JPH04198743A - 表面状態検査装置 - Google Patents

表面状態検査装置

Info

Publication number
JPH04198743A
JPH04198743A JP2331180A JP33118090A JPH04198743A JP H04198743 A JPH04198743 A JP H04198743A JP 2331180 A JP2331180 A JP 2331180A JP 33118090 A JP33118090 A JP 33118090A JP H04198743 A JPH04198743 A JP H04198743A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
defect
value
concentration
threshold value
digital image
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2331180A
Other languages
English (en)
Inventor
Seiichi Kato
加藤 清一
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sekisui Chemical Co Ltd
Original Assignee
Sekisui Chemical Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sekisui Chemical Co Ltd filed Critical Sekisui Chemical Co Ltd
Priority to JP2331180A priority Critical patent/JPH04198743A/ja
Publication of JPH04198743A publication Critical patent/JPH04198743A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Image Processing (AREA)
  • Closed-Circuit Television Systems (AREA)
  • Image Analysis (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、フィルム等の表面に存在するスジ状の欠陥等
を検査するに好適な表面状態検査装置に関する。
[従来の技術] フィルム等の表面に存在する異常を検査する装置として
は、He−Neレーザー光を表面に照射し、これかゴミ
等によって任意方向に散乱せしめられることを利用する
ものかある。
[発明か解決しようとする課題] 然しなから、従来技術には、下記■〜■の問題点がある
■光学系か複雑であり、装置が大がかりとなる。
■ライン方向に流れるスジ状の欠陥の検出能が低い。
■検出結果と、人間の目てとらえた感覚が必ずしも一致
しない。
本発明は、コンパクトな装置構成により、スジ状の欠陥
等の表面状態を、人間の目に近い状態で確実に検出する
ことを目的とする。
[課題を解決するための手段] 本発明は、被検査体の表面を撮像する撮像装置と、撮像
装置の撮像結果に基づいて被検査体の表面状態を判定す
る判定装置と、判定装置の判定結果を出力する出力装置
とを有して構成される表面状態検査装置であって、判定
装置は、撮像装置からの映像入力信号なA/D変換して
2次元のデジタル画像を作り、上記デジタル画像データ
に対して2次微分処理を行なって欠陥を強調し、上記欠
陥発生方向に各画素の濃度値を積分し、欠陥発生方向に
直交する一次元の濃度積分値信号とし、上記濃度積分値
の平均を求め、上記平均濃度積分値に一定のオフセット
値を加えたしきい値を定め、各濃度積分値を上記しきい
値と比較して被検査体の表面状態の良/不良を判定する
ようにしだものである。
[作用] 本発明によれば、下記■〜■の作用がある。
■テレビカメラ等の汎用性のある撮像装置を用ぃて表面
状態を検出でき、装置構成をコンパクトにてきる。
0表面の濃度を欠陥発生方向に積分して表面状態を判定
するものであり、照明むら等の雑音の影響を消すことか
でき、スジ状の欠陥等の表面状態を確実に検出できる。
■表面の濃度により表面状態を検出するものであるため
、表面状態を人間の目に近い状態て検出てきる。
[実施例] 第1図は本発明の検査装置の一例を示すブロック図、第
2図は検査手順なを示す流れ図、第3図は表面に存在す
るスジ状の欠陥を示す模式図、第4図は2次微分のマト
リクス図、第5図は濃度値信号を示す分布図、第6図は
濃度積分値信号を示す分布図である。
表面状態検査装置1は、テレビカメラ10(撮像装W)
と、判定装置20と、出力装置30とを有し、被検査体
である例えばフィルム11の表面の異常の有無を検査す
る。
表面状態検査装置1の基本的動作は下記(1)〜(4)
である。
(1)テレビカメラ10により、フィルム11の表面を
撮像する。
テレビカメラ10は、画素単位でサンプリングした多値
画像を判定装M20に転送する。
(2)判定装置20は、テレビカメラ10の撮像データ
をA/D変換器21で例えば8ビツト(256階調)に
て量子化し、MXN画素のデジタル画像を作り、これを
画像メモリ22に入力する。
(3)判定装置20は、画像メモリ22に入力された画
像に基づいて、CPU23により表面におけるスジ状の
欠陥の有無を判定する。
(4)出力装w30は、判定装置20の判定結果を表示
し、必要により警報を発生せしめる。
尚、撮像装置(10)としては、テレビカメラの代わり
に、M個の空間分解能を持つラインセンサを用いても良
く、この場合には、ラインセンサと被検査体とを相対移
動させ、得られるN側群のデータを画像メモリに蓄える
判定装置2oは、必ずしも画像メモリ22を用いず、A
/D変換器21の出力データを直接的にCPU23に入
力しても良い。
然るに、上記判定装置20による判定動作は下記■〜■
の如くなされる(第2図参照)。
■MXN画素のデジタル画像データに対して、例えば第
4図に示すオペレータを作用させ2次微分処理を行ない
、欠陥を強調する。
即ち、MXN画素のデジタル画像データに対して、例え
ば第4図に示すような重みをもった空間フィルタにより
積和演算し、2次微分処理を行ない、欠陥と背景の濃度
差を拡げ、欠陥信号を強調する。
■照明むら等の雑音の影響を消すために、上記欠陥発生
方向(例えばN方向)に各画素の濃度値を積分する( 
f (M、N)は各画素の濃度値)、これにより、欠陥
発生方向に直交する1次元の濃度積分値信号を得る。
S (M)  = f (M、1)  + f (M、
2)  十・・・・・・+ f (M、N−1)  +
 f (M、N)      ・・・(1)■上記濃度
積分値S (M)の平均値AVEを求める。
AVE= (S (1) +S (2)+・・・・・・
十S (M−1) 十S (M))/ M・・・(2) ■上記平均濃度積分値AVEに、予め求めておいたオフ
セット値Zを加えたしきい値を定める。
■各濃度積分値(S(I)、I:1,2.・・・M−1
、M)を、上記しきい値(AVE+Z)と比較し、被検
査体の表面状態の良/不良を判定し、結果を出力する。
5(I)>AVE+Z=>不良 (1≦■≦M)   ・・・(3) 第5図は各画素の濃度値の積分を行なわない場合の、M
方向のあるラインでの濃度プロファイルである。雑音の
影響が大きく、表面状態の良/不良を判別できないこと
が認められる。
第6図は本発明の表面状態検査装置1を用いて被検査体
の表面状態の良/不良を判定したものであり、各画素の
濃度値の積分によって、表面状態の良/不良を確実に判
別てきることが認められる。
上記実施例によれば、下記■〜■の作用かある。
■テレビカメラ10等の汎用性のある撮像装置を用いて
表面状態を検出でき、装置構成をコンパクトにてきる。
■表面の濃度を欠陥発生方向に積分して表面状態を判定
するものであり、照明むら等の雑音の影響を消すことが
でき、スジ状の欠陥等の表面状態を確実に検出てきる。
0表面の濃度により表面状態を検出するものであるため
、表面状態を人間の目に近い状態て検出てきる。
尚、本発明は、表面の異常検査のみてなく、表面状態の
等級分類等のために広く利用てきる。
[発明の効果コ 以上のように本発明によれば、コンパクトな装置構成に
より、スジ状の欠陥等の表面状態を、人間の目に近い状
態で確実に検出することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の検査装置の一例を示すブロック図、第
2図は検査手順をを示す流れ図、第3図は表面に存在す
るスジ状の欠陥を示す模式図、第4図は2次微分のマト
リクス図、第5図は濃度値信号を示す分布図、第6図は
濃度積分値信号を示す分布図である。 10・・・撮像装置、 20・・・判定装置、 30・・・出力装置。 特許出願人 積水化学工業株式会社 代表者 廣 1) 馨 第5図 M               M < a ) 良品ノa度プロファイル (b)不良品の
濃度プロファイル第6図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)被検査体の表面を撮像する撮像装置と、撮像装置
    の撮像結果に基づいて被検査体の表面状態を判定する判
    定装置と、判定装置の判定結果を出力する出力装置とを
    有して構成される表面状態検査装置であって、判定装置
    は、撮像装置からの映像入力信号をA/D変換して2次
    元のデジタル画像を作り、上記デジタル画像データに対
    して2次微分処理を行なって欠陥を強調し、上記欠陥発
    生方向に各画素の濃度値を積分し、欠陥発生方向に直交
    する一次元の濃度積分値信号とし、上記濃度積分値の平
    均を求め、上記平均濃度積分値に一定のオフセット値を
    加えたしきい値を定め、各濃度積分値を上記しきい値と
    比較して被検査体の表面状態の良/不良を判定するもの
    である表面状態検査装置。
JP2331180A 1990-11-28 1990-11-28 表面状態検査装置 Pending JPH04198743A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2331180A JPH04198743A (ja) 1990-11-28 1990-11-28 表面状態検査装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2331180A JPH04198743A (ja) 1990-11-28 1990-11-28 表面状態検査装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH04198743A true JPH04198743A (ja) 1992-07-20

Family

ID=18240785

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2331180A Pending JPH04198743A (ja) 1990-11-28 1990-11-28 表面状態検査装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH04198743A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110111315A (zh) * 2019-04-26 2019-08-09 五邑大学 一种基于cis的圆柱体表面检测方法、装置及存储介质
JP2021071298A (ja) * 2019-10-29 2021-05-06 コニカミノルタ株式会社 画像検査装置及び画像検査システム

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110111315A (zh) * 2019-04-26 2019-08-09 五邑大学 一种基于cis的圆柱体表面检测方法、装置及存储介质
CN110111315B (zh) * 2019-04-26 2021-01-26 五邑大学 一种基于cis的圆柱体表面检测方法、装置及存储介质
JP2021071298A (ja) * 2019-10-29 2021-05-06 コニカミノルタ株式会社 画像検査装置及び画像検査システム

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH06229943A (ja) 写真部材の表面上の汚損を検出及びマッピングするための処理方法
KR100250631B1 (ko) 화상처리방법
JP3854585B2 (ja) 液晶パネルの表示欠陥検出方法及び表示欠陥検査装置
JPH04198743A (ja) 表面状態検査装置
JPH1096696A (ja) 対象物にあるむらの検査方法および装置
JPH08145907A (ja) 欠陥検査装置
EP0816825A2 (en) Method and apparatus for inspecting streak
JPH04198744A (ja) 表面状態検査装置
JP3022627B2 (ja) 欠陥検査装置
US6335982B1 (en) Method and apparatus for inspecting streak
JP2965370B2 (ja) 欠陥検出装置
JPH04364446A (ja) 欠陥検査装置
JPH04299785A (ja) 色むら検査装置
JPH0438457A (ja) 表面状態検査装置
JPH03111746A (ja) 表面状態検出装置
JP3175347B2 (ja) シート状製品の異物混入検査方法
JPH0438455A (ja) 表面状態検査装置
JPH04364444A (ja) 欠陥検査装置
JPH0438456A (ja) 表面状態検査装置
JPH04364447A (ja) 欠陥検査装置
JPH04152254A (ja) 表面状態検査装置
JPH04147044A (ja) 表面状態検査装置
JPH04364450A (ja) 欠陥検査及び識別装置
JPH04152253A (ja) 表面状態検査装置
JPH04152252A (ja) 表面状態検査装置