JPH04230060A - 冷却構造 - Google Patents
冷却構造Info
- Publication number
- JPH04230060A JPH04230060A JP2415321A JP41532190A JPH04230060A JP H04230060 A JPH04230060 A JP H04230060A JP 2415321 A JP2415321 A JP 2415321A JP 41532190 A JP41532190 A JP 41532190A JP H04230060 A JPH04230060 A JP H04230060A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- heat dissipation
- contact
- stud
- dissipation block
- conductive member
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/851—Dispositions of multiple connectors or interconnections
- H10W72/874—On different surfaces
- H10W72/877—Bump connectors and die-attach connectors
Landscapes
- Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、冷却構造に係り、特に
基板上に実装された集積回路素子(以下、LSIと称す
る)に弾性支持された伝導部材を当接させ、コールドプ
レート内の冷媒との熱交換によって当該LSIの冷却を
行う冷却構造に関するものである。
基板上に実装された集積回路素子(以下、LSIと称す
る)に弾性支持された伝導部材を当接させ、コールドプ
レート内の冷媒との熱交換によって当該LSIの冷却を
行う冷却構造に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来は、図15に示すように、LSI2
1が搭載された基板20に対して、フランジ24を介し
て熱伝導性に優れた部材によりなる放熱ブロック23を
取り付ける。この放熱ブロック23の背面には、その内
部に冷媒が流動する冷媒通路28を有するコールドプレ
ート22が接合される。尚、冷媒通路28の両端には配
管接続用のカプラ29a,29bがそれぞれ取り付けら
れている。
1が搭載された基板20に対して、フランジ24を介し
て熱伝導性に優れた部材によりなる放熱ブロック23を
取り付ける。この放熱ブロック23の背面には、その内
部に冷媒が流動する冷媒通路28を有するコールドプレ
ート22が接合される。尚、冷媒通路28の両端には配
管接続用のカプラ29a,29bがそれぞれ取り付けら
れている。
【0003】上記放熱ブロック23には、基板20上の
LSI21の実装位置に対応して凹部23aが形成され
、その中に熱伝導性に優れたスタッド26がスプリング
27を介して取り付けられる。上記スプリング27は基
板20上に実装されるLSI21の実装高さの調節を行
うもので、またスタッド26のLSI21と当接する面
は接触の確実さを実現するためにR曲面となっている。 尚、放熱ブロック23と基板20との間にはシール性を
高めるためにシール材25が取り付けられている。
LSI21の実装位置に対応して凹部23aが形成され
、その中に熱伝導性に優れたスタッド26がスプリング
27を介して取り付けられる。上記スプリング27は基
板20上に実装されるLSI21の実装高さの調節を行
うもので、またスタッド26のLSI21と当接する面
は接触の確実さを実現するためにR曲面となっている。 尚、放熱ブロック23と基板20との間にはシール性を
高めるためにシール材25が取り付けられている。
【0004】上記構成において、冷却時の熱は、まずL
SI21からスタッド26へ伝わり、スプリング27お
よび放熱ブロック23との間接熱伝導によってその熱が
伝わり、コールドプレート22との熱交換を行うように
なっていた。
SI21からスタッド26へ伝わり、スプリング27お
よび放熱ブロック23との間接熱伝導によってその熱が
伝わり、コールドプレート22との熱交換を行うように
なっていた。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしなから、従来で
は、いくらスプリングによってLSIとスタッドの接触
を保証しても、結局は一点接触にしかすぎず、また放熱
ブロックとスタッドが直接接触している部分が殆どない
ため、熱伝導性に劣るという問題があった。
は、いくらスプリングによってLSIとスタッドの接触
を保証しても、結局は一点接触にしかすぎず、また放熱
ブロックとスタッドが直接接触している部分が殆どない
ため、熱伝導性に劣るという問題があった。
【0006】従って、本発明は、LSIと伝導部材間の
熱伝導を、または放熱ブロックと伝導部材間の熱伝導を
向上させることを目的とするものである。
熱伝導を、または放熱ブロックと伝導部材間の熱伝導を
向上させることを目的とするものである。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記目的は、基板1上に
実装された集積回路素子2と当接し、弾性支持された伝
導部材7を有する放熱ブロック4と、該放熱ブロック4
と接触し、その内部に冷媒が流動する冷媒通路8を有す
るコールドプレート3とからなる冷却構造において、前
記伝導部材7は、円柱状のスタッド7aと、該スタッド
7aを弾性的に支持するベローズ7fと、該スタッド7
aおよび該ベローズ7fをその内部に有する円筒状のパ
イプ7bと、該パイプ7bを弾性的に支持するベローズ
7eと、から構成されたことを特徴とする冷却構造、
実装された集積回路素子2と当接し、弾性支持された伝
導部材7を有する放熱ブロック4と、該放熱ブロック4
と接触し、その内部に冷媒が流動する冷媒通路8を有す
るコールドプレート3とからなる冷却構造において、前
記伝導部材7は、円柱状のスタッド7aと、該スタッド
7aを弾性的に支持するベローズ7fと、該スタッド7
aおよび該ベローズ7fをその内部に有する円筒状のパ
イプ7bと、該パイプ7bを弾性的に支持するベローズ
7eと、から構成されたことを特徴とする冷却構造、
【
0008】または、基板1上に実装された集積回路素子
2と当接し、弾性支持された伝導部材12を有する放熱
ブロック4と、該放熱ブロック4と接触し、その内部に
冷媒が流動する冷媒通路8を有するコールドプレート3
とからなる冷却構造において、対向することで1つに形
成される前記伝導部材12a,12bと、分割された分
割伝導部材12a,12bの対向面に、該分割伝導部材
12a,12bを外側方向に向かって付勢する弾性部材
12cを設けたことを特徴とする冷却構造、
0008】または、基板1上に実装された集積回路素子
2と当接し、弾性支持された伝導部材12を有する放熱
ブロック4と、該放熱ブロック4と接触し、その内部に
冷媒が流動する冷媒通路8を有するコールドプレート3
とからなる冷却構造において、対向することで1つに形
成される前記伝導部材12a,12bと、分割された分
割伝導部材12a,12bの対向面に、該分割伝導部材
12a,12bを外側方向に向かって付勢する弾性部材
12cを設けたことを特徴とする冷却構造、
【0009
】または、基板1上に実装された集積回路素子2と当接
し、弾性支持された伝導部材14aを有する放熱ブロッ
ク4と、該放熱ブロック4と接触し、その内部に冷媒が
流動する冷媒通路8を有するコールドプレート3とから
なる冷却構造において、その外面の任意の部分に凹部1
4cを有する前記伝導部材14aと、該凹部14c内に
内接され、該伝導部材14aの凹部形成面との反対の面
を放熱ブロック4に接触させるよう外側方向に付勢する
弾性体14dと、から構成されたことを特徴とする冷却
構造、
】または、基板1上に実装された集積回路素子2と当接
し、弾性支持された伝導部材14aを有する放熱ブロッ
ク4と、該放熱ブロック4と接触し、その内部に冷媒が
流動する冷媒通路8を有するコールドプレート3とから
なる冷却構造において、その外面の任意の部分に凹部1
4cを有する前記伝導部材14aと、該凹部14c内に
内接され、該伝導部材14aの凹部形成面との反対の面
を放熱ブロック4に接触させるよう外側方向に付勢する
弾性体14dと、から構成されたことを特徴とする冷却
構造、
【0010】または、基板1上に実装された集積回路素
子2と当接し、弾性支持された伝導部材15を有する放
熱ブロック4と、該放熱ブロック4と接触し、その内部
に冷媒が流動する冷媒通路8を有するコールドプレート
3とからなる冷却構造において、前記伝導部材15の弾
性支持面の所定の傾斜をもってスライスし、該スライス
された面に該傾斜面を滑動して該伝導部材15を偏心支
持すると共に、弾性支持された補助伝導部材16を設け
たことを特徴とする冷却構造、によって達成することが
できる。
子2と当接し、弾性支持された伝導部材15を有する放
熱ブロック4と、該放熱ブロック4と接触し、その内部
に冷媒が流動する冷媒通路8を有するコールドプレート
3とからなる冷却構造において、前記伝導部材15の弾
性支持面の所定の傾斜をもってスライスし、該スライス
された面に該傾斜面を滑動して該伝導部材15を偏心支
持すると共に、弾性支持された補助伝導部材16を設け
たことを特徴とする冷却構造、によって達成することが
できる。
【0011】
【作用】即ち、本発明においては、伝導部材を長手方向
の分割型とすることで、当該伝導部材とLSIとの間の
接触を多点接触とすることができ、また、伝導部材内に
伝導部材を放熱ブロックの方向へと付勢してなる弾性材
を設けることにより、放熱ブロックに伝導部材を直接接
触することができる。
の分割型とすることで、当該伝導部材とLSIとの間の
接触を多点接触とすることができ、また、伝導部材内に
伝導部材を放熱ブロックの方向へと付勢してなる弾性材
を設けることにより、放熱ブロックに伝導部材を直接接
触することができる。
【0012】
【実施例】以下、本発明の望ましい実施例について図1
乃至図14を用いて詳細に説明する。
乃至図14を用いて詳細に説明する。
【0013】図1は本発明の第1の実施例を示す図であ
り、図2はスタッド分解図であり、図3は熱伝導状態を
示す図であり、図4は本発明の第2の実施例を示す図で
あり、図5はスタッド分解図(その1)であり、図6は
スタッド分解図(その2)であり、図7は熱伝導状態を
示す図(その1)であり、図8は熱伝導状態を示す図(
その2)であり、図9は本発明の第3の実施例を示す図
であり、図10はスタッド分解図(その1)であり、図
11はスタッド分解図(その2)であり、図12は熱伝
導状態を示す図であり、図13は本発明の第4の実施例
を示す図であり、図14は熱伝導状態を示す図である。
り、図2はスタッド分解図であり、図3は熱伝導状態を
示す図であり、図4は本発明の第2の実施例を示す図で
あり、図5はスタッド分解図(その1)であり、図6は
スタッド分解図(その2)であり、図7は熱伝導状態を
示す図(その1)であり、図8は熱伝導状態を示す図(
その2)であり、図9は本発明の第3の実施例を示す図
であり、図10はスタッド分解図(その1)であり、図
11はスタッド分解図(その2)であり、図12は熱伝
導状態を示す図であり、図13は本発明の第4の実施例
を示す図であり、図14は熱伝導状態を示す図である。
【0014】図1乃至図14において、1は基板,2は
LSI,3はコールドプレート,4は放熱ブロック,4
aは凹部,5はフランジ,6はシール材,7はスタッド
,7aと7bはパイプ,7cはスタッド,7d〜7fは
ベローズ,8は冷媒通路,9aと9bはカプラ,10は
ボルト,11はバンプ,12は伝導部材,12aと12
bと12iと12jは分割スタッド,12cはバネ,1
2dと12eはバネ取付穴,12fはミゾ,12gは板
バネ,12hネジ,13はスプリング,14aと14b
はスタッド,14cミゾ,14dは板バネ,14eはネ
ジ,14fは凹部,14gはバネ,14hはボール,1
4iはネジ穴,15a〜15dはスタッド,16aと1
6bはサブスタッド,17はボールをそれぞれ示す。
LSI,3はコールドプレート,4は放熱ブロック,4
aは凹部,5はフランジ,6はシール材,7はスタッド
,7aと7bはパイプ,7cはスタッド,7d〜7fは
ベローズ,8は冷媒通路,9aと9bはカプラ,10は
ボルト,11はバンプ,12は伝導部材,12aと12
bと12iと12jは分割スタッド,12cはバネ,1
2dと12eはバネ取付穴,12fはミゾ,12gは板
バネ,12hネジ,13はスプリング,14aと14b
はスタッド,14cミゾ,14dは板バネ,14eはネ
ジ,14fは凹部,14gはバネ,14hはボール,1
4iはネジ穴,15a〜15dはスタッド,16aと1
6bはサブスタッド,17はボールをそれぞれ示す。
【0015】尚,図1乃至図14において同一符号を付
したものは同一対象物をそれぞれ示すものである。
したものは同一対象物をそれぞれ示すものである。
【0016】まず、第1の実施例について図1乃至図3
を用いて詳細に説明する。図1に示すように、LSI2
が搭載された基板1に対してフランジ5を介し熱伝導性
に優れた部材によりなる放熱ブロック4を取り付ける。 基板1と放熱ブロック4の間のシール性を高めるために
その接合点にはシール材6を設けている。一方、放熱ブ
ロック4の背面には内部に冷媒が流動する冷媒通路8を
有するコールドプレート3が接触される。
を用いて詳細に説明する。図1に示すように、LSI2
が搭載された基板1に対してフランジ5を介し熱伝導性
に優れた部材によりなる放熱ブロック4を取り付ける。 基板1と放熱ブロック4の間のシール性を高めるために
その接合点にはシール材6を設けている。一方、放熱ブ
ロック4の背面には内部に冷媒が流動する冷媒通路8を
有するコールドプレート3が接触される。
【0017】一方、放熱ブロック4には、LSI実装位
置に対応して凹部4aが形成され,その凹部4a内に図
2に示すスタッド7が形成される。このスタッド7は、
その中心に位置する円柱状のスタッド7aに対して、そ
の回りを覆う円筒状のパイプ7bおよびその円筒状のパ
イプ7bをも覆ってしまう同じく円筒状のパイプ7cを
設け、それらスタッド7aおよび2つのパイプ7b,7
cにはベローズ7d〜7fの弾性体が取り付けられる。 尚、上記凹部4aの奥側は取付時の問題から階段状とす
ることが望ましい。
置に対応して凹部4aが形成され,その凹部4a内に図
2に示すスタッド7が形成される。このスタッド7は、
その中心に位置する円柱状のスタッド7aに対して、そ
の回りを覆う円筒状のパイプ7bおよびその円筒状のパ
イプ7bをも覆ってしまう同じく円筒状のパイプ7cを
設け、それらスタッド7aおよび2つのパイプ7b,7
cにはベローズ7d〜7fの弾性体が取り付けられる。 尚、上記凹部4aの奥側は取付時の問題から階段状とす
ることが望ましい。
【0018】図3は第1の実施例における熱伝導状態を
示す図であり、基板上に実装されるLSIの実装高さに
バンプの接合状態でバラツキが発生した場合を示してい
る。LSIの放熱面に接触するスタッドは本実施例にお
いては、LSIの放熱面に凹凸がない以上、スタッドを
構成するスタッド7cと2つのパイプ7a,7bによっ
て必ず三点接触(図示■〜■)が保証される。本例にお
いて放熱ブロックの凹部の径とスタッドの径との距離に
充分余裕があれば1つの点接触と2つの円形の線接触を
得ることができ、LSIからスタッドへの熱伝導率を向
上することができる。
示す図であり、基板上に実装されるLSIの実装高さに
バンプの接合状態でバラツキが発生した場合を示してい
る。LSIの放熱面に接触するスタッドは本実施例にお
いては、LSIの放熱面に凹凸がない以上、スタッドを
構成するスタッド7cと2つのパイプ7a,7bによっ
て必ず三点接触(図示■〜■)が保証される。本例にお
いて放熱ブロックの凹部の径とスタッドの径との距離に
充分余裕があれば1つの点接触と2つの円形の線接触を
得ることができ、LSIからスタッドへの熱伝導率を向
上することができる。
【0019】次に第2の実施例について図4乃至図8を
用いて詳細に説明する。図4に示すように、LSI2が
搭載された基板1に対してフランジ5を介し熱伝導性に
優れた部材によりなる放熱ブロック4を取り付ける。基
板1と放熱ブロック4の間のシール性を高めるためにそ
の接合点にはシール材6を設けている。一方、放熱ブロ
ック4の背面には内部に冷媒が流動する冷媒通路8を有
するコールドプレート3が接触される。
用いて詳細に説明する。図4に示すように、LSI2が
搭載された基板1に対してフランジ5を介し熱伝導性に
優れた部材によりなる放熱ブロック4を取り付ける。基
板1と放熱ブロック4の間のシール性を高めるためにそ
の接合点にはシール材6を設けている。一方、放熱ブロ
ック4の背面には内部に冷媒が流動する冷媒通路8を有
するコールドプレート3が接触される。
【0020】一方、放熱ブロック4には、LSI実装位
置に対応して凹部4aが形成され,その凹部4a内に図
5に示すスタッド12が形成される。このスタッド12
は長手方向に二等分され、その分割された分割スタッド
12a,12bにはそれぞれ2ヵ所にバネ取付穴12d
が形成される。そしてそのバネ取付穴12dには図示上
下方向に付勢するバネ12cが取り付けられる。
置に対応して凹部4aが形成され,その凹部4a内に図
5に示すスタッド12が形成される。このスタッド12
は長手方向に二等分され、その分割された分割スタッド
12a,12bにはそれぞれ2ヵ所にバネ取付穴12d
が形成される。そしてそのバネ取付穴12dには図示上
下方向に付勢するバネ12cが取り付けられる。
【0021】また図6には、分割スタッドの変形例を示
すもので、上記と同様に長手方向に二分割された分割ス
タッド12i,12jの一方の分割スタッド12jに、
長手方向にミゾ12fを形成し、その中心部分にはネジ
穴が穿孔されている。そして、このミゾ12fに側面視
V型のバネ性を有する板バネ12gをネジ12hによっ
て締結される。この板バネ12gは図示上下方向に付勢
するバネ性を有している。
すもので、上記と同様に長手方向に二分割された分割ス
タッド12i,12jの一方の分割スタッド12jに、
長手方向にミゾ12fを形成し、その中心部分にはネジ
穴が穿孔されている。そして、このミゾ12fに側面視
V型のバネ性を有する板バネ12gをネジ12hによっ
て締結される。この板バネ12gは図示上下方向に付勢
するバネ性を有している。
【0022】このようなスタッド12は放熱ブロック4
にスプリング13によって取り付けられ、基板1上に実
装されたLSI2の高さ方向のバラツキを調節するよう
になっている。
にスプリング13によって取り付けられ、基板1上に実
装されたLSI2の高さ方向のバラツキを調節するよう
になっている。
【0023】図7及び図8は第2の実施例における熱伝
導状態を示す図であり、図7はその側面視図である。図
7において、基板1上に実装されたLSI2に対し、そ
の放熱面にスタッド12を接触させる。このLSI2と
スタッド12の接触点はaにて示すように二点接触を実
現することができると共に、分割スタッド12a,12
bの中に設けたバネ12cによって放熱ブロック4とは
長手方向にbとcに示すように線接触を行うことができ
る(図8の上面図参照)。尚、分割スタッド12iと1
2jの場合においてもバネ12cが板バネ12gに代わ
るだけで、作用・効果は同様である。従って、本例では
LSI2とスタッド12の熱伝導率を向上すると共に、
スタッド12と放熱ブロック4との熱伝導率をも向上す
ることができる。
導状態を示す図であり、図7はその側面視図である。図
7において、基板1上に実装されたLSI2に対し、そ
の放熱面にスタッド12を接触させる。このLSI2と
スタッド12の接触点はaにて示すように二点接触を実
現することができると共に、分割スタッド12a,12
bの中に設けたバネ12cによって放熱ブロック4とは
長手方向にbとcに示すように線接触を行うことができ
る(図8の上面図参照)。尚、分割スタッド12iと1
2jの場合においてもバネ12cが板バネ12gに代わ
るだけで、作用・効果は同様である。従って、本例では
LSI2とスタッド12の熱伝導率を向上すると共に、
スタッド12と放熱ブロック4との熱伝導率をも向上す
ることができる。
【0024】次に第3の実施例について図9乃至図12
を用いて詳細に説明する。図9に示すように、LSI2
が搭載された基板1に対してフランジ5を介し熱伝導性
に優れた部材によりなる放熱ブロック4を取り付ける。 基板1と放熱ブロック4の間のシール性を高めるために
その接合点にはシール材6を設けている。一方、放熱ブ
ロック4の背面には内部に冷媒が流動する冷媒通路8を
有するコールドプレート3が接触される。
を用いて詳細に説明する。図9に示すように、LSI2
が搭載された基板1に対してフランジ5を介し熱伝導性
に優れた部材によりなる放熱ブロック4を取り付ける。 基板1と放熱ブロック4の間のシール性を高めるために
その接合点にはシール材6を設けている。一方、放熱ブ
ロック4の背面には内部に冷媒が流動する冷媒通路8を
有するコールドプレート3が接触される。
【0025】一方、放熱ブロック4には、LSI実装位
置に対応して凹部4aが形成され,その凹部4a内に図
10に示すスタッド14aが形成される。このスタッド
14aは長手方向に所定長を有するミゾ14cが形成さ
れ、そのミゾ14c内にネジ穴14iが穿孔される。こ
のネジ穴14iにはネジ14eによって板バネ14dが
締結される。この板バネ14dは図示上方向に付勢する
バネ性を有している。
置に対応して凹部4aが形成され,その凹部4a内に図
10に示すスタッド14aが形成される。このスタッド
14aは長手方向に所定長を有するミゾ14cが形成さ
れ、そのミゾ14c内にネジ穴14iが穿孔される。こ
のネジ穴14iにはネジ14eによって板バネ14dが
締結される。この板バネ14dは図示上方向に付勢する
バネ性を有している。
【0026】また図11には、スタッドの変形例を示す
もので、スタッド14bには任意の部分に凹部14fが
形成され、その凹部14f内に図示上下方向に付勢して
なるバネ14gが内接される。そのバネ14gの先端に
はボール14hが取り付けられている。
もので、スタッド14bには任意の部分に凹部14fが
形成され、その凹部14f内に図示上下方向に付勢して
なるバネ14gが内接される。そのバネ14gの先端に
はボール14hが取り付けられている。
【0027】このようなスタッド14a,14bは放熱
ブロック4にスプリング13によって取り付けられ、基
板1上に実装されたLSI2の高さ方向のバラツキを調
節するようになっている。
ブロック4にスプリング13によって取り付けられ、基
板1上に実装されたLSI2の高さ方向のバラツキを調
節するようになっている。
【0028】図12は第3の実施例における熱伝導状態
を示す図であり、図12において基板1上に実装された
LSI2の放熱面にスタッド14aを当接される。この
時、スリッド14a内に設けられた板バネ14dによっ
て板バネ14dと反する面が放熱ブロックとdに示すよ
うに線接触を得ることができる。尚、放熱ブロック4に
板バネ14dが接する部分についても熱伝導を行うこと
ができる。従って、本例においてはスタッド14aと放
熱ブロック4巻の熱伝導を向上することができる。尚、
スリッド14bの場合においても板バネ14dがボール
14hに代わるだけで、作用・効果はスタッド14aと
同様である。
を示す図であり、図12において基板1上に実装された
LSI2の放熱面にスタッド14aを当接される。この
時、スリッド14a内に設けられた板バネ14dによっ
て板バネ14dと反する面が放熱ブロックとdに示すよ
うに線接触を得ることができる。尚、放熱ブロック4に
板バネ14dが接する部分についても熱伝導を行うこと
ができる。従って、本例においてはスタッド14aと放
熱ブロック4巻の熱伝導を向上することができる。尚、
スリッド14bの場合においても板バネ14dがボール
14hに代わるだけで、作用・効果はスタッド14aと
同様である。
【0029】最後に第4の実施例について図13および
図14を用いて詳細に説明する。図13に示すように、
LSI2が搭載された基板1に対してフランジ5を介し
熱伝導性に優れた部材によりなる放熱ブロック4を取り
付ける。基板1と放熱ブロック4の間のシール性を高め
るためにその接合点にはシール材6を設けている。一方
、放熱ブロック4の背面には内部に冷媒が流動する冷媒
通路8を有するコールドプレート3が接触される。
図14を用いて詳細に説明する。図13に示すように、
LSI2が搭載された基板1に対してフランジ5を介し
熱伝導性に優れた部材によりなる放熱ブロック4を取り
付ける。基板1と放熱ブロック4の間のシール性を高め
るためにその接合点にはシール材6を設けている。一方
、放熱ブロック4の背面には内部に冷媒が流動する冷媒
通路8を有するコールドプレート3が接触される。
【0030】一方、放熱ブロック4には、LSI実装位
置に対応して凹部4aが形成され,その凹部4a内にス
タッドが形成されるが、このスタッド14aは所定角度
をもって斜め方向にスライスされており、そのスライス
された面にはボール17が設けられ、そのボール17に
LSI2の実装のバラツキを調節するスプリング13が
設けられている。スタッド15bのスライス面に当接す
る部分の他の例として、そのスライスされた面には表面
がR曲面となったサブスタッド16bを設ける。更にス
タッド15c,15dのスライス面に当接する部分の他
の例として、そのスライスされた面には上記所定角度と
同様の角度を対向面に有するサブスタッド16aを設け
る。これらサブスタッド16a,16bにはLSI2の
実装上のバラツキを調節するスプリング13が取り付け
られている。
置に対応して凹部4aが形成され,その凹部4a内にス
タッドが形成されるが、このスタッド14aは所定角度
をもって斜め方向にスライスされており、そのスライス
された面にはボール17が設けられ、そのボール17に
LSI2の実装のバラツキを調節するスプリング13が
設けられている。スタッド15bのスライス面に当接す
る部分の他の例として、そのスライスされた面には表面
がR曲面となったサブスタッド16bを設ける。更にス
タッド15c,15dのスライス面に当接する部分の他
の例として、そのスライスされた面には上記所定角度と
同様の角度を対向面に有するサブスタッド16aを設け
る。これらサブスタッド16a,16bにはLSI2の
実装上のバラツキを調節するスプリング13が取り付け
られている。
【0031】図14に第4の実施例における熱伝導状態
を示す図であり、基板1上に実装されたLSI2に対し
てスライス面を有するスタッド15cを当接させる。そ
して、このスライス面にはサブスタット16bが当接す
るが、この時スプリング13の付勢及びサブスタッド1
6bの自重により、基板方向と基板と平行な方向にその
力が働く。すると、サブスタッド16bは放熱ブロック
4に線接触すると共に、スタッド15cのサブスタッド
側先端部分が放熱ブロック4に線接触することとなる。 放熱ブロック4とスタッドとの間にある程度の余裕があ
るのであればスタッド15cのLSI側先端部分も放熱
ブロック4に線接触することとなる。このことはボール
17の場合も、先端にR曲面を有するサブスタッド16
aの場合もその作用・効果は同様である(但し、ボール
17を用いた場合は放熱ブロック4との接触は点接触に
なるが)。従って、本例においてはスタッド15a〜1
5dと放熱ブロック4との熱伝導率を向上することがで
きる。
を示す図であり、基板1上に実装されたLSI2に対し
てスライス面を有するスタッド15cを当接させる。そ
して、このスライス面にはサブスタット16bが当接す
るが、この時スプリング13の付勢及びサブスタッド1
6bの自重により、基板方向と基板と平行な方向にその
力が働く。すると、サブスタッド16bは放熱ブロック
4に線接触すると共に、スタッド15cのサブスタッド
側先端部分が放熱ブロック4に線接触することとなる。 放熱ブロック4とスタッドとの間にある程度の余裕があ
るのであればスタッド15cのLSI側先端部分も放熱
ブロック4に線接触することとなる。このことはボール
17の場合も、先端にR曲面を有するサブスタッド16
aの場合もその作用・効果は同様である(但し、ボール
17を用いた場合は放熱ブロック4との接触は点接触に
なるが)。従って、本例においてはスタッド15a〜1
5dと放熱ブロック4との熱伝導率を向上することがで
きる。
【0032】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、ス
タッドとLSI間の、スタッドと放熱ブロックとの熱伝
導率を向上することができることから、冷却能力を向上
することができる。
タッドとLSI間の、スタッドと放熱ブロックとの熱伝
導率を向上することができることから、冷却能力を向上
することができる。
【図1】本発明の第1の実施例を示す図である。
【図2】スタッド分解図である。
【図3】熱伝導状態を示す図である。
【図4】本発明の第2の実施例を示す図である。
【図5】スタッド分解図である(その1)。
【図6】スタッド分解図である(その2)。
【図7】熱伝導状態を示す図である(その1)。
【図8】熱伝導状態を示す図である(その2)。
【図9】本発明の第3の実施例を示す図である。
【図10】スタッド分解図である(その1)。
【図11】スタッド分解図である(その2)。
【図12】熱伝導状態を示す図である。
【図13】本発明の第4の実施例を示す図である。
【図14】熱伝導状態を示す図である。
【図15】従来例を示す図である。
1:基板
2:LSI(集積回路素子) 3:コールドプレート 4
:放熱ブロック7,12,14a,14b,15:スタ
ッド(伝導部材) 7a,7b:パイプ
7e,7f:ベローズ 8:冷媒通路
12c:バネ(弾性部材) 14c:ミゾ(凹部) 1
4d:板バネ(弾性体)
2:LSI(集積回路素子) 3:コールドプレート 4
:放熱ブロック7,12,14a,14b,15:スタ
ッド(伝導部材) 7a,7b:パイプ
7e,7f:ベローズ 8:冷媒通路
12c:バネ(弾性部材) 14c:ミゾ(凹部) 1
4d:板バネ(弾性体)
Claims (4)
- 【請求項1】 基板(1)上に実装された集積回路素
子(2)と当接し、弾性支持された伝導部材(7)を有
する放熱ブロック(4)と、該放熱ブロック(4)と接
触し、その内部に冷媒が流動する冷媒通路(8)を有す
るコールドプレート(3)とからなる冷却構造において
、前記伝導部材(7)は、円柱状のスタッド(7a)と
、該スタッド(7a)を弾性的に支持するベローズ(7
f)と、該スタッド(7a)および該ベローズ(7f)
をその内部に有する円筒状のパイプ(7b)と、該パイ
プ(7b)を弾性的に支持するベローズ(7e)と、か
ら構成されたことを特徴とする冷却構造。 - 【請求項2】 基板(1)上に実装された集積回路素
子(2)と当接し、弾性支持された伝導部材(12)を
有する放熱ブロック(4)と、該放熱ブロック(4)と
接触し、その内部に冷媒が流動する冷媒通路(8)を有
するコールドプレート(3)とからなる冷却構造におい
て、対向することで1つに形成される前記伝導部材(1
2a,12b,12i,12j)と、分割された分割伝
導部材(12a,12b)の対向面に、該分割伝導部材
(12a,12b)を外側方向に向かって付勢する弾性
部材(12c)を設けたことを特徴とする冷却構造。 - 【請求項3】 基板(1)上に実装された集積回路素
子(2)と当接し、弾性支持された伝導部材(14a)
を有する放熱ブロック(4)と、該放熱ブロック(4)
と接触し、その内部に冷媒が流動する冷媒通路(8)を
有するコールドプレート(3)とからなる冷却構造にお
いて、その外面の任意の部分に凹部(14c)を有する
前記伝導部材(14a)と、該凹部(14c)内に内接
され、該伝導部材(14a)の凹部形成面との反対の面
を放熱ブロック(4)に接触させるよう外側方向に付勢
する弾性体(14d)と、から構成されたことを特徴と
する冷却構造。 - 【請求項4】 基板(1)上に実装された集積回路素
子(2)と当接し、弾性支持された伝導部材(15)を
有する放熱ブロック(4)と、該放熱ブロック(4)と
接触し、その内部に冷媒が流動する冷媒通路(8)を有
するコールドプレート(3)とからなる冷却構造におい
て、前記伝導部材(15)の弾性支持面の所定の傾斜を
もってスライスし、該スライスされた面に該傾斜面を滑
動して該伝導部材(15)を偏心支持すると共に、弾性
支持された補助伝導部材(16)を設けたことを特徴と
する冷却構造。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2415321A JPH04230060A (ja) | 1990-12-27 | 1990-12-27 | 冷却構造 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2415321A JPH04230060A (ja) | 1990-12-27 | 1990-12-27 | 冷却構造 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04230060A true JPH04230060A (ja) | 1992-08-19 |
Family
ID=18523696
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2415321A Withdrawn JPH04230060A (ja) | 1990-12-27 | 1990-12-27 | 冷却構造 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04230060A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20150140671A (ko) | 2013-04-09 | 2015-12-16 | 미쯔비시 가스 케미칼 컴파니, 인코포레이티드 | 다층구조체 |
| US11177192B2 (en) * | 2018-09-27 | 2021-11-16 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Semiconductor device including heat dissipation structure and fabricating method of the same |
-
1990
- 1990-12-27 JP JP2415321A patent/JPH04230060A/ja not_active Withdrawn
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20150140671A (ko) | 2013-04-09 | 2015-12-16 | 미쯔비시 가스 케미칼 컴파니, 인코포레이티드 | 다층구조체 |
| US11177192B2 (en) * | 2018-09-27 | 2021-11-16 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Semiconductor device including heat dissipation structure and fabricating method of the same |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
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