JPH04214B2 - - Google Patents
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- JPH04214B2 JPH04214B2 JP58071089A JP7108983A JPH04214B2 JP H04214 B2 JPH04214 B2 JP H04214B2 JP 58071089 A JP58071089 A JP 58071089A JP 7108983 A JP7108983 A JP 7108983A JP H04214 B2 JPH04214 B2 JP H04214B2
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- JP
- Japan
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- light
- transmission line
- optical transmission
- wavelength
- optical
- Prior art date
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- Expired - Lifetime
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-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04B—TRANSMISSION
- H04B10/00—Transmission systems employing electromagnetic waves other than radio-waves, e.g. infrared, visible or ultraviolet light, or employing corpuscular radiation, e.g. quantum communication
- H04B10/07—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Light Guides In General And Applications Therefor (AREA)
- Optical Filters (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の属する分野〕
本発明は、光フアイバ通信に用いられる光伝送
路の障害位置切り分けを精度よく行う方法に関す
るものである。特に、加入者系の光伝送路の障害
位置をセンタ側(局側)から試験して切り分ける
方法として適する障害位置切り分け方法に関する
ものである。
路の障害位置切り分けを精度よく行う方法に関す
るものである。特に、加入者系の光伝送路の障害
位置をセンタ側(局側)から試験して切り分ける
方法として適する障害位置切り分け方法に関する
ものである。
公衆電気通信網は加入者伝送系、交換機、中継
伝送系などから成り、運用中に障害が発生した場
合には、障害箇所を速やかに標定するため、障害
位置切り分けを行わなければならない。障害が加
入者伝送系にあることがわかつたときには、セン
タ側からその障害が線路にあるのか、加入者の装
置にあるのかを折返し試験によつて切り分けるこ
とになる。加入者線が金属の平衡2線伝送の場合
には、2線の直流抵抗測定によつて線路が正常か
否かを判断することができた。
伝送系などから成り、運用中に障害が発生した場
合には、障害箇所を速やかに標定するため、障害
位置切り分けを行わなければならない。障害が加
入者伝送系にあることがわかつたときには、セン
タ側からその障害が線路にあるのか、加入者の装
置にあるのかを折返し試験によつて切り分けるこ
とになる。加入者線が金属の平衡2線伝送の場合
には、2線の直流抵抗測定によつて線路が正常か
否かを判断することができた。
加入者系伝送路に光フアイバが適用されると障
害位置が光伝送路であるか、加入者装置であるか
を切り分けるために、それぞれの折返し試験を行
う必要がある。これはセンタから試験を行う場合
には遠端折返し操作になる。一方半導体レーザを
使用する伝送方式では、その動作性能を維持する
ために光伝送路等から装置への反射を極力減らす
ことが必要であつて、障害位置検索のための反射
光および伝送信号用の光が定常的に半導体レーザ
に反射することは好ましいことではない。
害位置が光伝送路であるか、加入者装置であるか
を切り分けるために、それぞれの折返し試験を行
う必要がある。これはセンタから試験を行う場合
には遠端折返し操作になる。一方半導体レーザを
使用する伝送方式では、その動作性能を維持する
ために光伝送路等から装置への反射を極力減らす
ことが必要であつて、障害位置検索のための反射
光および伝送信号用の光が定常的に半導体レーザ
に反射することは好ましいことではない。
従来の遠端折返し操作として、障害切り分けを
行うときだけ被試験光伝送路の遠端に全反射が起
こるように、被試験伝送路の近端から電気信号で
遠端にある反射率の高い鏡を移動させ、上記被試
験光伝送路に近端から送出した光をこれに反射さ
せ、その反射光を検知する方法が考えられてい
た。
行うときだけ被試験光伝送路の遠端に全反射が起
こるように、被試験伝送路の近端から電気信号で
遠端にある反射率の高い鏡を移動させ、上記被試
験光伝送路に近端から送出した光をこれに反射さ
せ、その反射光を検知する方法が考えられてい
た。
第1図および第2図にその一例を示す。第1図
は、通常時に光通信を行つている状態を示し、1
は光送信回路、2は光伝送路、3は光受信回路、
4は制御信号送信回路、5は制御信号受信回路、
6は制御信号受信回路5によつて制御される反射
鏡である。通常時は、光送信回路1から光伝送路
2を介して光受信回路3は光信号を伝送する。
は、通常時に光通信を行つている状態を示し、1
は光送信回路、2は光伝送路、3は光受信回路、
4は制御信号送信回路、5は制御信号受信回路、
6は制御信号受信回路5によつて制御される反射
鏡である。通常時は、光送信回路1から光伝送路
2を介して光受信回路3は光信号を伝送する。
第2図は、反射率と反射点までの距離を求める
方法による障害切り分け試験状態に設定したとき
を示す。7は光パルス送信回路、8は光方向性結
合器、9は光パルス受信回路である。障害切り分
け試験時は、送信側にある制御信号送信回路4よ
り折り返し指令を出し、制御信号受信回路5でこ
れを受信し、反射鏡6を光伝送路2に接続すると
ともに、光送信回路1に代えて、光パルス送信回
路7、光方向性結合器8および光パルス受信回路
9を光伝送路2に接続する。光パルス送信回路7
からの光パルスは、光方向性結合器8を介して光
伝送路2に入射する。入射さた光パルスは光伝送
路2を伝搬し、受信側にある反射鏡6で反射さ
せ、再び光伝送路2を伝搬し、光方向性結合器8
を介して、光パルス受信回路9で受信される。こ
のとき、光パルスを送信してから、その光パルス
が反射鏡6で反射され光パルス受信回路9に受信
されるまでの時間と、その反射光の反射率を測定
すると第3図に示す結果が得られる。すなわち、
光伝送路2の往復時間に相当する位置で、100%
の反射率に近い反射量が見られる。
方法による障害切り分け試験状態に設定したとき
を示す。7は光パルス送信回路、8は光方向性結
合器、9は光パルス受信回路である。障害切り分
け試験時は、送信側にある制御信号送信回路4よ
り折り返し指令を出し、制御信号受信回路5でこ
れを受信し、反射鏡6を光伝送路2に接続すると
ともに、光送信回路1に代えて、光パルス送信回
路7、光方向性結合器8および光パルス受信回路
9を光伝送路2に接続する。光パルス送信回路7
からの光パルスは、光方向性結合器8を介して光
伝送路2に入射する。入射さた光パルスは光伝送
路2を伝搬し、受信側にある反射鏡6で反射さ
せ、再び光伝送路2を伝搬し、光方向性結合器8
を介して、光パルス受信回路9で受信される。こ
のとき、光パルスを送信してから、その光パルス
が反射鏡6で反射され光パルス受信回路9に受信
されるまでの時間と、その反射光の反射率を測定
すると第3図に示す結果が得られる。すなわち、
光伝送路2の往復時間に相当する位置で、100%
の反射率に近い反射量が見られる。
一方、光伝送路2が途中で切断されると、その
切断点で反射が生じるが、その切断面での反射は
ガラスと空気の屈折率差によつて生じるフルネル
反射であるから、切断面が平らでかつ光伝送路の
伝搬軸に直角になる最良の条件になうたとして
も、その反射率は約4%であり、一般の破断障害
では反射率は必ずそれ以下となる。従つて、反射
量を測定すれば反射鏡6による反射が伝送路途中
の破断での反射であるか否かを区別することがで
き、これが反射鏡6による反射であれば、光伝送
路2は正常であることが分る。
切断点で反射が生じるが、その切断面での反射は
ガラスと空気の屈折率差によつて生じるフルネル
反射であるから、切断面が平らでかつ光伝送路の
伝搬軸に直角になる最良の条件になうたとして
も、その反射率は約4%であり、一般の破断障害
では反射率は必ずそれ以下となる。従つて、反射
量を測定すれば反射鏡6による反射が伝送路途中
の破断での反射であるか否かを区別することがで
き、これが反射鏡6による反射であれば、光伝送
路2は正常であることが分る。
しかし、この方法では、被試験光伝送路の遠端
で反射鏡を挿脱する操作が必要である。これを遠
隔操作にするには、反射鏡を制御する制御信号線
が必要である。また遠端に機械的な可動部分を設
けることになるために、装置の信頼性が悪くなる
欠点があつた。
で反射鏡を挿脱する操作が必要である。これを遠
隔操作にするには、反射鏡を制御する制御信号線
が必要である。また遠端に機械的な可動部分を設
けることになるために、装置の信頼性が悪くなる
欠点があつた。
さらに、従来知られている他の方法として、後
方散乱光を理由する障害探索法がある。この測定
系の一例の第4図に示す。第4図において7は高
出力の光パルスを出力する光パルス送信回路、8
は光方向性結合器、9は高感度の光パルス受信回
路である。光パルス送信回路7から光方向性結合
器9を介して高出力光パルスを送出すると、光フ
アイバ内で一様にレイリー散乱が発生する。この
レイリー散乱光のうち、送信側に戻るものを後方
散乱光と呼び、この後方散乱光は逆方向に光伝送
路2を通り、光方向性結合器8を介して光パルス
受信回路9で受信される。このとき、光パルスを
送信してから後方散乱光を受信するまでの時間と
受信された後方散乱光の光量を測定すると、第5
図に示すような測定結果が得られる。第5図で
は、A点より遠方からは後方散乱光が到来したな
いことを示し、A点までは光フアイバが正常であ
ることが分る。ここで、A点までの距離を求める
ために、往復時間を光フアイバ中の光の速度から
求めることができるが、光フアイバ中での光の速
度Vは、 V=C/ε ……(1) ただし、C:真空中での光の速度 ε:光フアイバの群屈折率 となり、ここで、定数Cは十分精密な値が測定さ
れているが、定数εについては、個々の光フアイ
バによつて異なるものでこの測定をそれぞれ精密
に行うことは難しい。一例として、その測定精度
はたかだか0.1%程度である。言いかえれば、A
点までの往復時間から距離を求めるとき上記精度
を2倍して、約0.2%の誤差が出る。さらに、後
方散乱光を測定するための光パルスの半値幅に相
当する時間だけは、必然的にあいまいさを持つて
いる。例えば、100nSecのパルス幅であれば、こ
の半値幅に相当する距離は約10mとなる。その結
果3000mの光伝送路では、生じるが誤差が 3000×0.002+10=16m となり、A点までの標定は16mの不確定さが出る
ことになる。これは、後方散乱光測定を利用する
限り本質的に発生すものである。
方散乱光を理由する障害探索法がある。この測定
系の一例の第4図に示す。第4図において7は高
出力の光パルスを出力する光パルス送信回路、8
は光方向性結合器、9は高感度の光パルス受信回
路である。光パルス送信回路7から光方向性結合
器9を介して高出力光パルスを送出すると、光フ
アイバ内で一様にレイリー散乱が発生する。この
レイリー散乱光のうち、送信側に戻るものを後方
散乱光と呼び、この後方散乱光は逆方向に光伝送
路2を通り、光方向性結合器8を介して光パルス
受信回路9で受信される。このとき、光パルスを
送信してから後方散乱光を受信するまでの時間と
受信された後方散乱光の光量を測定すると、第5
図に示すような測定結果が得られる。第5図で
は、A点より遠方からは後方散乱光が到来したな
いことを示し、A点までは光フアイバが正常であ
ることが分る。ここで、A点までの距離を求める
ために、往復時間を光フアイバ中の光の速度から
求めることができるが、光フアイバ中での光の速
度Vは、 V=C/ε ……(1) ただし、C:真空中での光の速度 ε:光フアイバの群屈折率 となり、ここで、定数Cは十分精密な値が測定さ
れているが、定数εについては、個々の光フアイ
バによつて異なるものでこの測定をそれぞれ精密
に行うことは難しい。一例として、その測定精度
はたかだか0.1%程度である。言いかえれば、A
点までの往復時間から距離を求めるとき上記精度
を2倍して、約0.2%の誤差が出る。さらに、後
方散乱光を測定するための光パルスの半値幅に相
当する時間だけは、必然的にあいまいさを持つて
いる。例えば、100nSecのパルス幅であれば、こ
の半値幅に相当する距離は約10mとなる。その結
果3000mの光伝送路では、生じるが誤差が 3000×0.002+10=16m となり、A点までの標定は16mの不確定さが出る
ことになる。これは、後方散乱光測定を利用する
限り本質的に発生すものである。
従つて第4図において、光受信回路3の接続さ
れている端面から数m手前、例えば宅内配線で破
断が生じていても、その破断を本来の光伝送路終
端部と区別して測定することができず、光伝送路
が正常状態であるか否かを確実に判断できない。
従つて後方散乱光による障害切り分け方法は実用
上は不完全なものになる。
れている端面から数m手前、例えば宅内配線で破
断が生じていても、その破断を本来の光伝送路終
端部と区別して測定することができず、光伝送路
が正常状態であるか否かを確実に判断できない。
従つて後方散乱光による障害切り分け方法は実用
上は不完全なものになる。
本発明は、これらの欠点を改良するもので、識
別能力の高い障害切り分け法を提供することを目
的とする。本発明は装置が簡単であり、信頼性が
高く、加入者系光伝送路に適する障害切り分け方
法を提供することを目的とする。
別能力の高い障害切り分け法を提供することを目
的とする。本発明は装置が簡単であり、信頼性が
高く、加入者系光伝送路に適する障害切り分け方
法を提供することを目的とする。
本発明では、被試験光伝送路の遠端(例えば加
入者端)にフイルタを定常的に挿入しておく。こ
のフイルタで被試験光伝送路の信号伝送に用いる
波長の光と、この波長以外の監視用の波長の光を
分離し、信号伝送に用いる波長の光は本来の信号
通路に導き、監視用の波長の光はこの被試験光伝
送路に反射させるように構成する。被試験光伝送
路の近端(例えば試験センタ)からは遠端に向け
ての被試験光伝送路に監視用の波長の光を入射さ
せ、この光がこの被試験光伝送路に戻つてくる反
射光の光量を検出することを特徴とする。
入者端)にフイルタを定常的に挿入しておく。こ
のフイルタで被試験光伝送路の信号伝送に用いる
波長の光と、この波長以外の監視用の波長の光を
分離し、信号伝送に用いる波長の光は本来の信号
通路に導き、監視用の波長の光はこの被試験光伝
送路に反射させるように構成する。被試験光伝送
路の近端(例えば試験センタ)からは遠端に向け
ての被試験光伝送路に監視用の波長の光を入射さ
せ、この光がこの被試験光伝送路に戻つてくる反
射光の光量を検出することを特徴とする。
この反射光の光量を検出するには、各反射光の
総和を求める方法と、時間軸上での反射光を測定
する方法とがある。時間軸上で反射光を測定する
と、反射点までの距離の概算を求めることができ
る。
総和を求める方法と、時間軸上での反射光を測定
する方法とがある。時間軸上で反射光を測定する
と、反射点までの距離の概算を求めることができ
る。
プレス光の光量を検出する方法には、被試験光
伝送路の近端から、監視に用いる波長の光の他に
信号伝送に用いる波長の光を被試験光伝送路に送
信し、その二つの光の反射光の光量を比較する方
法をとるとよい。このときには、監視に用いる波
長の光および信号伝送に用いる波長の光を時系列
的に被試験光伝送路に送信することにより区別し
てもよい。あるいは、監視に用いる波長の光およ
び信号伝送に用いる波長の光を同時に被試験光伝
送路に送信し、近端にフイルタを設置してこれに
より区別してもよい。
伝送路の近端から、監視に用いる波長の光の他に
信号伝送に用いる波長の光を被試験光伝送路に送
信し、その二つの光の反射光の光量を比較する方
法をとるとよい。このときには、監視に用いる波
長の光および信号伝送に用いる波長の光を時系列
的に被試験光伝送路に送信することにより区別し
てもよい。あるいは、監視に用いる波長の光およ
び信号伝送に用いる波長の光を同時に被試験光伝
送路に送信し、近端にフイルタを設置してこれに
より区別してもよい。
1本の被試験光伝送路上の終端のみに切り分け
のための遠端を設けるのではなく、その塗中に、
距離の異なる複数の遠端を設定し、その複数の遠
端のそれぞれにフイルタを定常的に挿入して切り
分けを行うことができる。このとき、監視に用い
る波長の光として複数の異なる波長の光を設定
し、複数の遠端のフイルタがそれぞれこの複数の
異なる波長の光を分離するように構成することが
できる。
のための遠端を設けるのではなく、その塗中に、
距離の異なる複数の遠端を設定し、その複数の遠
端のそれぞれにフイルタを定常的に挿入して切り
分けを行うことができる。このとき、監視に用い
る波長の光として複数の異なる波長の光を設定
し、複数の遠端のフイルタがそれぞれこの複数の
異なる波長の光を分離するように構成することが
できる。
本発明の第二の発明は上記方法を用いた装置で
あつて、被試験光伝送路の遠端には、この被試験
光伝送路に到来する光から信号伝送に用いる波長
の光と監視に用いる波長の光とを分離するフイル
タと、 このフイルタにより分離された信号伝送に用い
る波長の光を本来の光信号通路に導く手段と、 上記フイルタにより分離された監視に用いる波
長の光を高い反射率で反射させて上記被試験光伝
送路に逆に伝送させる手段と が上記被試験光伝送路に定常的に挿入され、 上記被試験光伝送路の近端には、 上記監視に用いる波長の光をその被試験光伝送
路に送信する手段と、 この被試験光伝送路に反射光として戻る上記監
視に用いる波長の光の光量を検出する手段と を備えたことを特徴とする。
あつて、被試験光伝送路の遠端には、この被試験
光伝送路に到来する光から信号伝送に用いる波長
の光と監視に用いる波長の光とを分離するフイル
タと、 このフイルタにより分離された信号伝送に用い
る波長の光を本来の光信号通路に導く手段と、 上記フイルタにより分離された監視に用いる波
長の光を高い反射率で反射させて上記被試験光伝
送路に逆に伝送させる手段と が上記被試験光伝送路に定常的に挿入され、 上記被試験光伝送路の近端には、 上記監視に用いる波長の光をその被試験光伝送
路に送信する手段と、 この被試験光伝送路に反射光として戻る上記監
視に用いる波長の光の光量を検出する手段と を備えたことを特徴とする。
上記フイルタは信号伝送用の波長の光に対して
無反射えあるように構成することが望ましい。
無反射えあるように構成することが望ましい。
第6図および第7図は、本発明実施例方式の基
本的構成を示す構成図である。第6図において光
伝送路2の遠端(加入者端)に、信号伝送用の波
長の光と監視用の波長の光とを分離するフイルタ
10を設ける。このフイルタ10は監視状態のと
きに限らず、通常の通信時にも定常的に挿入して
おく。このフイルタ10では分離された監視用の
波長の光についてのみ反射鏡11に導き、高い反
射率で反射させる。
本的構成を示す構成図である。第6図において光
伝送路2の遠端(加入者端)に、信号伝送用の波
長の光と監視用の波長の光とを分離するフイルタ
10を設ける。このフイルタ10は監視状態のと
きに限らず、通常の通信時にも定常的に挿入して
おく。このフイルタ10では分離された監視用の
波長の光についてのみ反射鏡11に導き、高い反
射率で反射させる。
通常の信号伝送時は、近端(センタ)から信号
伝送用の光送信回路1から光信号を送信すると、
光信号は光伝送路2を介してフイルタ10に達す
る。このフイルタ10では、信号伝送用の光は分
離され、本来の通信信号の通路である光受信回路
3に導かれて受信される。
伝送用の光送信回路1から光信号を送信すると、
光信号は光伝送路2を介してフイルタ10に達す
る。このフイルタ10では、信号伝送用の光は分
離され、本来の通信信号の通路である光受信回路
3に導かれて受信される。
第7図は障害切り分け試験時の構成を示す。障
害切り分け試験時には、近端では光送信回路1に
代えて、監視用の波長の光を出力する光パルス送
信回路7を接続する。この光パルス送信回路7か
ら送信される光パルスは、光方向性結合器8を介
して被試験光伝送路2に入射し、遠端にあるフイ
ルタ10に達する。このフイルタ10では、監視
用の波長の光は分離され、反射鏡11で反射して
再び被試験光伝送路2に入射した後、光方向性結
合器8を介して、光パルス受信回路9で受信され
る。
害切り分け試験時には、近端では光送信回路1に
代えて、監視用の波長の光を出力する光パルス送
信回路7を接続する。この光パルス送信回路7か
ら送信される光パルスは、光方向性結合器8を介
して被試験光伝送路2に入射し、遠端にあるフイ
ルタ10に達する。このフイルタ10では、監視
用の波長の光は分離され、反射鏡11で反射して
再び被試験光伝送路2に入射した後、光方向性結
合器8を介して、光パルス受信回路9で受信され
る。
このとき、監視用の波長の光パルスを送信して
から、その反射光を受信するまでの時間と反射量
を測定すると、第3図に示すような結果が得られ
る。ここで、フイルタ10における反射鏡11の
反射率をきわめて高く、例えば100%近くに設定
しておくと、光伝送路2の往復時間に当たる位置
で、100%近くの反射率に相当する反射量が見ら
れる。
から、その反射光を受信するまでの時間と反射量
を測定すると、第3図に示すような結果が得られ
る。ここで、フイルタ10における反射鏡11の
反射率をきわめて高く、例えば100%近くに設定
しておくと、光伝送路2の往復時間に当たる位置
で、100%近くの反射率に相当する反射量が見ら
れる。
一方、光伝送路2が途中で切断されている場合
を考えると、切断面での反射はガラスと空気の屈
折率差によつて生じるフレネル反射であり、切断
面が平らで、かつ光伝送路の伝搬軸に直角である
最良の条件にあつても、その反射量は約4%であ
る。一般にはその反射量はさらに小さい。従つ
て、反射量を測定すれば、フイルタ10を透過し
た光の反射鏡11による反射であるか、途中の破
断面による反射であるかを区別することができ
る。これが反射鏡11による反射であれば、この
遠端までの光伝送路2が正常であることが分か
る。破断面による反射であれば、光の伝搬時間か
ら破断面までのおよその距離を標定することがで
きる。
を考えると、切断面での反射はガラスと空気の屈
折率差によつて生じるフレネル反射であり、切断
面が平らで、かつ光伝送路の伝搬軸に直角である
最良の条件にあつても、その反射量は約4%であ
る。一般にはその反射量はさらに小さい。従つ
て、反射量を測定すれば、フイルタ10を透過し
た光の反射鏡11による反射であるか、途中の破
断面による反射であるかを区別することができ
る。これが反射鏡11による反射であれば、この
遠端までの光伝送路2が正常であることが分か
る。破断面による反射であれば、光の伝搬時間か
ら破断面までのおよその距離を標定することがで
きる。
このようにすれば、加入者宅内の障害切り分け
に優れた効果がある。すなわち、加入者宅内の配
線伝送線路で障害が発生した場合を考えると、従
来のフイルタおよび反射鏡を用いない方法では、
障害点から反射する光が、障害点からのものであ
るか伝送路の終端からのものであるかは、距離に
より識別するほかはなかつた。しかし、前述のよ
うに距離の識別精度は十数m以下を区別すること
は不可能であるので、障害点からの反射であるか
伝送路の終端からの反射であるかを区別すること
はできなかつた。本発明の方法では、終端には反
射量の大きい鏡を設置するので、終端からの反射
は光量が大きく、伝送路の障害と明確に区別する
ことができることになる。
に優れた効果がある。すなわち、加入者宅内の配
線伝送線路で障害が発生した場合を考えると、従
来のフイルタおよび反射鏡を用いない方法では、
障害点から反射する光が、障害点からのものであ
るか伝送路の終端からのものであるかは、距離に
より識別するほかはなかつた。しかし、前述のよ
うに距離の識別精度は十数m以下を区別すること
は不可能であるので、障害点からの反射であるか
伝送路の終端からの反射であるかを区別すること
はできなかつた。本発明の方法では、終端には反
射量の大きい鏡を設置するので、終端からの反射
は光量が大きく、伝送路の障害と明確に区別する
ことができることになる。
本発明の方法では制御信号線が不要である。ま
た遠端に機械的な可動部がない。従つて信頼性の
高い障害切り分けが可能となる。
た遠端に機械的な可動部がない。従つて信頼性の
高い障害切り分けが可能となる。
第8図は本発明の別の実施例方式の構成図を示
す。第8図の構成では、光伝送路2の近端にも信
号伝送用の波長の光と監視用の波長の光を分離結
合するフイルタ12を設ける。信号伝送用の光送
信回路1からの光信号は、フイルタ12によつて
光伝送路2に結合されて入射し、光伝送路2を伝
搬する。これは、遠端のフイルタ10によつて分
離されて光受信回路3で受信される。一方、近端
の光パルス送信回路7からは監視用の波長の光を
出力し、送信された光パルスは光方向性結合器8
を介してフイルタ12によつて光伝送路2に結合
され入射する。この監視用の波長の光は光伝送路
2を伝搬し、遠端ではフイルタ10により選択さ
れ、反射鏡11で反射され、再び光伝送路2を逆
方向に伝搬する。これは近端でフイルタ12によ
り監視用の波長として分離され、光方向性結合器
8を介して光パルス受信回路9で受信される。こ
の実施例によれば、信号伝送時でも信号光に影響
を与えることなく同時に障害監視および切り分け
を行うことができるなどの利点がある。
す。第8図の構成では、光伝送路2の近端にも信
号伝送用の波長の光と監視用の波長の光を分離結
合するフイルタ12を設ける。信号伝送用の光送
信回路1からの光信号は、フイルタ12によつて
光伝送路2に結合されて入射し、光伝送路2を伝
搬する。これは、遠端のフイルタ10によつて分
離されて光受信回路3で受信される。一方、近端
の光パルス送信回路7からは監視用の波長の光を
出力し、送信された光パルスは光方向性結合器8
を介してフイルタ12によつて光伝送路2に結合
され入射する。この監視用の波長の光は光伝送路
2を伝搬し、遠端ではフイルタ10により選択さ
れ、反射鏡11で反射され、再び光伝送路2を逆
方向に伝搬する。これは近端でフイルタ12によ
り監視用の波長として分離され、光方向性結合器
8を介して光パルス受信回路9で受信される。こ
の実施例によれば、信号伝送時でも信号光に影響
を与えることなく同時に障害監視および切り分け
を行うことができるなどの利点がある。
フイルタ10および反射鏡11の構成の一例を
第9図に示す。第9図において、12は多層干渉
膜フイルタで、信号伝送用の波長の光13は反射
し、監視用の波長の光14は透過させる。信号伝
送用の波長の光13は、多層干渉膜フイルタ12
で反射され、監視用の波長の光14は多層干渉膜
フイルタ12を透過し、反射鏡11で反射され、
再び多層干渉膜フイルタ12を透過して、入射し
た光路へ戻つて行く。
第9図に示す。第9図において、12は多層干渉
膜フイルタで、信号伝送用の波長の光13は反射
し、監視用の波長の光14は透過させる。信号伝
送用の波長の光13は、多層干渉膜フイルタ12
で反射され、監視用の波長の光14は多層干渉膜
フイルタ12を透過し、反射鏡11で反射され、
再び多層干渉膜フイルタ12を透過して、入射し
た光路へ戻つて行く。
多層干渉膜フイルタ12の特性例を第10図に
示す。第10図において、横軸は波長、縦軸は光
の反射率あるいは透過率を表わす。第9図により
説明した動作を行うために、波長λ1を監視用の波
長に、波長λ2を信号伝送用に選択する。ここで第
10図において、信号伝送用の波長λ2の透過率を
μ2、反射鏡11における波長λ2の反射率をγ2とす
ると、この波長λ2の光が、波長分離フイルタ12
を通過して反射鏡11で反射され、再び元の光伝
送路2に戻る割合R2は、 R2=μ2×γ2×μ2 =μ2 2×γ2 ……(2) と表わされる。すなわち、透過率μ2を小さくして
おけば、戻る光の割合R2はμ2の2乗で表わされ
るため、反射率γ2が1であつても、波長λ2の光が
光伝送路2に戻る割合R2は非常に小さくなる。
さらに、反射鏡11を波長選択性の反射とし、監
視用の波長λ1に対する反射率γ1を大きく信号伝送
用の波長λ2に対する反射率γ2を小さくすれば、監
視用の波長λ1のが光伝送路に戻る割合R1を小さ
くすることなく、波長λ2の光が伝送路に戻る割合
R2は一層小さくなる。
示す。第10図において、横軸は波長、縦軸は光
の反射率あるいは透過率を表わす。第9図により
説明した動作を行うために、波長λ1を監視用の波
長に、波長λ2を信号伝送用に選択する。ここで第
10図において、信号伝送用の波長λ2の透過率を
μ2、反射鏡11における波長λ2の反射率をγ2とす
ると、この波長λ2の光が、波長分離フイルタ12
を通過して反射鏡11で反射され、再び元の光伝
送路2に戻る割合R2は、 R2=μ2×γ2×μ2 =μ2 2×γ2 ……(2) と表わされる。すなわち、透過率μ2を小さくして
おけば、戻る光の割合R2はμ2の2乗で表わされ
るため、反射率γ2が1であつても、波長λ2の光が
光伝送路2に戻る割合R2は非常に小さくなる。
さらに、反射鏡11を波長選択性の反射とし、監
視用の波長λ1に対する反射率γ1を大きく信号伝送
用の波長λ2に対する反射率γ2を小さくすれば、監
視用の波長λ1のが光伝送路に戻る割合R1を小さ
くすることなく、波長λ2の光が伝送路に戻る割合
R2は一層小さくなる。
この結果、第9図において、信号伝送用の波長
λ2の光13が波長フイルタ12で反射された後
に、さらにこれを減衰させるために、無反射コー
トを施すなどして反射しないようにしておけば、
光伝送路2を伝搬して来た信号伝送用の波長λ2の
光が、光伝送路2に戻る割合は上記(2)式で表わさ
れる量だけとなる。
λ2の光13が波長フイルタ12で反射された後
に、さらにこれを減衰させるために、無反射コー
トを施すなどして反射しないようにしておけば、
光伝送路2を伝搬して来た信号伝送用の波長λ2の
光が、光伝送路2に戻る割合は上記(2)式で表わさ
れる量だけとなる。
フイルタ10および反射鏡11の他の構成例を
第11図に示す。第11図で、15は波長によつ
て異なる反射角を有する回折格子である。信号伝
送用の波長の光13が回折格子15に入射する
と、第11図に示す角度θ1で回折される。一方、
監視用の波長の光14が回折格子15に入射する
と、別の角度θ2で回折され、これは反射鏡11で
反射されて、再び回折格子15で回折されて入射
光路へ戻つて行く。
第11図に示す。第11図で、15は波長によつ
て異なる反射角を有する回折格子である。信号伝
送用の波長の光13が回折格子15に入射する
と、第11図に示す角度θ1で回折される。一方、
監視用の波長の光14が回折格子15に入射する
と、別の角度θ2で回折され、これは反射鏡11で
反射されて、再び回折格子15で回折されて入射
光路へ戻つて行く。
第6図あるいは第8図の構成で、光送信回路1
と光受信回路3が入れ替わつても、本発明を実施
することができる。このとき、第9図および第1
1図のフイルタの構成では、信号伝送用の波長の
光13の方向が逆になる。このときでも、波長分
離フイルタ12あるいは回折格子15から、光源
のある光送信回路1の方向に信号伝送用の光13
が戻ることはない。
と光受信回路3が入れ替わつても、本発明を実施
することができる。このとき、第9図および第1
1図のフイルタの構成では、信号伝送用の波長の
光13の方向が逆になる。このときでも、波長分
離フイルタ12あるいは回折格子15から、光源
のある光送信回路1の方向に信号伝送用の光13
が戻ることはない。
これまで、片方向伝送を例に挙げたが、信号伝
送に用いる波長を0.8μm〜1.5μmの中から2以上
選び、片方向波長多重伝送あるいは、双方向波長
多重伝送の光伝送方式にも本発明を適用すること
ができる。
送に用いる波長を0.8μm〜1.5μmの中から2以上
選び、片方向波長多重伝送あるいは、双方向波長
多重伝送の光伝送方式にも本発明を適用すること
ができる。
第12図は、4波長双方向波長多重伝送の光伝
送方式に本発明を実施した例である。信号伝送用
の波長には、0.81μm、0.89μm、1.2μm、1.3μm
の4種類を選び、監視用の波長には0.76μmを選
ぶ。
送方式に本発明を実施した例である。信号伝送用
の波長には、0.81μm、0.89μm、1.2μm、1.3μm
の4種類を選び、監視用の波長には0.76μmを選
ぶ。
現在、容易に入手できる石英系の光フアイバは
0.8μmから1.6μmの波長で光損失が小さく、それ
以上およびそれ以下の波長では光損失が大きくな
る。従つて、信号伝送用の波長として、0.8μm〜
1.6μmを選択する。一方監視試験では、帯域を狭
くしたりあるいは平均化処理を施すなどによつて
信号対雑音比を改善できるので、監視用の波長と
しては、光損失が大きい波長でも十分使用でき
る。ここでは、信号伝送用の波長として、0.81μ
m、0.89μm、1.2μm、1.3μmを選んだので、これ
らの波長より光損失の大きい波長0.76μmを監視
用に選択した。
0.8μmから1.6μmの波長で光損失が小さく、それ
以上およびそれ以下の波長では光損失が大きくな
る。従つて、信号伝送用の波長として、0.8μm〜
1.6μmを選択する。一方監視試験では、帯域を狭
くしたりあるいは平均化処理を施すなどによつて
信号対雑音比を改善できるので、監視用の波長と
しては、光損失が大きい波長でも十分使用でき
る。ここでは、信号伝送用の波長として、0.81μ
m、0.89μm、1.2μm、1.3μmを選んだので、これ
らの波長より光損失の大きい波長0.76μmを監視
用に選択した。
第12図において、16は干渉膜フイルタで、
1μm以上の波長を反射し1μm以下の波長を透過
する。このフイルタ16として実際に用いた干渉
膜フイルタの特性を第13図に示す。17は干渉
膜フイルタで、1μm以上の波長を透過し、1μm
以下の波長を反射させる。フイルタ17として実
際に用いたものの特性を第14図に示す。18は
1.2μm近傍を波長を透過し、それ以外の波長は反
射する干渉膜フイルタである。フイルタ18とし
て実際に用いた干渉膜フイルタの特性を第15図
に示す。19は1.3μm近傍の波長を透過させ、そ
れ以外の波長は反射する干渉膜フイルタである。
フイルタ19として実際に用いた干渉膜フイルタ
の特性を第16図に示す。20は0.89μm近傍の
波長を透過させ、それ以外の波長は反射する干渉
膜フイルタである。フイルタ20として実際用い
た干渉膜フイルタの特性を第17図に示す。21
は0.81μm近傍の波長を透過させ、それ以外の波
長は反射する干渉膜フイルタである。フイルタ2
1として実際に用いた干渉膜フイルタの特性を第
18図に示す。第13図〜第18図に特性を示す
各干渉膜フイルタは、いずれも酸化チタン二酸化
硅素の蒸着膜で構成した。
1μm以上の波長を反射し1μm以下の波長を透過
する。このフイルタ16として実際に用いた干渉
膜フイルタの特性を第13図に示す。17は干渉
膜フイルタで、1μm以上の波長を透過し、1μm
以下の波長を反射させる。フイルタ17として実
際に用いたものの特性を第14図に示す。18は
1.2μm近傍を波長を透過し、それ以外の波長は反
射する干渉膜フイルタである。フイルタ18とし
て実際に用いた干渉膜フイルタの特性を第15図
に示す。19は1.3μm近傍の波長を透過させ、そ
れ以外の波長は反射する干渉膜フイルタである。
フイルタ19として実際に用いた干渉膜フイルタ
の特性を第16図に示す。20は0.89μm近傍の
波長を透過させ、それ以外の波長は反射する干渉
膜フイルタである。フイルタ20として実際用い
た干渉膜フイルタの特性を第17図に示す。21
は0.81μm近傍の波長を透過させ、それ以外の波
長は反射する干渉膜フイルタである。フイルタ2
1として実際に用いた干渉膜フイルタの特性を第
18図に示す。第13図〜第18図に特性を示す
各干渉膜フイルタは、いずれも酸化チタン二酸化
硅素の蒸着膜で構成した。
第12図に戻つて、22は波長1.2μmの信号
光、23は波長1.3μmの信号光、24は波長
0.89μmの信号光、25は波長0.81μmの信号光、
26は波長0.76μmの監視用の光である。27は
光フアイバからの光を平行光にしたり、平行光を
光フアイバに収光するためのレンズ、28および
28′は光フアイバやレンズの屈折率に近似する
屈折率をい有するガラスブロツク、29はレンズ
27に光を入出力する光フアイバである。
光、23は波長1.3μmの信号光、24は波長
0.89μmの信号光、25は波長0.81μmの信号光、
26は波長0.76μmの監視用の光である。27は
光フアイバからの光を平行光にしたり、平行光を
光フアイバに収光するためのレンズ、28および
28′は光フアイバやレンズの屈折率に近似する
屈折率をい有するガラスブロツク、29はレンズ
27に光を入出力する光フアイバである。
第12図で波長1.2μmの信号光22は、干渉膜
フイルタ18を透過し、干渉膜フイルタ16で反
射され、光伝送路2に入射する。波長0.81μmの
信号光25は干渉膜フイルタ21を透過し、干渉
膜フイルタ20,17で反射した後に、干渉膜フ
イルタ16を透過して光伝送路2に入射する。
フイルタ18を透過し、干渉膜フイルタ16で反
射され、光伝送路2に入射する。波長0.81μmの
信号光25は干渉膜フイルタ21を透過し、干渉
膜フイルタ20,17で反射した後に、干渉膜フ
イルタ16を透過して光伝送路2に入射する。
一方、光伝送路2を伝搬して来た波長1.3μmの
信号光は、干渉膜フイルタ16,18で反射さ
れ、干渉膜フイルタ19を透過して信号光23と
して受信される。さらに、光伝送路2を伝搬して
来た波長0.89μmの信号光は、干渉膜フイルタ1
6を透過し、干渉膜フイルタ17で反射した後
に、干渉膜フイルタ20を透過して信号光24と
して受信される。また、光伝送路2を伝搬して来
た波長0.76μmの監視用の光は、干渉膜フイルタ
16を透過し、干渉膜フイルタ17,20,21
でそれぞれ反射し、監視用の光26としてさらに
反射鏡11で反射して、その逆の経路を経て再び
光伝送路2に入射する。
信号光は、干渉膜フイルタ16,18で反射さ
れ、干渉膜フイルタ19を透過して信号光23と
して受信される。さらに、光伝送路2を伝搬して
来た波長0.89μmの信号光は、干渉膜フイルタ1
6を透過し、干渉膜フイルタ17で反射した後
に、干渉膜フイルタ20を透過して信号光24と
して受信される。また、光伝送路2を伝搬して来
た波長0.76μmの監視用の光は、干渉膜フイルタ
16を透過し、干渉膜フイルタ17,20,21
でそれぞれ反射し、監視用の光26としてさらに
反射鏡11で反射して、その逆の経路を経て再び
光伝送路2に入射する。
第19図に、4波長双方向波長多重に本発明を
実施した他の構成例を示す。30は0.89μmと
0.81μmの波長の光を反射し、それ以外の波長の
光を透過する干渉膜フイルタである。その他の構
成は第12図で説明した例と同様である。フイル
タ30の特性を第20図に示す。この例は、信号
伝送用の波長には、0.81μm、0.89μm、1.2μm、
1.3μmを選び、監視用の波長に0.76μmを選んだ
ものである。
実施した他の構成例を示す。30は0.89μmと
0.81μmの波長の光を反射し、それ以外の波長の
光を透過する干渉膜フイルタである。その他の構
成は第12図で説明した例と同様である。フイル
タ30の特性を第20図に示す。この例は、信号
伝送用の波長には、0.81μm、0.89μm、1.2μm、
1.3μmを選び、監視用の波長に0.76μmを選んだ
ものである。
波長1.2μmの信号光22は、干渉膜フイルタ1
8を透過し、干渉膜フイルタ16で反射され、光
伝送路2に入射する。波長0.81μmの信号光25
は干渉膜フイルタ21を透過し、干渉膜フイルタ
20,30で反射した後に、干渉膜フイルタ17
を透過して光伝送路2に入射する。
8を透過し、干渉膜フイルタ16で反射され、光
伝送路2に入射する。波長0.81μmの信号光25
は干渉膜フイルタ21を透過し、干渉膜フイルタ
20,30で反射した後に、干渉膜フイルタ17
を透過して光伝送路2に入射する。
一方、光伝送路2を伝搬して来た波長1.3μmの
信号光は、干渉膜フイルタ16,18で反射さ
れ、干渉膜フイルタ19を透過して信号光23と
して受信される。さらに、光伝送路2を伝搬して
来た波長0.89μmの信号光は、干渉膜フイルタ1
6を透過し、干渉膜フイルタ30で反射した後
に、干渉膜フイルタ20を透過して信号光24と
して受信される。また光伝送路2を伝搬して来た
波長0.76μmの監視用の光26は、干渉膜フイル
タ16,30を透過し、反射鏡11で反射して、
元の経路を逆に伝わつて再び光伝送路2に入射す
る。
信号光は、干渉膜フイルタ16,18で反射さ
れ、干渉膜フイルタ19を透過して信号光23と
して受信される。さらに、光伝送路2を伝搬して
来た波長0.89μmの信号光は、干渉膜フイルタ1
6を透過し、干渉膜フイルタ30で反射した後
に、干渉膜フイルタ20を透過して信号光24と
して受信される。また光伝送路2を伝搬して来た
波長0.76μmの監視用の光26は、干渉膜フイル
タ16,30を透過し、反射鏡11で反射して、
元の経路を逆に伝わつて再び光伝送路2に入射す
る。
なお、ここで説明した第12図および第19図
の構成はあくまでも一例であり、フイルタ、反射
鏡等の組合わせ、光路の設計はこのほかにさまざ
まに行うことができ、これらにより同様に本発明
を実施することができる。
の構成はあくまでも一例であり、フイルタ、反射
鏡等の組合わせ、光路の設計はこのほかにさまざ
まに行うことができ、これらにより同様に本発明
を実施することができる。
次に、監視用の波長の反射光の光量を信号伝送
用の波長の光の反射光と比較する実施例について
説明する。その構成は第8図と同様である。光伝
送路が破断した場合に、破断点からの反射率は原
則として波長に依存いしない。そこで、第8図の
フイルタ10で分離され、反射鏡11で反射する
監視用の波長の光を近端から光伝送路2に入射
し、反射量を測定した後に、フイルタ10によ
り、反射鏡11に達しない波長の光、例えば、信
号伝送用の光をフイルタ10に向かつて光伝送路
2に入射させてその反射量を測定する。次に、両
波長での反射量からそれぞれの反射率を求める
と、反射鏡11で反射する監視用の波長では反射
率が高く、信号伝送用の波長では反射率が低くな
れば、その状態では反射鏡11による反射が観測
されたものとして、光伝送路2はこの遠端までは
正常であると判断できる。このときの反射率を第
21図に示す。第21図において、波長λ1は監視
用、波長λ2は信号伝送用である。一方、両波長で
の反射率が同程度であれば、これは破断点からの
反射であり、光伝送路2に破断があると判断でき
る。
用の波長の光の反射光と比較する実施例について
説明する。その構成は第8図と同様である。光伝
送路が破断した場合に、破断点からの反射率は原
則として波長に依存いしない。そこで、第8図の
フイルタ10で分離され、反射鏡11で反射する
監視用の波長の光を近端から光伝送路2に入射
し、反射量を測定した後に、フイルタ10によ
り、反射鏡11に達しない波長の光、例えば、信
号伝送用の光をフイルタ10に向かつて光伝送路
2に入射させてその反射量を測定する。次に、両
波長での反射量からそれぞれの反射率を求める
と、反射鏡11で反射する監視用の波長では反射
率が高く、信号伝送用の波長では反射率が低くな
れば、その状態では反射鏡11による反射が観測
されたものとして、光伝送路2はこの遠端までは
正常であると判断できる。このときの反射率を第
21図に示す。第21図において、波長λ1は監視
用、波長λ2は信号伝送用である。一方、両波長で
の反射率が同程度であれば、これは破断点からの
反射であり、光伝送路2に破断があると判断でき
る。
ここで、第8図の構成で信号伝送に用いる波長
の光に対して、無反射になるような処理をフイル
タ10または反射鏡11に施せば、フイルタ10
または反射鏡11では信号伝送用の波長の光に対
して無反射となるため、両波長の反射率の差が一
層顕著となり、光伝送路の障害検知が容易にな
る。これは例えば、フイルタ10の信号伝送用の
波長の光の出射口に無反射コーテイングを施すと
か、出射口が光フアイバであれば、光フアイバ出
射端面に無反射コーテイングを施すか、出射端面
を光軸に斜めになる処理を施す。このようにする
ことにより信号伝送用の波長に対してはほとんど
無反射にすることができる。
の光に対して、無反射になるような処理をフイル
タ10または反射鏡11に施せば、フイルタ10
または反射鏡11では信号伝送用の波長の光に対
して無反射となるため、両波長の反射率の差が一
層顕著となり、光伝送路の障害検知が容易にな
る。これは例えば、フイルタ10の信号伝送用の
波長の光の出射口に無反射コーテイングを施すと
か、出射口が光フアイバであれば、光フアイバ出
射端面に無反射コーテイングを施すか、出射端面
を光軸に斜めになる処理を施す。このようにする
ことにより信号伝送用の波長に対してはほとんど
無反射にすることができる。
ここでは、信号伝送用の波長での反射率を監視
用の波長の反射率と比較したが、信号伝送用の波
長に限らずフイルタ10および反射鏡11の反射
率が監視用の波長の反射率より低くなる波長であ
れば、どの波長でもよい。
用の波長の反射率と比較したが、信号伝送用の波
長に限らずフイルタ10および反射鏡11の反射
率が監視用の波長の反射率より低くなる波長であ
れば、どの波長でもよい。
なお、反射率の求め方は、反射量(dBm表示)
にその波長での光伝送路2の往復伝搬損失(dB
表示)を加算すればよい。
にその波長での光伝送路2の往復伝搬損失(dB
表示)を加算すればよい。
上記各例は、いずれも反射光を時間軸上で測定
するものであるが、反射光は必ずしも時間軸上で
測定する必要はなく、反射光の総量を求めること
により観測することができる。すなわち、上述の
ように光伝送路に遠端までの障害がない場合に
は、遠端から大きい反射率で反射光が戻り、光伝
送路に障害があれば小さい反射率で反射光が戻
る。したがつて、この反射光の光量を観測すれ
ば、障害の有無を識別することができる。
するものであるが、反射光は必ずしも時間軸上で
測定する必要はなく、反射光の総量を求めること
により観測することができる。すなわち、上述の
ように光伝送路に遠端までの障害がない場合に
は、遠端から大きい反射率で反射光が戻り、光伝
送路に障害があれば小さい反射率で反射光が戻
る。したがつて、この反射光の光量を観測すれ
ば、障害の有無を識別することができる。
この構成は、近端の装置ではパルス発生および
パルス測定を必要としないので、その構成が簡単
である利点があるが、障害があると判定されたと
きに、その障害点までのおおよその距離を測定す
ることができない欠点は免れられない。
パルス測定を必要としないので、その構成が簡単
である利点があるが、障害があると判定されたと
きに、その障害点までのおおよその距離を測定す
ることができない欠点は免れられない。
次に、複数の遠端を設ける場合の実施例を説明
する。第22図において、λ0,λ1は監視用の波
長、λ2は信号伝送用の波長である。光伝送路の途
中に、少なくとも前記フイルタ10を透過して反
射鏡11により反射する波長λ1の光および信号伝
送に用いる波長λ2の光は透過させ、これらの波長
以外の一部の波長λ0の光を反射するようなフイル
タ31を設け、前述した方法で、波長λ0、波長
λ1、波長λ2での反射率を求める。このときの結果
を第23図に示す。すなわち、光伝送路2が正常
であると、フイルタ31を設けた位置に相当する
時間の点で波長λ0の反射率が大きく、フイルタ1
0の位置に相当する時間の点では、波長λ1の反射
率が大きく、波長λ2では反射率が低い。光パルス
送信回路7とフイルタ31の間の光伝送路で破断
すれば、破断点に相当する時間の点において、波
長λ0,λ1,λ2でそれぞれ反射率のほとんど等しい
反射が観測される。一方、フイルタ31とフイル
タ10の間の光伝送路で破断すれば、フイルタ3
1の位置に相当する時間の点では波長λ0で反射率
の大きい反射が観測され、他の波長では反射がな
い。しかし、フイルタ31とフイルタ10の間の
破断点の位置に相当する時間では、波長λ1と波長
λ2で同程度の反射率の反射が観測される。
する。第22図において、λ0,λ1は監視用の波
長、λ2は信号伝送用の波長である。光伝送路の途
中に、少なくとも前記フイルタ10を透過して反
射鏡11により反射する波長λ1の光および信号伝
送に用いる波長λ2の光は透過させ、これらの波長
以外の一部の波長λ0の光を反射するようなフイル
タ31を設け、前述した方法で、波長λ0、波長
λ1、波長λ2での反射率を求める。このときの結果
を第23図に示す。すなわち、光伝送路2が正常
であると、フイルタ31を設けた位置に相当する
時間の点で波長λ0の反射率が大きく、フイルタ1
0の位置に相当する時間の点では、波長λ1の反射
率が大きく、波長λ2では反射率が低い。光パルス
送信回路7とフイルタ31の間の光伝送路で破断
すれば、破断点に相当する時間の点において、波
長λ0,λ1,λ2でそれぞれ反射率のほとんど等しい
反射が観測される。一方、フイルタ31とフイル
タ10の間の光伝送路で破断すれば、フイルタ3
1の位置に相当する時間の点では波長λ0で反射率
の大きい反射が観測され、他の波長では反射がな
い。しかし、フイルタ31とフイルタ10の間の
破断点の位置に相当する時間では、波長λ1と波長
λ2で同程度の反射率の反射が観測される。
このようにすれば、障害区間の切り分けを細か
くすることができる。さらに、多くの光伝送路2
を細分化するフイルタを光伝送路2に設置すれ
ば、切り分けの細分化が可能になる。ここで、フ
イルタ31に使用する干渉膜フイルタの特性例を
第24図に示す。第24図は、波長λ0に0.65μm
を選んだ例である。
くすることができる。さらに、多くの光伝送路2
を細分化するフイルタを光伝送路2に設置すれ
ば、切り分けの細分化が可能になる。ここで、フ
イルタ31に使用する干渉膜フイルタの特性例を
第24図に示す。第24図は、波長λ0に0.65μm
を選んだ例である。
上記各例は、フイルタは監視用の波長を分離
し、これを反射板により反射させる構成のもので
あるが、フイルタに伝送信号用の波長を透過し監
視用の波長を反射す特性のものを用いて、監視用
の波長をフイルタから直接反射させる構成にする
ことができる。この場合には、反射率が必ずしも
100%近くにすることができない場合があるが、
構成が簡単になる利点がある。
し、これを反射板により反射させる構成のもので
あるが、フイルタに伝送信号用の波長を透過し監
視用の波長を反射す特性のものを用いて、監視用
の波長をフイルタから直接反射させる構成にする
ことができる。この場合には、反射率が必ずしも
100%近くにすることができない場合があるが、
構成が簡単になる利点がある。
以上説明したように、本発明によれば、伝送路
に障害があるか、装置に障害があるかを、反射光
の光量により明確に切り分けることができる。試
験に光パルスを用いているので、破断点から反射
したパルスの伝搬時間により障害位置を標定する
こともできる。本発明の装置では、試験に際して
遠端に操作を施す必要がなく、全ての近端の操作
で切り分け試験を実行することができる。また、
遠端には機械的な可動部分を設ける必要がなく、
装置は簡単であり信頼性が高い。本発明はアナロ
グ伝送路およびデイジタル伝送路の区別なく実施
することができる。本発明の装置は、光伝送路に
よる加入者系の切り分け試験の方法としてきわめ
て有効である。
に障害があるか、装置に障害があるかを、反射光
の光量により明確に切り分けることができる。試
験に光パルスを用いているので、破断点から反射
したパルスの伝搬時間により障害位置を標定する
こともできる。本発明の装置では、試験に際して
遠端に操作を施す必要がなく、全ての近端の操作
で切り分け試験を実行することができる。また、
遠端には機械的な可動部分を設ける必要がなく、
装置は簡単であり信頼性が高い。本発明はアナロ
グ伝送路およびデイジタル伝送路の区別なく実施
することができる。本発明の装置は、光伝送路に
よる加入者系の切り分け試験の方法としてきわめ
て有効である。
第1図は従来例方式の構成図。第2図は従来例
方式の構成図。第3図は従来例方式による測定デ
ータの説明図。第4図は従来例方式の構成図。第
5図は従来例方式による測定データの説明図。第
6図は本発明実施例方式の構成図。第7図は本発
明実施例の構成図。第8図は本発明実施例方式の
構成図。第9図はフイルタおよび反射鏡の構成例
を示す図。第10図はフイルタの特性例を示す
図。第11図はフイルタおよび反射鏡の構成例を
示す図。第12図は本発明実施例遠端要部構成
図。第13図はフイルタ16の特性図。第14図
はフイルタ17の特性図。第15図はフイルタ1
8の特性図。第16図はフイルタ19の特性図。
第17図はフイルタ20の特性図。第18図はフ
イルタ21の特性図。第19図は本発明実施例遠
端要部構成図。第20図はフイルタ30の特性
図。第21図は本発明実施例方式による測定デー
タの説明図。第22図は本発明実施例方式の構成
図。第23図は本発明実施例方式による測定デー
タの説明図。第24図はフイルタ31の特性図。 1……光送信回路(信号伝送用)、2……被試
験光伝送路、3……光受信回路(本来の信号伝送
通路)、7……光パルス送信回路(監視用)、8…
…光方向性結合器、9……光パルス受信回路(監
視用)、10……フイルタ、11……反射鏡、1
2……フイルタ。
方式の構成図。第3図は従来例方式による測定デ
ータの説明図。第4図は従来例方式の構成図。第
5図は従来例方式による測定データの説明図。第
6図は本発明実施例方式の構成図。第7図は本発
明実施例の構成図。第8図は本発明実施例方式の
構成図。第9図はフイルタおよび反射鏡の構成例
を示す図。第10図はフイルタの特性例を示す
図。第11図はフイルタおよび反射鏡の構成例を
示す図。第12図は本発明実施例遠端要部構成
図。第13図はフイルタ16の特性図。第14図
はフイルタ17の特性図。第15図はフイルタ1
8の特性図。第16図はフイルタ19の特性図。
第17図はフイルタ20の特性図。第18図はフ
イルタ21の特性図。第19図は本発明実施例遠
端要部構成図。第20図はフイルタ30の特性
図。第21図は本発明実施例方式による測定デー
タの説明図。第22図は本発明実施例方式の構成
図。第23図は本発明実施例方式による測定デー
タの説明図。第24図はフイルタ31の特性図。 1……光送信回路(信号伝送用)、2……被試
験光伝送路、3……光受信回路(本来の信号伝送
通路)、7……光パルス送信回路(監視用)、8…
…光方向性結合器、9……光パルス受信回路(監
視用)、10……フイルタ、11……反射鏡、1
2……フイルタ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 光伝送路の近端から、ある波長の信号光と、
この信号光とは異なる波長のパルス状の監視光と
を前記光伝送路に入射し、 前記光伝送路の遠端では、フイルタによつて前
記光伝送路から受信される信号光と監視光を分離
し、この分離した監視光をガラスと空気の屈折率
差によつて生じるフレネル反射率より大きな反射
率を有する反射鏡によつて反射させ、この反射さ
れた監視光を前記フイルタを経由して前記光伝送
路の遠端から前記光伝送路に入射させ、 前記光伝送路の近端では、この近端から入射し
た監視光の光量を検出し、この検出した監視光の
光量を、前記反射鏡の反射率に相当する基準光量
と比較することにより、光伝送路の障害の有無を
判定することを特徴とする光伝送路の障害探索方
法。 2 光伝送路の近端から、ある波長の信号光と、
この信号光とは異なる波長であつて相互に波長の
異なる複数のパルス状の監視光とを前記光伝送路
に入射し、 前記光伝送路上の複数の地点及び前記光伝送路
の遠端では、フイルタによつて前記光伝送路を伝
送される光から1つの監視光を分離するとともに
残りの光を通過させ、この分離した監視光をガラ
スと空気の屈折率差によつて生ずるフレネル反射
率より大きな反射率を有する反射鏡によつて反射
させ、この反射された監視光を前記フイルタを経
由して前記光伝送路に入射させ、 前記光伝送路の近端では、この近端から入射し
た複数の監視光の各々の光量を検出し、この検出
した監視光の各々の光量を、前記各々の反射鏡の
反射率に相当する基準光量と比較することにより
前記光伝送路の各々の地点間における障害の有無
を判定することを特徴とする光伝送路の障害探索
方法。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58071089A JPS59196438A (ja) | 1983-04-22 | 1983-04-22 | 光伝送路の障害探索方法 |
| DE8383901394T DE3380681D1 (en) | 1982-05-06 | 1983-05-04 | Method and device for separating position of fault in light transmission line |
| EP19830901394 EP0117868B1 (en) | 1982-05-06 | 1983-05-04 | Method and device for separating position of fault in light transmission line |
| PCT/JP1983/000136 WO1983004150A1 (fr) | 1982-05-06 | 1983-05-04 | Procede et dispositif de detection de points defaillants dans une ligne de transmission de lumiere |
| CA000432429A CA1238705A (en) | 1982-05-06 | 1983-07-14 | Method of fault location on optical transmission line and device therefor |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58071089A JPS59196438A (ja) | 1983-04-22 | 1983-04-22 | 光伝送路の障害探索方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59196438A JPS59196438A (ja) | 1984-11-07 |
| JPH04214B2 true JPH04214B2 (ja) | 1992-01-06 |
Family
ID=13450453
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58071089A Granted JPS59196438A (ja) | 1982-05-06 | 1983-04-22 | 光伝送路の障害探索方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59196438A (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CA2031870C (en) * | 1989-12-11 | 1995-08-08 | Nobuo Tomita | Device and a method for distinguishing faults employed in an optical transmission system |
| FR2896644A1 (fr) * | 2006-06-15 | 2007-07-27 | France Telecom | Dispositif de surveillance d'un reseau optique par echometrie |
| WO2016057339A1 (en) * | 2014-10-06 | 2016-04-14 | Go!Foton Holdings, Inc. | Apparatus and method for optical time-domain reflectometry |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS53130053A (en) * | 1977-04-20 | 1978-11-13 | Sumitomo Electric Ind Ltd | Circuit supervisory system of optical fiber cable |
-
1983
- 1983-04-22 JP JP58071089A patent/JPS59196438A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS59196438A (ja) | 1984-11-07 |
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