JPH0527020Y2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0527020Y2
JPH0527020Y2 JP12726387U JP12726387U JPH0527020Y2 JP H0527020 Y2 JPH0527020 Y2 JP H0527020Y2 JP 12726387 U JP12726387 U JP 12726387U JP 12726387 U JP12726387 U JP 12726387U JP H0527020 Y2 JPH0527020 Y2 JP H0527020Y2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
radiation
gain
energy
pulse
window
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP12726387U
Other languages
English (en)
Other versions
JPS6433680U (ja
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP12726387U priority Critical patent/JPH0527020Y2/ja
Publication of JPS6433680U publication Critical patent/JPS6433680U/ja
Application granted granted Critical
Publication of JPH0527020Y2 publication Critical patent/JPH0527020Y2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Description

【考案の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本考案は放射線モニタのゲイン検査回路、特に
シンチレータを用いてエネルギ別の放射線を検
出・測定する放射線モニタのエネルギ校正のため
に用いられるゲイン検査回路に関する。
[従来の技術] ラジオアイソトープを取り扱う病院,大学,研
究所などの施設、原子力施設及びその周辺施設に
おいて、環境放射線を測定するものとしてシンチ
レータを用いた放射線モニタが周知であり、これ
は蛍光体としてのシンチレータが放射線によつて
発光する現象を電気パルスとして検出することに
より、放射能汚染などの監視を行うことができる
ものである。
第3図には、このような従来の放射線モニタの
一例が示されており、例えばγ線をモニタの対象
とする場合は、NaI(Ti)などのシンチレータか
ら成る検出器10にて放射線(γ線)が検出さ
れ、これは電気パルスに変換される。この電気パ
ルスは光電子増倍管などのパルス増幅器12に供
給され、ここで所定の増幅度で増幅され、その後
にエネルギ弁別回路14に出力される。
このエネルギ弁別回路14は、γ線のエネルギ
レベルを弁別し、γ線だけの電気パルスを計数率
計16に出力する。従つて、計数率計16ではγ
線の秒単位当たり(cps)に計数をカウントし、
その計数率は指示計(メータ)18に表示され
る。
[考案が解決しようとする問題点] このような従来の放射線モニタでは、測定対象
となる放射線のエネルギ特性を考慮した良好な測
定を行うために、検出器10で得られた電気パル
スは各種の増幅器にて増幅されており、前記例で
はパルス増幅器12がこれに該当する。
そして、前記エネルギ弁別回路14はエネルギ
の弁別をパルス波高値により行つているので、パ
ルス増幅器12のゲインを常に一定に保ち、ゲイ
ン変動を厳しく抑える必要がある。
そこで、従来ではゲイン変動による誤差をなく
すために、測定する前に放射線源(基準線源)を
用いてゲインが正しく設定されているか否かの確
認をしており、これによりエネルギの校正が行わ
れることになる。
このゲインの確認は、従来では137Csの基準線
源から出力されるγ線スペクトルを、多重波高分
析器(MCA)などにてパルス波高値の微分曲線
を求める方法、あるいは波高弁別器による積分曲
線を求める方法により行われている。
しかしながら、前者の方法では、多重波高分析
器自体が高価な装置であり、また回路構成が複雑
となり、持ち運んで使用する場合などでは不便と
なるし、後者の方法では、測定に多大の時間がか
かるという問題があつた。
なお、このような問題を解決するものとして、
本出願人は実開昭62−84778に示される考案を提
案している。
[考案の目的] 本考案は前記従来の問題点に鑑みなされたもの
であり、その目的は、簡単な回路構成によりゲイ
ン確認・調整が迅速にできる放射線モニタのゲイ
ン検査回路を提供することにある。
[問題点を解決するための手段] 前記目的を達成するために、本考案は、シンチ
レータを用いて放射線を検出する放射線モニタの
ゲイン検査回路において、基準線源のエネルギピ
ークを中心として所定エネルギ幅の放射線を検出
するウインドウ及びこのウインドウの両側に等し
いエネルギ幅で異なるエネルギ領域の放射線を検
出するウインドウが設けられた3個の波高分析器
と、この各波高分析器にて得られたパルスをそれ
ぞれ計数する計数部と、この計数部の出力を表示
する表示器と、を備え、両側エネルギ領域の波高
分析器で得られた計数値にてゲインのずれ(正
誤)を検査することを特徴とする。
[作用] 以上の構成によれば、3個の波高分析器により
基準線源のエネルギを中心として異なるエネルギ
領域の放射線が計数され、各波高分析器にて得ら
れたパルス計数値が表示器に表示されることにな
る。従つて、両側のエネルギ領域の波高分析器で
得られた計数値を比較し、これらの値が一致する
か否かでゲインのずれ(正誤)を検査することが
可能となる。
[実施例] 以下、図面に基づいて本考案の好適な実施例を
説明する。
第1図には、本考案のゲイン検査回路を適用し
た放射線モニタが示されており、ゲインの調整は
放射線測定をする前に行われる。
本考案において特徴的なことは、基準線源のエ
ネルギピークを中心として所定エネルギだけ離れ
た両側のエネルギ領域における放射線計数値か
ら、ゲインを検査するようにしたことである。
このために、本考案ではゲイン検査回路100
が設けられ、このゲンイ検査回路100には、基
準線源のエネルギピークを中心として所定エネル
ギ幅の放射線を検出するウインドウを有する波高
分析器22と、この波高分析器22のウインドウ
の両側に配置され、等しいエネルギ幅で異なるエ
ネルギ領域の放射線を検出するウインドウを有す
る2個の波高分析器20,24が設けられる。そ
して、これら波高分析器20,22,24には、
それぞれで検出されるパルスを計数する3個の計
数部26a,26b,26cが接続され、更にこ
れら計数部26には、これらから出力された計数
値を表示する表示器28が接続されている。
なお、本実施例では137Csを基準線源30
として用い、これを検出器10の検出窓前面に配
置するものとする。
従つて、前記3個の波高分析器20,22,2
4は、第2図にも示されているように、まず中心
に位置する波高分析器22を、137Csのエネルギピ
ーク662keVを中心として20keVのエネルギ幅の
ウインドウ(これをBチヤンネルとする)に設定
する。そして、波高分析器20,24は、Bチヤ
ンネルの波高分析器20の両側エネルギ領域に配
置され20keVのエネルギ幅のウインドウ(これら
を順にA,Cチヤンネルとする)に設定する。
実施例は以上の構成から成り、以下にその作用
を第2図に基づいて説明する。
基準線源30から放射されるγ線は検出器10
にて検出され、パルス信号はパルス増幅器12に
て所定の増幅が行われた後にゲイン検査回路10
0に供給される。
そうすると、3個の波高分析器20,22,2
4にてそれぞれのエネルギ領域の放射線を検出す
ることになるが、第2図に示されるように、γ線
のエネルギ分布状態はほぼ正規分布となつてお
り、Bチヤンネルの波高分析器22はエネルギピ
ーク662keV近傍の放射線を測定することとなり、
Aチヤンネル及びCチヤンネルの波高分析器2
0,24は正規分布の両袖の部分を測定すること
になる。
従つて、放射線モニタにおけるパスル増幅器1
2のゲインが正しく設定されている場合は、第2
図aに示されるように、AチヤンネルとCチヤン
ネルとで得られた計数値は同じ値(B>A=C)
となる。一方、ゲインが高い場合は、第2図bに
示されるように、Cチヤンネルで得られた計数値
がAチヤンネルで得られた計数値よりも大きくな
る(A<C)。また、ゲインが低い場合は、第2
図cに示されるように、Aチヤンネルで得られた
計数値がCチヤンネルで得られた計数値よりも大
きくなる(A>C)。
これらの計数値は、表示器28上に表示される
ので、これらの計数値表示をチエツクすることに
より、ゲインの調整状態を検査することができ
る。そして、ゲインを正しく調整する場合は、パ
ルス増幅器12に接続された調整ツマミ(図示し
ない)を回し、AチヤンネルとCチヤンネルで得
られた計数値が等しくなるように調整すればよい
ことになる。
このようにして、本考案ではゲインの調整を簡
単な回路により良好に行うことができる。
なお、前記従来例で示した実開昭62−84778の
考案には、本考案と近似した構成で基準線源のエ
ネルギピークを境目として分けられる2つのウイ
ンドウで放射線を測定し、これらの計数値の差の
値に基づいてゲインを調整する構成が示されてい
るが、本考案の2個の波高分析器を用いたものよ
りも、ゲイン調整を正確に行うことができる。
すなわち、前記γ線の正規分布において、基準
線源エネルギピーク近傍ではその計数値が極めて
大きいがその袖の部分では計数値は小さくなる。
従つて、エネルギピーク近傍の放射線を除いた部
分での計数値を比較する方が、より正確にゲイン
のずれを検出することができることになる。この
種の放射線モニタにおいては、ゲインのずれによ
る測定値の誤差が大きな問題となることから、ゲ
インのずれを正確に検出することが重要となり、
本考案によれば、比較的簡単な測定器により放射
線の正確な測定が実現される。
[考案の効果] 以上説明したように、本考案によれば、基準線
源のエネルギピークを中心としてエネルギ領域の
異なるウインドウの3個の波高分析器にて放射線
を測定し、両側のエネルギ領域における放射線計
数値から、ゲインを検査するようにしたので、簡
単な回路構成によりゲインの確認・調整が容易か
つ迅速に行うことができる。
また、3個の波高分析器で放射線を測定してい
るので、ゲインのずれを正確に求めることがで
き、放射線の監視を良好に行うことが可能とな
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本考案に係るゲイン検査回路を適用し
た放射線モニタを示す回路ブロツク図、第2図は
基準線源のエネルギ分布において各ウインドウで
測定されるエネルギ領域を示すグラフ図、第3図
は従来の放射線モニタの構成を示す回路ブロツク
図である。 10……検出器、12……パルス増幅器、14
……エネルギ弁別回路、20……波高分析器(A
チヤンネル)22……波高分析器(Bチヤンネ
ル)、24……波高分析器(Cチヤンネル)26
……計数部、28……表示部、30……基準線
源、100……ゲイン検査回路。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. シンチレータを用いて放射線を検出する放射線
    モニタのゲイン検査回路において、基準線源のエ
    ネルギピークを中心として所定エネルギ幅の放射
    線を検出するウインドウ及びこのウインドウの両
    側に等しいエネルギ幅で異なるエネルギ領域の放
    射線を検出するウインドウがそれぞれ設けられた
    3個の波高分析器と、この各波高分析器にて得ら
    れたパルスをそれぞれ計数する計数部と、この計
    数部の出力を表示する表示器と、を備え、両側エ
    ネルギ領域の波高分析器で得られた計数値にてゲ
    インのずれを検査することを特徴とする放射線モ
    ニタのゲイン検査回路。
JP12726387U 1987-08-20 1987-08-20 Expired - Lifetime JPH0527020Y2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP12726387U JPH0527020Y2 (ja) 1987-08-20 1987-08-20

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP12726387U JPH0527020Y2 (ja) 1987-08-20 1987-08-20

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS6433680U JPS6433680U (ja) 1989-03-02
JPH0527020Y2 true JPH0527020Y2 (ja) 1993-07-08

Family

ID=31379534

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP12726387U Expired - Lifetime JPH0527020Y2 (ja) 1987-08-20 1987-08-20

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0527020Y2 (ja)

Also Published As

Publication number Publication date
JPS6433680U (ja) 1989-03-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3381130A (en) Method and apparatus for counting standardization in scintillation spectrometry
US4071761A (en) Method for determining random coincidence count rate in a scintillation counter utilizing the coincidence technique
JP3709340B2 (ja) 放射線測定装置
US10031239B2 (en) Method for measuring dosage by means of a radiation detector, especially an X-radiation or gamma-radiation detector, used in the spectroscopic mode, and dosage measurement system using said method
JPH0527020Y2 (ja)
US4060728A (en) Method of measuring the disintegration rate of beta-emitting radionuclide in a liquid sample
US4631410A (en) Method and apparatus for measurement of radioactivity over an extended range
US20200075309A1 (en) Spectrometry method and device for detecting ionising radiation for the implementation thereof
JPH01134291A (ja) シンチレーション式線量率計
JPH0723876B2 (ja) 放射線分析装置
JPH0532790Y2 (ja)
Mei-Woo Determination performance of gamma spectrometry co-axial hpGE detector in Radiochemistry and Environment Group, Nuclear Malaysia
CN115575435A (zh) 一种气态流出物中放射性碘的分析方法
JP7079426B2 (ja) γ線検出装置
JPH05209965A (ja) β線核種濃度測定装置
Kearfott Performance of a well counter and a dose calibrator for quantitative positron emission tomography
JPH0426073B2 (ja)
JP2921923B2 (ja) 放射線検出器の感度校正装置
JP3585356B2 (ja) 放射線検出装置
JP2001099938A (ja) β線直読検出装置
JPH07248383A (ja) 放射線モニタ装置及び自然放射線算出方法
EP0411782B1 (en) Detecting multiple phases in liquid scintillation samples
Blust Gamma camera acceptance testing: the first quality control
JP3728220B2 (ja) 比例計数管型中性子検出器のγ線感度試験方法
Dobrin et al. Measurements of βeta ray emitters in LSC using efficiency tracing Ciemat/Nist method