JPH05128577A - 光ピツクアツプ - Google Patents
光ピツクアツプInfo
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- JPH05128577A JPH05128577A JP3287952A JP28795291A JPH05128577A JP H05128577 A JPH05128577 A JP H05128577A JP 3287952 A JP3287952 A JP 3287952A JP 28795291 A JP28795291 A JP 28795291A JP H05128577 A JPH05128577 A JP H05128577A
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- light
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- beams
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 薄型で部品点数が少なく、安価にできる3ビ
ーム用の光ピックアップを提供する。 【構成】 光源22から射出される光を、光学素子26
のグレーティング26aで一本のメインビームと二本の
サブビームとに分離して、該光学素子26に形成した反
射面26cで記録媒体29とほぼ平行な方向に反射さ
れ、その後、反射部材27で記録媒体29のほぼ法線方
向に反射して、収束光学系28により記録媒体29上に
集光する。また、記録媒体29で反射される戻り光を、
収束光学系28および反射部材27を経て、光学素子2
6に形成したホログラム面26bで回折して、その±1
次回折光を該光学素子26に形成した反射面26cを経
て、光源22と同一基板21上の光検出部23,24で
受光する。
ーム用の光ピックアップを提供する。 【構成】 光源22から射出される光を、光学素子26
のグレーティング26aで一本のメインビームと二本の
サブビームとに分離して、該光学素子26に形成した反
射面26cで記録媒体29とほぼ平行な方向に反射さ
れ、その後、反射部材27で記録媒体29のほぼ法線方
向に反射して、収束光学系28により記録媒体29上に
集光する。また、記録媒体29で反射される戻り光を、
収束光学系28および反射部材27を経て、光学素子2
6に形成したホログラム面26bで回折して、その±1
次回折光を該光学素子26に形成した反射面26cを経
て、光源22と同一基板21上の光検出部23,24で
受光する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、光ディスク等の光情
報記録媒体に対して情報の記録、再生を行う記録/再生
装置に用いる光ピックアップに関するものである。
報記録媒体に対して情報の記録、再生を行う記録/再生
装置に用いる光ピックアップに関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来の光ピックアップとして、例えば特
開平2−141936号公報に、図4に示すようなもの
が提案されている。この光ピックアップは、半導体レー
ザおよび光検出器を有する発光受光複合素子1をマウン
トしたパッケージ2をレンズボビン3上に設け、その半
導体レーザからの光ビームをレンズボビン3に設けた第
1,第2のミラー4,5を経て、レンズボビン3に保持
した対物レンズ6により光ディスク7に照射し、その反
射光を対物レンズ6、第2,第1のミラー5,4を経て
発光受光複合素子1の光検出器で受光することにより、
一本の光ビームで情報信号、フォーカスエラー信号およ
びトラッキングエラー信号を得るようにしている。
開平2−141936号公報に、図4に示すようなもの
が提案されている。この光ピックアップは、半導体レー
ザおよび光検出器を有する発光受光複合素子1をマウン
トしたパッケージ2をレンズボビン3上に設け、その半
導体レーザからの光ビームをレンズボビン3に設けた第
1,第2のミラー4,5を経て、レンズボビン3に保持
した対物レンズ6により光ディスク7に照射し、その反
射光を対物レンズ6、第2,第1のミラー5,4を経て
発光受光複合素子1の光検出器で受光することにより、
一本の光ビームで情報信号、フォーカスエラー信号およ
びトラッキングエラー信号を得るようにしている。
【0003】図4に示す光ピックアップにおいては、発
光受光複合素子1を光ディスク7とほぼ平行な面に配置
し、この発光受光複合素子1と対物レンズ6との間を第
1,第2のミラー4,5を介して光学的に結合している
ので、全体を薄型にできるという利点がある。
光受光複合素子1を光ディスク7とほぼ平行な面に配置
し、この発光受光複合素子1と対物レンズ6との間を第
1,第2のミラー4,5を介して光学的に結合している
ので、全体を薄型にできるという利点がある。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】一方、本願人は、特願
平3−21492号において、図5に示すような3ビー
ムを用いる光ピックアップを提案している。この光ピッ
クアップにおいては、図6AおよびBに平面図および断
面図をも示すように、半導体基板11に半導体レーザ1
2をマウントすると共に、この半導体レーザ12からの
出射光の光路を境とする両側に光検出部13および14
を形成している。半導体レーザ12からは、基板11と
平行な方向に光を出射させ、これを基板11に設けた立
ち上げミラー15で反射させた後、ホログラム素子16
および対物レンズ17を経て記録媒体18に照射し、そ
の反射光(戻り光)を、対物レンズ17を経てホログラ
ム素子16に入射させて、互いに逆方向のパワーを生じ
る±1次回折光を発生させ、これら±1次回折光を光検
出部13,14で受光する。
平3−21492号において、図5に示すような3ビー
ムを用いる光ピックアップを提案している。この光ピッ
クアップにおいては、図6AおよびBに平面図および断
面図をも示すように、半導体基板11に半導体レーザ1
2をマウントすると共に、この半導体レーザ12からの
出射光の光路を境とする両側に光検出部13および14
を形成している。半導体レーザ12からは、基板11と
平行な方向に光を出射させ、これを基板11に設けた立
ち上げミラー15で反射させた後、ホログラム素子16
および対物レンズ17を経て記録媒体18に照射し、そ
の反射光(戻り光)を、対物レンズ17を経てホログラ
ム素子16に入射させて、互いに逆方向のパワーを生じ
る±1次回折光を発生させ、これら±1次回折光を光検
出部13,14で受光する。
【0005】ホログラム素子16には、その半導体基板
11に面する表面にグレーテングを形成し、他方の表面
にはホログラムを形成して、半導体レーザ12から出射
され、立ち上げミラー15を経てホログラム素子16に
入射する光を、グレーテングによって1本のメインビー
ムと、トラッキングエラー検出用の2本のサブビームと
の3本のビームに分離し、これら3ビームのうちホログ
ラムを0次光で透過する3ビームを対物レンズ17によ
り記録媒体18に投射する。また、記録媒体18からの
戻り光のうち、ホログラムに入射する3ビームは、ここ
で互いに逆方向のパワーを生じる±1次回折光を発生さ
せ、それらの+1次回折光を光検出部13で、−1次回
折光を光検出部14でそれぞれ受光する。
11に面する表面にグレーテングを形成し、他方の表面
にはホログラムを形成して、半導体レーザ12から出射
され、立ち上げミラー15を経てホログラム素子16に
入射する光を、グレーテングによって1本のメインビー
ムと、トラッキングエラー検出用の2本のサブビームと
の3本のビームに分離し、これら3ビームのうちホログ
ラムを0次光で透過する3ビームを対物レンズ17によ
り記録媒体18に投射する。また、記録媒体18からの
戻り光のうち、ホログラムに入射する3ビームは、ここ
で互いに逆方向のパワーを生じる±1次回折光を発生さ
せ、それらの+1次回折光を光検出部13で、−1次回
折光を光検出部14でそれぞれ受光する。
【0006】光検出部13は、3ビームの各+1次回折
光を受光するように3つの光検出器13a,13b,1
3cをもって構成すると共に、中央のメインビームを受
光する光検出器13bは、ホログラム素子16での回折
方向に分割線を有する3分割した受光領域13d,13
e,13fをもって構成する。同様に、光検出部14
は、3ビームの各−1次回折光を受光するように3つの
光検出器14a,14b,14cをもって構成すると共
に、中央のメインビームを受光する光検出器14bは、
ホログラム素子16での回折方向に分割線を有する3分
割した受光領域14d,14e,14fをもって構成す
る。
光を受光するように3つの光検出器13a,13b,1
3cをもって構成すると共に、中央のメインビームを受
光する光検出器13bは、ホログラム素子16での回折
方向に分割線を有する3分割した受光領域13d,13
e,13fをもって構成する。同様に、光検出部14
は、3ビームの各−1次回折光を受光するように3つの
光検出器14a,14b,14cをもって構成すると共
に、中央のメインビームを受光する光検出器14bは、
ホログラム素子16での回折方向に分割線を有する3分
割した受光領域14d,14e,14fをもって構成す
る。
【0007】このようにして、メインビームの+1次回
折光を受光する光検出器13bの受光領域13d,13
e,13fの出力と、−1次回折光を受光する光検出器
14bの受光領域14d,14e,14fの出力とに基
づいて、ビームサイズ法によりフォーカスエラー信号を
検出し、また2本のサブビームの+1次回折光を受光す
る光検出器13a,13cの出力と、−1次回折光を受
光する光検出器14a,14cの出力とに基づいて、ト
ラッキングエラー信号を得る。
折光を受光する光検出器13bの受光領域13d,13
e,13fの出力と、−1次回折光を受光する光検出器
14bの受光領域14d,14e,14fの出力とに基
づいて、ビームサイズ法によりフォーカスエラー信号を
検出し、また2本のサブビームの+1次回折光を受光す
る光検出器13a,13cの出力と、−1次回折光を受
光する光検出器14a,14cの出力とに基づいて、ト
ラッキングエラー信号を得る。
【0008】かかる光ピックアップによれば、半導体レ
ーザ12から放射される光の波長が変化すると、ホログ
ラムパターン領域16bでの±1次回折光の回折角が変
化して、光検出器13b,14b上のスポットが移動す
るが、その移動方向は光検出器13b,14bの分割線
と平行となるので、フォーカスエラー信号は波長変化の
影響を受けにくくなる。また、部品加工誤差や組み立て
誤差等で光検出器13b,14b上のスポットがずれた
としても、±1次回折光で同じずれかたをするので、光
検出器13bから得られる+1次回折光のフォーカスエ
ラー信号と、光検出器14bから得られる−1次回折光
のフォーカスエラー信号との差を取ることで、それぞれ
のフォーカスエラー信号のオフセットをキャンセルで
き、正確なフォーカスエラー信号を得ることができると
いう利点がある。
ーザ12から放射される光の波長が変化すると、ホログ
ラムパターン領域16bでの±1次回折光の回折角が変
化して、光検出器13b,14b上のスポットが移動す
るが、その移動方向は光検出器13b,14bの分割線
と平行となるので、フォーカスエラー信号は波長変化の
影響を受けにくくなる。また、部品加工誤差や組み立て
誤差等で光検出器13b,14b上のスポットがずれた
としても、±1次回折光で同じずれかたをするので、光
検出器13bから得られる+1次回折光のフォーカスエ
ラー信号と、光検出器14bから得られる−1次回折光
のフォーカスエラー信号との差を取ることで、それぞれ
のフォーカスエラー信号のオフセットをキャンセルで
き、正確なフォーカスエラー信号を得ることができると
いう利点がある。
【0009】しかし、図5に示すように、基板11を記
録媒体18と平行に配置して、レーザ光をホログラム素
子16および対物レンズ17を経て記録媒体18に照射
する構成にあっては、光ピックアップを薄型にできな
い。これを薄型にするには、図7に示すように、半導体
基板11を対物レンズ17の光軸と平行な面(x−y平
面)に配置して、半導体レーザ12からの光ビームを立
ち上げミラー15により水平方向(z方向)に反射させ
ると共に、ホログラム素子16と対物レンズ17との間
に折り返しミラー19を配置し、これにより光ビームを
x方向に反射させて対物レンズ17を経て記録媒体18
に投射する構成が考えられる。
録媒体18と平行に配置して、レーザ光をホログラム素
子16および対物レンズ17を経て記録媒体18に照射
する構成にあっては、光ピックアップを薄型にできな
い。これを薄型にするには、図7に示すように、半導体
基板11を対物レンズ17の光軸と平行な面(x−y平
面)に配置して、半導体レーザ12からの光ビームを立
ち上げミラー15により水平方向(z方向)に反射させ
ると共に、ホログラム素子16と対物レンズ17との間
に折り返しミラー19を配置し、これにより光ビームを
x方向に反射させて対物レンズ17を経て記録媒体18
に投射する構成が考えられる。
【0010】しかしながら、この光ピックアップにおい
ては、フォーカスエラー信号検出用に4本、トラッキン
グエラー信号検出用に2本、半導体レーザ12の駆動用
に3本の合計9本の配線を要するため、それらのランド
部を基板11に形成する必要がある。このため、ランド
部等の占める面積が大きくなって、基板11がxおよび
y方向に大きくなり、光ピックアップの薄型化および小
型化が妨げられるという問題がある。
ては、フォーカスエラー信号検出用に4本、トラッキン
グエラー信号検出用に2本、半導体レーザ12の駆動用
に3本の合計9本の配線を要するため、それらのランド
部を基板11に形成する必要がある。このため、ランド
部等の占める面積が大きくなって、基板11がxおよび
y方向に大きくなり、光ピックアップの薄型化および小
型化が妨げられるという問題がある。
【0011】この問題を解決する方法として、図4と同
様に、基板11を記録媒体18とほぼ平行な面に配置
し、この基板11および対物レンズ17間を二つの折り
返しミラーを介して光学的に結合すると共に、基板11
と対物レンズ17との間の光路中にホログラム素子16
を配置する構成が考えられる。しかし、このように構成
すると、基板11と対物レンズ17との間に、二つの折
り返しミラーとホログラム素子16とが配置されるた
め、部品点数が増え、高価になるという問題が生じると
共に、ホログラム素子16を基板11と最初の折り返し
ミラーとの間に配置した場合には、両者が干渉して薄型
化の効果が得られないという問題が生じることになる。
様に、基板11を記録媒体18とほぼ平行な面に配置
し、この基板11および対物レンズ17間を二つの折り
返しミラーを介して光学的に結合すると共に、基板11
と対物レンズ17との間の光路中にホログラム素子16
を配置する構成が考えられる。しかし、このように構成
すると、基板11と対物レンズ17との間に、二つの折
り返しミラーとホログラム素子16とが配置されるた
め、部品点数が増え、高価になるという問題が生じると
共に、ホログラム素子16を基板11と最初の折り返し
ミラーとの間に配置した場合には、両者が干渉して薄型
化の効果が得られないという問題が生じることになる。
【0012】この発明は、上述した種々の問題点に着目
してなされたもので、薄型で部品点数が少なく、安価に
できるよう適切に構成した3ビーム用の光ピックアップ
を提供することを目的とする。
してなされたもので、薄型で部品点数が少なく、安価に
できるよう適切に構成した3ビーム用の光ピックアップ
を提供することを目的とする。
【0013】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、この発明では、光源および光検出部を有し、記録媒
体とほぼ平行な面に配置した基板と、前記光源からの光
を、記録媒体の情報を読み取るための一本のメインビー
ムおよび、記録媒体のトラックずれを検出するための二
本のサブビームに分離するグレーティングを有する光学
素子と、この光学素子に形成され、前記グレーティング
で分離された三本のビームを記録媒体とほぼ平行な方向
に反射させる反射面と、この反射面で反射されたビーム
を記録媒体のほぼ法線方向に反射させる反射部材と、こ
の反射部材で反射されたビームを記録媒体上に集光する
収束光学系と、前記光学素子に形成され、前記収束光学
系および反射部材を経て入射する記録媒体からの戻り光
を回折させて、その±1次回折光を前記反射面を経て前
記光検出部に入射させるホログラム面とを設ける。
め、この発明では、光源および光検出部を有し、記録媒
体とほぼ平行な面に配置した基板と、前記光源からの光
を、記録媒体の情報を読み取るための一本のメインビー
ムおよび、記録媒体のトラックずれを検出するための二
本のサブビームに分離するグレーティングを有する光学
素子と、この光学素子に形成され、前記グレーティング
で分離された三本のビームを記録媒体とほぼ平行な方向
に反射させる反射面と、この反射面で反射されたビーム
を記録媒体のほぼ法線方向に反射させる反射部材と、こ
の反射部材で反射されたビームを記録媒体上に集光する
収束光学系と、前記光学素子に形成され、前記収束光学
系および反射部材を経て入射する記録媒体からの戻り光
を回折させて、その±1次回折光を前記反射面を経て前
記光検出部に入射させるホログラム面とを設ける。
【0014】
【作用】上記構成において、光源から射出された光は、
光学素子のグレーティングで一本のメインビームと二本
のサブビームとに分離された後、該光学素子に形成した
反射面で記録媒体とほぼ平行な方向に反射される。その
後、反射部材で記録媒体のほぼ法線方向に反射され、収
束光学系により記録媒体上に集光される。また、記録媒
体で反射される戻り光は、収束光学系および反射部材を
経て、光学素子に形成したホログラム面で回折され、そ
の±1次回折光が該光学素子に形成された反射面を経
て、光源と同一基板上の光検出部で受光される。
光学素子のグレーティングで一本のメインビームと二本
のサブビームとに分離された後、該光学素子に形成した
反射面で記録媒体とほぼ平行な方向に反射される。その
後、反射部材で記録媒体のほぼ法線方向に反射され、収
束光学系により記録媒体上に集光される。また、記録媒
体で反射される戻り光は、収束光学系および反射部材を
経て、光学素子に形成したホログラム面で回折され、そ
の±1次回折光が該光学素子に形成された反射面を経
て、光源と同一基板上の光検出部で受光される。
【0015】
【実施例】図1はこの発明の一実施例を示すものであ
る。この実施例では、半導体基板21に、図2Aおよび
Bに平面図および横断面図を示すように、半導体レーザ
22をマウントすると共に、半導体レーザ22からの出
射光の光路を境とする両側に光検出部23および24を
形成し、半導体レーザ22から基板21と平行な方向に
出射される光を、基板21に設けた立ち上げミラー25
で反射させた後、図1に示すように光学素子26、折り
返しミラー27および対物レンズ28を経て記録媒体2
9に投射する。また、記録媒体29での反射光は、対物
レンズ28および折り返しミラー27を経て光学素子2
6に入射させ、ここで互いに逆方向のパワーを生じる±
1次回折光を発生させて、これら±1次回折光を光検出
部23,24で受光する。
る。この実施例では、半導体基板21に、図2Aおよび
Bに平面図および横断面図を示すように、半導体レーザ
22をマウントすると共に、半導体レーザ22からの出
射光の光路を境とする両側に光検出部23および24を
形成し、半導体レーザ22から基板21と平行な方向に
出射される光を、基板21に設けた立ち上げミラー25
で反射させた後、図1に示すように光学素子26、折り
返しミラー27および対物レンズ28を経て記録媒体2
9に投射する。また、記録媒体29での反射光は、対物
レンズ28および折り返しミラー27を経て光学素子2
6に入射させ、ここで互いに逆方向のパワーを生じる±
1次回折光を発生させて、これら±1次回折光を光検出
部23,24で受光する。
【0016】半導体基板21は、記録媒体29とほぼ平
行なピックアップの平面に取り付け、半導体レーザ22
からの出射光を、立ち上げミラー25で記録媒体29の
ほぼ法線方向に反射させて、光学素子26に入射させ
る。光学素子26には、半導体基板21側に、図3Aに
示すようにグレーテング26aを、折り返しミラー27
側に、図3Bに示すようにホログラムパターン領域26
bをそれぞれ形成すると共に、グレーテング26aとホ
ログラムパターン領域26bとの間にミラー面26cを
形成する。
行なピックアップの平面に取り付け、半導体レーザ22
からの出射光を、立ち上げミラー25で記録媒体29の
ほぼ法線方向に反射させて、光学素子26に入射させ
る。光学素子26には、半導体基板21側に、図3Aに
示すようにグレーテング26aを、折り返しミラー27
側に、図3Bに示すようにホログラムパターン領域26
bをそれぞれ形成すると共に、グレーテング26aとホ
ログラムパターン領域26bとの間にミラー面26cを
形成する。
【0017】このようにして、半導体レーザ22から出
射され、立ち上げミラー25を経て光学素子26に入射
する光を、グレーテング26aによって記録/再生およ
び焦点検出用の1本のメインビームと、トラッキングエ
ラー検出用の2本のサブビームとの3本のビームに分離
し、これら3ビームをミラー面26cで記録媒体29と
ほぼ平行な方向に反射させてホログラムパターン領域2
6bに入射させ、該ホログラムパターン領域26bを0
次光で透過する3ビームを、折り返しミラー27で記録
媒体29のほぼ法線方向に反射させて、対物レンズ28
を経て記録媒体29に投射する。また、記録媒体29で
反射され、対物レンズ28および折り返しミラー27を
経て光学素子26に入射する3ビームの戻り光は、ホロ
グラムパターン領域26bで互いに逆方向のパワーを有
する±1次回折光を発生させ、それらをミラー面26c
を経て、+1次回折光を光検出部23で、−1次回折光
を光検出部24でそれぞれ受光する。
射され、立ち上げミラー25を経て光学素子26に入射
する光を、グレーテング26aによって記録/再生およ
び焦点検出用の1本のメインビームと、トラッキングエ
ラー検出用の2本のサブビームとの3本のビームに分離
し、これら3ビームをミラー面26cで記録媒体29と
ほぼ平行な方向に反射させてホログラムパターン領域2
6bに入射させ、該ホログラムパターン領域26bを0
次光で透過する3ビームを、折り返しミラー27で記録
媒体29のほぼ法線方向に反射させて、対物レンズ28
を経て記録媒体29に投射する。また、記録媒体29で
反射され、対物レンズ28および折り返しミラー27を
経て光学素子26に入射する3ビームの戻り光は、ホロ
グラムパターン領域26bで互いに逆方向のパワーを有
する±1次回折光を発生させ、それらをミラー面26c
を経て、+1次回折光を光検出部23で、−1次回折光
を光検出部24でそれぞれ受光する。
【0018】なお、図2Aに示すように、光検出部23
は、3ビームのホログラムパターン領域26bによる各
+1次回折光を受光するように3つの光検出器23a,
23b,23cをもって構成すると共に、中央のメイン
ビームを受光する光検出器23bは、ホログラムパター
ン領域26bでの回折方向に分割線を有する3分割した
受光領域23d,23e,23fをもって構成する。同
様に、光検出部24は、3ビームのホログラムパターン
領域26bによる各−1次回折光を受光するように3つ
の光検出器24a,24b,24cをもって構成すると
共に、中央のメインビームを受光する光検出器24b
は、ホログラムパターン領域26bでの回折方向に分割
線を有する3分割した受光領域24d,24e,24f
をもって構成する。
は、3ビームのホログラムパターン領域26bによる各
+1次回折光を受光するように3つの光検出器23a,
23b,23cをもって構成すると共に、中央のメイン
ビームを受光する光検出器23bは、ホログラムパター
ン領域26bでの回折方向に分割線を有する3分割した
受光領域23d,23e,23fをもって構成する。同
様に、光検出部24は、3ビームのホログラムパターン
領域26bによる各−1次回折光を受光するように3つ
の光検出器24a,24b,24cをもって構成すると
共に、中央のメインビームを受光する光検出器24b
は、ホログラムパターン領域26bでの回折方向に分割
線を有する3分割した受光領域24d,24e,24f
をもって構成する。
【0019】このようにして、この実施例では、メイン
ビームの+1次回折光を受光する光検出器23bの受光
領域23d,23e,23fの出力をA1,A2,A
3、−1次回折光を受光する光検出器24bの受光領域
24d,24e,24fの出力をA4,A5,A6とす
るとき、フォーカスエラー信号FEを、
ビームの+1次回折光を受光する光検出器23bの受光
領域23d,23e,23fの出力をA1,A2,A
3、−1次回折光を受光する光検出器24bの受光領域
24d,24e,24fの出力をA4,A5,A6とす
るとき、フォーカスエラー信号FEを、
【数1】 FE=(A1+A3+A5)−(A2+A4+A6) により検出する。また、記録媒体29のトラックに対す
る照射ビームのトラッキングエラー信号TEは、2本の
サブビームの+1次回折光を受光する光検出器23a,
23cの出力をB1,B2、−1次回折光を受光する光
検出器24a,24cの出力をB3,B4とすると、
る照射ビームのトラッキングエラー信号TEは、2本の
サブビームの+1次回折光を受光する光検出器23a,
23cの出力をB1,B2、−1次回折光を受光する光
検出器24a,24cの出力をB3,B4とすると、
【数2】TE=(B1+B3)−(B2+B4) により検出する。
【0020】なお、上述した実施例では、半導体基板2
1と光学素子26とを別体に設けたが、これらをスペー
サを介して一体的に設けることもできる。
1と光学素子26とを別体に設けたが、これらをスペー
サを介して一体的に設けることもできる。
【0021】
【発明の効果】以上のように、この発明によれば、収束
光学系の下に配置される反射部材に加え、グレーティン
グ、ホログラム面およびこれら間に形成した反射面を有
する光学素子を用いてピックアップを構成したので、部
品点数が少なく、安価で薄型な光ピックアップを得るこ
とができる。
光学系の下に配置される反射部材に加え、グレーティン
グ、ホログラム面およびこれら間に形成した反射面を有
する光学素子を用いてピックアップを構成したので、部
品点数が少なく、安価で薄型な光ピックアップを得るこ
とができる。
【図1】この発明の一実施例を示す図である。
【図2】図1に示す半導体レーザおよび光検出器の配置
を示す図である。
を示す図である。
【図3】同じく図1に示す光学素子のグレーティングお
よびホログラムパターン領域の構成を示す図である。
よびホログラムパターン領域の構成を示す図である。
【図4】従来の技術を説明するための図である。
【図5】本願人が先に開発した光ピックアップの構成を
示す図である。
示す図である。
【図6】図5に示す半導体レーザおよび光検出器の配置
を示す図である。
を示す図である。
【図7】図5に示す光ピックアップを薄型化する場合の
構成例を示す図である。
構成例を示す図である。
21 半導体基板 22 半導体レーザ 23,24 光検出部 23a,23b,23c,24a,24b,24c 光
検出器 23d,23e,23f,24d,24e,24f 受
光領域 25 立ち上げミラー 26 光学素子 26a グレーテング 26b ホログラムパターン領域 26c ミラー面 27 折り返しミラー 28 対物レンズ 29 記録媒体
検出器 23d,23e,23f,24d,24e,24f 受
光領域 25 立ち上げミラー 26 光学素子 26a グレーテング 26b ホログラムパターン領域 26c ミラー面 27 折り返しミラー 28 対物レンズ 29 記録媒体
Claims (1)
- 【請求項1】 光源および光検出部を有し、記録媒体と
ほぼ平行な面に配置した基板と、前記光源からの光を、
記録媒体の情報を読み取るための一本のメインビームお
よび、記録媒体のトラックずれを検出するための二本の
サブビームに分離するグレーティングを有する光学素子
と、この光学素子に形成され、前記グレーティングで分
離された三本のビームを記録媒体とほぼ平行な方向に反
射させる反射面と、この反射面で反射されたビームを記
録媒体のほぼ法線方向に反射させる反射部材と、この反
射部材で反射されたビームを記録媒体上に集光する収束
光学系と、前記光学素子に形成され、前記収束光学系お
よび反射部材を経て入射する記録媒体からの戻り光を回
折させて、その±1次回折光を前記反射面を経て前記光
検出部に入射させるホログラム面とを具えることを特徴
とする光ピックアップ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3287952A JPH05128577A (ja) | 1991-11-01 | 1991-11-01 | 光ピツクアツプ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3287952A JPH05128577A (ja) | 1991-11-01 | 1991-11-01 | 光ピツクアツプ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05128577A true JPH05128577A (ja) | 1993-05-25 |
Family
ID=17723867
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3287952A Pending JPH05128577A (ja) | 1991-11-01 | 1991-11-01 | 光ピツクアツプ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05128577A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR980004433A (ko) * | 1996-06-12 | 1998-03-30 | 구자홍 | 박형 광픽업 장치 |
| KR100373801B1 (ko) * | 1994-07-29 | 2003-05-09 | 산요 덴키 가부시키가이샤 | 반도체레이저장치및이를이용한광픽업장치 |
-
1991
- 1991-11-01 JP JP3287952A patent/JPH05128577A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100373801B1 (ko) * | 1994-07-29 | 2003-05-09 | 산요 덴키 가부시키가이샤 | 반도체레이저장치및이를이용한광픽업장치 |
| KR980004433A (ko) * | 1996-06-12 | 1998-03-30 | 구자홍 | 박형 광픽업 장치 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20000307 |