JPH0421049Y2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0421049Y2
JPH0421049Y2 JP3073887U JP3073887U JPH0421049Y2 JP H0421049 Y2 JPH0421049 Y2 JP H0421049Y2 JP 3073887 U JP3073887 U JP 3073887U JP 3073887 U JP3073887 U JP 3073887U JP H0421049 Y2 JPH0421049 Y2 JP H0421049Y2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
contact
probe shaft
probe
shaft
position regulating
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP3073887U
Other languages
English (en)
Other versions
JPS63137811U (ja
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP3073887U priority Critical patent/JPH0421049Y2/ja
Publication of JPS63137811U publication Critical patent/JPS63137811U/ja
Application granted granted Critical
Publication of JPH0421049Y2 publication Critical patent/JPH0421049Y2/ja
Expired legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本考案はタツチ信号プローブに係り、詳しく
は、三次元測定機、その他測定機等に用いられ、
被測定物等との接触を電気的に検出するタツチ信
号プローブに関するものである。
〔背景技術とその問題点〕
従来より、合成樹脂等変形しやすい被測定物の
寸法、形状を高精度に、しかも、被測定物に傷を
つけずに測定するタツチ信号プローブが要望され
ていた。この要望を満たすためには、測定圧が低
く、瞬時動作性に優れ、さらに、オーバラン許容
範囲が広くなければならない。そのため、プロー
ブ軸が位置出し部材側に強力なばねで付勢されて
所定の中立位置に保持されるよう構成された従来
のタツチ信号プローブに改良を加える必要があつ
た。
この技術的課題を解決するため、本出願人は、
実開昭58−180408において、一端に接触子を有す
るプローブ軸をプローブ軸支持体に回動自在に軸
支させるとともに、プローブ軸支持体に。前記プ
ローブ軸と当接してプローブ軸の自由回動を阻止
する位置規制手段をプローブ軸と接離可能に設
け、さらに、プローブ軸と位置規制手段との当接
箇所をタツチ信号検出用の電気接点とし、通常は
極めて微小な力によりプローブ軸と位置規制手段
とが当接してプローブ軸が所定の姿勢に支持さ
れ、接触子が被測定物に接触すると同時にプロー
ブ軸と位置規制手段とが離隔してタツチ信号を発
生するようにした考案を提案した。
ところが、このように構成されたプローブは、
一箇所の接点の電気的導通、遮断を検出するもの
であるため、被測定物に対するプローブの接触方
向が必然的に一方向に限定されてしまい、溝幅
や、穴内径等の測定は、互いに対向する2方向か
らプローブを接触させる必要があるので、事実上
不可能であるという問題点がある。
〔考案の目的〕
本考案の目的は、互いに対向する2方向からプ
ローブを接触させて測定する場合であつても、極
めて小さな測定力で、瞬時動作性に優れ、大きな
オーバラン許容範囲を得ることができるタツチ信
号プローブを提供することにある。
〔問題点を解決するための手段および作用〕
本考案は、一端に接触子を有するプローブ軸を
プローブ軸支持体に回動自在に軸支し、このプロ
ーブ軸と当接してプローブ軸の一方向の回動を阻
止する第1の位置規制手段をプローブ軸と接離可
能に支持体に取付け、前記プローブ軸と当接して
プローブ軸の前記一方向と逆方向の回動を阻止す
る第2の位置規制手段をプローブ軸と接離可能に
支持体に取付け、このプローブ軸他端側に軸方向
移動可能に取付けられた重量片等からなりプロー
ブ軸の前記軸支部を挟んだ接触子側と反接触子側
との重量モーメントの大小を反転してプローブ軸
の第1および第2の位置規制手段の間での回動方
向を変更する重量モーメント反転手段を設け、第
1および第2の位置規制手段とプローブ軸との当
接箇所に第1および第2のタツチ信号検出用の電
気接点を形成したものである。
これにより、互いに対向する2方向から被測定
物にプローブを接触させて測定を行うには、重量
モーメント反転手段を操作してプローブ軸を一方
向に回動させて第1の位置規制手段に微小な力で
当接させ、この状態でプローブを一方向に移動さ
せ、プローブ軸の接触子に被測定物を接触させて
タツチ信号を発生させ、一方、によつてプローブ
軸を、その回動方向を変更させるとともに、第2
の位置規制手段に微小な力で当接させ、この状態
でプローブを前記一方向と反対方向に移動させ、
プローブ軸の接触子に被測定物を接触させてタツ
チ信号を発生させることにより前記目的を達成し
ようとするものである。
〔実施例〕
以下、本考案の一実施例を第1〜第3図に基づ
いて説明する。
第1、第2図には本考案によるタツチ信号プロ
ーブの一実施例の全体構成が示されており、これ
らの図において、導電性のプローブ軸支持体1の
上端側には支持体取付軸3が備えられ、この取付
軸3が三次元測定機、その他の測定機における測
定機本体の可動部(図示せず)に取付けられるよ
うになつている。また、プローブ軸支持体1に
は、下端側に互いに平行に配された厚肉平板状の
一対の側壁4が備えられ、これらの側壁4間に
は、導電性のプローブ軸2がプローブ軸2の径方
向に沿つて配置された軸支部としての支軸5およ
びピポツト軸受6,7を介して回動自在に設けら
れている。
前記プローブ軸2の一端には小球体状の接触子
13が備えられ、他端には重量モーメント反転手
段としての重量片14が設けられている。重量片
14は、略リング状に形成され、プローブ軸2の
前記他端部の外周面に所定範囲に亘つて刻設され
たねじ部15に螺合され、前記所定範囲において
プローブ軸2の軸方向に沿つて移動可能とされて
いる。この際、重量片14は、支軸側に配置され
ると、支軸部5を挟んで接触子側の重量モーメン
トが反接触子側の重量モーメントより大きくなつ
て接触子側が下方、即ち第1図中時計方向に回動
され、一方、反支軸側に配置されると、支軸5を
挟んで接触子側の重量モーメントが反接触子側の
重量モーメントより小さくなつて接触子側が上
方、即ち第1図中反時計方向に回動されるように
されている。特に、重量片14がその移動範囲内
において、最も支軸側または最も反支軸側に位置
されたとき、これらの位置における接触子側モー
メントと反接触子側モーメントとの差の絶対値は
等しいものとされている。これにより、プローブ
軸2の姿勢変更にかかわらず容易に一定の測定圧
を得ることができるようになつている。
前記側壁4の間には、第1図中支軸5より左上
方側に第1の位置規制手段16Aが設けられてい
る。第1の位置規制手段16Aは、導電性の丸棒
体からなり、かつ、前記支軸5と平行に配された
状態で両端側がベークライト等の絶縁性ブツシユ
17を介して側壁4にそれぞれ取付けられてい
る。また、第1の位置規制手段16Aと、プロー
ブ軸2の支軸5と重量片14との中間位置とは、
プローブ軸2の第1図中上方側で当接可能とされ
ている。ここで、プローブ軸2と第1の位置規制
手段16Aとの当接箇所により第1のタツチ信号
検出用の電気接点20Aが形成されている。
前記側壁4の間の第1の位置規制手段16Aの
下方には、第1の位置規制手段16Aと同様構成
の第2の位置規制手段16Bが設けられている。
ここで、支軸5は、第1、第2の位置規制手段1
6A,16Bの中間位置と同じ高さになるように
位置される。第2の位置規制手段16Bと、プロ
ーブ軸2の支軸5と重量片14との中間位置と
は、プローブ軸2の第1図中下方側で当接可能と
され、この当接箇所により第2のタツチ信号検出
用の電気接点20Bが形成されている。
前記支持体1には、第2図中、右側にコネクタ
21が、左側に発光ダイオード22および切換手
段としてのスイツチ23がそれぞれ設けられ、こ
れらと、前記取付軸3、第1、第2の位置規制手
段20A,20Bおよび支持体1に取付けられた
導電性のボルト25とが支持体1内で配線されて
いる。この配線の詳細は、第3図に示されてい
る。即ち、3端子を有するとともに端子1と端子
2との接続および端子2と端子3との接続を切り
換えうるスイツチ23の端子1には、第1の位置
規制手段16Aを介して前記第1の電気接点20
Aが、端子3には、第2の位置規制手段16Bを
介して前記第2の電気接点20Bがそれぞれ接続
されている。一方、スイツチ23の端子2は、プ
ローブ軸2と接続されたコネクタ21の1つの端
子(端子5)と接続され、かつ、第1、第2の電
気接点20A,20B間を移動するプローブ軸2
の支軸5はコネクタ21の他の1つの端子(端子
4)に接続されている。このコネクタ21は、発
光ダイオード22の両端子およびアース用として
前記取付軸3にそれぞれ接続され(端子1,3お
よび2)、かつ、コントローラ30と接続されて
いる。
次に、第4図のブロツク図を用いてこれらの構
成をより詳細に説明する。この図において各ブロ
ツクの添え字は、それぞれコネクタ21および切
換手段としてのスイツチ23の端子を示す。前述
のように、第1、第2の電気接点20A,20B
がスイツチ23を介してコネクタ21に接続さ
れ、このコネクタ21には支軸5および発光ダイ
オード(LED)22が接続されている。これに
より、スイツチ23が切り換えられ、第1の電気
接点20Aとコネクタ21とが、あるいは、第2
の電気接点20Bとコネクタ21とが接続された
状態で、プローブ軸2が第1または第2の位置規
制手段16A,16Bから離れることによつて各
接点20A,20Bが開放されると、コネクタ2
1を介してコントローラ30に接点開放信号が送
られるようになつている。一方、前記スイツチ2
3の端子1〜3には、スイツチ検知手段31が接
続され、このスイツチ検知手段31は、スイツチ
23の切り換え状態を検知する信号をコントロー
ラ30に送るようにされている。このコントロー
ラ30は、タツチ信号検知手段41と、演算手段
42と、LED駆動手段43と、補正手段44と、
記憶手段45とから構成されている。タツチ信号
検知手段41は、コネクタ21から送られる接点
開放信号を検知して演算手段42に信号を送るよ
うになつている。補正手段44は、スイツチ検知
手段31からの信号を受けて前記第1の電気接点
20Aが開放されたのか、あるいは、第2の電気
接点20Bが開放されたのかを判別し、第2の電
気接点20Bが開放されたときのみ記憶手段45
からプローブ軸2の姿勢を変更して測定する際に
生じる接触子13の先端間の寸法差すなわち測定
基準寸法差D(第1図参照)を補正する信号を演
算手段42に送るようになつている。演算手段4
2には変位検出器61からの変移量信号が入力さ
れるようになつており、この変位検出器61は、
たとえば三次元測定機に本考案のタツチ信号プロ
ーブを取付けた場合には、このタツチ信号プロー
ブと三次元測定機本体との相対移動量、すなわち
変位量を検出する直線方向変位エンコーダ等から
構成されている。また、演算手段42は、タツチ
信号検知手段41からの信号を受けて変位検出器
61からの変位量を演算して演算値の信号を表示
手段62に送るようにされている。この際、補正
手段44から信号を受けた時には、補正値の信号
により演算値を補正して表示手段62に送るよう
になつている。LED駆動手段43は、演算手段
42からの信号を受けコネクタ21を介して発光
ダイオード(LED)22を点燈させるようにな
つている。
次に本実施例の作用について説明する。
まず、接触子13を被測定物(図示せず)の上
方側から当接させて被測定物との当接位置の測定
を行うには、重量片14をプローブ軸2の支軸側
に配置させて第1図実線図示の状態とさせ、プロ
ーブ軸2が極めて微小な力で第1の位置規制手段
16Aに下方側から当接するようにし、さらに、
スイツチ23の端子1と2とを接続する。この状
態でプローブ軸2を下降させ被測定物の上方から
接触子13を当接させる。接触子13は、被測定
物に当接されると瞬時に上昇してプローブ軸2が
第1図中反時計方向に回動して第1の位置規制手
段16Aから離反される。これにより、第1のタ
ツチ信号検出用の電気接点20Aが開放され、コ
ネクタ21を介してタツチ信号検知手段41に検
出信号が送られてプローブ軸2と被測定物との接
触が電気的に検出され、プローブ軸2の当接位置
が演算手段42を介して表示手段62に表示され
るとともに、LED駆動手段43により発光ダイ
オード22が点燈されてこの接触の検出が表示さ
れる。この際、第1の電気接点20Aの開放であ
ることはスイツチ検知手段31により検知されて
いるから、補正手段44および記憶手段45によ
つてプローブ軸2の姿勢差に伴う測定基準寸法差
Dの測定値への補正はなされない。
一方、接触子13を被測定物の下方から当接さ
せて測定を行うには、重量片14をプローブ軸2
の反支軸側に配置させ、プローブ軸2の姿勢を変
更して第1図鎖線図示の状態とするとともに、プ
ローブ軸2が極めて微小な力で第2の位置規制手
段16Bに上方側から当接するようにし、さら
に、スイツチ23を切り換えて端子2と3とを接
続する。この状態でプローブ軸2を上昇させ被測
定物の下方から接触子13を当接させて前述と同
様に測定を行う。この際、スイツチ検知手段3
1、補正手段44および記憶手段45によつて、
前記第2の電気接点20Bが開放されたことが検
知されるとともに、プローブ軸2の姿勢が変更さ
れたことによつて生じる接触子13の測定基準寸
法差Dが測定値に対し補正され、この補正値が演
算手段42を介して表示手段62に表示される。
このような本実施例によれば、第1、第2の位
置規制手段16A,16Bにプローブ軸2を極め
て微小な力で当接させておくことによりプローブ
軸2を所定の姿勢に保持できるため、測定圧を極
めて小さくすることができる。従つて、合成樹脂
等の変形しやすい被測定物についても高精度な測
定をすることができる。その上、プローブ軸2を
強力なばねの付勢力に抗して作動させるものでな
いので、瞬時動作性が優れ、この点からね測定精
度の向上が図れ、しかも、プローブ軸2の許容傾
き、延いてはオーバラン許容範囲が広くなり、測
定作業上便利である。その上、重量片14により
プローブ軸2の姿勢を変更できるので、互いに対
向する方向からの測定が行える。従つて、溝幅
や、穴内径等の測定を行うことができる。また、
本実施例によれば、重量モーメント反転手段をプ
ローブ軸2に螺合された重量片14としたので、
タツチ信号プローブを簡易な構造とすることがで
き、かつ、位置調整、延いては測定圧調整を正確
にできる。さらに、スイツチ23およびスイツチ
検知手段31等により、プローブ軸2の姿勢を変
更して測定する際に生じる接触子13の測定基準
寸法差Dを補正でき、測定の迅速性、正確性を確
保できる。
なお、前記実施例では、重量モーメント反転手
段を重量片14としたが、本考案では、これに限
られるものでなく、たとえば、プローブ軸2を第
1または第2の位置規制手段16A,16Bに微
小な力で当接されるように支持体1に配置し、プ
ローブ軸2の姿勢を変更する際に、第1または第
2の位置規制手段16A,16Bからプローブ軸
2が離反する方向に付勢する弱い力のばね等の付
勢手段をプローブ軸2と支持体1とに介装し、プ
ローブ軸2と第2または第1の位置規制手段16
B,16Aとを極めて微小な力で当接させるもの
であつてもよい。このような場合にあつても、前
述と同様に、測定圧を極めて小さなものとするこ
とができ、また、瞬時動作性も優れたものにでき
る。また、重量モーメント反転手段に重量片14
を用いたとしても、前記実施例のように、プロー
ブ軸2の軸方向に沿つて移動自在とすることを必
ずしも要しない。たとえば、重量片14が取付け
られていない状態で、プローブ軸2がその支軸5
を挟んで接触子側が非接触子側より重量モーメン
トが大きくなるように前記支持体1に軸支させ、
常時は第1の位置規制手段16Aに当接されるよ
うにし、一方、プローブ軸2の姿勢を変更するに
は重量片14をプローブ軸2の他端側に取付けて
前記重量モーメントの大小を反転させるものでも
よい。さらに、重量片14をプローブ軸2の軸方
向に往復移動移動可能にするには、必ずしもプロ
ーブ軸2にねじ部15を形成することを要しな
い。たとえば、プローブ軸2の他端側に重量片1
4を軸方向摺動可能に設けると共に、任意位置で
止めねじ等で固定できるようにしたり、あるい
は、重量片14とプローブ軸2との間に軸方向に
所定間隔離れた位置で停止できる節度機構を設け
てワンタツチで位置変更させるものでもよい。た
だし、前記実施例のように、ねじ部15を形成す
ると、重量片14の微小量の移動を容易に行つて
第1、第2の位置規制手段16A,16Bへのプ
ローブ軸2の当接力を容易に調整できる。また、
スイツチ23およびスイツチ検知手段31は、必
ずしも設けることを要せず、たとえば、第5図に
示されるように、プローブ軸2および前記第1、
第2の電気接点20A,20Bをそれぞれコネク
タ210の異なる端子と接続し、これらの電気接
点20A,20Bのいずれかが解放された時にも
検出信号をコントローラ(第5図中図示せず)に
送るとともに、発光ダイオード22を点燈させる
ものでもよい。この際、いずれの電気接点20
A,20Bが解放されたかは接触子13が被測定
物に当接される前の状態で通電状態にある電気接
点20A,20Bが解放されることで判別でき、
この判別に応じて測定基準寸法差の補正が行なわ
れる。すなわち、コネクタ210の端子4から導
電信号があれば第1の電気接点20Aが閉塞され
た状態でプローブ軸2は第1図中実線状態にあ
り、補正は不要で、一方、コネクタ210の端子
6から導電信号があれば第2の電気接点20Bが
解放された状態でプローブ軸2は第1図中鎖線状
態にあり、補正を要する。また、前記実施例で
は、プローブ軸2が第1の電気接点20Aに接触
した状態で測定を行う場合を基準とし、プローブ
軸2が第2の電気接点20Bに接触した状態で測
定を行う場合、記憶手段45に測定基準寸法差D
を記憶させて測定値の補正を行つたが、本考案で
は、プローブ軸2が中立にあるときに測定基準位
置とし、この基準位置からプローブ軸2が第1ま
たは第2の電気接点20A,20Bに当接したと
きの接触子13の移動寸法(D/2)、(−D/
2)を記憶手段45に記憶させて測定値の補正を
するものでもよい。さらにまた、第1、第2の位
置規制手段16A,16Bは、前記支持体1に対
し、第1図中、右側上下に取付けられるもの、上
側または下側左右に取付けられるものでもよく、
その位置は問わない。
〔考案の効果〕
前述のような本考案によれば、互いに対向する
2方向からプローブを接触させて測定する場合で
あつても、極めて小さな測定力で、瞬時動作性に
優れ、大きなオーバラン許容範囲を得ることがで
きる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本考案に係る一実施例の概略構成図、
第2図は第1図中−線に沿う矢視断面図、第
3図は前記実施例の配線図、第4図は前記実施例
のブロツク図、第5図は本考案に係る変形例の配
線図である。 1……プローブ軸支持体、2……プローブ軸、
5……軸支部としての支軸、13……接触子、1
4……重量モーメント反転手段としての重量片、
16A……第1の位置規制手段、16B……第2
の位置規制手段、20A……第1のタツチ信号検
出用の電気接点、20B……第2のタツチ信号検
出用の電気接点、23……切換手段としてのスイ
ツチ。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 (1) プローブ軸支持体に回動自在に軸支され、一
    端に接触子を有するプローブ軸と、 このプローブ軸と接離可能に前記支持体に取
    付けられ、プローブ軸と当接してプローブ軸の
    一方向の回動を阻止する第1の位置規制手段
    と、 前記プローブ軸と接離可能に支持体に取付け
    られ、プローブ軸と当接してプローブ軸の前記
    一方向と逆方向の回動を阻止する第2の位置規
    制手段と、 プローブ軸の前記軸支部を挟んだ接触子側と
    反接触子側との重量モーメントの大小を反転し
    て第1および第2の位置規制手段の間でプロー
    ブ軸の回動方向を変更する重量モーメント反転
    手段と、 第1および第2の位置規制手段とプローブ軸
    との当接箇所に形成された第1および第2のタ
    ツチ信号検出用の電気接点とを備えたことを特
    徴とするタツチ信号プローブ。 (2) 実用新案登録請求の範囲第1項において、前
    記重量モーメント反転手段は、プローブ軸の軸
    支部より反接触子側にプローブ軸の軸方向に移
    動可能に設けられ、この移動により軸支部を挟
    んだ接触子側と反接触子側との重量モーメント
    の大小を反転する重量片であることを特徴とす
    るタツチ信号プローブ。 (3) 実用新案登録請求の範囲第1項または第2項
    において、前記第1の位置規制手段と第2の位
    置規制手段とを電気的に切り換える切換手段を
    備えることを特徴とするタツチ信号プローブ。
JP3073887U 1987-03-02 1987-03-02 Expired JPH0421049Y2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3073887U JPH0421049Y2 (ja) 1987-03-02 1987-03-02

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3073887U JPH0421049Y2 (ja) 1987-03-02 1987-03-02

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS63137811U JPS63137811U (ja) 1988-09-12
JPH0421049Y2 true JPH0421049Y2 (ja) 1992-05-14

Family

ID=30835825

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3073887U Expired JPH0421049Y2 (ja) 1987-03-02 1987-03-02

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0421049Y2 (ja)

Also Published As

Publication number Publication date
JPS63137811U (ja) 1988-09-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS5920642Y2 (ja) タツチ信号プロ−ブ
US3660906A (en) Three-axis inspection probe
WO1983003467A1 (fr) Detecteur bidirectionnel de contact
US12196544B2 (en) Test indicator
US5743020A (en) Three-axis continuous probe
US5836082A (en) Three-axis probe
JPH0421049Y2 (ja)
JP7637329B2 (ja) 形状測定装置
US7415775B2 (en) Orientable probe
US4005528A (en) Measuring device for gauging mechanical pieces in particular pieces including rotation surfaces
JP2987607B2 (ja) 三次元座標測定機
CN217033063U (zh) 一种往复滚摆测试装置
JPS6350751Y2 (ja)
JPS60119402A (ja) 触覚装置
JPS6222002A (ja) 変位検出ヘツド
JPH0137915Y2 (ja)
JPS5815844Y2 (ja) プロ−ブ
JP3019987B2 (ja) 自動寸法測定器
JPS59125011A (ja) 移動体用接触距離センサ
JPH0424642B2 (ja)
JPH0755443Y2 (ja) タッチプローブ
CN210005624U (zh) 自适应探头及机器人
JPH06147807A (ja) 形状測定方法及び装置
JPS6119895Y2 (ja)
SU1728625A1 (ru) Измерительна головка