JPH04250601A - チップ抵抗器の抵抗値調整方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、チップ抵抗器の抵抗値
調整方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】チップ抵抗器の抵抗値にはバラツキがあ
り、通常、その抵抗値が基準抵抗値に対し、１００％±
５％以内であれば、規格に合ったものとされる。しかし
、チップ抵抗器の抵抗値が基準抵抗値に対し、１００％
−５％より低く成ったときは、チップ抵抗器の抵抗体を
レーザー光によってトリミングすることによって、その
抵抗値を高くして、その抵抗値が基準抵抗値に対し１０
０％±５パーセント以内に収まるようにしていた。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】かかる従来のチップ抵
抗器の抵抗値の調整方法には次のような欠点があった。 ■チップ抵抗器の抵抗値が基準抵抗値の１００％＋５％
を越えるときは、抵抗体のトリミングによる抵抗値の調
整、即ち、抵抗値を低くすることは不可能と成るので、
これは廃棄せざるを得ない。■抵抗体のトリミングによ
る抵抗値の調整は個々のチップ抵抗器毎に行わなければ
ならないので、作業性が悪い。■抵抗体をトリミングす
ると、そのトリミングされた部分における電流密度が他
の部分と異なるため、ノイズの発生や過負荷特性の劣化
を招来することに成る。■チップ抵抗器の抵抗体をトリ
ミングするための専用の加工機を必要とする。■以上の
■〜■により、チップ抵抗器の価格が高く成る。

【０００４】かかる点に鑑み、本発明は、抵抗値を高く
することができるだけでなく、低くすることもでき、多
数のチップ抵抗器の抵抗値の調整を一度で行うことがで
き、抵抗値の調整によって、ノイズの発生や過負荷特性
の劣化を招来せず、作業性が良く、抵抗値調整のための
専用の加工機を必要とせず、従って、低廉なチップ抵抗
器を得ることのできるチップ抵抗器の抵抗値調整方法を
提案しようとするものである。

【０００５】

【課題を解決するための手段】本発明によるチップ抵抗
器の抵抗値の調整方法は、所定温度で焼成して得たチッ
プ抵抗器を、所定焼成温度に近く、これより低い所定温
度で再加熱し、チップ抵抗器の抵抗値が基準抵抗値より
高いか、低いか及びその抵抗値に応じて、所定再加熱温
度及びその再加熱時間を選定し、これによりチップ抵抗
器の抵抗値を基準抵抗値に近づけるようにしたものであ
る。

【０００６】

【作用】かかる本発明によれば、所定温度で焼成して得
たチップ抵抗器の抵抗値を測定し、その抵抗値が基準抵
抗値に対し、正負の所定範囲に入っているか否かを判定
し、否であれば、そのチップ抵抗器を再加熱する。その
抵抗値が基準抵抗値より高いか、低いか及び抵抗値に応
じて、そのチップ抵抗器の所定再加熱温度（所定焼成温
度に近く、これより低い温度）及びその再加熱時間を選
定する。かくして、チップ抵抗器の抵抗値を、それが基
準値から正負の所定範囲に収まるように調整することが
できる。

【０００７】

【実施例】本発明の実施例の説明に入るまえに、本発明
を適用し得るチップ抵抗器の一例を、図３を参照して説
明する。これは金属系混合皮膜抵抗体を用いた角形（角
平形）チップ抵抗器である。１は矩形の基体で、ガラス
又はガラスを含むアルミナ磁器から成る。２は一対の電
極で、銀パラジウムから成り、基体１の表面の両側にそ
れぞれペーストの印刷等により被着形成されている。３
は抵抗体で、酸化ルテニウム系の抵抗材料から成り、基
体１及び一対の電極２上にペーストの印刷等により被着
形成されている。４は保護層で、ガラス又はガラスを含
むアルミナ磁器から成り、基体１、電極２及び抵抗体３
上に積層又はペーストの印刷等により被着形成されてい
る。５は一対の電極（外部電極）で、銀パラジウムから
成り、上述の電極２にそれぞれ接続される如く、基体１
、電極２及び保護層４の両端部上にペーストの印刷等に
よりそれぞれ被着形成されている。

【０００８】かかるチップ抵抗器は、基体を共通として
多数形成された基体１、一対の電極２、抵抗体３から成
る半完成品に、保護層４を被着形成し、その基体１及び
保護層４の両端面部に孔をあけ、その孔にそれぞれ一対
の電極５を被着形成した後、個々のチップ抵抗器に分離
して、その多数のチップ抵抗器を焼成炉内で約８５０°
Ｃで所定時間焼成する。この場合、基体１、電極２、抵
抗体３、保護層４及び電極５の焼成温度が、略同じに、
即ち、ここでは約８５０°Ｃと成るように、その各材料
を選定しておく。尚、基体１は、アルミナ磁器に混入す
るガラスの量を重量で約５０％にすることによって、そ
の焼成温度を約８５０°Ｃにすることができる。

【０００９】このように焼成して得られたチップ抵抗器
の抵抗値は、抵抗体３の抵抗率、長さ、幅、厚み、焼成
温度、焼成時間等を選定することによって、決定するこ
とができるが、その抵抗値にはばらつきがある。そこで
、焼成の済んだチップ抵抗器の抵抗値を測定し、その抵
抗値が目的の抵抗値（基準抵抗値）の１００％±５％以
内に収まるものは、合格品とする。

【００１０】抵抗値が目的の抵抗値の１００％±５％か
ら外れたチップ抵抗器は、所定範囲の抵抗値毎に分類し
、その分類されたチップ抵抗器を、上述の焼成炉に再び
入れて再加熱する。そして、その再加熱温度及びその再
加熱時間を、後述するようにチップ抵抗器の抵抗値に応
じて選定するが、その再加熱温度は、いずれも、焼成温
度に近く、しかもそれより低い温度である。

【００１１】図１に、８５０°Ｃで焼成処理の終了した
チップ抵抗器（この場合の抵抗体のシート抵抗値は、１
ｋΩ／４ｍｍ２　であった）を、約２０分間再加熱した
場合の特性例（実験による）を示す。この第１図によれ
ば、再加熱温度がそれぞれ７００°Ｃ、６００°Ｃ及び
５００°Ｃ　　のとき、その各抵抗値変化率がそれぞれ
約＋５．３％（約＋４．７％〜約＋６．２％のばらつき
があった）、約−４．２％（約−５％〜約−４％のばら
つきがあった）、約−３％（約−３．２％〜約−２．８
％のばらつきがあった）であった。尚、焼成温度が８５
０°Ｃの場合、その再加熱温度の下限はせいぜい４００
°Ｃ程度までで、エージング時の、例えば、２００°Ｃ
と極端に低い温度は不可である。又、チップ抵抗器とし
て、温度特性、過負荷特性等の特性劣化を起こさず、電
気的性能を十分に満足するものを得るためには、再加熱
による初期からの抵抗値の変化率は、せいぜい−１５％
〜＋３０％程度までである。

【００１２】又、チップ抵抗器の再加熱に要するする時
間、即ち、再加熱時間を調整することによっても、抵抗
値変化率を変化させることができる。図２に、８５０°
Ｃで焼成処理の終了したチップ抵抗器（この場合の抵抗
体のシート抵抗値は、１ｋΩ／４ｍｍ２　であった）を
５００°Ｃで再加熱し、その再加熱時間を１０分、２０
分、３０分、４０分及び８０分にしたときの、各抵抗値
変化率がそれぞれ約−１．９％（約−２．４％〜約−１
．４％のばらつきがあった）約−２．９％（約−３．４
％〜−２．５％）、約−３．６％（約−３．９％〜−３
．３％のばらつきがあった）、約−５％（約−５．５％
〜約−４．３％のばらつきがあった）及び約−６．６％
（約−７．５％〜約−６％のばらつきがあった）であっ
た。

【００１３】そこで、抵抗値が目的の抵抗値の１００％
±５％から外れたチップ抵抗器の再加熱温度を、その抵
抗値が１００％−５％より低いものに対しては、７００
°Ｃ付近でその抵抗値に応じた所定温度に、その抵抗値
が１００％＋５％より高いものに対しては、６００°Ｃ
付近乃至４５０°Ｃ付近で、その抵抗値に応じた所定温
度、即ち、抵抗値の低いものに対しては比較的高い温度
に、又、抵抗値の高いものに対しては比較的低い温度に
設定する。又、再加熱時間もそれぞれの抵抗値に応じて
調整することによって、抵抗値の調整範囲が広く成る。

【００１４】尚、かかる再加熱温度及びその再加熱時間
を設定するに当たっては、予め、製造するチップ抵抗器
の抵抗値変化率−温度特性及び抵抗値変化率−再加熱温
度特性を、実験によって測定しておく必要がある。

【００１５】図２に示したチップ抵抗器は、本発明を適
用し得るチップ抵抗器の一例に過ぎず、その形状、構造
、寸法、材料、抵抗体抵抗値等は任意であり、例えば、
電極５としては、薄膜電極、厚膜電極等が可能であり、
全体の形状としては、角形、円筒形等が可能である。

【００１６】

【発明の効果】上述せる本発明チップ抵抗器の抵抗値の
調整方法によれば、所定温度で焼成して得たチップ抵抗
器を、所定焼成温度に近く、これより低い所定温度で再
加熱し、チップ抵抗器の抵抗値が基準抵抗値より高いか
、低いか及びその抵抗値に応じて、所定再加熱温度及び
その再加熱温度をそれぞれ選定し、これによりチップ抵
抗器の抵抗値を基準抵抗値に近づけるにするものである
から、抵抗値を高くすることができるだけでなく、低く
することもでき、多数のチップ抵抗器の抵抗値の調整を
一度で行うことができ、抵抗値の調整によって、ノイズ
の発生や過負荷特性の劣化を招来せず、作業性が良く、
抵抗値調整のための専用の加工機を必要とせず、従って
、低廉なチップ抵抗器を得ることができるものである。

【図面の簡単な説明】

【図１】チップ抵抗器の抵抗値変化率−温度特性を示す
特性図

【図２】チップ抵抗器の抵抗値変化率−再加熱時間特性
を示す特性図

【図３】本発明を適用し得るチップ抵抗器の一例を示す
斜視図

【符号の説明】

１　　基体 ２　　電極 ３　　抵抗体 ４　　保護層 ５　　電極

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】　　所定温度で焼成して得たチップ抵抗器
   を、上記所定焼成温度に近く、これより低い所定温度で
   再加熱し、上記チップ抵抗器の抵抗値が基準抵抗値より
   高いか、低いか及びその抵抗値に応じて、上記所定再加
   熱温度及びその再加熱時間を選定し、これにより上記チ
   ップ抵抗器の抵抗値を基準抵抗値に近づけるようにした
   ことを特徴とするチップ抵抗器の抵抗値の調整方法。