JPH04244931A - 光学式液晶ディスプレイ欠陥検査装置 - Google Patents
光学式液晶ディスプレイ欠陥検査装置Info
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- JPH04244931A JPH04244931A JP1111891A JP1111891A JPH04244931A JP H04244931 A JPH04244931 A JP H04244931A JP 1111891 A JP1111891 A JP 1111891A JP 1111891 A JP1111891 A JP 1111891A JP H04244931 A JPH04244931 A JP H04244931A
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- JP
- Japan
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- liquid crystal
- crystal display
- pattern
- display
- movable stage
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- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 title claims abstract description 50
- 230000007547 defect Effects 0.000 title claims abstract description 17
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims description 8
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
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Landscapes
- Liquid Crystal (AREA)
- Liquid Crystal Display Device Control (AREA)
- Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は光学式液晶ディスプレ
イ欠陥検査装置に関し、特に、液晶ディスプレイに形成
されている電極の中の欠陥を光学的に検査するような光
学式液晶ディスプレイ欠陥検査装置に関する。
イ欠陥検査装置に関し、特に、液晶ディスプレイに形成
されている電極の中の欠陥を光学的に検査するような光
学式液晶ディスプレイ欠陥検査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】最近では、各種電子機器に液晶ディスプ
レイが多く用いられつつある。しかも、液晶ディスプレ
イに表示される情報量が多くなってきており、表示密度
の高い液晶ディスプレイが要求されている。表示密度を
高めるためには、液晶表示器と端子との間の配線パター
ンを細くし、しかも隣接するパターンとの間隔を少なく
する必要がある。ところが、パターンの密度を高めると
、パターンのエッチング工程などで、隣接するパターン
同士が電気的に接続されてしまうことがある。このよう
な液晶ディスプレイの欠陥を検査する方法として、パネ
ルになった状態の液晶ディスプレイを点灯し、それを光
学的に読取って標準のデータと比較し、一致していなけ
れば欠陥であると判別する方法が考えられる。
レイが多く用いられつつある。しかも、液晶ディスプレ
イに表示される情報量が多くなってきており、表示密度
の高い液晶ディスプレイが要求されている。表示密度を
高めるためには、液晶表示器と端子との間の配線パター
ンを細くし、しかも隣接するパターンとの間隔を少なく
する必要がある。ところが、パターンの密度を高めると
、パターンのエッチング工程などで、隣接するパターン
同士が電気的に接続されてしまうことがある。このよう
な液晶ディスプレイの欠陥を検査する方法として、パネ
ルになった状態の液晶ディスプレイを点灯し、それを光
学的に読取って標準のデータと比較し、一致していなけ
れば欠陥であると判別する方法が考えられる。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】ところが、液晶ディス
プレイの各画素の明るさは、光源などの影響によりむら
を生じることが多い。このように、明暗のむらがある場
合、標準データのしきい値と測定値とを比較すると、厳
格的に判断されてしまう。すなわち、しきい値を低くす
ると、不良品でも良品になる確率が高くなり、しきい値
を高く設定すると、良品でも不良品になる確率が高くな
ってしまう。
プレイの各画素の明るさは、光源などの影響によりむら
を生じることが多い。このように、明暗のむらがある場
合、標準データのしきい値と測定値とを比較すると、厳
格的に判断されてしまう。すなわち、しきい値を低くす
ると、不良品でも良品になる確率が高くなり、しきい値
を高く設定すると、良品でも不良品になる確率が高くな
ってしまう。
【０００４】それゆえに、この発明の主たる目的は、液
晶ディスプレイの表示面を分割し、分割した領域の一部
分の明度を検出して平均値を求め、その平均値と測定値
とを比較して良品であるか否かの判別を行なうような光
学式液晶ディスプレイ欠陥検査装置を提供することであ
る。
晶ディスプレイの表示面を分割し、分割した領域の一部
分の明度を検出して平均値を求め、その平均値と測定値
とを比較して良品であるか否かの判別を行なうような光
学式液晶ディスプレイ欠陥検査装置を提供することであ
る。
【０００５】
【課題を解決するための手段】この発明は液晶ディスプ
レイの欠陥を検査するための光学式液晶ディスプレイ欠
陥検査装置であって、液晶ディスプレイを一方方向に移
動させるための可動ステージと、液晶ディスプレイに検
査のためのパターンを表示させる表示制御手段と、可動
ステージの上方から液晶ディスプレイの表面の画像パタ
ーンを読取るイメージセンサと、イメージセンサの読取
出力のうち、液晶ディスプレイの表示面を複数に分割し
、分割されたそれぞれの領域の中心部分に対応する読取
出力を平均化し、その平均値と表示面のそれぞれの画素
の読取出力とを比較して液晶ディスプレイの欠陥を判別
する判別手段を備えて構成される。
レイの欠陥を検査するための光学式液晶ディスプレイ欠
陥検査装置であって、液晶ディスプレイを一方方向に移
動させるための可動ステージと、液晶ディスプレイに検
査のためのパターンを表示させる表示制御手段と、可動
ステージの上方から液晶ディスプレイの表面の画像パタ
ーンを読取るイメージセンサと、イメージセンサの読取
出力のうち、液晶ディスプレイの表示面を複数に分割し
、分割されたそれぞれの領域の中心部分に対応する読取
出力を平均化し、その平均値と表示面のそれぞれの画素
の読取出力とを比較して液晶ディスプレイの欠陥を判別
する判別手段を備えて構成される。
【０００６】
【作用】この発明にかかる光学式液晶ディスプレイ欠陥
検査装置は、液晶ディスプレイの表示面を複数に分割し
、分割されたそれぞれの領域の中心部分に対応する読取
出力を平均化し、その平均値と表示面のそれぞれの画素
の読取出力とを比較することにより、測定値と比較され
る標準データのしきい値を適切に設定できる。
検査装置は、液晶ディスプレイの表示面を複数に分割し
、分割されたそれぞれの領域の中心部分に対応する読取
出力を平均化し、その平均値と表示面のそれぞれの画素
の読取出力とを比較することにより、測定値と比較され
る標準データのしきい値を適切に設定できる。
【０００７】
【発明の実施例】図２はこの発明の一実施例の概略ブロ
ック図である。図２を参照して、テーブル１の上に可動
ステージ２が設けられる。可動ステージ２は液晶ディス
プレイ３を一方方向に移動させるためのものであって、
たとえばリニアモータによって駆動される。可動ステー
ジ２の上方にはＣＣＤユニット４が設けられる。ＣＣＤ
ユニット４は可動ステージ２によって一方方向に移動す
る液晶ディスプレイ３の表示パターンを読取るものであ
って、たとえばＣＣＤイメージセンサが用いられる。
ック図である。図２を参照して、テーブル１の上に可動
ステージ２が設けられる。可動ステージ２は液晶ディス
プレイ３を一方方向に移動させるためのものであって、
たとえばリニアモータによって駆動される。可動ステー
ジ２の上方にはＣＣＤユニット４が設けられる。ＣＣＤ
ユニット４は可動ステージ２によって一方方向に移動す
る液晶ディスプレイ３の表示パターンを読取るものであ
って、たとえばＣＣＤイメージセンサが用いられる。
【０００８】全体の制御を行なうために、パーソナルコ
ンピュータ５が設けられる。パーソナルコンピュータ５
はＣＣＤユニット４を制御するために、ＣＣＤ制御回路
６からＣＣＤ駆動回路７に制御信号を出力させ、ＣＣＤ
駆動回路７はその制御信号に応じてＣＣＤユニット４を
駆動する。ＣＣＤユニット４の読取出力はパーソナルコ
ンピュータ５に与えられる。さらに、パーソナルコンピ
ュータ５はパルス発生器８からパルス信号を発生させ、
このパルス信号はテーブル位置決めユニット９に与えら
れ、テーブル位置決めユニット９はそのパルス信号に応
じて可動ステージ２を一方方向に順次移動させ、可動ス
テージ２の位置決めを行なう。パーソナルコンピュータ
５はさらにパターンジェネレータ１０から検査のための
表示パターンデータを発生させる。このパターンデータ
はＬＣＤ駆動回路１１に与えられる。ＬＣＤ駆動回路１
１は液晶ディスプレイ３を駆動し、与えられたパターン
データに応じてそのパターンを表示させる。
ンピュータ５が設けられる。パーソナルコンピュータ５
はＣＣＤユニット４を制御するために、ＣＣＤ制御回路
６からＣＣＤ駆動回路７に制御信号を出力させ、ＣＣＤ
駆動回路７はその制御信号に応じてＣＣＤユニット４を
駆動する。ＣＣＤユニット４の読取出力はパーソナルコ
ンピュータ５に与えられる。さらに、パーソナルコンピ
ュータ５はパルス発生器８からパルス信号を発生させ、
このパルス信号はテーブル位置決めユニット９に与えら
れ、テーブル位置決めユニット９はそのパルス信号に応
じて可動ステージ２を一方方向に順次移動させ、可動ス
テージ２の位置決めを行なう。パーソナルコンピュータ
５はさらにパターンジェネレータ１０から検査のための
表示パターンデータを発生させる。このパターンデータ
はＬＣＤ駆動回路１１に与えられる。ＬＣＤ駆動回路１
１は液晶ディスプレイ３を駆動し、与えられたパターン
データに応じてそのパターンを表示させる。
【０００９】図１はこの発明の一実施例の具体的な動作
を説明するためのフロー図であり、図３は液晶ディスプ
レイの表示面を複数に分割し、それぞれの領域の中心部
の明度の平均値を求める方法を説明するための図である
。
を説明するためのフロー図であり、図３は液晶ディスプ
レイの表示面を複数に分割し、それぞれの領域の中心部
の明度の平均値を求める方法を説明するための図である
。
【００１０】次に、図１ないし図３を参照して、この発
明の一実施例の具体的な動作について説明する。まず、
液晶ディスプレイ３を可動ステージ２の上にローディン
グする。パーソナルコンピュータ５はパターンジェネレ
ータ１０からパターンデータを発生させる。このパター
ンデータは、市松模様などの明画素，暗画素がほぼ同数
となるような表示パターンが用いられる。ＬＣＤ駆動回
路１１はそのパターンデータに応じて液晶ディスプレイ
３に市松模様の表示パターンを表示させる。パーソナル
コンピュータ５はパルス発生器８からパルス信号を発生
させ、ＬＣＤ駆動回路１１はそのパルス信号に応じて可
動ステージ２を一方方向に順次移動させる。パーソナル
コンピュータ５はＣＣＤ制御回路６から制御信号を発生
させ、ＣＣＤ駆動回路７はその制御信号に応じてＣＣＤ
ユニット４を駆動する。ＣＣＤユニット４は順次移動す
る可動ステージ２上の液晶ディスプレイ３に表示された
パターンを読取り、その読取出力をパーソナルコンピュ
ータ５に与える。
明の一実施例の具体的な動作について説明する。まず、
液晶ディスプレイ３を可動ステージ２の上にローディン
グする。パーソナルコンピュータ５はパターンジェネレ
ータ１０からパターンデータを発生させる。このパター
ンデータは、市松模様などの明画素，暗画素がほぼ同数
となるような表示パターンが用いられる。ＬＣＤ駆動回
路１１はそのパターンデータに応じて液晶ディスプレイ
３に市松模様の表示パターンを表示させる。パーソナル
コンピュータ５はパルス発生器８からパルス信号を発生
させ、ＬＣＤ駆動回路１１はそのパルス信号に応じて可
動ステージ２を一方方向に順次移動させる。パーソナル
コンピュータ５はＣＣＤ制御回路６から制御信号を発生
させ、ＣＣＤ駆動回路７はその制御信号に応じてＣＣＤ
ユニット４を駆動する。ＣＣＤユニット４は順次移動す
る可動ステージ２上の液晶ディスプレイ３に表示された
パターンを読取り、その読取出力をパーソナルコンピュ
ータ５に与える。
【００１１】パーソナルコンピュータ５はその読取出力
のうち、図３に示すような分割された複数の領域３１，
３２…の斜線で示した中心部分３１ａ，３２ａ…の明度
の平均値を求め、その平均値を標準データのしきい値と
する。そして、パーソナルコンピュータ５はＣＣＤユニ
ット４の読取出力と標準データとの一致を判別する。不
一致であれば、検査した液晶ディスプレイ３が不良品で
あると判断して処理し、良品であれば良品の処理をし、
その結果を図示しないプリンタで印字したり、あるいは
図示しないＣＲＴディスプレイに表示させる。その後、
パーソナルコンピュータ５は可動ステージ２を逆方向に
移動させ、元の位置に戻ると液晶ディスプレイ３をアン
ローディングする。そして、上述の動作を繰返し、次の
液晶ディスプレイの検査を行なう。
のうち、図３に示すような分割された複数の領域３１，
３２…の斜線で示した中心部分３１ａ，３２ａ…の明度
の平均値を求め、その平均値を標準データのしきい値と
する。そして、パーソナルコンピュータ５はＣＣＤユニ
ット４の読取出力と標準データとの一致を判別する。不
一致であれば、検査した液晶ディスプレイ３が不良品で
あると判断して処理し、良品であれば良品の処理をし、
その結果を図示しないプリンタで印字したり、あるいは
図示しないＣＲＴディスプレイに表示させる。その後、
パーソナルコンピュータ５は可動ステージ２を逆方向に
移動させ、元の位置に戻ると液晶ディスプレイ３をアン
ローディングする。そして、上述の動作を繰返し、次の
液晶ディスプレイの検査を行なう。
【００１２】なお、図２に示した実施例では、液晶ディ
スプレイ３として反射式のものを適用したが、これに限
ることなく透過式のものであってもよい。その場合には
、テーブル１の下側に光源を設け、光源から液晶ディス
プレイ３に光を照射するようにすればよい。
スプレイ３として反射式のものを適用したが、これに限
ることなく透過式のものであってもよい。その場合には
、テーブル１の下側に光源を設け、光源から液晶ディス
プレイ３に光を照射するようにすればよい。
【００１３】
【発明の効果】以上のように、この発明によれば、液晶
ディスプレイに検査のためのパターンを表示しながら一
方方向に移動させ、そのパターンをイメージセンサで読
取り、その読取出力のうち、液晶ディスプレイの表示面
を複数に分割し、分割されたそれぞれの領域の中心部分
に対応する読取出力を平均化し、その平均値と表示面の
それぞれの画素の読取出力とを比較して液晶ディスプレ
イの欠陥を判別するようにしたので、測定値と比較され
る標準データのしきい値を適切に設定することができる
。
ディスプレイに検査のためのパターンを表示しながら一
方方向に移動させ、そのパターンをイメージセンサで読
取り、その読取出力のうち、液晶ディスプレイの表示面
を複数に分割し、分割されたそれぞれの領域の中心部分
に対応する読取出力を平均化し、その平均値と表示面の
それぞれの画素の読取出力とを比較して液晶ディスプレ
イの欠陥を判別するようにしたので、測定値と比較され
る標準データのしきい値を適切に設定することができる
。
【図面の簡単な説明】
【図１】この発明の一実施例の動作を説明するためのフ
ロー図である。
ロー図である。
【図２】この発明の一実施例の概略ブロック図である。
【図３】液晶ディスプレイの表示面を複数に分割し、そ
れぞれの領域の中心部の明度の平均値を求める方法を説
明するための図である。
れぞれの領域の中心部の明度の平均値を求める方法を説
明するための図である。
１ テーブル
２ 可動ステージ
３ 液晶ディスプレイ
４ ＣＣＤユニット
５ パーソナルコンピュータ
６ ＣＣＤ制御回路
７ ＣＣＤ駆動回路
８ パルス発生器
９ テーブル位置決めユニット
１０ パターンジェネレータ
１１ ＬＣＤ駆動回路
Claims (1)
- 【請求項１】 液晶ディスプレイの欠陥を検査するた
めの光学式液晶ディスプレイ欠陥検査装置であって、前
記液晶ディスプレイを一方方向に移動させるための可動
ステージ、前記液晶ディスプレイに検査のためのパター
ンを表示させる表示制御手段、前記可動ステージの上方
から前記液晶ディスプレイの表面の画像パターンを読み
取るイメージセンサ、および前記イメージセンサの読取
出力のうち、前記液晶ディスプレイの表示面を複数に分
割し、分割されたそれぞれの領域の中心部分に対応する
読取出力を平均化し、その平均値と前記表示面のそれぞ
れの画素の読取出力とを比較して、前記液晶ディスプレ
イの欠陥を判別する判別手段を備えた、光学式液晶ディ
スプレイ欠陥検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1111891A JPH04244931A (ja) | 1991-01-31 | 1991-01-31 | 光学式液晶ディスプレイ欠陥検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1111891A JPH04244931A (ja) | 1991-01-31 | 1991-01-31 | 光学式液晶ディスプレイ欠陥検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04244931A true JPH04244931A (ja) | 1992-09-01 |
Family
ID=11769096
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1111891A Withdrawn JPH04244931A (ja) | 1991-01-31 | 1991-01-31 | 光学式液晶ディスプレイ欠陥検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04244931A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20020017052A (ko) * | 2000-08-28 | 2002-03-07 | 김수찬 | 자동화 결함 검사 장치를 이용한 결함 검사 방법 |
-
1991
- 1991-01-31 JP JP1111891A patent/JPH04244931A/ja not_active Withdrawn
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20020017052A (ko) * | 2000-08-28 | 2002-03-07 | 김수찬 | 자동화 결함 검사 장치를 이용한 결함 검사 방법 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19980514 |