JPH04198778A

JPH04198778A - アレイ増幅器

Info

Publication number: JPH04198778A
Application number: JP2331109A
Authority: JP
Inventors: Susumu Adachi; 晋足立
Original assignee: Shimadzu Corp
Current assignee: Shimadzu Corp
Priority date: 1990-11-28
Filing date: 1990-11-28
Publication date: 1992-07-20
Anticipated expiration: 2015-03-21
Also published as: JP3024214B2

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】〈産業上の利用分野〉本発明は、例えば多チャンネルのセンサからのアナログ
信号を処理するのに用いられるアレイ増幅器に関する。

〈従来の技術〉多チャンネルのセンサからの各信号を、それぞれ変換・
増幅するアレイ増幅器は、近年、アナログＬＳＩ技術を
用いて高密度に集積化されつつある。このようにＬＳＩ
化されたアレイ増幅器は、多チャンネルのセンサ数に相
当する入力パッドを備えており、各センサとの接続は、
一般にその各入力パッドにワイヤボンディングを施した
り、あるいははんだバンブを形成することによって行わ
れる。また、ＬＳＩ化された各増幅器の良否判定も、各
入力パッドにブローバの針を接触させて、その入力パッ
ドからテスト信号を入力することによって行われるの一
般的である。

〈発明が解決しようとする課題〉ところで、ＬＳＩ化された従来のアレイ増幅器において
は、配線基板にＬＳＩを実装してしまうと、各チャンネ
ルごとにテスト信号を入力することは困難であった。す
なわち、テスト信号用の入力パッドを各チャンネルごと
に設けると、入力端子数が大幅に増加し、ＬＳＩ自体が
大きくなるばかりでなく、そのＬＳＩおよび基板上の配
線の引き回しも非常に難しくなる。このため、現状では
テスト信号用の入力パッドは全チャンネル共通のものを
一つだけ設けて、その共通の入力パッドからテスト信号
を入力する方式が採用されている。

ところが、このような方式によると、例えばクロストー
クの測定などのような各チャンネルごとにテスト信号を
個別に入力することを必要とするテストを行うことは実
質的に不可能であった。

〈課題を解決するための手段〉本発明は、上記の従来の問題点を解決すべくなされたも
ので、その構成を実施例に対応する図面を参照しつつ説
明すると、本発明は、複数個の増幅器１・・・４が集積
化されてなるアレイ増幅器において、各増幅器１・・・
４の入力部にそれぞれスイ・ソチ１ｂ・・・４ｂを介し
て接続された一つのテスト信号入力パッドと、その各ス
イッチの開閉をそれぞれ個別に制御する制御回路２１・
・・２４が形成されていることによって特徴づけられる
。

く作用〉各スイッチ１ｂ・・・４ｂの開閉動作を制御するすると
により、各増幅器１・・−４のうち、いずれかをテスト
信号入力パッド３に選択的に接続することができる。こ
こで、制御回路２１・・・２４は、例えば入力パッド４
および５を用いて外部入力信号によりその駆動を制御す
ることか可能で、従って、実装完了後においても、各増
幅器１・・・４をそれぞれ個別にテストすることを実現
できる。しかも、新たに設ける入力パッドの数は、例え
ば三つ程度と少なくて済む。

〈実施例〉本発明の実施例を、以下、図面に基づいて説明する。

図面は本発明実施例の回路構成を示すプロ・ｙり図であ
る。

アレイ化された増幅器１・・・４の入力部は、それぞれ
アナログスイッチ１ａ・・・４ａを介して入カッくラド
１１・・・１４に接続されている。また、各増幅器１・
・・４の入力部には、それぞれアナログスイッチ１ｂ・
・・４ｂを介して一つのテスト信号人カノク・ラド３が
接続されている。さらに各増幅器１・・・４の出力側に
は、それぞれ出力パッド６１・・・６４がそれぞれ接続
されている。

各増幅器１・・・４の入力側に接続された一対のアナロ
グスイッチ、例えば増幅器１の入力側のスイッチ１ａお
よび１ｂのドライブ入力端子は、伴にＤフリップフロッ
プ２１の出力端子Ｑに接続されており、Ｄフリップフロ
ップ２１の出力値が［Ｌ」のときにはスイッチ１ａが「
閉」にスイッチ１ｂが［開Ｊになり、一方、出力値が［
Ｈ」のときには反転してスイッチ１ａが「開」にスイッ
チ１ｂが「閉」となる。そして、他の増幅器２，３およ
び４０入力側に接続されたスイッチ２ａ・・・４ａおよ
び２ｂ・・・４ｂも、それぞれＤフリップフロップ２２
．２３および２４の各出力に従って同様に動作する。

Ｄフリップフロップ２１の入力端子りにはＤ入力パッド
４が接続されている。またこの一番目のＤフリップフロ
ップ２１の出力端子Ｑは二番目のＤフリップフロップ２
２の入力端子りに接続され、以下、同様にして四番目ま
での各Ｄフリップフロップ２２．２３および２４がそれ
ぞれ相互に接続されている。また、各Ｄフリップフロッ
プ２１・・・２４のそれぞれの入力端子Ｃは一つのＣ入
力パッド５に接続されている。

以上の増幅器１・・・４．アナログスイッチ１ａ・・・
４ａおよび１ｂ・・・４ｂならびにＤフリップフロップ
２１・・・２４は一枚のチップにＬＳＩ化されており、
入力パッド１１・・・１４．出力パッド６１・・・６４
、テスト信号入力パッド３ならびにＤおよびＣ入力パッ
ド４および５は、そのチップの所定位置に形成される。

次に、各部の動作とともに本発明実施例の作用を述べる
。

まず、各Ｄフリップフロップ２１・・・２４はＣ入力に
よって制御され、Ｄ入力によりその出力値Ｑがシリアル
にロードされる。従ってＤ入力を適宜に設定してＤフリ
ップフロップ２１・・・２４のいずれかを、「Ｈ」にロ
ードすることにより、そのロードしたレジスタに対応す
る増幅器をテスト信号入力パッド３に接続することがで
きる。例えば、Ｄフリップフロップ２１のみを「Ｈ」に
ロードすると、アナログスイッチ１ａが「開」にスイッ
チ１ｂが「閉」となって増幅器１のみがテスト信号入力
パッド３に接続される。そして、この状態において、増
幅器１をテスト動作させた時には、他の増幅器２・・・
３間において、どの程度のクロストークが存在するかを
チエツクすることができる。

あるいは逆に、増幅器２・・・３を同時動作させた時に
は、増幅器１の出力は安定であるか否かをチエツクする
ことができる。

ここで、アナログＬＳＩチップにおいては、実装状態に
よってその特性が変化する場合がしばしばあり、実装完
了後において例えばクロストーク等の測定を行えること
が望まれているが、このような実装完了後のテストは従
来では不可能であった。これに対し、上述したように本
発明実施例においてはそれも可能となる。

また、以上の本発明実施例においては、テスト用端子と
して新たに追加されるパッド数は三つのみで済み、基板
上の配線の引き回し等を比較的容易に行うことができる
。しかも、ＬＳＩチップ内の増幅器の数および実装され
るＬＳＩチップの数に関係なく、そのパッド数を一定に
できるという利点もある。

〈発明の効果〉以上説明したように、本発明によれば、ＬＳＩ化した複
数の増幅器の各入力部を、それぞれスイッチを介して一
つのテスト信号入力パッドに接続するとともに、その各
スイッチをそのＬＳＩチップの外部入力信号によりそれ
ぞれ個別に開閉制御し得るよう構成したので、例えばテ
スト信号入力パッドとスイッチを制御するための二つの
制御信号入力パッドの合計三つのパッドを追加するだけ
でよく、ＬＳＩチップ実装完了後において、各増幅器の
動作をそれぞれ個別にチエツクすることか可能となる。

これによって、従来では困雌とされていた各増幅器間に
おけるクロスストーク等の測定の実現が可能なった。ま
た、ＬＳＩチップ実装前において動作テストを行う場合
、従来では、ブローバの針が互いに近接した状態となり
、特にクロストークの測定においては、そのブローバ針
の相互の干渉により測定精度があまり良くなかったが、
本発明によると、テスト信号入力パッドにより任意のチ
ャンネルに信号を導入できるため、その測定を高精度に
行うことも可能となる。

【図面の簡単な説明】

図面は本発明実施例の回路構成を示すブロック図である
。１・・・４・・・増幅回路１ａ・・・４ａ・・・アナログスイッチ１ｂ・・・４ｂ
・・・アナログスイッチ２１・・・２４・・・Ｄフリッ
プフロップ３・・・テスト信号入力パッド４・・・Ｄ入力パッド５・・・Ｃ入力パッド１１・・・１４・・・入力パッド６１・・・６４・・・出力パッド特許出願人　　　　株式会社島津製作所代　理−人　　
　　弁理士　西１）新

Claims

【特許請求の範囲】

複数個の増幅器が集積化されてなるアレイ増幅器におい
て、上記各増幅器の入力部にそれぞれスイッチを介して
接続された一つのテスト信号入力パッドと、その各スイ
ッチの開閉をそれぞれ個別に制御する制御回路が形成さ
れていることを特徴とするアレイ増幅器。