JPH0425617Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0425617Y2 JPH0425617Y2 JP14969186U JP14969186U JPH0425617Y2 JP H0425617 Y2 JPH0425617 Y2 JP H0425617Y2 JP 14969186 U JP14969186 U JP 14969186U JP 14969186 U JP14969186 U JP 14969186U JP H0425617 Y2 JPH0425617 Y2 JP H0425617Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- detection coil
- output
- pulse
- magnetostrictive
- flop
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 49
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 5
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 4
- 210000004899 c-terminal region Anatomy 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 1
- 230000001902 propagating effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Length Measuring Devices Characterised By Use Of Acoustic Means (AREA)
- Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本考案は、磁歪線上を伝播する磁歪信号を検出
するための磁歪信号検出回路に関するものであ
る。
するための磁歪信号検出回路に関するものであ
る。
磁歪信号検出回路の原理的構成図を第4図に示
す。同図において、1は磁歪線、2は駆動コイ
ル、3は検出コイルである。駆動コイル2は磁歪
線1の一端に固定配置され、検出コイル3は磁歪
線1上を長さ方向に移動可動なように配置されて
いる。
す。同図において、1は磁歪線、2は駆動コイ
ル、3は検出コイルである。駆動コイル2は磁歪
線1の一端に固定配置され、検出コイル3は磁歪
線1上を長さ方向に移動可動なように配置されて
いる。
このような構成において、駆動コイル2に第5
図イに示す駆動パルスを与えると磁歪線1に縦弾
性波(超音波)が発生する。この縦弾性波は磁歪
線1を伝播し、検出コイル3は第5図ロに示す如
くその縦弾性波を時間t1後に直接波(電圧信号)
4として検出すると共に、磁歪線1の開放端部1
1で反射する縦弾性波を反射波(電圧信号)5と
して時間t2後にこれを検出する。直接波4を検出
した検出コイル3の出力は実測によると、第5図
ロの如く時間的にみて最初にマイナスのパルスcd
が生じた後、次いでプラスのパルスadが発生し、
このadパルスに続いてマイナスのパルスbd、更に
プラスのパルスddが生じる波形となる。又、反射
波5を検出した検出コイル3の出力はこれも実測
によると、最初にプラスのパルスcrが生じた後、
マイナスのパルスarが発生し、このarパルスに続
いてプラスのパルスbr、更にマイナスのパルスdr
が発生する波形となる。
図イに示す駆動パルスを与えると磁歪線1に縦弾
性波(超音波)が発生する。この縦弾性波は磁歪
線1を伝播し、検出コイル3は第5図ロに示す如
くその縦弾性波を時間t1後に直接波(電圧信号)
4として検出すると共に、磁歪線1の開放端部1
1で反射する縦弾性波を反射波(電圧信号)5と
して時間t2後にこれを検出する。直接波4を検出
した検出コイル3の出力は実測によると、第5図
ロの如く時間的にみて最初にマイナスのパルスcd
が生じた後、次いでプラスのパルスadが発生し、
このadパルスに続いてマイナスのパルスbd、更に
プラスのパルスddが生じる波形となる。又、反射
波5を検出した検出コイル3の出力はこれも実測
によると、最初にプラスのパルスcrが生じた後、
マイナスのパルスarが発生し、このarパルスに続
いてプラスのパルスbr、更にマイナスのパルスdr
が発生する波形となる。
このような検出回路において、縦弾性波が検出
コイル3に到達する時間t1,t2は従来例えば特開
昭61−97523号に開示されたものとして第6図に
示す如くそのスレツシヨールド・レベルが+Vth
と−Vthを持つ一対の比較器を用い、時間t1は直
接波4の最初のプラスのパルスadにより、又t2は
反射波5の最初のマイナスのパルスarにより求め
るようにしていた。ところで、この種の磁歪信号
を用いる回路において、検出コイル3で検出され
る縦弾性波の波形は伝播距離によつては変化しな
いものとされていた。しかし、実際には伝播距離
が長い場合には分散の影響を受けて波形が歪み、
第5図ロと第6図の対比から明らかなように、特
に伝播距離の長い反射波5の内、最初に生じるマ
イナスのパルスarのピーク値が小さくなり、その
為、これを検出する比較器のスレツシヨールド・
レベル−Vthに対するマージンが少なくなり、誤
動作が起きやすいという問題点があつた。このよ
うな問題点を解決する為に本願出願人は本願と同
日付けで考案の名称「磁歪信号検出回路」として
第7図に示す回路を出願した。以下、本考案を説
明する前にこの回路について説明する。
コイル3に到達する時間t1,t2は従来例えば特開
昭61−97523号に開示されたものとして第6図に
示す如くそのスレツシヨールド・レベルが+Vth
と−Vthを持つ一対の比較器を用い、時間t1は直
接波4の最初のプラスのパルスadにより、又t2は
反射波5の最初のマイナスのパルスarにより求め
るようにしていた。ところで、この種の磁歪信号
を用いる回路において、検出コイル3で検出され
る縦弾性波の波形は伝播距離によつては変化しな
いものとされていた。しかし、実際には伝播距離
が長い場合には分散の影響を受けて波形が歪み、
第5図ロと第6図の対比から明らかなように、特
に伝播距離の長い反射波5の内、最初に生じるマ
イナスのパルスarのピーク値が小さくなり、その
為、これを検出する比較器のスレツシヨールド・
レベル−Vthに対するマージンが少なくなり、誤
動作が起きやすいという問題点があつた。このよ
うな問題点を解決する為に本願出願人は本願と同
日付けで考案の名称「磁歪信号検出回路」として
第7図に示す回路を出願した。以下、本考案を説
明する前にこの回路について説明する。
第7図において、3は第4図で説明した検出コ
イル、2は駆動パルスの印加端子、COMPは比
較器、Fは検出コイル3に並列に接続されたフイ
ルタ、R1,R2は抵抗素子、Vr,Vdは電源で
ある。抵抗素子R1,R2は電源Vrと基準電位
点間に接続され、この抵抗回路の分圧点に生じる
電圧+Vthが比較器COMPのスレツシヨールド電
圧として用いられる。FF1〜FF3はエツジ・ト
リガ型のフリツプ・フロツプ、OUT1,OUT2
は出力端子である。第8図は第7図回路のタイミ
ングチヤートで、イ図は駆動パルス、ロ図は検出
コイル3の出力、ハ図は比較器COMPの出力、
ニ図はフリツプ・フロツプFF1の出力、ホ図は
FF2の出力、ヘはFF3の出力波形を示すもので
ある。
イル、2は駆動パルスの印加端子、COMPは比
較器、Fは検出コイル3に並列に接続されたフイ
ルタ、R1,R2は抵抗素子、Vr,Vdは電源で
ある。抵抗素子R1,R2は電源Vrと基準電位
点間に接続され、この抵抗回路の分圧点に生じる
電圧+Vthが比較器COMPのスレツシヨールド電
圧として用いられる。FF1〜FF3はエツジ・ト
リガ型のフリツプ・フロツプ、OUT1,OUT2
は出力端子である。第8図は第7図回路のタイミ
ングチヤートで、イ図は駆動パルス、ロ図は検出
コイル3の出力、ハ図は比較器COMPの出力、
ニ図はフリツプ・フロツプFF1の出力、ホ図は
FF2の出力、ヘはFF3の出力波形を示すもので
ある。
第7図回路において、駆動端子2にパルスが与
えられると、第5図及び第6図で説明した如く磁
歪線1に縦弾性波が発生し、この縦弾性波は磁歪
線1上を伝播する。この縦弾性波は時間t1後に直
接波4として検出コイル3に到達すると共に、時
間t2後に反射波5として検出コイル3に到達す
る。検出コイル3の出力は比較器COMPに加え
られる。比較器COMPは時刻t1に検出コイル3に
到達する反射波5により、この検出コイル3の出
力のうち第5図ロ及び第3図ロに示す如くそのピ
ーク値がスレツシヨールド・レベル+Vthを越え
るad波が入力されるとこれを検出し、パルスP1
を出力する。このパルスによりフリツプ・フロツ
プFF1のQ出力は“L”レベルとなる。FF1の
Q出力が“H”レベルの期間は、駆動パルス2が
与えられてから直接波4が検出コイル5に到達す
るまでの時間t1に対応するもので、このパルス幅
信号は出力端子OUT1より取り出される。一方、
FF1のQ出力はFF2のリセツト端子Rに加えら
れ、FF2の出力がFF3のC端子に加えられて
いる。
えられると、第5図及び第6図で説明した如く磁
歪線1に縦弾性波が発生し、この縦弾性波は磁歪
線1上を伝播する。この縦弾性波は時間t1後に直
接波4として検出コイル3に到達すると共に、時
間t2後に反射波5として検出コイル3に到達す
る。検出コイル3の出力は比較器COMPに加え
られる。比較器COMPは時刻t1に検出コイル3に
到達する反射波5により、この検出コイル3の出
力のうち第5図ロ及び第3図ロに示す如くそのピ
ーク値がスレツシヨールド・レベル+Vthを越え
るad波が入力されるとこれを検出し、パルスP1
を出力する。このパルスによりフリツプ・フロツ
プFF1のQ出力は“L”レベルとなる。FF1の
Q出力が“H”レベルの期間は、駆動パルス2が
与えられてから直接波4が検出コイル5に到達す
るまでの時間t1に対応するもので、このパルス幅
信号は出力端子OUT1より取り出される。一方、
FF1のQ出力はFF2のリセツト端子Rに加えら
れ、FF2の出力がFF3のC端子に加えられて
いる。
次に、時刻t2において反射波5が検出コイル3
に到達する。縦弾性波は前記したように分散の影
響を受けその伝播距離に応じて波形が歪むが、反
射波5における第2番目のプラスの信号brは分散
の影響を受けない。このbr信号は検出コイル3で
検出され、この検出コイルの出力は比較器
COMPに加えられる。したがつて、比較器
COMPは時刻t2においてこのbrパルス、即ち反射
波5を検出してパルスP2を発生し、このパルス
はフリツプ・フロツプFF2のC端子に加えられ、
FF3のQ出力は“L”レベルとなる。FF3のQ
出力が“H”レベルの期間は、駆動パルスが与え
られてから縦弾性波の反射波5が検出コイル3に
到達するまでの時間t2に対応するもので、このパ
ルス幅信号は出力端子OUT2より取り出される。
このようにして第7図の回路においてはスレツシ
ヨールド・レベル+Vthを適当に選ぶことによ
り、比較器COMPはadパルスとbrパルスのみを検
出し、従来装置の如く分散の影響をけることな
く、時間t1,t2を検出することができる特徴があ
るものである。
に到達する。縦弾性波は前記したように分散の影
響を受けその伝播距離に応じて波形が歪むが、反
射波5における第2番目のプラスの信号brは分散
の影響を受けない。このbr信号は検出コイル3で
検出され、この検出コイルの出力は比較器
COMPに加えられる。したがつて、比較器
COMPは時刻t2においてこのbrパルス、即ち反射
波5を検出してパルスP2を発生し、このパルス
はフリツプ・フロツプFF2のC端子に加えられ、
FF3のQ出力は“L”レベルとなる。FF3のQ
出力が“H”レベルの期間は、駆動パルスが与え
られてから縦弾性波の反射波5が検出コイル3に
到達するまでの時間t2に対応するもので、このパ
ルス幅信号は出力端子OUT2より取り出される。
このようにして第7図の回路においてはスレツシ
ヨールド・レベル+Vthを適当に選ぶことによ
り、比較器COMPはadパルスとbrパルスのみを検
出し、従来装置の如く分散の影響をけることな
く、時間t1,t2を検出することができる特徴があ
るものである。
しかし、ad,br信号に対して反射波5における
cr信号は十分低いレベルにあるが、主として第3
図に示される如く直接波4における第2番目のプ
ラスのdd信号は比較的高いレベルにあり、ノイズ
が重畳されたような場合など、このdd信号により
比較器COMPが誤動作してしまう。これを逃げ
ようとしてスレツシヨールド・レベル+Vthのレ
ベルを上げるとad,br信号に対してマージンが少
なくなり、動作が不安定となる。
cr信号は十分低いレベルにあるが、主として第3
図に示される如く直接波4における第2番目のプ
ラスのdd信号は比較的高いレベルにあり、ノイズ
が重畳されたような場合など、このdd信号により
比較器COMPが誤動作してしまう。これを逃げ
ようとしてスレツシヨールド・レベル+Vthのレ
ベルを上げるとad,br信号に対してマージンが少
なくなり、動作が不安定となる。
本考案はこのような問題点を解決する為になさ
れたもので、dd信号により比較器COMPが誤動
作してもt2信号に影響を及ぼすことのない磁歪信
号検出回路を提供することを目的としたものであ
る。
れたもので、dd信号により比較器COMPが誤動
作してもt2信号に影響を及ぼすことのない磁歪信
号検出回路を提供することを目的としたものであ
る。
本考案は上記の問題点を解決する為にt1信号を
利用して所定の時間だけ、t2信号発生回路にマス
クをかけるようにしたものである。以下、本考案
の実施例について説明する。
利用して所定の時間だけ、t2信号発生回路にマス
クをかけるようにしたものである。以下、本考案
の実施例について説明する。
第1図は本考案に係る検出回路の一実施例の接
続図である。第1図において、3は第4図で説明
した検出コイル、COMPは比較器で、検出コイ
ル3から比較器COMPまでの間は第7図と全く
同一であるので、この間の回路についてはその動
作を含めて再説明は省略する。
続図である。第1図において、3は第4図で説明
した検出コイル、COMPは比較器で、検出コイ
ル3から比較器COMPまでの間は第7図と全く
同一であるので、この間の回路についてはその動
作を含めて再説明は省略する。
FF1,FF2はエツジ・トリガ型のフリツプ・
フロツプ、DLは抵抗素子R3とコンデンサC及
びダイオードDよりなる遅れ回路である。フリツ
プ・フロツプFF1とFF2のセツト端子Sは駆動
パルスの印加端子2に接続され、両クロツク端子
Cは比較器COMPの出力端子に接続されている。
FF1のQ端子は出力端子OUTに接続されると共
に、遅れ回路DLを介してFF2のデータ入力端子
Dに接続され、FF2のQ端子は出力端子OUT2
に接続されている。FF1のデータ入力端子Dと
リセツト端子R,FF2のリセツト端子Rは共に
共通電位点に接続されている。
フロツプ、DLは抵抗素子R3とコンデンサC及
びダイオードDよりなる遅れ回路である。フリツ
プ・フロツプFF1とFF2のセツト端子Sは駆動
パルスの印加端子2に接続され、両クロツク端子
Cは比較器COMPの出力端子に接続されている。
FF1のQ端子は出力端子OUTに接続されると共
に、遅れ回路DLを介してFF2のデータ入力端子
Dに接続され、FF2のQ端子は出力端子OUT2
に接続されている。FF1のデータ入力端子Dと
リセツト端子R,FF2のリセツト端子Rは共に
共通電位点に接続されている。
本考案に係る第1図回路のタイミングチヤート
を第2図に示す。この第2図を用いて第1図を説
明すると次の如くなる。第1図において、駆動パ
ルス(第2図イ)でフリツプ・フロツプFF1が
立上がり、直接波4における最初に発生するプラ
スのパルスad(第2図ロ)を検出コイル3が検出
することにより発生する比較器COMPの出力パ
ルスP1(第2図ハ)でFF1のQ出力が立下が
る(第2図ニ)。以下このQ信号は保持されて、
t1信号となる。一方、駆動パルス(第2図イ)で
フリツプ・フロツプFF2が立上がり、反射波5
が検出コイル3に加わることによりこの検出コイ
ルにおいて発生する2番目のプラスのパルスbr
(第2図ロ)により比較器COMPが出力するパル
スP2(第2図ハ)でFF1のQ出力が立ち下が
る(第2図ヘ)。以下このQ信号は保持されてt2
信号となる。
を第2図に示す。この第2図を用いて第1図を説
明すると次の如くなる。第1図において、駆動パ
ルス(第2図イ)でフリツプ・フロツプFF1が
立上がり、直接波4における最初に発生するプラ
スのパルスad(第2図ロ)を検出コイル3が検出
することにより発生する比較器COMPの出力パ
ルスP1(第2図ハ)でFF1のQ出力が立下が
る(第2図ニ)。以下このQ信号は保持されて、
t1信号となる。一方、駆動パルス(第2図イ)で
フリツプ・フロツプFF2が立上がり、反射波5
が検出コイル3に加わることによりこの検出コイ
ルにおいて発生する2番目のプラスのパルスbr
(第2図ロ)により比較器COMPが出力するパル
スP2(第2図ハ)でFF1のQ出力が立ち下が
る(第2図ヘ)。以下このQ信号は保持されてt2
信号となる。
ここで、フリツプ・フロツプFF1のQ出力端
子は遅れ回路DLを介してFF2のD入力端子に接
続されている。これにより、第2図ホの如くFF
2のD入力にはFF1の出力の変化が遅れて加え
られ、FF2はt1からその遅れ時間だけマスクを
かけられたことになる。その結果、検出コイル3
において直接波4における2番目に発生するプラ
スのパルス出力ddが高いレベルになり、これを比
較器COMPが第2図ハのP1′で示されるように
検出したとしても、フリツプ・フロツプFF2が
反転することはなく、その結果第2図ヘの如く時
間t2の検出に影響されることはない。このように
して検出された時間t1,t2に対応したパルス幅信
号を基にして図外の演算回路によつて(t1−
t2)/(t1+t2)の演算を行なうことにより、検
出コイル3の無次元位置を検出することができ
る。
子は遅れ回路DLを介してFF2のD入力端子に接
続されている。これにより、第2図ホの如くFF
2のD入力にはFF1の出力の変化が遅れて加え
られ、FF2はt1からその遅れ時間だけマスクを
かけられたことになる。その結果、検出コイル3
において直接波4における2番目に発生するプラ
スのパルス出力ddが高いレベルになり、これを比
較器COMPが第2図ハのP1′で示されるように
検出したとしても、フリツプ・フロツプFF2が
反転することはなく、その結果第2図ヘの如く時
間t2の検出に影響されることはない。このように
して検出された時間t1,t2に対応したパルス幅信
号を基にして図外の演算回路によつて(t1−
t2)/(t1+t2)の演算を行なうことにより、検
出コイル3の無次元位置を検出することができ
る。
以上説明したように、本考案においては分散の
影響を受けずに、しかも直接波における第2番目
のプラスのdd波号が比較的高いレベルにあり、ノ
イズが重畳されたような場合でもこのdd波により
フリツプ・フロツプFF2が誤動作することはな
い。その結果、比較器COMPのスレツシヨール
ド・レベル+Vthのレベルを下げて十分なマージ
ンをとることができ、動作が安定したものとな
る。また、第7図で示した同日出願の装置よりフ
リツプ・フロツプを1個省略することができ、安
価で、しかも信頼性の高い磁歪信号検出回路を得
ることができる。
影響を受けずに、しかも直接波における第2番目
のプラスのdd波号が比較的高いレベルにあり、ノ
イズが重畳されたような場合でもこのdd波により
フリツプ・フロツプFF2が誤動作することはな
い。その結果、比較器COMPのスレツシヨール
ド・レベル+Vthのレベルを下げて十分なマージ
ンをとることができ、動作が安定したものとな
る。また、第7図で示した同日出願の装置よりフ
リツプ・フロツプを1個省略することができ、安
価で、しかも信頼性の高い磁歪信号検出回路を得
ることができる。
第1図は本考案に係る磁歪信号検出回路の一実
施例の接続図、第2図は第1図のタイミングチヤ
ート、第3図は第1図の動作を説明する為の波形
図、第4図は磁歪信号検出回路の動作原理を説明
する為の図、第5図は第4図の動作を説明する為
の図、第6図は従来装置の動作を説明する為の波
形図、第7図は本考案を説明する為の磁歪信号検
出回路の回路図、第8図は第7図のタイミングチ
ヤートである。 1……磁歪線、2……駆動コイル、3……検出
コイル、4……直接波、5……反射波、COMP
……比較器、FF1,FF2……フリツプ・フロツ
プ、DL……遅れ回路。
施例の接続図、第2図は第1図のタイミングチヤ
ート、第3図は第1図の動作を説明する為の波形
図、第4図は磁歪信号検出回路の動作原理を説明
する為の図、第5図は第4図の動作を説明する為
の図、第6図は従来装置の動作を説明する為の波
形図、第7図は本考案を説明する為の磁歪信号検
出回路の回路図、第8図は第7図のタイミングチ
ヤートである。 1……磁歪線、2……駆動コイル、3……検出
コイル、4……直接波、5……反射波、COMP
……比較器、FF1,FF2……フリツプ・フロツ
プ、DL……遅れ回路。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 その長さ方向に移動可能なように検出コイルが
配置された磁歪線を有し、前記磁歪線の一端に駆
動パルスを与えることにより発生する縦弾性波が
磁歪線を伝播し前記検出コイルに直接到達するま
での時間t1と磁歪線の開放端部で反射して検出コ
イルに到達するまでの時間t2を前記検出コイルを
用いて検出するようにした磁歪信号検出回路にお
いて、 直接波が検出コイルに加わることによりこの検
出コイルにおいて最初に発生するプラスのパルス
出力adと、反射波が検出コイルに加わることによ
りこの検出コイルにおいて発生する2番目のプラ
スのパルスbrとを一定のスレツシヨールド・レベ
ルと比較する比較器、駆動パルスによりセツトさ
れクロツク入力として前記比較器の出力が与えら
れる第1、第2のフリツプ・フロツプ、及び第1
のフリツプ・フロツプの出力端子と第2のフリツ
プ・フロツプのデータ入力端子との間に接続され
た遅れ回路を設け、前記第1、第2のフリツプ・
フロツプの出力端より前記時間t1,t2に対応した
信号を検出するようにしたことを特徴とする磁歪
信号検出回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14969186U JPH0425617Y2 (ja) | 1986-09-30 | 1986-09-30 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14969186U JPH0425617Y2 (ja) | 1986-09-30 | 1986-09-30 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6355110U JPS6355110U (ja) | 1988-04-13 |
| JPH0425617Y2 true JPH0425617Y2 (ja) | 1992-06-19 |
Family
ID=31065140
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14969186U Expired JPH0425617Y2 (ja) | 1986-09-30 | 1986-09-30 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0425617Y2 (ja) |
-
1986
- 1986-09-30 JP JP14969186U patent/JPH0425617Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6355110U (ja) | 1988-04-13 |
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