JPH043370U - - Google Patents

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JPH043370U
JPH043370U JP4229690U JP4229690U JPH043370U JP H043370 U JPH043370 U JP H043370U JP 4229690 U JP4229690 U JP 4229690U JP 4229690 U JP4229690 U JP 4229690U JP H043370 U JPH043370 U JP H043370U
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  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
  • Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)

Description

【図面の簡単な説明】
第１図はこの考案の一実施例を説明するための
側面図、第２図はこの考案による校正用治具の回
路構造を説明するための接続図、第３図はこの考
案による校正用治具の実施例を説明するためのブ
ロツク図、第４図はその動作を説明するための波
形図、第５図は従来のアナログＩＣテスタの校正
方法を説明するためのブロツク図である。 １００……アナログＩＣテスタ本体、２００…
…被試験アナログＩＣ、３００……ＤＵＴボード
、５００……校正用治具、５０１……絶縁基板、
５０２，５０２Ａ〜５０２Ｎ，５０２Ｑ……導電
ピン、５０３……マルチプレクサ。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 Ａ 被試験ＩＣの端子の配列と同一の配列で絶縁
    基板に植設された複数の導電ピンと、 Ｂ 上記絶縁基板に実装され被試験ＩＣに信号が
    印加される端子に対応する位置の導電ピンを入力
    端子に接続し、被試験ＩＣの出力端子に対応する
    位置の導電ピンを出力端子に接続したマルチプレ
    クサと、 によつて構成したアナログＩＣテスタの校正用治
    具。
JP4229690U 1990-04-20 1990-04-20 アナログｉｃテスタの校正用治具 Expired - Fee Related JP2517456Y2 (ja)

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JPH043370U true JPH043370U (ja) 1992-01-13
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CN100529783C (zh) * 2003-09-09 2009-08-19 株式会社爱德万测试 校准比较器电路

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