JPH042182A - 薄膜超電導体およびその製造方法 - Google Patents
薄膜超電導体およびその製造方法Info
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- JPH042182A JPH042182A JP2101617A JP10161790A JPH042182A JP H042182 A JPH042182 A JP H042182A JP 2101617 A JP2101617 A JP 2101617A JP 10161790 A JP10161790 A JP 10161790A JP H042182 A JPH042182 A JP H042182A
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- Superconductors And Manufacturing Methods Therefor (AREA)
Abstract
め要約のデータは記録されません。
Description
ビスマスを含む酸化物超電導体の薄膜の製造方法に関す
るものである。
ニオブ(NbN)やゲルマニウムニオブ(Nb3Ge)
などが知られていたが、これらの材料の超電導転移温度
はたかだか23′にであった。一方、ペロブスカイト系
化合物は、さらに高い転移温度が期待され、Ba−La
−Cu−0系の高温超電導体が提案された[ J 、G
、 Bednorz and K、A、Muller。
rift Fur Physik B)−Conden
sedMatter、 Vol、64.189−193
(1986) ]。
00 ’に以上の転移温度を示すことも発見された[H
+Maed0.Y、Tanak0.M、Fukutom
i andT 、 A 5ano 、ジャパニーズ・
ジャーナル・オブ・アプライド−フィジックス(J a
panese J ournal ofApplied
Physics)Vol、27. L209−210
(1988)]。
転移温度が室温以上に高くなる可能性があり、高温超電
導体として従来の2元系化合物より、より有望な特性が
期待される。
、より高い臨界電流密度およびより高い臨界磁場が従来
から期待されている。
、現在の技術では主として焼結という過程でしか形成で
きないため、セラミックの粉末あるいはブロックの形状
でしか得られない。一方、この種の材料を実用化する場
合、薄膜状に加工することが強く要望されているが、従
来の技術では、良好な超電導特性を有する薄膜作製は難
しいものであった。
移温度の異なるいくつかの相が存在することが知られて
いるが、特に転移温度がtoo ’に以上の相を薄膜の
形態で達成するのは、非常に困難とされていた。
薄膜を形成するためには少なくとも700℃以上の熱処
理あるいは形成時の加熱が必要であり、そのため高い臨
界電流密度、高い臨界磁場が期待される磁性薄膜との周
期的な積層構造を得ることは極めて困難と考えられ、ま
たこの構造を利用した集積化デバイスを構成することも
たいへん困難であるとされていた。
上の高臨界温度が期待されるビスマスを含む酸化物超電
導薄膜およびその製造方法を提供することである。
導薄膜と、主体成分がペロブスカイト型酸化物からなる
磁性薄膜が交互に積層された構造を持つものである。
に、少なくともBiを含む酸化物と少なくとも銅および
アルカリ土類(IIa族)を含む酸化物とを周期的に積
層させて形成する酸化物薄膜と、ペロブスカイト型酸化
物からなる磁性薄膜とを、交互に積層させて得る薄膜超
電導体の製造方法である。
も一種あるいは二種以上の元素を示す。また、ペロブス
カイト型酸化物とはRFeO3(R=Yt Sm、 E
u、 Gdv Tbt Dy、 H0. Er、 Tm
。
a0.7Cao、s p L0. 、? S ro 、
z e L0. 、t B ao、a *L0.、、、
pb、、4. La0.tCdo、3)yあるいは、
A Mn O@ (A =G d2 Cot B ax
F ev Ca2F e)であられされる酸化物磁性
体である。
はこれを主体とした層によりともに覆われた結晶構造と
なっているところの、Bi系超電導薄膜と、ペロブスカ
イト型酸化物からなる磁性薄膜とが、交互に積層された
構造をとることによって、超電導薄膜と磁性薄膜との間
での相互拡散の少ない積層が可能となる。また、磁性薄
膜のもつ磁気モーメントまたはスピンと超電導体との相
互作用により、Bi系超電導薄膜における臨界電流密度
および臨界磁場の向上が実現されたものである。
少なくともBiを含む酸化物と、少なくとも銅およびア
ルカリ土類(IIa族)を含む酸化物あるいはペロブス
カイト型酸化物とを、周期的に積層させて分子レベルの
制御による薄膜の作製を行うことによって、再現性良<
Bi系超電導薄膜と磁性薄膜との積層を得るものである
。
造を実現するため、Bi系超電導薄膜と種々の磁性薄膜
との界面での相互作用について検討した。
基体上に蒸着して得る。蒸着後、そのままでも薄膜は超
電導特性を示すが、その後800〜950℃の熱処理を
施し、超電導特性を向上させる。
超電導薄膜に続いて積層したり、磁性薄膜を形成後熱処
理を行った場合、超電導薄膜と磁性薄膜との間で1元素
の相互拡散が起こり超電導特性が大きく劣化することが
判明した。相互拡散を起こさないためには、超電導薄膜
、磁性薄膜の結晶性が優れていること、超電導薄膜、磁
性薄膜間での格子の整合性が優れていること、磁性薄膜
が800〜950℃の熱処理に対して安定であることが
不可欠と考えられる。
が磁性薄膜として適していることを見いだした。この理
由は明らかではないが、ペロブスカイト型酸化物は、B
i系超電導体との格子の整合性がきわめて優れており、
また高温の熱処理においても、Bi系超電導体との界酊
が非常に安定であると考えられる。
を周期的に積層したとき、Bi系超電導薄膜本来の臨界
電流密度および臨界磁場が向上することを見いだした。
図を用い具体的な実施例を示す。
パッタ装置内部の概略図であり、11はB1−5r−C
a−Cu−0ターゲツト、12はB1−Mn−〇ターゲ
ット、13はシャッター、14はアパーチャー15は基
体、16は基体加熱用ヒーターを示す。焼結体をプレス
成形加工して作製した2個のターゲット11.12を用
い、第1図に示すように配置させた。
うに各ターゲットが約30°傾いて設置されている。タ
ーゲットの前方には回転するシャッター13があり、そ
の中にはアパーチャー14が設けられている。シャッタ
ーI3の回転をパルスモータで制御することにより、ア
パーチャー14をB1−8r−Ca−Cu−0ターゲツ
トまたはB1−Mn−0ターゲツト上に停止させること
ができる。このようにして、B i−S r−Ca−C
u−○−+Bf−Mn−0−)Bi−8r−Ca−Cu
−0−*B1−Mn−0−+B1−8r−Ca−Cu−
0のサイクルでスパッタ蒸着が行うことができる。B1
−5r−Ca−Cu−0膜、B1−Mn−0膜の積層の
様子を概念的に第2図に示す。同図において、21はB
1−Mn−0膜、22はB1−5r−Ca−Cu−0膜
を示す、ターゲット11゜12への入力電力、およびそ
れぞれのターゲットのスパッタ時間を制御することによ
り、基体15上に蒸着するB1−Mn−011[21,
B1−8r−Ca−Cu−0膜22の膜厚を変えること
ができる。基体15をヒーター16で約700℃に加熱
し、アルゴン・酸素(1: l)混合雰囲気0.5Pa
のガス中で各ターゲットのスパッタリングを行なった。
理を2時間施した1本実施例では、各ターゲットのスパ
ッタ電力を、B1−5r−Ca−Cu−〇: 150w
、 B1−Mn−0: 100wとし、ターゲット11
.12のスパッタ時間を制御した。 B1−5r−Ca
−Cu−○膜22の元素の組成比率がBi: Sr:
Ca: Cu=2 : 2 : 2 : 3.B1−M
n−0膜21の元素の組成比率がBi:Mn:○=1:
1:3になるよう、ターゲット11.12の元素の組成
比率を調整した* B1−8r−Ca−Cu−0膜22
をB1−Mn−0膜21と積層せずに基体15上に形成
した場合、すなわちB1−8r−Ca−Cu−0膜22
そのものの特性は、110 ”Kで超電導転移を起こし
、100 ’にで抵抗値がゼロになるものであった。ま
た、B1MnO3膜だけを成膜し磁化を測定するとバル
クの値と同一であった。B1Mn0.膜および Bi、Sr、C0.Cu、O,膜の膜厚をそれぞれ50
0人とし1層づつ積層した。この膜の抵抗値の温度特性
を第3図に示す。超電導転移温度Cオンセット温度)は
、 110 ’にでありB i M n O、膜を積層
していない場合とかわらなかった。外部磁場10kOe
を積層膜の膜面に垂直に印加し、磁性体膜を磁化させた
のちに外部磁場を取り除いた状態で測定した臨界電流密
度の温度依存性を第4図に示す。臨界電流密度は磁場を
かける前の値にたいして各温度において約30%大きく
なっている。第5図は外部磁場を印加した状態における
電気抵抗の温度特性を示す。B1MnO3膜を積層して
いないB1−5r−Ca−Cu−0膜自身の結果と比較
すると積層膜においては、磁場による超電導転移温度領
域の広がりが小さくなることがわかった。このことは上
部臨界磁場の向上を意味している。これらの臨界電流密
度および上部臨界磁場の向上の理由は明らかではないが
B i M n O3膜の磁化またはスピンがB i−
S r−Ca−Cu−0膜の超伝導機構に影響をもたら
した結果であると考えられる。また、B1MnO3膜お
よびB1−8r−Ca−Cu−0膜単独で成膜したとき
、膜厚がそれぞれ100人および50Å以上のとき結晶
性の薄膜が得られることがわかった。第2図において、
B1−Mn−〇膜21の膜厚を100人としてB1−
8r−Ca−Cu−0膜22の膜厚が100人、300
人、500人、繰り返し回数を20回としたときの特性
をそれぞれ第6図において、特性61.62.53に示
す。特性61においてはゼロ抵抗温度が約30玉とB
i−S r−Ca−Cu−0膜22の特性が劣化するこ
とがわかった。この理由として、B i−S r−Ca
−Cu−0膜22とB1〜Mn−0膜21との間で元素
の相互拡散による膜21、22の結晶性の破壊が考えら
れる。さらに特性63においては、B1−Mn−0膜2
1との周期的な積層なしに基体15上につけたときのB
1−5r−Ca−Cu−0膜22本来の超電導特性とほ
とんど同じであり、磁性薄膜B1−Mn−0膜21との
積層効果は確認されなかった。しかし、特性62におい
て、臨界電流密度は磁性膜を積層していない膜と比較し
て約30%向上し、77′にで320万A10となった
。上記臨界磁場はB i−S r−Ca−Cu−0膜本
来のものより約20%向上した。4.2’Kにおいて、
C軸に平行方向に磁場を加えたときの値は30テスラ、
またC軸に垂直方向では450テスラであった。現在、
これらの効果の詳細な理由については未だ不明であるが
、B1−Mn−0膜21が持つ磁気モーメントまたはス
ピンの影響、または、薄いB1−Mn−0[[21を介
して複数のB1−5r−Ca−Cu−○膜22を積層す
ることによりB1−5r−Ca−Cu−0膜22におい
て超電導機構になんらかの変化が引き起こされたことが
考えられる。
加してスパッタしたとき、基体15の温度が上記実施例
よりも約100℃低くても、上記実施例と同等な結果が
得られることを見いだした。
異なる蒸発源から真空中で別々に蒸発させ。
0−*5r−Cu−0→B1−0の順で周期的に積層さ
せた場合、さらにMnターゲットを用い真空中で蒸発さ
せ、積層させた場合、(実施例1)に示した積層構造作
製方法より極めて制御性良く、安定した膜質の、しかも
膜表面が極めて平坦なり i−S r−Ca−Cu−〇
超電導薄膜およびB1−Mn−0磁性薄膜が得られるこ
とを見いだした。
B1−Mn−0を別々の蒸発源から蒸発させ、Bi−5
r−Ca−Cu−〇超電導薄膜とB1−Mn−0磁性薄
膜を周期的に積層したとき、極めて制御住良<m(Bi
−5r−Ca−Cu−○) ・n (B 1−Mn−0
)の周期構造を持つ薄膜を形成できることを見いだした
。ここでm、nはそれぞれ少なくとも1以上の正の整数
を示す。さらに、このm(Bi−Sr−Ca−Cu−0
) ・n(Bi−Mn−〇)薄膜は、(実施例1)に示
したB1−5r−Ca−Cu−0を同時に蒸着して得る
超電導薄膜と、B1−Mn−0を同時に蒸着して得る酸
化物磁性薄膜とを周期的に積層して得た薄膜に比べて、
はるかに結晶−性が優れ、臨界電流密度および上部臨界
磁場の特性において勝っていることも併せて見いだした
。さらに、上記の方法で作製したB1−5 r−Ca−
Cu−0超電導薄膜とB1−Mn−0磁性薄膜はともに
薄膜表面が極めて平坦であることを見いだした。
ことにより、基体表面に対し平行な面内だけで積層され
た蒸着元素が動くだけで、基体表面に対し垂直方向への
元素の移動がないことによるものと考えられる。
熱処理温度も、従来より低いことを見いだした。
n−0を周期的に積層させる方法としては、いくつか考
えられる。一般に、MBE装置あるいは多元のEB蒸着
装置で蒸発源の前を開閉シャッターで制御したり、気相
成長法で作製する際にガスの種類を切り替えたりするこ
とにより、周期的積層を達成することができる。しかし
この種の非常に薄い層の積層には従来スパッタリング蒸
着は不向きとされていた。この理由は、成膜中のガス圧
の高さに起因する不純物の混入およびエネルギーの高い
粒子によるダメージと考えられている。しかし、このB
i系酸化物超電導体に対してスパッタリングにより異な
る薄い層の積層を行うと、良好な積層膜作製が可能なこ
とを発見した。スパッタ中の高い酸素ガス圧およびスパ
ッタ放電が、Bi系の100 ’に以上の臨界温度を持
つ相の形成、およびB1−Mn−〇絶縁膜の形成に都合
がよいためではなかろうかと考えられる。
組成分布を設けた1個のスパッタリングターゲットの放
電位置を周期的に制御するという方法があるが、組成の
異なる複数個のターゲットのスパッタリングという方法
を用いると比較的簡単に達成することができる。この場
合、複数個のターゲットの各々のスパッタ量を周期的に
制御したり、あるいはターゲットの前にシャッターを設
けて周期的に開閉したりして1周期的績層膜を作製する
ことができる。また基板を周期的に運動させて各々ター
ゲットの上を移動させる方法でも作製が可能である。レ
ーザースパッタあるいはイオンビームスパッタを用いた
場合には、複数個のターゲットを周期運動させてビーム
の照射するターゲットを周期的に変えれば、周期的積層
膜が実現される。このように複数個のターゲットを用い
たスパッタリングにより比較的簡単にBl系酸化物の周
期的積層が作製可能となる。
体的な実施例を示す。
置の概略図を示す。第7図において、71はBiツタ−
ット、72は5rCu合金ターゲット、73はCa C
u合金ターゲット、74はMnターゲット、75はシャ
ッター、76はアパーチャー、77は基体、78は基体
加熱用ヒーターを示す。計4個のターゲット71.72
.73.74は第7図に示すのと同様に配置させた。す
なわち、MgO(100)基体77に焦点を結ぶように
各ターゲットが約30°傾いて設置されている。ターゲ
ットの前方には回転するシャッター75があり、パルス
モータで駆動することによりその中に設けられたアパー
チャー76の回転が制御され、各ターゲットのサイクル
およびスパッタ時間を設定することができる。基体77
をヒーター78で約600℃に加熱し、アルゴン・酸素
(5: 1)混合雰囲気3Paのガス中で各ターゲット
のスパッタリングを行なった。各ターゲットのスパッタ
電流を、Bi : 30mA 、 5rCu : 80
mA 、 CaCu : 300mA 、 Mn :
80+*Aにして実験を行った。Bi−+5rCu−+
CaCu−+5rCu−+Biのサイクルでスパッタし
、B1−5r−Ca−Cu−〇膜の元素の組成比率がB
i: Sr: Ca: Cu=2 : 2 : 2 :
3となる各ターゲットのスパッタ時間を側盤し、上記
サイクルを20周期行うと、110 ’に以上の臨界温
度を持つ相を作製することができる。このまま状態でも
このB1−5r−Ca−Cu−0膜は110 ”K以上
の超電導転移を示すが、さらに酸素中で600 ’C1
1時間の熱処理を行うと非常に再現性がよくなり、超電
導転移温度は115 ’にで抵抗値がゼロになる温度は
100″Kになった。超電導転移温度が100 ’Kを
超す相は金属元素がB1−8r−Cu−Ca−Cu−C
a−Cu−8r−Biの順序で並んだ酸化物の層から成
り立っているとも言われており、本発明の製造方法がこ
の構造を作るのに非常に役だっているのではないがと考
えられる。
くとも70Å以上でペロブスカイト型結晶構造をとるこ
とを見いだした。
1周期とし“〔n周期積層しその上にB1−Mn−0を
膜厚d(人)になるよう各ターゲットをスパッタし、n
(Bi−3r−Ca−Cu−0) ・d(Bi−Mn−
0)薄膜を基体77上に作製した。ここでnは1以上の
正の整数を示す。n=10のとき、B1−Mn−〇薄膜
の膜厚dを変化させて積層して得た膜の超電導特性を調
べた。このときB1−5r−Ca−Cu−0薄膜/B1
−Mn−0薄膜の積層繰り返し回数は10回とした。第
8図にd =70.200.1000人のときに得た多
層膜の抵抗の温度変化をそれぞれ特性81.82.83
に示す。
転移温度およびゼロ抵抗温度、すなわち特性82が得ら
れた。特性82の超電導転移温度、ゼロ抵抗温度はB1
−5r−Ca−Cu−0膜本来のそれらの値と同等であ
る。臨界電流密度は77 ’Kにおいて、360万A1
0となり、磁性体薄膜を積層していない薄膜の値より4
5%高くなった。また、上部臨界磁場はB1−5r−C
a−C;u−○膜本来のものより約30%向上する。4
.2 ’Kにおいて、C軸に平行方向に磁場を加えたと
きの値は33テスラ、またC軸に垂直方向では490テ
スラであった。この効果の詳細な理由については未だ不
明であるが1本実施例に示した方法でB i−S r−
Ca−Cu−0膜とB1−Mn−○膜とを周期的に積層
することによって、B i−S r−Ca−Cu−〇膜
とB1−Mn−〇膜がエピタキシャル成長していること
により積層界面での元素の相互拡散の影響がなく、かつ
結晶性に優れた薄いB1−Mn−0膜を介して同じく結
晶性に優れたB i−S r−Ca−Cu−0膜を積層
することによりB1−8r−C,a−Cu−0膜におい
て超電導機構になんらかの変化が引き起こされたことが
考えられる。
添加してスパッタしたとき、基体77の温度が上記実施
例よりも約100℃低くても、上記実施例と同等な結果
が得られることを見いだした。
界電流密度、臨界磁場の向上をはかる構造を提供するも
のであり、第2の発明の薄膜超電導体の製造方法は第1
の発明をより効果的に実現し、デバイス等の応用には必
須の低温でのプロセスを確立したものであり、本発明の
工業的価値は大きい。
概略図、第2図は第1の発明の構造概念図、第3図、第
6図は第1図の装置により得た薄膜における抵抗値の温
度特性図、第4図は第1図の装置により得た薄膜におけ
る臨界電流密度の温度依存性を示す図、第5図は第1図
の装置により得た薄膜における外部磁場下における抵抗
値の温度特性図、第7図は第2の発明の実施例における
薄膜の製造装置の概略図、第8図は第7図の装置により
得た薄膜における抵抗値の温度特性図である。 11、12.71.72.73.74・・・スパッタリ
ングターゲット、13.75・・・シャッター14、7
6・・・アパーチャー、15.77Mg○基体、 16
.78・・・ ヒーター、 21− B1−Mn−0膜
、22− B1−5r−Ca−Cu−〇膜、61.62
.63.81.82.83−・・薄膜の抵抗の温度特性
。 特許出願人 松下電器産業株式会社 松下電工株式会社 代 理 人 星 野 恒 司 第 囚 X715基体 第 図 イ ーーマ 々1 第 区 外部T4壜 第 ア 図
Claims (4)
- (1)主体成分が少なくともビスマス(Bi)、銅(C
u)、およびアルカリ土類(IIa族)を含む層状酸化物
超電導薄膜と、少なくとも1種類以上のペロブスカイト
型酸化物からなる磁性薄膜が交互に積層された構造を持
つことを特徴とする薄膜超電導体。 ここでアルカリ土類は、IIa族元素のうち少なくとも一
種あるいは二種以上の元素を示し、ペロブスカイト型酸
化物とはRFeO_3(R=Y,Sm,Eu,Gd,T
b,Dy,Ho,Er,Tm,Yb,Lu)あるいは、
MMnO_3(M=Bi,La_0_._7Ca_0_
._3,La_0_._7Sr_0_._3,La_0
_._7Ba_0_._3,La_0_._6,Pb_
0_._4,La_0_._7Cd_0_._3),あ
るいは、AMnO_6(A=Gd_2Co,Ba_2F
e,Ca_2Fe)であらわされる酸化物磁性体および
これらのうち少なくとも二種以上をふくむ複合酸化物磁
性体を示す。 - (2)基体上に、少なくともBiを含む酸化物と少なく
とも銅およびアルカリ土類(IIa族)を含む酸化物とを
周期的に積層させて形成する酸化物薄膜と、ペロブスカ
イト型酸化物からなる磁性薄膜とを、交互に積層させて
得ることを特徴とする薄膜超電導体の製造方法。 ここでアルカリ土類は、IIa族元素のうちの少なくとも
一種あるいは二種以上の元素を示し、ペロブスカイト型
酸化物とはRFeO_3(R=Y,Sm,Eu,Gd,
Tb,Dy,Ho,Er,Tm,Yb,Lu)あるいは
、MMnO_3(M=Bi,La_0_._7Ca_0
_._3,La_0_._7Sr_0_._3,La_
0_._7Ba_0_._3,La_0_.6,Pb_
0_._4,La_0_._7Cd_0_._3),あ
るいは、AMnO_6(A=Gd_2Co,Ba_2F
e,Ca_2Fe)であらわされる酸化物磁性体を示す
。 - (3)積層物質の蒸発を少なくとも二種以上の蒸発源で
行うことを特徴とする請求項(2)記載の薄膜超電導体
の製造方法。 - (4)積層物質の蒸発をスパッタリングで行なうことを
特徴とする請求項(2)記載の薄膜超電導体の製造方法
。
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2101617A JP3025891B2 (ja) | 1990-04-19 | 1990-04-19 | 薄膜超電導体およびその製造方法 |
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2101617A JP3025891B2 (ja) | 1990-04-19 | 1990-04-19 | 薄膜超電導体およびその製造方法 |
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| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH042182A true JPH042182A (ja) | 1992-01-07 |
| JP3025891B2 JP3025891B2 (ja) | 2000-03-27 |
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ID=14305367
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|---|---|---|---|
| JP2101617A Expired - Lifetime JP3025891B2 (ja) | 1990-04-19 | 1990-04-19 | 薄膜超電導体およびその製造方法 |
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| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3025891B2 (ja) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63318014A (ja) * | 1987-06-19 | 1988-12-26 | Hitachi Ltd | 金属酸化物超電導薄膜 |
| JPH03105807A (ja) * | 1989-09-20 | 1991-05-02 | Hitachi Ltd | 酸化物超伝導体と酸化物磁性体の積層薄膜 |
-
1990
- 1990-04-19 JP JP2101617A patent/JP3025891B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
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|---|---|---|---|---|
| JPS63318014A (ja) * | 1987-06-19 | 1988-12-26 | Hitachi Ltd | 金属酸化物超電導薄膜 |
| JPH03105807A (ja) * | 1989-09-20 | 1991-05-02 | Hitachi Ltd | 酸化物超伝導体と酸化物磁性体の積層薄膜 |
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3025891B2 (ja) | 2000-03-27 |
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