JPH04208806A - 測距装置 - Google Patents
測距装置Info
- Publication number
- JPH04208806A JPH04208806A JP40002090A JP40002090A JPH04208806A JP H04208806 A JPH04208806 A JP H04208806A JP 40002090 A JP40002090 A JP 40002090A JP 40002090 A JP40002090 A JP 40002090A JP H04208806 A JPH04208806 A JP H04208806A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- distance measuring
- photodetector
- substrate
- lens
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Automatic Focus Adjustment (AREA)
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
- Focusing (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
［０００１１
【産業上の利用分野］本発明はカメラ等の光学機器に搭
載される測距装置に関し、特に、測距対象物に赤外光な
どの光束を投射してその反射光により該対象物までの距
離を測定するアクティヴ方式の測距装置に関する。 【００Ｏ２】
載される測距装置に関し、特に、測距対象物に赤外光な
どの光束を投射してその反射光により該対象物までの距
離を測定するアクティヴ方式の測距装置に関する。 【００Ｏ２】
【従来の技術】従来、カメラ等に搭載されている公知の
測距装置を図２および図３を参照して説明する。 ［０００３］同図において、］、は投投光子で、投光素
子基板２に実装され、ＡＦブロック８に取り付けられて
いる。投光素子１から出た赤外光は投光レンズ５から測
距被写体へ投射され、測距被写体上に赤外スポットを形
成する。測距被写体からの反射光は、受光レンズ６によ
って焦光され、受光素子３の光電変換面上に赤外スポッ
トとして結像する。４は、受光素子が実装されている受
光素子基板である。７は平行な２面をもったプリズムで
あり、不図示の撮影レンズの焦点調節手段（フォーカス
レンズ）と連動し、受光素子光電変換面上の赤外スポッ
ト位置を基線長方向に変位させる働きをもっている。公
知の測距装置は上記の構成により受光素子上の赤外スポ
ット像の位置に従って被写体の距離を検出するものであ
る。 ［０００４］従って、測距被写体からの反射光のうち受
光レンズ６を通ってきた赤外光以外の赤外光が受光素子
に入射すると、ノイズとなるため、測距誤差を生じる原
因となってしまう。このノイズとなる赤外光の例として
は、投光素子基板２とＡＦブロック８との圧接部からの
漏れ光がその多くを占めている。 ［０００５］この漏れ光の対策としては、図３に示すよ
うに、投光素子基板２の裏面を覆う遮光部材３１ （黒
色スポンジ等）や、受光素子３のまわりを覆うように設
けた遮光部材３２ （シールドケースにて兼用も可）等
が必要であった。 ［０００６］
測距装置を図２および図３を参照して説明する。 ［０００３］同図において、］、は投投光子で、投光素
子基板２に実装され、ＡＦブロック８に取り付けられて
いる。投光素子１から出た赤外光は投光レンズ５から測
距被写体へ投射され、測距被写体上に赤外スポットを形
成する。測距被写体からの反射光は、受光レンズ６によ
って焦光され、受光素子３の光電変換面上に赤外スポッ
トとして結像する。４は、受光素子が実装されている受
光素子基板である。７は平行な２面をもったプリズムで
あり、不図示の撮影レンズの焦点調節手段（フォーカス
レンズ）と連動し、受光素子光電変換面上の赤外スポッ
ト位置を基線長方向に変位させる働きをもっている。公
知の測距装置は上記の構成により受光素子上の赤外スポ
ット像の位置に従って被写体の距離を検出するものであ
る。 ［０００４］従って、測距被写体からの反射光のうち受
光レンズ６を通ってきた赤外光以外の赤外光が受光素子
に入射すると、ノイズとなるため、測距誤差を生じる原
因となってしまう。このノイズとなる赤外光の例として
は、投光素子基板２とＡＦブロック８との圧接部からの
漏れ光がその多くを占めている。 ［０００５］この漏れ光の対策としては、図３に示すよ
うに、投光素子基板２の裏面を覆う遮光部材３１ （黒
色スポンジ等）や、受光素子３のまわりを覆うように設
けた遮光部材３２ （シールドケースにて兼用も可）等
が必要であった。 ［０００６］
【発明が解決しようとする課題】前記の従来例では、も
れ光を防ぐために遮光部材が専用の別部品として必要で
あり、以下のような問題があった。 ［０００７］ （１） 別部品であるため、コスト
がかかる。 （部品代や組立式） （２）センサー基板４を覆う部材３２は、センサー基板
上の他の部品実装上の制約となる。 ［０００８１本発明の目的は、前記の問題点を解決し、
従来品よりも高精度の測距を行うことができるとともに
従来品よりも安価なコストで製造でき、また実装基板上
の部品配置に問題が生じる心配のない、改良された測距
装置を提供することである。 ［０００９］
れ光を防ぐために遮光部材が専用の別部品として必要で
あり、以下のような問題があった。 ［０００７］ （１） 別部品であるため、コスト
がかかる。 （部品代や組立式） （２）センサー基板４を覆う部材３２は、センサー基板
上の他の部品実装上の制約となる。 ［０００８１本発明の目的は、前記の問題点を解決し、
従来品よりも高精度の測距を行うことができるとともに
従来品よりも安価なコストで製造でき、また実装基板上
の部品配置に問題が生じる心配のない、改良された測距
装置を提供することである。 ［０００９］
【課題を解決するための手段】本発明では投光手段を受
光手段より後方に配置することにより前記問題点を解決
した。 ［００１０１
光手段より後方に配置することにより前記問題点を解決
した。 ［００１０１
【作用］本発明によれば、投光レンズの位置を、受光レ
ンズの位置に比較して△だけ、ピント方向にずらして設
けることにより、主に受光素子の側面から入り込んでい
た漏れ光の原因個所（投光基板２とＡＦブロック８との
接合部）を受光素子基板４の裏側に持っていくことによ
って漏れ光が受光素子に入ることを防ぐことができる。 ［００１１１ 【実施例］以下に図１を参照して本発明の詳細な説明す
る。 ［００１２］なお、図１において図２及び図３と同じ符
合で表示しである部分は従来装置と同じ部分であるから
説明を省略する。 ［００１３１図１に示すように、本実施例では投光レン
ズ５を受光レンズ６に対し相対的にピント方向に△だけ
、ずらして設けである。そのため漏れ光の発生源である
ＡＦブロック８と投光素子基板２との接合部が受光素子
に対しピント方向にずれ、センサー受光面と受光素子基
板のエツジを結んだ直線より後方になり、漏れ光は、受
光素子基板４によって遮光されることになる。これによ
って少なくとも漏れ光の直接光は受光素子に入らなくな
る。 ［００１４］ 【発明の効果】以上、説明したように、投光レンズ糸を
受光素子３に対し、ピント方向にずらして配置すること
によって、投光素子からの漏れ光が受光素子４に入り込
むのを専用の遮光部材を用いることなく防ぐことができ
るようになるため、コストの低減化と受光素子基板の実
装面積の有効利用を達成することができる。また、本発
明によれば、従来装置よりも高精度の測距を行うことが
できる測距装置が提供される。
ンズの位置に比較して△だけ、ピント方向にずらして設
けることにより、主に受光素子の側面から入り込んでい
た漏れ光の原因個所（投光基板２とＡＦブロック８との
接合部）を受光素子基板４の裏側に持っていくことによ
って漏れ光が受光素子に入ることを防ぐことができる。 ［００１１１ 【実施例］以下に図１を参照して本発明の詳細な説明す
る。 ［００１２］なお、図１において図２及び図３と同じ符
合で表示しである部分は従来装置と同じ部分であるから
説明を省略する。 ［００１３１図１に示すように、本実施例では投光レン
ズ５を受光レンズ６に対し相対的にピント方向に△だけ
、ずらして設けである。そのため漏れ光の発生源である
ＡＦブロック８と投光素子基板２との接合部が受光素子
に対しピント方向にずれ、センサー受光面と受光素子基
板のエツジを結んだ直線より後方になり、漏れ光は、受
光素子基板４によって遮光されることになる。これによ
って少なくとも漏れ光の直接光は受光素子に入らなくな
る。 ［００１４］ 【発明の効果】以上、説明したように、投光レンズ糸を
受光素子３に対し、ピント方向にずらして配置すること
によって、投光素子からの漏れ光が受光素子４に入り込
むのを専用の遮光部材を用いることなく防ぐことができ
るようになるため、コストの低減化と受光素子基板の実
装面積の有効利用を達成することができる。また、本発
明によれば、従来装置よりも高精度の測距を行うことが
できる測距装置が提供される。
【図１】本発明による改良された測距装置の構成を示し
た概略図。
た概略図。
【図２】従来の測距装置の平面図。
【図３】従来の別の測距装置の平面図。
１・・・投光素子 ２・・・投光素子基板３・
・・受光素子 ４・・・受光素子基板５−・・
投光レンズ ６・・・受光レンズ７・・・平行面
プリズム ８・・・ＡＦブロック９・・・ノイズ光
・・受光素子 ４・・・受光素子基板５−・・
投光レンズ ６・・・受光レンズ７・・・平行面
プリズム ８・・・ＡＦブロック９・・・ノイズ光
Claims (1)
- 【請求項１】測距すべき対象に光束を投射する投光手段
と、該対象からの反射光を受光する受光手段と、を、有
する測距装置において、該投光手段が該受光手段よりも
光束投射方向において該対象から遠い位置に配置されて
いることを特徴とする測距装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP40002090A JPH04208806A (ja) | 1990-12-01 | 1990-12-01 | 測距装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP40002090A JPH04208806A (ja) | 1990-12-01 | 1990-12-01 | 測距装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04208806A true JPH04208806A (ja) | 1992-07-30 |
Family
ID=18509939
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP40002090A Pending JPH04208806A (ja) | 1990-12-01 | 1990-12-01 | 測距装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04208806A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2014211366A (ja) * | 2013-04-18 | 2014-11-13 | イビデン株式会社 | ハニカム構造体の製造方法 |
-
1990
- 1990-12-01 JP JP40002090A patent/JPH04208806A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2014211366A (ja) * | 2013-04-18 | 2014-11-13 | イビデン株式会社 | ハニカム構造体の製造方法 |
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