル間隔をΔXとし、更にテーブル24におけるXに
ついての中心のアドレスをXoとして、テーブル24に
おけるXのアドレスを整数で与えるために、上記第12
式を以下の第13式に書き変える。
X−Δ1)(i −(m+1)/2)
/ (f−ΔX)+Xo −= (第13式)従っ
て、この第13式をiに関する係数とそれ以外とに分け
ることにより次の第14式を得る。
て、この第13式をiに関する係数とそれ以外とに分け
ることにより次の第14式を得る。
X−αl十β ・・・(第14式)た
だし、α藺Δp/(f−ΔX) β唯一Δp (m+1) /(2φf−ΔX)+X。
だし、α藺Δp/(f−ΔX) β唯一Δp (m+1) /(2φf−ΔX)+X。
従って、超音波診断装置本体から供給されるプローブの
種類の情報P及び焦点距離の情報fに応じて累積係数α
及び加算初期値βを発生させ、この発生されたα及びβ
を第14式に基づいて累積加算することにより、振動素
子の順番毎に順次その規格化位置Xを発生することか可
能である。
種類の情報P及び焦点距離の情報fに応じて累積係数α
及び加算初期値βを発生させ、この発生されたα及びβ
を第14式に基づいて累積加算することにより、振動素
子の順番毎に順次その規格化位置Xを発生することか可
能である。
すなわち、最初の加算時には、加算器32にαが供給さ
れ、一方、レジスタ34にはβか供給される。そして、
次の加算時には、クロックiの入力により、加算器32
にてαとβが加算され、レジスタ34には加算後の値(
α十β)が格納されることになる。このような過程が順
次繰り返されて、順次規格化位置Xが発生される。
れ、一方、レジスタ34にはβか供給される。そして、
次の加算時には、クロックiの入力により、加算器32
にてαとβが加算され、レジスタ34には加算後の値(
α十β)が格納されることになる。このような過程が順
次繰り返されて、順次規格化位置Xが発生される。
次に、テーブル24について説明する。
テーブル24には、規格化位置発生部22にて発生され
た規格化位置Xの整数部XRが供給されている。なお、
一方の小数部rは、後述する補間処理部26に供給され
ており、両者の分岐は、例えば、上位ビット又は下位ビ
ットの抽出により行われる。具体的には、規格化位置X
の伝送にパラレルバスが用いられている場合には、その
複数本のバスのうちの数本が整数部に供され、残りの複
数本が小数部r用に用いられる。
た規格化位置Xの整数部XRが供給されている。なお、
一方の小数部rは、後述する補間処理部26に供給され
ており、両者の分岐は、例えば、上位ビット又は下位ビ
ットの抽出により行われる。具体的には、規格化位置X
の伝送にパラレルバスが用いられている場合には、その
複数本のバスのうちの数本が整数部に供され、残りの複
数本が小数部r用に用いられる。
ここで、テーブル24では、供給された整数部XRと超
音波診断装置本体から供給された偏向角度θ情報とで定
まる規格化遅延時間Tを出力する。
音波診断装置本体から供給された偏向角度θ情報とで定
まる規格化遅延時間Tを出力する。
本実施例において、その出力は、第2図(B)で示した
ように、XRとθとで定まる規格化遅延時間Tと標本化
されたXのサンプル間での差ΔTとが出力されている。
ように、XRとθとで定まる規格化遅延時間Tと標本化
されたXのサンプル間での差ΔTとが出力されている。
つまり、後の線形補間て常にΔTか必要なため、この規
格化遅延時間T1の出力と共にΔTをも同時に出力して
いる。もちろん、T1とこのT1のXについての次の値
であるT2とを同時に出力して、補間処理を行っても同
様の結果を得ることができる。
格化遅延時間T1の出力と共にΔTをも同時に出力して
いる。もちろん、T1とこのT1のXについての次の値
であるT2とを同時に出力して、補間処理を行っても同
様の結果を得ることができる。
次に、補間処理部26は、乗算器36と、加算器38と
で構成されている。 ゛ そして、乗算器36には、テーブル24からΔTが供給
され、これと共に、前記規格化位置発生部22から出力
された規格化位置Xのうちその小数部rが入力され、両
者の乗算が行われている。
で構成されている。 ゛ そして、乗算器36には、テーブル24からΔTが供給
され、これと共に、前記規格化位置発生部22から出力
された規格化位置Xのうちその小数部rが入力され、両
者の乗算が行われている。
そして、その乗算の結果かテーブル24から出力された
T1と加算器38にて加算されている。
T1と加算器38にて加算されている。
すなわち、ΔTにrの重み付けを行って、その結果をT
1に加算することにより、線形補間が実現されている。
1に加算することにより、線形補間が実現されている。
次に、単位復元演算部28について説明する。
この単位復元演算部28は、上記第10式で示された規
格化遅延時間Tに対するf/Cの乗算と、その乗算結果
に対する所定の定数にの加算とを行うものである。
格化遅延時間Tに対するf/Cの乗算と、その乗算結果
に対する所定の定数にの加算とを行うものである。
そして、この単位復元演算部28は、f/C発生器40
と、K発′生器42と、f/C発生器40から出力され
た値を上記補間処理部26から出力された遅延時間Tに
乗算する乗算器44と、この乗算器44の出力に前記に
発生器42から出力されたプローブの種類によって異な
る定数Kを加算する加算器45と、から構成されている
。従って、この構成によれば、上述した第10式の演算
かなされて、この結果、遅延時間τが順次出力されるこ
とになる。
と、K発′生器42と、f/C発生器40から出力され
た値を上記補間処理部26から出力された遅延時間Tに
乗算する乗算器44と、この乗算器44の出力に前記に
発生器42から出力されたプローブの種類によって異な
る定数Kを加算する加算器45と、から構成されている
。従って、この構成によれば、上述した第10式の演算
かなされて、この結果、遅延時間τが順次出力されるこ
とになる。
以上のように、本実施例の遅延時間発生装置によれば、
線形補間を前提として標本化を用いてテーブル24の情
報量を極端に少なくすることができるので、超音波診断
装置における遅延時間の発生を簡易かつ迅速に行うこと
か可能となる。特に、従来においてはテーブルの容量に
より制約されていた偏向角度の種類の増大やフォーカス
点の増加の要望などを実現させることかできるので、超
音波診断装置の分解能を向上させて、精度の良い超音波
診断が行えるという効果を有する。
線形補間を前提として標本化を用いてテーブル24の情
報量を極端に少なくすることができるので、超音波診断
装置における遅延時間の発生を簡易かつ迅速に行うこと
か可能となる。特に、従来においてはテーブルの容量に
より制約されていた偏向角度の種類の増大やフォーカス
点の増加の要望などを実現させることかできるので、超
音波診断装置の分解能を向上させて、精度の良い超音波
診断が行えるという効果を有する。
標本化に関するサンプル点数の検討
以下に、規格化遅延時間テーブルにおける規格化位置X
及び偏向角度θの標本化に関するサンプル点数について
検討を行う。
及び偏向角度θの標本化に関するサンプル点数について
検討を行う。
まず、規格化位置Xに関するサンプル点数を考える。
上記第9式の規格化遅延時間TをYと置くと、Yについ
ての以下の第15式を得る。
ての以下の第15式を得る。
Y−T (X、 θ)
Y−1−(1+X −2Xs inθ)1/2・・・
(第15式) ここで、この第15式を変形すると、次の第16式を得
る。
(第15式) ここで、この第15式を変形すると、次の第16式を得
る。
(Y−1) 2(X−s i nθ) −CO82θ
・・・(第16式) 第5図には、この第16式に示されるXとYとの関係が
示されている。ここに示されるように、lX−5inθ
1か大きくなるとYの変化が漸近線(直線)に近づき、
線形補間でも十分に良い近似が得られることが理解され
る。
・・・(第16式) 第5図には、この第16式に示されるXとYとの関係が
示されている。ここに示されるように、lX−5inθ
1か大きくなるとYの変化が漸近線(直線)に近づき、
線形補間でも十分に良い近似が得られることが理解され
る。
この場合、線形補間の誤差が最大となるのは、第5図に
示されるXm5inθの直線と双曲線との交点であり、
Xについてのサンプル間隔をΔXとすれば、線形補間に
よる誤差eは、次の第17式で示される。
示されるXm5inθの直線と双曲線との交点であり、
Xについてのサンプル間隔をΔXとすれば、線形補間に
よる誤差eは、次の第17式で示される。
e””c o sθ−(CO52θ
+(ΔX/2)2)112 ・・・(第17式)ここで
、lelは、θが増大するほど大きくなるため、θの上
限を45°とすれば、θ−45゜でlelは最大となる
。そして、この場合のeにf/Cを乗算して時間の単位
に変換すれば、最大遅延誤差か得られる。
、lelは、θが増大するほど大きくなるため、θの上
限を45°とすれば、θ−45゜でlelは最大となる
。そして、この場合のeにf/Cを乗算して時間の単位
に変換すれば、最大遅延誤差か得られる。
このような前提の下で、f=100mmとしたときの最
大遅延誤差が、例えば5nsより小さくなるようなΔX
を求めると、 ΔX<Q、 02 ・・・(第18
式)ここで、Xに関しては、焦点路Mfか小さいときに
は、実際の装置において送受信の開口長を短くする、す
なわち駆動される振動素子の数を少なくすることを考慮
して、Xの取り得る範囲を、−0,25≦X≦0.25
・・ (第19式)と仮定すると、Xの範囲(0
,5)をΔX (0゜02)で標本化すれば、5nsの
精度か保証されることが理解される。つまり、Xについ
てのサンプル点数は、25点(0,510,02)あれ
ば十分であることが理解される。
大遅延誤差が、例えば5nsより小さくなるようなΔX
を求めると、 ΔX<Q、 02 ・・・(第18
式)ここで、Xに関しては、焦点路Mfか小さいときに
は、実際の装置において送受信の開口長を短くする、す
なわち駆動される振動素子の数を少なくすることを考慮
して、Xの取り得る範囲を、−0,25≦X≦0.25
・・ (第19式)と仮定すると、Xの範囲(0
,5)をΔX (0゜02)で標本化すれば、5nsの
精度か保証されることが理解される。つまり、Xについ
てのサンプル点数は、25点(0,510,02)あれ
ば十分であることが理解される。
次に、θに関するサンプル点数を検討する。
ここでは、第9式において、1θ1≦45°。
lxl≦0.25の範囲では、第9式の右辺X2−2X
sinθが1より小さいため、これをaとすれば、 (1+a) 1/2−1+a/2−a2/8・・・(第
20式) のようなaについての第2次の項までのテーラ−展開を
第9式に適用する二とができる。そして、この近似式を
適用すると第9式は、次の第21式のようになる。
sinθが1より小さいため、これをaとすれば、 (1+a) 1/2−1+a/2−a2/8・・・(第
20式) のようなaについての第2次の項までのテーラ−展開を
第9式に適用する二とができる。そして、この近似式を
適用すると第9式は、次の第21式のようになる。
T (X、 θ)
≠−(X2−2Xs inθ)/2
+ (X2−2Xs inθ) 2/8−(第21式)
この場合に、θ・についてのサンプル間隔をΔθとした
ときの線形補間の誤差eを計算すると、次の第22式の
ようになる。
この場合に、θ・についてのサンプル間隔をΔθとした
ときの線形補間の誤差eを計算すると、次の第22式の
ようになる。
e −(T (X、 θ+Δθ/2)+T (X、
θ−Δθ/2) l /2−T (X、 θ) 共XΔθ2 (Xcos2θ−5inθ)/8・・・(
第22式) ここで、第22式は、X−−0,25(Xの最小値)、
θ−45’ (θの最大値)てeか最大となることが
理解される。
θ−Δθ/2) l /2−T (X、 θ) 共XΔθ2 (Xcos2θ−5inθ)/8・・・(
第22式) ここで、第22式は、X−−0,25(Xの最小値)、
θ−45’ (θの最大値)てeか最大となることが
理解される。
従って、この第22式に、X−−0,25,θ−45°
を代入して求められたeにf=100mmの場合のf/
Cを乗算して時間の単位に変換することにより、最大遅
延誤差か得られる。そして、最大遅延誤差が5nsより
小さくなる場合のΔθを求めると、 Δθ≦3.37° ・・・(第23式)従
って、−45°≦θ≦45°の範囲で50Sの精度を保
証する場合、θについてのサンプル点数は、27点(9
0°/3.37°)であることが理解される。
を代入して求められたeにf=100mmの場合のf/
Cを乗算して時間の単位に変換することにより、最大遅
延誤差か得られる。そして、最大遅延誤差が5nsより
小さくなる場合のΔθを求めると、 Δθ≦3.37° ・・・(第23式)従
って、−45°≦θ≦45°の範囲で50Sの精度を保
証する場合、θについてのサンプル点数は、27点(9
0°/3.37°)であることが理解される。
以上のことから、X及びθの標本化に関するサンプル点
数は、それぞれ共に25程度にすれば良く、このような
サンプル点数で構成された規格化遅延時間テーブルによ
り、5ns以下の誤差での遅延時間の発生が実現される
。
数は、それぞれ共に25程度にすれば良く、このような
サンプル点数で構成された規格化遅延時間テーブルによ
り、5ns以下の誤差での遅延時間の発生が実現される
。
なお、サンプルの点数を増せば、遅延時間発生に係る誤
差を更に小さくする二ともてき、上述した従来例に比べ
、十分精度の良い遅延時間を発生できることが理解され
る。
差を更に小さくする二ともてき、上述した従来例に比べ
、十分精度の良い遅延時間を発生できることが理解され
る。
遅延時間発生装置の変形例
次に、第3図で示した本発明に係る遅延時間発生装置の
変形例について以下に説明する。
変形例について以下に説明する。
第4図には、第3図で示した装置の変形例か示されてい
る。なお、第3図に示した規格化位置発生部22は同一
の構成であるため、その説明を省略する。
る。なお、第3図に示した規格化位置発生部22は同一
の構成であるため、その説明を省略する。
この変形例において特徴的なことは、遅延時間テーブル
46に上述した規格化遅延時間Tに単位復元係数f/C
を掛けた遅延時間りを保持したことにある。
46に上述した規格化遅延時間Tに単位復元係数f/C
を掛けた遅延時間りを保持したことにある。
すなわち、遅延時間テーブル46に、f/Cが乗算され
た遅延時間りを保持することにより、単位復元演算の主
な部分を省略することが可能である。
た遅延時間りを保持することにより、単位復元演算の主
な部分を省略することが可能である。
ただし、この変形例においては、遅延時間テーブル46
において焦点距離情報fが必要であり、二のために、超
音波診断装置本体から焦点距離fが遅延時間テーブル4
6に人力されている。
において焦点距離情報fが必要であり、二のために、超
音波診断装置本体から焦点距離fが遅延時間テーブル4
6に人力されている。
従って、このような構成によれば、第3図で示した実施
例に比べ、テーブルに格納される遅延時間τに関する情
報量の増大は避けられないか、後に行われる単位復元演
算を極めて簡易化できるという利点を有する。
例に比べ、テーブルに格納される遅延時間τに関する情
報量の増大は避けられないか、後に行われる単位復元演
算を極めて簡易化できるという利点を有する。
ここで、この変形例においても、テーブル46における
遅延時間りを定めるパラメータのうち規格化位置Xにつ
いては標本化が行われており、そのサンプル点数は、上
記サンプル点数の計算により求められた点数と同様であ
る。
遅延時間りを定めるパラメータのうち規格化位置Xにつ
いては標本化が行われており、そのサンプル点数は、上
記サンプル点数の計算により求められた点数と同様であ
る。
すなわち、f/Cは、Xとθに影響を与えず、その精度
が不変なためである。従って、この変形例においても、
X及びθについて例えば25程度のサンプル点があれば
、十分な精度で遅延時間の発生を行うことが可能である
。
が不変なためである。従って、この変形例においても、
X及びθについて例えば25程度のサンプル点があれば
、十分な精度で遅延時間の発生を行うことが可能である
。
第4図において、遅延時間テーブル46からは、遅延時
間D1が出力され、更に上記実施例同様に、標本化に係
るサンプル間での差異ΔDも出力されている。
間D1が出力され、更に上記実施例同様に、標本化に係
るサンプル間での差異ΔDも出力されている。
そして、この両者は、補間処理部48に入力されている
。この補間処理部48は、上記補間処理部26同様に、
乗算器50と加算器52とで構成され、規格化位置発生
部22から出力された規格化位WXのうちその小数部r
の重み付けによって、遅延時間りの線形補間かなされて
いる。
。この補間処理部48は、上記補間処理部26同様に、
乗算器50と加算器52とで構成され、規格化位置発生
部22から出力された規格化位WXのうちその小数部r
の重み付けによって、遅延時間りの線形補間かなされて
いる。
そして、補間処理部48から出力された遅延時間りは、
係数加算部54に入力されている。
係数加算部54に入力されている。
ここで、係数加算部54は、超音波診断装置本体から供
給されるプローブの情報Pを人力して定数Kを8カする
に発生器56と、この定数Kを上記補間処理部48から
出力された遅延時間りに加算する加算器58と、から構
成されている。
給されるプローブの情報Pを人力して定数Kを8カする
に発生器56と、この定数Kを上記補間処理部48から
出力された遅延時間りに加算する加算器58と、から構
成されている。
従って、この変形例においても、上記実施例と同様に、
遅延時間τが順次発生されることになる。
遅延時間τが順次発生されることになる。
以上のように、この変形例では、遅延時間テーブル46
の入力パラメータが1つ増加したカーその反面、テーブ
ル46より後段の回路構成を省略でき、この結果、迅速
な遅延時間τの発生か行えるという利点を有する。
の入力パラメータが1つ増加したカーその反面、テーブ
ル46より後段の回路構成を省略でき、この結果、迅速
な遅延時間τの発生か行えるという利点を有する。
保持される情報量の検討
第3図で示した本発明に係る遅延時間発生装置の実施例
の構成において、保持される全体の情報量は以下のよう
に概算される。
の構成において、保持される全体の情報量は以下のよう
に概算される。
まず、規格化遅延時間テーブル24ては、T1を13ビ
ツト、ΔTを8ビツトで与え、規格化位置Xについての
サンプル点数を64、偏向角度θについてのサンプル点
数、すなわちビームの本数を256とすれば、次の量に
なる。
ツト、ΔTを8ビツトで与え、規格化位置Xについての
サンプル点数を64、偏向角度θについてのサンプル点
数、すなわちビームの本数を256とすれば、次の量に
なる。
(13+8) ・64・256
誼42にバイト
一方、加算係数発生器30及びf/C演算器40及びに
演算器42に格納される全体の情報を考えると、αを1
2ビツト、βを16ビツト、f/Cを6ビツト、Kにつ
いて11ビツトを与え、更に、焦点fの数を32種類と
し、接続できる探触子の個数をNとすれば、次の量とな
る。
演算器42に格納される全体の情報を考えると、αを1
2ビツト、βを16ビツト、f/Cを6ビツト、Kにつ
いて11ビツトを与え、更に、焦点fの数を32種類と
し、接続できる探触子の個数をNとすれば、次の量とな
る。
(32・(12+16+6)+11) ・N−140
ΦNバイト 従って、Nを32としても全体の総情報量は約46にバ
イトとなり、前述した約40Mハイドの約1/870と
なる。
ΦNバイト 従って、Nを32としても全体の総情報量は約46にバ
イトとなり、前述した約40Mハイドの約1/870と
なる。
一方、第4図で示した本発明に係る遅延時間発生装置の
変形例における保持すべき全ての情報量について検討す
ると、遅延時間テーブル46について、更にfの種類た
け情報量か増加するため、総情報量は従来の方法による
約40Mバイトの約1/30となる。
変形例における保持すべき全ての情報量について検討す
ると、遅延時間テーブル46について、更にfの種類た
け情報量か増加するため、総情報量は従来の方法による
約40Mバイトの約1/30となる。
このように、特に第3図で示した本発明装置の実施例で
は、従来例よりも飛躍的に保持すべき情報量の削減を図
ることかできることが理解される。
は、従来例よりも飛躍的に保持すべき情報量の削減を図
ることかできることが理解される。
一方、第4図で示した本発明装置の変形例においては、
第3図で示した実施例に比べ、保持すべき情報量の増大
は回避てきないが、それでも従来の方法より情報量を大
幅に少なくできるという効果を有する。
第3図で示した実施例に比べ、保持すべき情報量の増大
は回避てきないが、それでも従来の方法より情報量を大
幅に少なくできるという効果を有する。
他の変形例
第3図及び第4図で示した本発明に係る遅延時間発生装
置の構成の変形例としては、T (X、 θ)−X
(−X、 −〇)の対称性を利用して、回路の構成を
変形することかできる。
置の構成の変形例としては、T (X、 θ)−X
(−X、 −〇)の対称性を利用して、回路の構成を
変形することかできる。
例えば、その第1例として、θ≧0の部分たけについて
、規格化遅延時間Tあるいは遅延時間りをテーブルに保
持することも可能である。また、第2例として、規格化
位置Xは、アレイ振動子における超音波ビームの形成中
心点Oの左右で符号が異なるたけであるのでX≧OとX
≦Oで規格化遅延時間T(又は遅延時間D)を並列に発
生させることも好適である。
、規格化遅延時間Tあるいは遅延時間りをテーブルに保
持することも可能である。また、第2例として、規格化
位置Xは、アレイ振動子における超音波ビームの形成中
心点Oの左右で符号が異なるたけであるのでX≧OとX
≦Oで規格化遅延時間T(又は遅延時間D)を並列に発
生させることも好適である。
また、この第1例と第2例とを併用することにより、簡
便かつ迅速な遅延時間の発生を行うことが可能である。
便かつ迅速な遅延時間の発生を行うことが可能である。
[発明の効果]
以上説明したように、請求項(1ン記載の発明によれば
、規格化位置X及び偏向角度θの2つの入力パラメータ
で遅延時間τ発生に係るテーブルを構成することができ
る。
、規格化位置X及び偏向角度θの2つの入力パラメータ
で遅延時間τ発生に係るテーブルを構成することができ
る。
また、請求項(3)に記載の発明によれば、規格化遅延
時間Tに所定の単位復元係数f/Cを乗算した遅延時間
りをテーブルに保持して、テーブルから直接遅延時間り
を求めることができるので、単位復元演算に要する構成
を簡易化できるという効果を有する。
時間Tに所定の単位復元係数f/Cを乗算した遅延時間
りをテーブルに保持して、テーブルから直接遅延時間り
を求めることができるので、単位復元演算に要する構成
を簡易化できるという効果を有する。
更に、請求項(2)及び(4)記載の発明によれば、線
形補間を前提として、規格化遅延時間テーブル及び遅延
時間テーブルに格納される情報量を大幅に削減すること
ができる◇ 特に、標本化の点数を適宜に設定することにより、所望
の精度で、遅延時間を発生でき、この結果、信頼性の高
い遅延時間発生装置を構成することが可能である。
形補間を前提として、規格化遅延時間テーブル及び遅延
時間テーブルに格納される情報量を大幅に削減すること
ができる◇ 特に、標本化の点数を適宜に設定することにより、所望
の精度で、遅延時間を発生でき、この結果、信頼性の高
い遅延時間発生装置を構成することが可能である。
第1図は、本発明の原理を示すブロック図、第2図は、
標本化と補間処理の流れを示す説明図、 第3図は、本発明に係る遅延時間発生装置の実施例を示
すブロック図、 第4図は、本発明に係る遅延時間発生装置の実施例の変
形例を示すブロック図、 第5図は、規格化位置Xと規格化遅延時間Y(T)との
関係を示す図、 第6図は、超音波ビームの電子偏向及び電子フォーカス
を示す説明図、 第7図は、X軸方向に沿うアレイ振動干出焦点Fとの位
置関係を幾何学的に示し、遅延時間の計算を説明するた
めの説明図である。 10.22 ・・・ 規格化位置発生部12、 16
. 24 ・・・ 規格化遅延時間テーブル14.2
8 ・・・ i位復元演算部18、 26 ・・・
補間処理部
標本化と補間処理の流れを示す説明図、 第3図は、本発明に係る遅延時間発生装置の実施例を示
すブロック図、 第4図は、本発明に係る遅延時間発生装置の実施例の変
形例を示すブロック図、 第5図は、規格化位置Xと規格化遅延時間Y(T)との
関係を示す図、 第6図は、超音波ビームの電子偏向及び電子フォーカス
を示す説明図、 第7図は、X軸方向に沿うアレイ振動干出焦点Fとの位
置関係を幾何学的に示し、遅延時間の計算を説明するた
めの説明図である。 10.22 ・・・ 規格化位置発生部12、 16
. 24 ・・・ 規格化遅延時間テーブル14.2
8 ・・・ i位復元演算部18、 26 ・・・
補間処理部
Claims (4)
- (1)超音波ビームを形成するアレイ振動子を構成する
各振動素子の送受信号にそれぞれ異なる遅延時間を与え
て、超音波ビームの電子偏向や電子フォーカスを行う超
音波診断装置において、前記アレイ振動子における超音
波ビーム形成中心点から遅延時間τ発生に係る振動素子
までの距離xを超音波ビームの焦点距離fで除した規格
化位置Xを発生する規格化位置発生手段と、 前記規格化位置X及び超音波ビームの偏向角度θで定め
られる規格化遅延時間Tを保持する規格化遅延時間テー
ブルと、 を含み、 前記規格化遅延時間テーブルにて求められた規格化遅延
時間Tに所定の単位復元演算を行って遅延時間τを発生
することを特徴とする超音波診断装置の遅延時間発生装
置。 - (2)請求項(1)記載の超音波診断装置の遅延時間発
生装置において、 前記規格化遅延時間テーブルは、テーブルのパラメータ
である前記規格化位置X及び前記偏向角度θのうち少な
くとも一方が所定のサンプル間隔で標本化されてテーブ
ル構成され、 前記規格化遅延時間テーブルにて求められた規格化遅延
時間Tを補間する補間手段が設けられたことを特徴とす
る超音波診断装置の遅延時間発生装置。 - (3)超音波ビームを形成するアレイ振動子を構成する
各振動素子の送受信号にそれぞれ異なる遅延時間を与え
て、超音波ビームの電子偏向や電子フォーカスを行う超
音波診断装置において、前記アレイ振動子における超音
波ビーム形成中心点から遅延時間τ発生に係る振動素子
までの距離xを超音波ビームの焦点距離fで除した規格
化位置xを発生する規格化位置発生手段と、 前記規格化位置X及び超音波ビームの偏向角度θで定め
られる規格化遅延時間Tに前記焦点距離fと超音波の伝
搬速度Cとで定まる単位復元係数f/Cを乗算した遅延
時間Dを保持する遅延時間テーブルと、 を含むことを特徴とする超音波診断装置の遅延時間発生
装置。 - (4)請求項(3)記載の超音波診断装置の遅延時間発
生装置において、 前記遅延時間テーブルは、テーブルのパラメータである
前記規格化位置X、前記偏向角度θ及び前記焦点距離f
のうち少なくとも1つが所定のサンプル間隔で標本化さ
れてテーブル構成され、前記遅延時間テーブルにて求め
られた遅延時間Dを補間する補間手段が設けられたこと
を特徴とする超音波診断装置の遅延時間発生装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2327825A JPH04193268A (ja) | 1990-11-27 | 1990-11-27 | 超音波診断装置の遅延時間発生装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2327825A JPH04193268A (ja) | 1990-11-27 | 1990-11-27 | 超音波診断装置の遅延時間発生装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04193268A true JPH04193268A (ja) | 1992-07-13 |
| JPH0560B2 JPH0560B2 (ja) | 1993-01-05 |
Family
ID=18203403
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2327825A Granted JPH04193268A (ja) | 1990-11-27 | 1990-11-27 | 超音波診断装置の遅延時間発生装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04193268A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH1156844A (ja) * | 1997-08-25 | 1999-03-02 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 超音波診断装置の遅延時間演算装置及び演算方法 |
| WO2004032744A1 (ja) * | 2002-10-08 | 2004-04-22 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | 超音波診断装置 |
| JP2006187667A (ja) * | 1994-08-05 | 2006-07-20 | Acuson Corp | 受信ビーム生成器 |
| JP2009005741A (ja) * | 2007-06-26 | 2009-01-15 | Hitachi Medical Corp | 超音波診断装置 |
-
1990
- 1990-11-27 JP JP2327825A patent/JPH04193268A/ja active Granted
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006187667A (ja) * | 1994-08-05 | 2006-07-20 | Acuson Corp | 受信ビーム生成器 |
| JPH1156844A (ja) * | 1997-08-25 | 1999-03-02 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 超音波診断装置の遅延時間演算装置及び演算方法 |
| WO2004032744A1 (ja) * | 2002-10-08 | 2004-04-22 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | 超音波診断装置 |
| JP2004129696A (ja) * | 2002-10-08 | 2004-04-30 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 超音波診断装置 |
| CN100391409C (zh) * | 2002-10-08 | 2008-06-04 | 松下电器产业株式会社 | 超声诊断装置 |
| JP2009005741A (ja) * | 2007-06-26 | 2009-01-15 | Hitachi Medical Corp | 超音波診断装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0560B2 (ja) | 1993-01-05 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6231511B1 (en) | Ultrasonic signal focusing method and apparatus for ultrasonic imaging system | |
| US4989143A (en) | Adaptive coherent energy beam formation using iterative phase conjugation | |
| JPH0870404A (ja) | 超音波ビーム形成装置における遅延生成装置 | |
| US20090241673A1 (en) | Ultrasonic imaging apparatus and ultrasonic imaging method | |
| US20040054282A1 (en) | Method and non-invasive device for focusing acoustic waves | |
| ITMI972773A1 (it) | Metodo ed apparato per fornire ritardi variabili dinamicamente per formatore di fasci di ultrasuoni | |
| JPH0420141B2 (ja) | ||
| US9465101B2 (en) | Aberration correction with broad transmit beams in medical ultrasound | |
| JP3374684B2 (ja) | 超音波診断装置 | |
| JP2588185B2 (ja) | 超音波診断装置 | |
| JPH04193268A (ja) | 超音波診断装置の遅延時間発生装置 | |
| JP3091473B2 (ja) | 超音波診断装置 | |
| Måso/y et al. | Correction of ultrasonic wave aberration with a time delay and amplitude filter | |
| JP4316700B2 (ja) | 超音波診断装置 | |
| JP2017000547A (ja) | 超音波診断装置 | |
| JP2025147236A5 (ja) | 超音波診断装置、処理方法及びプログラム | |
| JP2839883B2 (ja) | 実時間ディジタル集束のための集束遅延計算方法及びその装置 | |
| CN112998745A (zh) | 一种用于超声成像的发射波束形成方法、系统及诊断设备 | |
| JP3538260B2 (ja) | 超音波計測装置 | |
| CN109620291B (zh) | 一种超声波信号调整方法、装置及超声阵列 | |
| CN110613476B (zh) | 超声信号的处理方法和装置 | |
| JP4666793B2 (ja) | 超音波診断装置 | |
| JP3476655B2 (ja) | 超音波診断装置 | |
| Varslot et al. | Computer simulation of forward wave propagation in non-linear, heterogeneous, absorbing tissue | |
| CN110123380B (zh) | 一种超声成像逐点动态聚焦方法、装置及超声成像设备 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090105 Year of fee payment: 16 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110105 Year of fee payment: 18 |
|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |