JPH04208552A - Substrate table for dicing - Google Patents

Substrate table for dicing

Info

Publication number
JPH04208552A
JPH04208552A JP2400026A JP40002690A JPH04208552A JP H04208552 A JPH04208552 A JP H04208552A JP 2400026 A JP2400026 A JP 2400026A JP 40002690 A JP40002690 A JP 40002690A JP H04208552 A JPH04208552 A JP H04208552A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
blade
dresser
wafer
chipping
dicing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2400026A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hisahiro Okamoto
九弘 岡本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP2400026A priority Critical patent/JPH04208552A/en
Publication of JPH04208552A publication Critical patent/JPH04208552A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Dicing (AREA)

Abstract

PURPOSE:To remove the pressure sensitive adhesive and the chip adhering to the blade so as to prevent the enlargement of chipping and the chipping at the rear by providing a dresser in the vicinity of the circumference of the substrate stuck to the table, and cutting in the dresser with the blade together with the dicing of the substrate. CONSTITUTION:In a table 1, a wafer 3 is stuck to approximately the center of a circular adhesive tape 2 being the base, which has a pressure sensitive adhesive 2a, and a circular dresser plate 4 with a specified width is stuck to the vicinity of the wafer 3. This dresser plate 4 is made of, for example, the sintered substance, which has silicon carbide for its main ingredient, and the pressure sensitive adhesive, etc., adhering to the blade are removed. Moreover, a frame 5 is provided at the periphery of the adhesive tape 2, and it dices the wafer 3 into chip units along the specified cutting line in longitudinal and lateral directions. And after the blade dices the one line of the board, it is brought into contact with the dresser to polish the blade. Hereby, the chipping in the board does not enlarge, and it ceases to cause the chipping at the rear.

Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

[00011 [00011

【産業上の利用分野]本発明は、基板を所定単位にダイ
シングするのに使用されるダイシング用基板テーブルに
関する。近年、例えばウェハ基板をチップ単位に切削す
る場合、自動化、品質向上のためフルカットする方法が
主流となっている。フルカットは、ウェハをテーブルに
固着している粘着剤まで切込むために切削抵抗が増して
チップの欠は等で不良となり易いことから、不良の少な
いダイシングが要求されている。そのため、ダイシング
を行うブレードを定期的に研磨する必要がある。 [0002] 【従来の技術】図3に、従来のウェハのダイシングを説
明するための図を示す。図3(A)におけるテーブル2
0は、ウェハ21が粘着テープ22上の略中夫に貼着さ
れ、該テーブル20の周縁部にフレーム23が設けられ
たもので、該ウェハ21は切削ライン24でダイシング
されるものである。 [0003]このようなウェハ21をダイシングする場
合、図3(B)に示すように、ブレード25によりテー
ブル20上の粘着テープ22の20〜50μmまで切込
み、該ウェハ21をフルカットする。しかし、ダイシン
グするにつれて粘着テープ22の粘着剤22aがブレー
ド25に付着して、チンピング26aが大きくなったり
、ウェハ背面に欠け26bを生じる。欠け26b等が、
チップのピックアップの際にチップ表面に載ると、アセ
ンブリ工程でのワイヤ間のショートやパッド間のショー
トを招く。この場合、テーブル20をドレッサプレート
と交換し、該ドレッサプレートでブレード25を研磨し
た後にダイシングを行ったり、またはドレッサを移動に
よりダイシング中のブレード25に接触させて研磨しな
がらダイシングを行っている。 [0004]図3 (C)は、ダイシング中にブレード
を研磨する場合を示したものである。すなわち、ブレー
ド25近傍に移動可能にドレッサ27が配置され、図示
しない駆動機構により矢印方向に移動して該ブレード2
5と接触、非接触を繰返すものである。 [0005]
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a dicing substrate table used for dicing a substrate into predetermined units. In recent years, for example, when cutting a wafer substrate into chips, a full-cut method has become mainstream for automation and quality improvement. Full-cutting increases cutting resistance because it cuts into the adhesive that adheres the wafer to the table, and is likely to cause defects such as chipping, so dicing with fewer defects is required. Therefore, it is necessary to periodically polish the dicing blade. [0002] FIG. 3 is a diagram for explaining conventional wafer dicing. Table 2 in Figure 3(A)
0, a wafer 21 is stuck on an adhesive tape 22 approximately at the center, a frame 23 is provided on the peripheral edge of the table 20, and the wafer 21 is diced along a cutting line 24. [0003] When dicing such a wafer 21, as shown in FIG. 3(B), the blade 25 cuts into the adhesive tape 22 on the table 20 by 20 to 50 μm to completely cut the wafer 21. However, as the wafer is diced, the adhesive 22a of the adhesive tape 22 adheres to the blade 25, resulting in larger chimping 26a and chipping 26b on the back surface of the wafer. The chipping 26b etc.
If it is placed on the chip surface when the chip is picked up, it may cause shorts between wires or pads during the assembly process. In this case, the table 20 is replaced with a dresser plate, and dicing is performed after polishing the blade 25 with the dresser plate, or the dresser is moved to contact the blade 25 during dicing and dicing is performed while polishing. [0004] FIG. 3(C) shows a case where the blade is polished during dicing. That is, a dresser 27 is movably arranged near the blade 25, and is moved in the direction of the arrow by a drive mechanism (not shown) to cover the blade 2.
5, contact and non-contact are repeated. [0005]

【発明が解決しようとする課題】しかし、テーブル20
を交換して行うブレード25の研磨は、ウェハ21のチ
ッピングが大きくなった後、またはウェハ背面の欠けが
生じた後に行われることから、欠は等を完全に防止する
ことができず、研磨に大幅な時間を費やすという問題が
ある。 [0006)また、図3(C)のようにドレッサ27を
移動させて行うブレード25の研磨は、該ドレッサ27
を移動させるための駆動機構が別に必要になるという問
題がある。そこで、本発明は上記課題に鑑みなされたも
ので、装置が小型かつ安価であり、基板のチッピングに
よる不良及び背面の欠けを減少させるダイシング用基板
テーブルを提供することを目的とする。 [0007]
[Problem to be solved by the invention] However, Table 20
Polishing of the blade 25, which is performed by replacing the blade, is performed after the chipping of the wafer 21 becomes large or after chipping occurs on the back of the wafer, so chipping cannot be completely prevented, and polishing The problem is that it takes a lot of time. [0006] Furthermore, polishing of the blade 25 by moving the dresser 27 as shown in FIG.
There is a problem in that a separate drive mechanism is required to move the . SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above problems, and an object of the present invention is to provide a substrate table for dicing that is compact and inexpensive, and reduces defects caused by chipping of the substrate and chipping of the back surface. [0007]

【課題を解決するための手段】上記課題は、ブレードよ
り所定単位にダイシングされる基板をセットするダイシ
ング用基板テーブルにおいて、粘着剤が設けられた基材
上に貼着された前記基板の周囲近傍に、前記ブレードに
付着する該粘着剤、その他切屑を除去する所定形状のド
レッサを設けることにより解決される。 [0008]
[Means for Solving the Problems] The above-mentioned problem is solved by using a dicing substrate table in which substrates to be diced into predetermined units by a blade are set. This can be solved by providing a dresser with a predetermined shape for removing the adhesive and other chips adhering to the blade. [0008]

【作用】上述のように、本発明のテーブルは、貼着した
基板の周囲近傍にドレッサを設けている。そして、ブレ
ードにより基板を所定単位でフルカットする場合、ブレ
ードが基板の一ラインをダイシングした後に、ドレッサ
に接触させて該ブレードの研磨を行うものである。 [0009]これにより、基板におけるチッピングが大
きくなることがなく、かつ背面に欠けを生じることがな
い。また、ドレッサを移動させるものではないことから
、駆動機構が不要となり、安価、小型化を図ることが可
能となる。 [00101
[Operation] As described above, the table of the present invention is provided with a dresser near the periphery of the adhered substrate. When the blade is used to fully cut the substrate in predetermined units, the blade is brought into contact with a dresser to polish the blade after dicing one line of the substrate. [0009] This prevents large chipping on the substrate and prevents chipping from occurring on the back surface. Furthermore, since the dresser is not moved, a drive mechanism is not required, making it possible to reduce the cost and size. [00101

【実施例]図1に、本発明の一実施例の構成図を示す。 図1(A)は平面図であり、図1(B)は断面図である
。図1  (A) 、  (B)におけるテーブル1に
おいて、粘着剤2aを有する基材である円形状の粘着テ
ープ2の略中夫に、基板でるあウェハ3が貼着される。 ウェハ3の周囲近傍には、所定幅の円形状のドレッサプ
レート4が貼着される。このドレッサプレート4は、例
えば炭化ケイ素を主成分とした焼結体で形成され、後述
するブレードに付着する粘着剤等を除去するためのもの
である。 また、粘着テープ2の周縁部には、フレーム5が設けら
れる。そして、ウェハ3を縦(Y)方向及び横(X)方
向の所定の切断ライン6に沿って、チップ単位にダイシ
ングを行うものである。 [00111次に、図2に、本発明のダイシングを説明
するための図を示す。図1に示すようなテーブル1は、
ダイシング装置に位置され、ブレード7により切断ライ
ン6に沿ってX、 Y方向にダイシングを行う。図2(
A)において、ブレード7により粘着テープ2 (粘着
剤2a)の20〜50μm程度の深さで切込んでウェハ
3を矢印方向にフルカットしていく。そして、図2(B
)において、ウェハ3のダイシング後にブレード7をド
レッサプレート4に切込ませるものである。すなわち、
ウェハ3のダイシング時に、ブレード7の刃先には粘着
剤2a及び切屑が付着してチッピングの大型化、ウェハ
背面の欠けを惹起する原因となることから、ダイシング
の一ラインことにドレッサプレート4に切込ませてこれ
らを除去すると共に、研磨するものである。従って、ブ
レード7の切削抵抗は常に小さいところで安定する。 [0012] これにより、上述のようにチッピングの
大型化、背面の欠けを防止することができ、半導体素子
の品質を向上させることができる。また、ドレッサプレ
ート4はテーブル1に設けており、ブレード4側に設け
ないことから駆動機構等を必要とせず、ダイシング装置
の安価、小型化を図ることができる。なお、上記実施例
では、基板としてウェハをチップ単位でダイシングする
場合を示したが、これに限らずプリント基板等で微小単
位でダイシングする場合にも適用することができる。ま
た、ドレンシングプレート4は必ずしも円形である必要
はなく、−ライン毎のダイシング方向の延長方向に位置
される形状であればよい。 [0013] 【発明の効果】以上のように本発明によれば、テーブル
に貼着した基板の周囲近傍にドレッサを設け、ブレード
で基板のダイシングと共にドレッサに切込むことにより
、ブレードに付着する粘着剤や切屑を除去してチッピン
グの大型化、背面の欠けを防止することができる。また
、ドレッサはブレード側に設けないことから、ダイシン
グ装置の安価、小型化を図ることができる。
[Embodiment] FIG. 1 shows a configuration diagram of an embodiment of the present invention. FIG. 1(A) is a plan view, and FIG. 1(B) is a sectional view. On the table 1 shown in FIGS. 1A and 1B, a wafer 3, which is a substrate, is attached to the substantially central portion of a circular adhesive tape 2, which is a base material having an adhesive 2a. A circular dresser plate 4 having a predetermined width is attached near the periphery of the wafer 3 . This dresser plate 4 is formed of, for example, a sintered body mainly composed of silicon carbide, and is used to remove adhesive and the like adhering to the blade, which will be described later. Further, a frame 5 is provided at the peripheral edge of the adhesive tape 2. Then, the wafer 3 is diced into chips along predetermined cutting lines 6 in the vertical (Y) direction and the horizontal (X) direction. [00111 Next, FIG. 2 shows a diagram for explaining dicing of the present invention. Table 1 as shown in Figure 1 is
It is placed in a dicing device, and the blade 7 performs dicing along the cutting line 6 in the X and Y directions. Figure 2 (
In A), the blade 7 cuts into the adhesive tape 2 (adhesive 2a) to a depth of about 20 to 50 μm to fully cut the wafer 3 in the direction of the arrow. And, Figure 2 (B
), the blade 7 is made to cut into the dresser plate 4 after dicing the wafer 3. That is,
When dicing the wafer 3, the adhesive 2a and chips adhere to the cutting edge of the blade 7, causing larger chipping and chipping on the back of the wafer. In addition to removing these particles, they are also polished. Therefore, the cutting resistance of the blade 7 is always stable at a small level. [0012] Thereby, as described above, it is possible to prevent the chipping from increasing in size and the back surface from being chipped, and the quality of the semiconductor element can be improved. Further, since the dresser plate 4 is provided on the table 1 and not on the blade 4 side, a drive mechanism or the like is not required, and the dicing apparatus can be made inexpensive and compact. In the above embodiment, a case where a wafer as a substrate is diced in units of chips is shown, but the present invention is not limited to this and can be applied to a case where a printed circuit board or the like is diced in minute units. Moreover, the draining plate 4 does not necessarily have to be circular, but may have any shape as long as it is located in the extension direction of the dicing direction for each -line. [0013] As described above, according to the present invention, a dresser is provided near the periphery of a substrate adhered to a table, and the adhesive adhering to the blade is removed by cutting into the dresser while dicing the substrate with a blade. By removing chemicals and chips, it is possible to prevent larger chips and chipping on the back surface. Furthermore, since the dresser is not provided on the blade side, the dicing apparatus can be made inexpensive and compact.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

【図1】本発明の一実施例の構成図である。FIG. 1 is a configuration diagram of an embodiment of the present invention.

【図2】本発明のダイシングを説明するための図である
FIG. 2 is a diagram for explaining dicing of the present invention.

【図3】従来のウェハのダイシングを説明するための図
である。
FIG. 3 is a diagram for explaining conventional wafer dicing.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 テーブル 2 粘着テープ 2a 粘着剤 3 ウェハ 4 ドレッサプレート 5 フレーム 6 切断ライン 7 ブレード 1 Table 2 Adhesive tape 2a Adhesive 3 Wafer 4 Dresser plate 5 Frame 6 Cutting line 7 Blade

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】ブレード(7)より所定単位にダイシング
される基板(3)をセットするダイシング用基板テーブ
ルにおいて、粘着剤(2a)が設けられた基材(2)上
に貼着された前記基板(3)の周囲近傍に、前記ブレー
ド(7)に付着する該粘着剤(2a)、その他切屑を除
去する所定形状のドレッサ(4)を設けることを特徴と
するダイシング用基板テーブル。
1. In a dicing substrate table on which a substrate (3) to be diced into predetermined units by a blade (7) is set, the adhesive (2a) is attached to a base material (2) provided with an adhesive (2a). A substrate table for dicing, characterized in that a dresser (4) of a predetermined shape is provided near the periphery of the substrate (3) to remove the adhesive (2a) and other chips adhering to the blade (7).
JP2400026A 1990-12-01 1990-12-01 Substrate table for dicing Withdrawn JPH04208552A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2400026A JPH04208552A (en) 1990-12-01 1990-12-01 Substrate table for dicing

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2400026A JPH04208552A (en) 1990-12-01 1990-12-01 Substrate table for dicing

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH04208552A true JPH04208552A (en) 1992-07-30

Family

ID=18509944

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2400026A Withdrawn JPH04208552A (en) 1990-12-01 1990-12-01 Substrate table for dicing

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH04208552A (en)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006312217A (en) * 2005-05-09 2006-11-16 Tokyo Seimitsu Co Ltd Blade conditioning method
JP2008300555A (en) * 2007-05-30 2008-12-11 Disco Abrasive Syst Ltd Dicing frame unit
CN114975103A (en) * 2021-02-24 2022-08-30 三菱电机株式会社 Dividing method of semiconductor wafer

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006312217A (en) * 2005-05-09 2006-11-16 Tokyo Seimitsu Co Ltd Blade conditioning method
JP2008300555A (en) * 2007-05-30 2008-12-11 Disco Abrasive Syst Ltd Dicing frame unit
CN114975103A (en) * 2021-02-24 2022-08-30 三菱电机株式会社 Dividing method of semiconductor wafer

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3809050A (en) Mounting block for semiconductor wafers
KR102574672B1 (en) Workpiece processing method
KR100709457B1 (en) Semiconductor wafer grinding method
JP2005101290A (en) Semiconductor wafer dividing method
KR20150141875A (en) Wafer machining method
KR20150140215A (en) Wafer machining method
KR20150131963A (en) Wafer processing method
JP2000353682A (en) Cutting method of semiconductor protective tape
CN110828362B (en) How to remove the carrier plate
KR20200019566A (en) Semiconductor substrate processing method
JPH11307488A (en) Semiconductor device, manufacturing method thereof, processing guide and processing apparatus
JP4373736B2 (en) Chuck table of processing equipment
JPH0778864A (en) Semiconductor manufacturing apparatus and method of manufacturing semiconductor device
TWI719161B (en) Wafer processing method
JPH0563077A (en) Processing method for semiconductor wafer
KR102680920B1 (en) Method for cutting workpiece
JP2019021703A (en) Cutting method for plate workpiece
JPH04208552A (en) Substrate table for dicing
JP4074758B2 (en) Processing method of semiconductor wafer
JP2003007649A (en) Semiconductor wafer splitting method
JP2002353296A (en) Equipment for peeling wafer protective tape and wafer mounting equipment
JP2014011381A (en) Wafer processing method
JP4476866B2 (en) Wafer holding method
JPH07169720A (en) Dicing machine
JP4373711B2 (en) Cutting method

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 19980312