JPH04248134A - 光ピックアップ - Google Patents
光ピックアップInfo
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- JPH04248134A JPH04248134A JP3021492A JP2149291A JPH04248134A JP H04248134 A JPH04248134 A JP H04248134A JP 3021492 A JP3021492 A JP 3021492A JP 2149291 A JP2149291 A JP 2149291A JP H04248134 A JPH04248134 A JP H04248134A
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 33
- 210000001747 pupil Anatomy 0.000 claims abstract description 14
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 16
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 abstract 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 6
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 4
- 201000009310 astigmatism Diseases 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 2
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、光ディスク等の光学
式記録媒体に対して情報の記録、再生を行う光ピックア
ップに適用するに好適な焦点検出装置に関する。
式記録媒体に対して情報の記録、再生を行う光ピックア
ップに適用するに好適な焦点検出装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の焦点検出装置として、光源と収束
光学系との間にホログラム素子を配置し、光源からの出
射光をホログラム素子に入射させてその０次光を収束光
学系を経て被照射物体に投射し、その反射光を収束光学
系を経て再びホログラム素子に入射させて、その＋１次
または−１次、あるいは±１次回折光を光検出器で受光
し、その出力に基づいて収束光学系の被照射物体に対す
る焦点状態を検出するようにしたものがある。
光学系との間にホログラム素子を配置し、光源からの出
射光をホログラム素子に入射させてその０次光を収束光
学系を経て被照射物体に投射し、その反射光を収束光学
系を経て再びホログラム素子に入射させて、その＋１次
または−１次、あるいは±１次回折光を光検出器で受光
し、その出力に基づいて収束光学系の被照射物体に対す
る焦点状態を検出するようにしたものがある。
【０００３】このようなホログラム素子を用いる焦点検
出装置として、例えば特開昭５６−５７０１３号公報に
は非点収差法による構成が開示されており、また特開昭
６２−１７２５３８号公報にはフーコー法による構成が
開示されており、また１９８９年春季応物学会（松下電
器、光半導体研究所）においてスポットサイズディテク
ション法による構成が提案されている。また、上記のよ
うな往復光路型（往路および復路共にホログラム素子を
通る光学系）の光ピックアップの問題点である迷光の対
策として、１９９０年春季応物学会（松下電器、光半導
体研究所）においてホログラム素子に開口制限を設ける
ことが示されている。
出装置として、例えば特開昭５６−５７０１３号公報に
は非点収差法による構成が開示されており、また特開昭
６２−１７２５３８号公報にはフーコー法による構成が
開示されており、また１９８９年春季応物学会（松下電
器、光半導体研究所）においてスポットサイズディテク
ション法による構成が提案されている。また、上記のよ
うな往復光路型（往路および復路共にホログラム素子を
通る光学系）の光ピックアップの問題点である迷光の対
策として、１９９０年春季応物学会（松下電器、光半導
体研究所）においてホログラム素子に開口制限を設ける
ことが示されている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
たような往復光路型の光ピックアップにおいては、小形
化を図るために光源と光検出器とを接近させると、ホロ
グラム素子での回折角が小さいために、往路で発生する
＋１次または−１次回折光が被照射物体で反射して迷光
として光検出器に入射し、これがため焦点状態を高精度
で検出できないという問題がある。また、この問題を解
決するために、上記のようにホログラム素子に開口制限
（絞り）を設けると、絞りという新たな部品が必要にな
ると共に、ホログラムパターンと絞りとを精度良く位置
合わせする必要があり、コストアップを招くという問題
がある。
たような往復光路型の光ピックアップにおいては、小形
化を図るために光源と光検出器とを接近させると、ホロ
グラム素子での回折角が小さいために、往路で発生する
＋１次または−１次回折光が被照射物体で反射して迷光
として光検出器に入射し、これがため焦点状態を高精度
で検出できないという問題がある。また、この問題を解
決するために、上記のようにホログラム素子に開口制限
（絞り）を設けると、絞りという新たな部品が必要にな
ると共に、ホログラムパターンと絞りとを精度良く位置
合わせする必要があり、コストアップを招くという問題
がある。
【０００５】この発明は、上述した問題点に着目して成
されたもので、コストアップを招くことなく、焦点状態
を常に高精度で検出できるよう適切に構成した焦点検出
装置を提供することを目的とする。
されたもので、コストアップを招くことなく、焦点状態
を常に高精度で検出できるよう適切に構成した焦点検出
装置を提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
、この発明では、光源からの出射光を被照射物体へ投射
する収束光学系と、この収束光学系と前記光源との間の
光路中に配置され、前記被照射物体からの反射光を回折
させるホログラムより成る瞳部分および該瞳部分を制限
するホログラムより成る開口制限部を有するホログラム
素子と、このホログラム素子で回折される光を受光する
光検出器とを具え、この光検出器の出力に基づいて前記
収束光学系の前記被照射物体に対する焦点状態を検出す
るよう構成する。
、この発明では、光源からの出射光を被照射物体へ投射
する収束光学系と、この収束光学系と前記光源との間の
光路中に配置され、前記被照射物体からの反射光を回折
させるホログラムより成る瞳部分および該瞳部分を制限
するホログラムより成る開口制限部を有するホログラム
素子と、このホログラム素子で回折される光を受光する
光検出器とを具え、この光検出器の出力に基づいて前記
収束光学系の前記被照射物体に対する焦点状態を検出す
るよう構成する。
【０００７】
【作用】すなわち、この発明では、光検出用ホログラム
パターン（瞳部分）の周りに、ホログラムで構成された
絞り領域（開口制限部）を設け、これにより迷光を除去
する。このように構成すれば、ホログラムより成る開口
制限部を瞳部分のホログラムパターンと同一のプロセス
で作成できるので、それらの位置合わせが容易にできる
と共に、部品点数の増加も抑えることができ、低コスト
化が可能となる。また、迷光を有効に除去できることか
ら、焦点状態を常に高精度で検出することが可能になる
と共に、光源と光検出器とを接近させて光ピックアップ
を容易に小形化することが可能になる。
パターン（瞳部分）の周りに、ホログラムで構成された
絞り領域（開口制限部）を設け、これにより迷光を除去
する。このように構成すれば、ホログラムより成る開口
制限部を瞳部分のホログラムパターンと同一のプロセス
で作成できるので、それらの位置合わせが容易にできる
と共に、部品点数の増加も抑えることができ、低コスト
化が可能となる。また、迷光を有効に除去できることか
ら、焦点状態を常に高精度で検出することが可能になる
と共に、光源と光検出器とを接近させて光ピックアップ
を容易に小形化することが可能になる。
【０００８】
【実施例】図１はこの発明の第１実施例を示すものであ
る。この実施例では、レーザダイオード１から出射した
光をホログラム素子２に入射させ、該ホログラム素子２
を透過した０次光を対物レンズ３により光ディスク等の
被照射物体４に投射する。また、被照射物体４での反射
光は対物レンズ３を経て再びホログラム素子２に入射さ
せ、その＋１次回折光を光検出器５で受光するようにす
る。
る。この実施例では、レーザダイオード１から出射した
光をホログラム素子２に入射させ、該ホログラム素子２
を透過した０次光を対物レンズ３により光ディスク等の
被照射物体４に投射する。また、被照射物体４での反射
光は対物レンズ３を経て再びホログラム素子２に入射さ
せ、その＋１次回折光を光検出器５で受光するようにす
る。
【０００９】ホログラム素子２は、図２に平面図をも示
すように、瞳部分としての光検出用ホログラムパターン
領域２ａと、その周囲に形成した開口制限部としてのホ
ログラムより成る絞り領域２ｂとをもって構成し、レー
ザダイオード１から出射し、絞り領域２ｂに入射した光
は回折されて対物レンズ３の外に、また被照射物体４か
らの反射光のうち、絞り領域２ｂに入射した光は回折さ
れて光検出器５の外側に行くようにして迷光を除去する
ようにする。また、光検出用ホログラムパターン領域２
ａは、＋１次回折光に非点収差が生じるように構成し、
これにより焦点状態を常に高精度で検出できるようにす
る。
すように、瞳部分としての光検出用ホログラムパターン
領域２ａと、その周囲に形成した開口制限部としてのホ
ログラムより成る絞り領域２ｂとをもって構成し、レー
ザダイオード１から出射し、絞り領域２ｂに入射した光
は回折されて対物レンズ３の外に、また被照射物体４か
らの反射光のうち、絞り領域２ｂに入射した光は回折さ
れて光検出器５の外側に行くようにして迷光を除去する
ようにする。また、光検出用ホログラムパターン領域２
ａは、＋１次回折光に非点収差が生じるように構成し、
これにより焦点状態を常に高精度で検出できるようにす
る。
【００１０】また、ホログラム素子２は、絞り領域２ｂ
のホログラムでは絞り作用を行うために正規の透過光、
すなわち０次光の効率が低いことが望ましく、光検出用
ホログラムパターン領域２ａでは往復の光効率が高くな
ることが望ましいため、互いに異なった回折効率が必要
になる。ここで、矩形形状の薄いホログラムの０次，±
１次の回折効率Ｅ０ ，Ｅ１ は、Ｗ−Ｈ．Ｌｅｅ，Ａ
ｐｐｌ．Ｏｐｔ．ｖｏｌ．１８，ｐ２１５２〜２１５８
（１９７９）に記載されているところから、Ｅ０ ＝（
２ｑ−１）２ ｓｉｎ２θ＋ｃｏｓ２θＥ１ ＝（２
ｓｉｎπｑ／πｓｉｎ θ）２ ただし、 θ／１８０°＝ｄ（ｎ−１）／λ ｑ：デューティー比 ｄ：ホログラムの深さ ｎ：ホログラム基板の屈折率 λ：波長 で表される。上式から明らかなように、矩形形状の薄い
ホログラムの０次，±１次の回折効率Ｅ０ ，Ｅ１ は
、デューティー比と深さとの関数で表されるので、光検
出用ホログラムパターン領域２ａと絞り領域２ｂとのホ
ログラムのデューティー比あるいは深さを変えることに
より、互いに所望の回折効率を得ることができる。
のホログラムでは絞り作用を行うために正規の透過光、
すなわち０次光の効率が低いことが望ましく、光検出用
ホログラムパターン領域２ａでは往復の光効率が高くな
ることが望ましいため、互いに異なった回折効率が必要
になる。ここで、矩形形状の薄いホログラムの０次，±
１次の回折効率Ｅ０ ，Ｅ１ は、Ｗ−Ｈ．Ｌｅｅ，Ａ
ｐｐｌ．Ｏｐｔ．ｖｏｌ．１８，ｐ２１５２〜２１５８
（１９７９）に記載されているところから、Ｅ０ ＝（
２ｑ−１）２ ｓｉｎ２θ＋ｃｏｓ２θＥ１ ＝（２
ｓｉｎπｑ／πｓｉｎ θ）２ ただし、 θ／１８０°＝ｄ（ｎ−１）／λ ｑ：デューティー比 ｄ：ホログラムの深さ ｎ：ホログラム基板の屈折率 λ：波長 で表される。上式から明らかなように、矩形形状の薄い
ホログラムの０次，±１次の回折効率Ｅ０ ，Ｅ１ は
、デューティー比と深さとの関数で表されるので、光検
出用ホログラムパターン領域２ａと絞り領域２ｂとのホ
ログラムのデューティー比あるいは深さを変えることに
より、互いに所望の回折効率を得ることができる。
【００１１】また、光検出器５は、図３に平面図を示す
ように、４分割した受光領域５ａ〜５ｄをもって構成し
、これら受光領域５ａ〜５ｄの出力に基づいて対物レン
ズ３の被照射物体４に対する焦点状態を表すフォーカス
エラー信号を検出するようにする。ここで、受光領域５
ａ〜５ｄの出力をＡ１，Ａ２，Ａ３，Ａ４とすると、フ
ォーカスエラー信号は、 ＦＥ＝（Ａ１＋Ａ３）−（Ａ２＋Ａ４）により得ること
ができる。
ように、４分割した受光領域５ａ〜５ｄをもって構成し
、これら受光領域５ａ〜５ｄの出力に基づいて対物レン
ズ３の被照射物体４に対する焦点状態を表すフォーカス
エラー信号を検出するようにする。ここで、受光領域５
ａ〜５ｄの出力をＡ１，Ａ２，Ａ３，Ａ４とすると、フ
ォーカスエラー信号は、 ＦＥ＝（Ａ１＋Ａ３）−（Ａ２＋Ａ４）により得ること
ができる。
【００１２】このように、この実施例によれば、ホログ
ラム素子２として、光検出用ホログラムパターン２ａの
周りに、ホログラムで構成された絞り領域２ｂを設けた
ものを用いるようにしたので、迷光を有効に除去でき、
したがって焦点状態を常に高精度で検出することができ
ると共に、レーザダイオード１と光検出器５とを十分接
近させることができるので、光ピックアップを容易に小
形化することができる。また、ホログラム素子２を構成
する光検出用ホログラムパターン２ａおよび絞り領域２
ｂは、同一のプロセスで作成できるので、それらの位置
合わせを容易にできると共に、部品点数の増加も抑える
ことができるので、安価にできる。
ラム素子２として、光検出用ホログラムパターン２ａの
周りに、ホログラムで構成された絞り領域２ｂを設けた
ものを用いるようにしたので、迷光を有効に除去でき、
したがって焦点状態を常に高精度で検出することができ
ると共に、レーザダイオード１と光検出器５とを十分接
近させることができるので、光ピックアップを容易に小
形化することができる。また、ホログラム素子２を構成
する光検出用ホログラムパターン２ａおよび絞り領域２
ｂは、同一のプロセスで作成できるので、それらの位置
合わせを容易にできると共に、部品点数の増加も抑える
ことができるので、安価にできる。
【００１３】図４はこの発明の第２実施例を示すもので
ある。この実施例では、図５ＡおよびＢに平面図および
横断面図を示すように、半導体基板１１にレーザダイオ
ード１２をマウントすると共に、レーザダイオード１２
からの出射光の光路を境とする両側に光検出部１３およ
び１４を形成し、レーザダイオード１２から基板１１と
平行な方向に出射される光を、基板１１に設けた立ち上
げミラー１５で反射させた後、ホログラム素子１６およ
び対物レンズ１７を経て被照射物体である光学式記録媒
体１８に投射するようにする。また、記録媒体１８での
反射光は、対物レンズ１７を経てホログラム素子１６に
入射させ、ここで互いに逆方向のパワーを生じる±１次
回折光を発生させて、これら±１次回折光を光検出部１
３，１４で受光するようにする。
ある。この実施例では、図５ＡおよびＢに平面図および
横断面図を示すように、半導体基板１１にレーザダイオ
ード１２をマウントすると共に、レーザダイオード１２
からの出射光の光路を境とする両側に光検出部１３およ
び１４を形成し、レーザダイオード１２から基板１１と
平行な方向に出射される光を、基板１１に設けた立ち上
げミラー１５で反射させた後、ホログラム素子１６およ
び対物レンズ１７を経て被照射物体である光学式記録媒
体１８に投射するようにする。また、記録媒体１８での
反射光は、対物レンズ１７を経てホログラム素子１６に
入射させ、ここで互いに逆方向のパワーを生じる±１次
回折光を発生させて、これら±１次回折光を光検出部１
３，１４で受光するようにする。
【００１４】ホログラム素子１６には、その半導体基板
１１に面する表面に、図６Ａに示すようにグレーテング
１６ａを形成し、他方の表面には図６Ｂに示すように第
１実施例と同様に、瞳部分としての光検出用ホログラム
パターン領域１６ｂと、開口制限部としてのホログラム
より成る絞り領域１６ｃとを形成する。このようにして
、レーザダイオード１から出射され、立ち上げミラー１
５を経てホログラム素子１６に入射する光を、グレーテ
ング１６ａによって記録／再生および焦点検出用の１本
のメインビームと、トラッキングエラー検出用の２本の
サブビームとの３本のビームに分離し、これら３ビーム
のうち光検出用ホログラムパターン領域１６ｂに入射し
て０次光で透過する３ビームを対物レンズ１７を経て記
録媒体１８に投射し、絞り領域１６ｃに入射する光は対
物レンズ１７の外に回折させる。また、記録媒体１８か
らの反射光のうち、光検出用ホログラムパターン領域１
６ｂに入射する３ビームは、互いに逆方向のパワーを生
じる±１次回折光を発生させ、それらの＋１次回折光を
光検出部１３で、−１次回折光を光検出部１４でそれぞ
れ受光し、絞り領域１６ｃに入射する光は光検出部１３
，１４の外側に行くように回折されて迷光を除去するよ
うにする。なお、絞り領域１６ｃは、好適にはサブビー
ムの並びの方向に長くする。
１１に面する表面に、図６Ａに示すようにグレーテング
１６ａを形成し、他方の表面には図６Ｂに示すように第
１実施例と同様に、瞳部分としての光検出用ホログラム
パターン領域１６ｂと、開口制限部としてのホログラム
より成る絞り領域１６ｃとを形成する。このようにして
、レーザダイオード１から出射され、立ち上げミラー１
５を経てホログラム素子１６に入射する光を、グレーテ
ング１６ａによって記録／再生および焦点検出用の１本
のメインビームと、トラッキングエラー検出用の２本の
サブビームとの３本のビームに分離し、これら３ビーム
のうち光検出用ホログラムパターン領域１６ｂに入射し
て０次光で透過する３ビームを対物レンズ１７を経て記
録媒体１８に投射し、絞り領域１６ｃに入射する光は対
物レンズ１７の外に回折させる。また、記録媒体１８か
らの反射光のうち、光検出用ホログラムパターン領域１
６ｂに入射する３ビームは、互いに逆方向のパワーを生
じる±１次回折光を発生させ、それらの＋１次回折光を
光検出部１３で、−１次回折光を光検出部１４でそれぞ
れ受光し、絞り領域１６ｃに入射する光は光検出部１３
，１４の外側に行くように回折されて迷光を除去するよ
うにする。なお、絞り領域１６ｃは、好適にはサブビー
ムの並びの方向に長くする。
【００１５】また、光検出部１３は、３ビームの各＋１
次回折光を受光するように３つの光検出器１３ａ，１３
ｂ，１３ｃをもって構成すると共に、中央のメインビー
ムを受光する光検出器１３ｂは、ホログラム素子１６で
の回折方向に分割線を有する３分割した受光領域１３ｄ
，１３ｅ，１３ｆをもって構成する。同様に、光検出部
１４は、３ビームの各−１次回折光を受光するように３
つの光検出器１４ａ，１４ｂ，１４ｃをもって構成する
と共に、中央のメインビームを受光する光検出器１４ｂ
は、ホログラム素子１６での回折方向に分割線を有する
３分割した受光領域１４ｄ，１４ｅ，１４ｆをもって構
成する。
次回折光を受光するように３つの光検出器１３ａ，１３
ｂ，１３ｃをもって構成すると共に、中央のメインビー
ムを受光する光検出器１３ｂは、ホログラム素子１６で
の回折方向に分割線を有する３分割した受光領域１３ｄ
，１３ｅ，１３ｆをもって構成する。同様に、光検出部
１４は、３ビームの各−１次回折光を受光するように３
つの光検出器１４ａ，１４ｂ，１４ｃをもって構成する
と共に、中央のメインビームを受光する光検出器１４ｂ
は、ホログラム素子１６での回折方向に分割線を有する
３分割した受光領域１４ｄ，１４ｅ，１４ｆをもって構
成する。
【００１６】このようにして、この実施例では、メイン
ビームの＋１次回折光を受光する光検出器１３ｂの受光
領域１３ｄ，１３ｅ，１３ｆの出力をＢ１，Ｂ２，Ｂ３
、−１次回折光を受光する光検出器１４ｂの受光領域１
４ｄ，１４ｅ，１４ｆの出力をＢ４，Ｂ５，Ｂ６とする
とき、フォーカスエラー信号ＦＥを、ＦＥ＝（Ｂ１＋Ｂ
３＋Ｂ５）−（Ｂ２＋Ｂ４＋Ｂ６）により検出する。ま
た、記録媒体１８のトラックに対する照射ビームのトラ
ッキングエラー信号ＴＥは、２本のサブビームの＋１次
回折光を受光する光検出器１３ａ，１３ｃの出力をＣ１
，Ｃ２、−１次回折光を受光する光検出器１４ａ，１４
ｃの出力をＣ３，Ｃ４とすると、ＴＥ＝（Ｃ１＋Ｃ３）
−（Ｃ２＋Ｃ４）により検出する。
ビームの＋１次回折光を受光する光検出器１３ｂの受光
領域１３ｄ，１３ｅ，１３ｆの出力をＢ１，Ｂ２，Ｂ３
、−１次回折光を受光する光検出器１４ｂの受光領域１
４ｄ，１４ｅ，１４ｆの出力をＢ４，Ｂ５，Ｂ６とする
とき、フォーカスエラー信号ＦＥを、ＦＥ＝（Ｂ１＋Ｂ
３＋Ｂ５）−（Ｂ２＋Ｂ４＋Ｂ６）により検出する。ま
た、記録媒体１８のトラックに対する照射ビームのトラ
ッキングエラー信号ＴＥは、２本のサブビームの＋１次
回折光を受光する光検出器１３ａ，１３ｃの出力をＣ１
，Ｃ２、−１次回折光を受光する光検出器１４ａ，１４
ｃの出力をＣ３，Ｃ４とすると、ＴＥ＝（Ｃ１＋Ｃ３）
−（Ｃ２＋Ｃ４）により検出する。
【００１７】この実施例によれば、ホログラム素子１６
として、第１実施例と同様に光検出用ホログラムパター
ン１６ｂの周りに、ホログラムで構成された絞り領域１
６ｃを設けたものを用いるようにしたので、第１実施例
と同様の効果を得ることができる。
として、第１実施例と同様に光検出用ホログラムパター
ン１６ｂの周りに、ホログラムで構成された絞り領域１
６ｃを設けたものを用いるようにしたので、第１実施例
と同様の効果を得ることができる。
【００１８】なお、上述した第１および第２実施例にお
いては、ホログラム素子として矩形形状の薄い位相型ホ
ログラムを用いたが、矩形以外の形状の薄い位相型ホロ
グラムを用いることもできる。
いては、ホログラム素子として矩形形状の薄い位相型ホ
ログラムを用いたが、矩形以外の形状の薄い位相型ホロ
グラムを用いることもできる。
【００１９】
【発明の効果】以上のように、この発明によれば、ホロ
グラム素子として、瞳部分としての光検出用ホログラム
パターンの周りに、ホログラムで構成された開口制限部
としての絞り領域を設けたものを用いるようにしたので
、迷光を有効に除去することができる。したがって、焦
点状態を常に高精度で検出することができると共に、光
源と光検出器とを十分接近させることができるので、光
ピックアップを容易に小形化することができる。また、
ホログラム素子を構成する瞳部分および開口制限部のホ
ログラムを同一のプロセスで作成できるので、それらの
位置合わせを容易にできると共に、部品点数の増加も抑
えることができるので、安価にできる。
グラム素子として、瞳部分としての光検出用ホログラム
パターンの周りに、ホログラムで構成された開口制限部
としての絞り領域を設けたものを用いるようにしたので
、迷光を有効に除去することができる。したがって、焦
点状態を常に高精度で検出することができると共に、光
源と光検出器とを十分接近させることができるので、光
ピックアップを容易に小形化することができる。また、
ホログラム素子を構成する瞳部分および開口制限部のホ
ログラムを同一のプロセスで作成できるので、それらの
位置合わせを容易にできると共に、部品点数の増加も抑
えることができるので、安価にできる。
【図１】この発明の第１実施例を示す図である。
【図２】図１に示すホログラム素子の構成を示す平面図
である。
である。
【図３】図１に示す光検出器の構成を示す平面図である
。
。
【図４】この発明の第２実施例を示す図である。
【図５】第２実施例でのレーザダイオードおよび光検出
器の配置を示す図である。
器の配置を示す図である。
【図６】図４に示すホログラム素子の構成を示す図であ
る。
る。
１ レーザダイオード
２ ホログラム素子
２ａ 光検出用ホログラムパターン領域２ｂ 絞り
領域 ３ 対物レンズ ４ 被照射物体 ５ 光検出器 ５ａ，５ｂ，５ｃ，５ｄ 受光領域 １１ 半導体基板 １２ レーザダイオード １３，１４ 光検出部 １３ａ，１３ｂ，１３ｃ 光検出器 １３ｄ，１３ｅ，１３ｆ 受光領域 １４ａ，１４ｂ，１４ｃ 光検出器 １４ｄ，１４ｅ，１４ｆ 受光領域 １５ 立ち上げミラー １６ ホログラム素子 １６ａ グレーテング １６ｂ 光検出用ホログラムパターン領域１６ｃ
絞り領域 １７ 対物レンズ １８ 光学式記録媒体
領域 ３ 対物レンズ ４ 被照射物体 ５ 光検出器 ５ａ，５ｂ，５ｃ，５ｄ 受光領域 １１ 半導体基板 １２ レーザダイオード １３，１４ 光検出部 １３ａ，１３ｂ，１３ｃ 光検出器 １３ｄ，１３ｅ，１３ｆ 受光領域 １４ａ，１４ｂ，１４ｃ 光検出器 １４ｄ，１４ｅ，１４ｆ 受光領域 １５ 立ち上げミラー １６ ホログラム素子 １６ａ グレーテング １６ｂ 光検出用ホログラムパターン領域１６ｃ
絞り領域 １７ 対物レンズ １８ 光学式記録媒体
Claims (3)
- 【請求項１】 光源からの出射光を被照射物体へ投射
する収束光学系と、この収束光学系と前記光源との間の
光路中に配置され、前記被照射物体からの反射光を回折
させるホログラムより成る瞳部分および該瞳部分を制限
するホログラムより成る開口制限部を有するホログラム
素子と、このホログラム素子で回折される光を受光する
光検出器とを具え、この光検出器の出力に基づいて前記
収束光学系の前記被照射物体に対する焦点状態を検出す
るよう構成したことを特徴とする焦点検出装置。 - 【請求項２】 前記ホログラム素子を、その瞳部分と
開口制限部とでデューティー比の異なる位相型ホログラ
ムをもって構成したことを特徴とする請求項１記載の焦
点検出装置。 - 【請求項３】 前記ホログラム素子を、その瞳部分と
開口制限部とで深さの異なる位相型ホログラムをもって
構成したことを特徴とする請求項１記載の焦点検出装置
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3021492A JPH04248134A (ja) | 1991-01-23 | 1991-01-23 | 光ピックアップ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3021492A JPH04248134A (ja) | 1991-01-23 | 1991-01-23 | 光ピックアップ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04248134A true JPH04248134A (ja) | 1992-09-03 |
Family
ID=12056472
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3021492A Pending JPH04248134A (ja) | 1991-01-23 | 1991-01-23 | 光ピックアップ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04248134A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5406543A (en) * | 1993-04-07 | 1995-04-11 | Olympus Optical Co., Ltd. | Optical head with semiconductor laser |
| US5608695A (en) * | 1993-11-08 | 1997-03-04 | Olympus Optical Co., Ltd. | Optical pick-up apparatus with tracking error detection by detection of amount of light in fan field |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03292644A (ja) * | 1990-04-09 | 1991-12-24 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光ピックアップ装置 |
-
1991
- 1991-01-23 JP JP3021492A patent/JPH04248134A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03292644A (ja) * | 1990-04-09 | 1991-12-24 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光ピックアップ装置 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5406543A (en) * | 1993-04-07 | 1995-04-11 | Olympus Optical Co., Ltd. | Optical head with semiconductor laser |
| US5608695A (en) * | 1993-11-08 | 1997-03-04 | Olympus Optical Co., Ltd. | Optical pick-up apparatus with tracking error detection by detection of amount of light in fan field |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 19980106 |