JPH04246884A - 回路基板のメッキ方法 - Google Patents
回路基板のメッキ方法Info
- Publication number
- JPH04246884A JPH04246884A JP3012212A JP1221291A JPH04246884A JP H04246884 A JPH04246884 A JP H04246884A JP 3012212 A JP3012212 A JP 3012212A JP 1221291 A JP1221291 A JP 1221291A JP H04246884 A JPH04246884 A JP H04246884A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit board
- wiring patterns
- holes
- board
- hole
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Printing Elements For Providing Electric Connections Between Printed Circuits (AREA)
- Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は電子機器の回路基板の
メッキ方法に関するものであり、特に、高密度両面回路
基板へメッキを行う方法に関するものである。
メッキ方法に関するものであり、特に、高密度両面回路
基板へメッキを行う方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】近時、電子機器の高性能化に伴い、回路
基板のランドに金メッキを行って高導電性及び防錆を図
ることが多くなっている。又、ベアチップIC等を金ワ
イヤでワイヤボンディングする場合、これを受けるラン
ドは金メッキされることにより、金ワイヤとの接合を良
好にしている。
基板のランドに金メッキを行って高導電性及び防錆を図
ることが多くなっている。又、ベアチップIC等を金ワ
イヤでワイヤボンディングする場合、これを受けるラン
ドは金メッキされることにより、金ワイヤとの接合を良
好にしている。
【0003】金メッキを行うに当り配線パターンを全て
導通しなければならず、図5に示すように、回路基板1
に設けられた各ランド2,2…の配線パターン3,3…
を連結部4で接続する。そして、各ランド2,2…へ金
メッキを行った後、鎖線で示すように前記連結部4より
大径の孔5をプレス又はドリルで孔明けし、相互の導通
を遮断する。
導通しなければならず、図5に示すように、回路基板1
に設けられた各ランド2,2…の配線パターン3,3…
を連結部4で接続する。そして、各ランド2,2…へ金
メッキを行った後、鎖線で示すように前記連結部4より
大径の孔5をプレス又はドリルで孔明けし、相互の導通
を遮断する。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】従来の回路基板のメッ
キ方法は、前述したように配線パターン3,3…を連結
部4で接続してメッキ時の導通を行っているが、高密度
の回路基板では配線パターン3,3…が微細になり、一
個所の連結部4で接続する配線パターン3,3…の数が
増加してくる。然し、一個所の連結部4での配線パター
ン3,3…の接続数には限界があり、特に高密度両面回
路基板に於いては連結部4,4…の数が急増する。従っ
て、金メッキ後に行う孔5,5…の開穿作業も増加し、
作業工程が多くなると共に回路基板1に不要の孔5,5
…が多数残存することになる。
キ方法は、前述したように配線パターン3,3…を連結
部4で接続してメッキ時の導通を行っているが、高密度
の回路基板では配線パターン3,3…が微細になり、一
個所の連結部4で接続する配線パターン3,3…の数が
増加してくる。然し、一個所の連結部4での配線パター
ン3,3…の接続数には限界があり、特に高密度両面回
路基板に於いては連結部4,4…の数が急増する。従っ
て、金メッキ後に行う孔5,5…の開穿作業も増加し、
作業工程が多くなると共に回路基板1に不要の孔5,5
…が多数残存することになる。
【0005】そこで、高密度両面回路基板に於けるメッ
キ用の連結部の数を減少し、メッキ後の孔明け作業を軽
減するために解決されるべき技術的課題が生じてくるの
であり、本発明はこの課題を解決することを目的とする
。
キ用の連結部の数を減少し、メッキ後の孔明け作業を軽
減するために解決されるべき技術的課題が生じてくるの
であり、本発明はこの課題を解決することを目的とする
。
【0006】
【課題を解決するための手段】この発明は上記目的を達
成するために提案されたものであり、回路基板の両面に
設けた配線パターンをスルーホールにて導通し、該回路
基板の両面にメッキを行った後、所定のスルーホールへ
大径の孔を開穿して配線パターンの導通を遮断すること
を特徴とする回路基板のメッキ方法を提供するものであ
る。
成するために提案されたものであり、回路基板の両面に
設けた配線パターンをスルーホールにて導通し、該回路
基板の両面にメッキを行った後、所定のスルーホールへ
大径の孔を開穿して配線パターンの導通を遮断すること
を特徴とする回路基板のメッキ方法を提供するものであ
る。
【0007】
【作用】この発明はスルーホールにて回路基板の配線パ
ターンを接続している。スルーホールは回路基板の表裏
両面の配線パターンを導通させるので、一個所のスルー
ホールで回路基板両面の配線パターンを多数接続でき、
メッキのための接続個所を減少できる。
ターンを接続している。スルーホールは回路基板の表裏
両面の配線パターンを導通させるので、一個所のスルー
ホールで回路基板両面の配線パターンを多数接続でき、
メッキのための接続個所を減少できる。
【0008】
【実施例】以下、この発明の一実施例を図1乃至図4に
従って詳述する。図1は電子機器の回路基板11の表面
を示し、各ランド12,12…を配線パターン13,1
3…にて接続してある。図示はしないが、前記回路基板
11の裏面にも配線パターンを設けてあり、ランドが形
成されている。そして、表面の配線パターン13,13
…と裏面の配線パターンとはスルーホール14により導
通してある。従って、回路基板11の表裏のランド12
,12…及び配線パターン13,13…は全て導通して
いる。
従って詳述する。図1は電子機器の回路基板11の表面
を示し、各ランド12,12…を配線パターン13,1
3…にて接続してある。図示はしないが、前記回路基板
11の裏面にも配線パターンを設けてあり、ランドが形
成されている。そして、表面の配線パターン13,13
…と裏面の配線パターンとはスルーホール14により導
通してある。従って、回路基板11の表裏のランド12
,12…及び配線パターン13,13…は全て導通して
いる。
【0009】図2は前記回路基板11の形成手順を示し
、先ずガラスエポキシ樹脂やフェノール樹脂等の銅被覆
基板にスルーホールを形成し、エッチング処理により銅
の不要部分を除去して、基板の表裏両面に配線パターン
を形成する。次に、ランド等の接続部分を除きレジスト
を被覆し、金メッキ処理する。回路基板の両面に設けた
配線パターンはスルーホールにより全て導通しているの
で、回路基板両面の各ランドに金メッキが行われる。 金メッキ後は、配線パターン相互の短絡を防止するため
に前記スルーホールより大径の孔をプレス打ち抜き又は
ドリル孔明けし、不要な導通を遮断する。
、先ずガラスエポキシ樹脂やフェノール樹脂等の銅被覆
基板にスルーホールを形成し、エッチング処理により銅
の不要部分を除去して、基板の表裏両面に配線パターン
を形成する。次に、ランド等の接続部分を除きレジスト
を被覆し、金メッキ処理する。回路基板の両面に設けた
配線パターンはスルーホールにより全て導通しているの
で、回路基板両面の各ランドに金メッキが行われる。 金メッキ後は、配線パターン相互の短絡を防止するため
に前記スルーホールより大径の孔をプレス打ち抜き又は
ドリル孔明けし、不要な導通を遮断する。
【0010】図3及び図4に示すように、スルーホール
14にて回路基板11の表裏の配線パターン13,13
…を接続するので、一個所のスルーホールで多数の配線
パターンを接続できる。従って、高密度両面回路基板に
於ける金メッキ用の接続個所が減少し、金メッキ後に所
定のスルーホール14へ大径の孔15を開穿する作業が
軽減できる。
14にて回路基板11の表裏の配線パターン13,13
…を接続するので、一個所のスルーホールで多数の配線
パターンを接続できる。従って、高密度両面回路基板に
於ける金メッキ用の接続個所が減少し、金メッキ後に所
定のスルーホール14へ大径の孔15を開穿する作業が
軽減できる。
【0011】尚、この発明は、この発明の精神を逸脱し
ない限り種々の改変を為すことができ、そして、この発
明が該改変されたものに及ぶことは当然である。
ない限り種々の改変を為すことができ、そして、この発
明が該改変されたものに及ぶことは当然である。
【0012】
【発明の効果】この発明は上記一実施例に詳述したよう
に、メッキを行う回路基板の表裏両面の配線パターンを
スルーホールにより接続するので、一個所の連結部で多
数の配線パターンを接続できる。このため、回路基板の
高密度化が図れると共に、メッキ用の連結部の数を減少
でき、メッキ後の孔明け作業工程が短縮される。
に、メッキを行う回路基板の表裏両面の配線パターンを
スルーホールにより接続するので、一個所の連結部で多
数の配線パターンを接続できる。このため、回路基板の
高密度化が図れると共に、メッキ用の連結部の数を減少
でき、メッキ後の孔明け作業工程が短縮される。
【図1】回路基板の要部平面図。
【図2】メッキ方法の手順を示すブロック図。
【図3】スルーホールの要部平面図。
【図4】図3のA−A線断面図。
【図5】従来型の回路基板の要部平面図。
11 回路基板
12 ランド
13 配線パターン
14 スルーホール
15 孔
Claims (1)
- 【請求項1】 回路基板の両面に設けた配線パターン
をスルーホールにて導通し、該回路基板の両面にメッキ
を行った後、所定のスルーホールへ大径の孔を開穿して
配線パターンの導通を遮断することを特徴とする回路基
板のメッキ方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3012212A JPH04246884A (ja) | 1991-02-01 | 1991-02-01 | 回路基板のメッキ方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3012212A JPH04246884A (ja) | 1991-02-01 | 1991-02-01 | 回路基板のメッキ方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04246884A true JPH04246884A (ja) | 1992-09-02 |
Family
ID=11799080
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3012212A Pending JPH04246884A (ja) | 1991-02-01 | 1991-02-01 | 回路基板のメッキ方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04246884A (ja) |
-
1991
- 1991-02-01 JP JP3012212A patent/JPH04246884A/ja active Pending
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