JPH0426155A - 電流検出機能付トランジスタ - Google Patents
電流検出機能付トランジスタInfo
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- JPH0426155A JPH0426155A JP2130879A JP13087990A JPH0426155A JP H0426155 A JPH0426155 A JP H0426155A JP 2130879 A JP2130879 A JP 2130879A JP 13087990 A JP13087990 A JP 13087990A JP H0426155 A JPH0426155 A JP H0426155A
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Landscapes
- Bipolar Transistors (AREA)
- Bipolar Integrated Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概 要〕
本発明は、各々独立したベース領域及びエミッタ領域を
持つ2つのトランジスタ部(メイントランジスタ部とセ
ンストランジスタ部)から構成される電流検出機能付ト
ランジスタにおいて、ベース領域及びエミッタ領域を各
々独立にしたことによる利点を維持したまま、しかも単
一ベースでないことによる駆動回路の複雑化の問題を解
消するため、各ベース領域にそれぞれ分流用の抵抗を接
続し、これら抵抗により共通のベース電流を一定比に分
流して各ベース領域に与えるようにすることで、見掛は
上、ベースを単一にして、容易に駆動できるようにした
ものである。
持つ2つのトランジスタ部(メイントランジスタ部とセ
ンストランジスタ部)から構成される電流検出機能付ト
ランジスタにおいて、ベース領域及びエミッタ領域を各
々独立にしたことによる利点を維持したまま、しかも単
一ベースでないことによる駆動回路の複雑化の問題を解
消するため、各ベース領域にそれぞれ分流用の抵抗を接
続し、これら抵抗により共通のベース電流を一定比に分
流して各ベース領域に与えるようにすることで、見掛は
上、ベースを単一にして、容易に駆動できるようにした
ものである。
(産業上の利用分野〕
本発明は、主電流の大きさを検出する電流検出機能を備
えたトランジスタに関し、例えばバイポーラトランジス
タ、静電誘導トランジスタ、電界効果トランジスタ等の
各種トランジスタに適用されるものである。
えたトランジスタに関し、例えばバイポーラトランジス
タ、静電誘導トランジスタ、電界効果トランジスタ等の
各種トランジスタに適用されるものである。
従来、コレクタ領域とベース領域を共通とし、エミッタ
領域を多数設けてなるマルチエミッタ型のトランジスタ
が知られている。このようなマルチエミッタ型のトラン
ジスタに電流検出機能を持たせる場合は、上記多数のエ
ミッタ領域の中の大部分を、主電流を流すためのメイン
トランジスタ部用のエミッタとして使用し、その残りの
少数のエミッタ領域を、電流検出のためのセンストラン
ジスタ部用のエミッタとして使用していた。
領域を多数設けてなるマルチエミッタ型のトランジスタ
が知られている。このようなマルチエミッタ型のトラン
ジスタに電流検出機能を持たせる場合は、上記多数のエ
ミッタ領域の中の大部分を、主電流を流すためのメイン
トランジスタ部用のエミッタとして使用し、その残りの
少数のエミッタ領域を、電流検出のためのセンストラン
ジスタ部用のエミッタとして使用していた。
ところが、このような構成の電流検出機能付トランジス
タでは、コレクタ領域とベース領域を共通とし、エミッ
タ領域のみを別々としであるため、電流値や温度が変化
すると、エミッタ配線抵抗の影響によりメイントランジ
スタ部とセンストランジスタ部のそれぞれのベース・エ
ミッタ間電圧が変化して、それぞれに振り込まれるベー
ス電流の比が変化し、その結果、主電流と検出用電流と
の比がくずれてしまい、正確な電流検出が困難になると
いう問題があった。
タでは、コレクタ領域とベース領域を共通とし、エミッ
タ領域のみを別々としであるため、電流値や温度が変化
すると、エミッタ配線抵抗の影響によりメイントランジ
スタ部とセンストランジスタ部のそれぞれのベース・エ
ミッタ間電圧が変化して、それぞれに振り込まれるベー
ス電流の比が変化し、その結果、主電流と検出用電流と
の比がくずれてしまい、正確な電流検出が困難になると
いう問題があった。
そこで本発明者等は、メイントランジスタ部とセンスト
ランジスタ部のコレクタ領域を共通とし、かつベース領
域及びエミッタ領域を各々独立に構成して、各ベース領
域に外部回路から個々にベース電流を振り込んで電流検
出を行えるようにした電流検出機能付トランジスタを捉
案した。すなわち、このトランジスタは、第5図に示す
ように、上記2つのトランジスタ部に共通のコレクタC
を有する一方、互いに独立して設けられたメイントラン
ジスタ部用のエミッタ(メインエミッタ) EM及びセ
ンストランジスタ部用のエミッタ(センスエミッタ)E
sと、同様に互いに独立して設けられたメイントランジ
スタ部用のベース(メインベース)BM及びセンストラ
ンジスタ部用のベース(センスベース)BS とを有し
ている。
ランジスタ部のコレクタ領域を共通とし、かつベース領
域及びエミッタ領域を各々独立に構成して、各ベース領
域に外部回路から個々にベース電流を振り込んで電流検
出を行えるようにした電流検出機能付トランジスタを捉
案した。すなわち、このトランジスタは、第5図に示す
ように、上記2つのトランジスタ部に共通のコレクタC
を有する一方、互いに独立して設けられたメイントラン
ジスタ部用のエミッタ(メインエミッタ) EM及びセ
ンストランジスタ部用のエミッタ(センスエミッタ)E
sと、同様に互いに独立して設けられたメイントランジ
スタ部用のベース(メインベース)BM及びセンストラ
ンジスタ部用のベース(センスベース)BS とを有し
ている。
そして、この構成によれば、メイントランジスタ部とセ
ンストランジスタ部に各々独立したベース(メインベー
スBMとセンスベースBs)を設けているため、これら
2つのベースB、4、B、に外部の駆動回路から個々に
ベース電流IBM、185を振り込むことができる。よ
って、これらベース電流IBM、lll5の比を一定に
保っておけば、たとえ電流値や温度が変化しても、主電
流であるコレクタ電流1c (−メインエミッタ電m
ItM)と、検出用電流であるセンスエミッタ電流IE
sとの比は常に一定となる。従って、電流値や温度の変
化とは無関係に、高精度な電流検出が可能となる。
ンストランジスタ部に各々独立したベース(メインベー
スBMとセンスベースBs)を設けているため、これら
2つのベースB、4、B、に外部の駆動回路から個々に
ベース電流IBM、185を振り込むことができる。よ
って、これらベース電流IBM、lll5の比を一定に
保っておけば、たとえ電流値や温度が変化しても、主電
流であるコレクタ電流1c (−メインエミッタ電m
ItM)と、検出用電流であるセンスエミッタ電流IE
sとの比は常に一定となる。従って、電流値や温度の変
化とは無関係に、高精度な電流検出が可能となる。
上記第5図に示した電流検出機能付トランジスタでは、
2つのトランジスタ部のベース領域を独立にしているた
め、その2つのベース(メインベースBMとセンスベー
スBs)に個々にベース電流IBM、lll5を振り込
む必要があり、しかも、これら2つのベース電流111
M、IBSを常に一定比に維持しなければならない。そ
のため、このような−走化のベース電流IBM、ll1
sを各ベース領域に供給するための駆動回路が複雑にな
ってしまうという問題があった。
2つのトランジスタ部のベース領域を独立にしているた
め、その2つのベース(メインベースBMとセンスベー
スBs)に個々にベース電流IBM、lll5を振り込
む必要があり、しかも、これら2つのベース電流111
M、IBSを常に一定比に維持しなければならない。そ
のため、このような−走化のベース電流IBM、ll1
sを各ベース領域に供給するための駆動回路が複雑にな
ってしまうという問題があった。
本発明は、上記従来の問題点に鑑みてなされたものであ
り、その目的は、ベース領域及びエミッタ領域を各々独
立にしたことによる利点(すなわち、電流値や温度の変
化と無関係に高精度な電流検出が可能である点)を維持
したまま、しかもベース電流を供給するための駆動回路
を簡単に構成することのできる電流検出機能付トランジ
スタを提供することにある。
り、その目的は、ベース領域及びエミッタ領域を各々独
立にしたことによる利点(すなわち、電流値や温度の変
化と無関係に高精度な電流検出が可能である点)を維持
したまま、しかもベース電流を供給するための駆動回路
を簡単に構成することのできる電流検出機能付トランジ
スタを提供することにある。
[課題を解決するための手段]
本発明の電流検出機能付トランジスタは、主電流を流す
メイントランジスタ部と、該メイントランジスタ部に流
れる電流を検出するためのセンストランジスタ部とを備
え、該2つのトランジスタ部のコレクタ領域を共通とし
、かつベース領域及びエミッタ領域を各々独立にすると
共に、共通のベース電流を一定比に分流して各ベース領
域に与える分流用抵抗を備えたことを特徴とするもので
ある。
メイントランジスタ部と、該メイントランジスタ部に流
れる電流を検出するためのセンストランジスタ部とを備
え、該2つのトランジスタ部のコレクタ領域を共通とし
、かつベース領域及びエミッタ領域を各々独立にすると
共に、共通のベース電流を一定比に分流して各ベース領
域に与える分流用抵抗を備えたことを特徴とするもので
ある。
ここで、上記の分流用抵抗は、素子内部に内蔵されてい
るものの他、素子とは別体に外部に備えたものであって
もよい。
るものの他、素子とは別体に外部に備えたものであって
もよい。
なお、本発明は、バイポーラトランジスタにおいでのみ
ならず、静電誘導トランジスタや電界効果トランジスタ
においても実現可能であり、これら全ての場合を考えて
いるので、上記の「エミッタ」、「ベース」、「コレク
タ」という表現は、それぞれ「ソース」、「ゲート」、
「ドレイン」をも含む広い意味である。
ならず、静電誘導トランジスタや電界効果トランジスタ
においても実現可能であり、これら全ての場合を考えて
いるので、上記の「エミッタ」、「ベース」、「コレク
タ」という表現は、それぞれ「ソース」、「ゲート」、
「ドレイン」をも含む広い意味である。
外部の駆動回路から2つのトランジスタ部に供給される
共通のベース電流は、分流用抵抗によってメインベース
電流とセンスベース電流とに分流され、メインベース電
流はメイントランジスタ部に、センスベース電流はセン
ストランジスタ部に振り込まれる。この場合、各分流用
抵抗の大きさの比は常に一定なので、メインベース電流
とセンスベース電流の大きさの比も常に一定となる。従
って、駆動回路としては、メインベースとセンスベース
とに個々にベース電流を供給する必要がなくなり、見掛
は上の単一ベースにのみ共通のベース電流を供給すれば
よいので、簡単な回路構成で済むようになる。
共通のベース電流は、分流用抵抗によってメインベース
電流とセンスベース電流とに分流され、メインベース電
流はメイントランジスタ部に、センスベース電流はセン
ストランジスタ部に振り込まれる。この場合、各分流用
抵抗の大きさの比は常に一定なので、メインベース電流
とセンスベース電流の大きさの比も常に一定となる。従
って、駆動回路としては、メインベースとセンスベース
とに個々にベース電流を供給する必要がなくなり、見掛
は上の単一ベースにのみ共通のベース電流を供給すれば
よいので、簡単な回路構成で済むようになる。
しかも、上記のように見掛は上は単一ベースであるが、
実質的にはベース領域及びエミッタ領域が各々独立した
構成であるため、その動作原理は第5図に示した電流検
出機能付トランジスタと同等であり、従って電流値や温
度の変化と無関係に高精度な電流検出が可能となる。
実質的にはベース領域及びエミッタ領域が各々独立した
構成であるため、その動作原理は第5図に示した電流検
出機能付トランジスタと同等であり、従って電流値や温
度の変化と無関係に高精度な電流検出が可能となる。
以下、本発明の実施例について、図面を参照しながら説
明する。
明する。
第1図は本発明の第1の実施例に係る電流検出機能付バ
イポーラトランジスタの断面構成図であり、第2図は同
トランジスタを回路記号を用いて示した模式図である。
イポーラトランジスタの断面構成図であり、第2図は同
トランジスタを回路記号を用いて示した模式図である。
本実施例のトランジスタは、第1図に示すように、共通
のコレクタ領域となるn型半導体基板1の表面部の所定
領域に、各ベース領域となる2つのp型拡散領域2.3
が互いに分離して形成され、更にこれらp型拡散領域2
.3内の所定領域には、各エミッタ領域となるn゛型拡
散領域4.5がそれぞれ形成されている。そして、以上
の半導体領域の表面がシリコン酸化膜(Si02膜)等
の酸化膜6で覆われており、その上の所定領域には、ポ
リシコンからなるベース電流分流用の2つの抵抗RII
M、RIISが形成されている。
のコレクタ領域となるn型半導体基板1の表面部の所定
領域に、各ベース領域となる2つのp型拡散領域2.3
が互いに分離して形成され、更にこれらp型拡散領域2
.3内の所定領域には、各エミッタ領域となるn゛型拡
散領域4.5がそれぞれ形成されている。そして、以上
の半導体領域の表面がシリコン酸化膜(Si02膜)等
の酸化膜6で覆われており、その上の所定領域には、ポ
リシコンからなるベース電流分流用の2つの抵抗RII
M、RIISが形成されている。
更に、p型拡散領域2.3上からそれぞれ抵抗RIIM
、RBS上にかけてと、n゛型拡散領域4.5上とに、
酸化膜6に形成された各窓を介し、アルミニウム等でで
きた電極7a、7bと70.7dがそれぞれ形成される
と共に、抵抗RaM上からもう1つの抵抗RIIS上に
かけて、上記と同様にアルミニウム等でできた電極7e
が形成されている。
、RBS上にかけてと、n゛型拡散領域4.5上とに、
酸化膜6に形成された各窓を介し、アルミニウム等でで
きた電極7a、7bと70.7dがそれぞれ形成される
と共に、抵抗RaM上からもう1つの抵抗RIIS上に
かけて、上記と同様にアルミニウム等でできた電極7e
が形成されている。
また、n型基板1の裏面には、その全面に電極8が形成
されている。
されている。
以上の構成により、n型基板1、p型拡散領域2、n゛
型拡散領域4をそれぞれコレクタ領域、ベース領域、エ
ミッタ領域とするnpn型のメイントランジスタ部T、
と、n型基板1、p型拡散領域3、n゛型拡散領域5を
それぞれコレクタ領域、ベース領域、エミッタ領域とす
るnpn型のセンストランジスタ部Tsとが得られてい
る。すなわち、メイントランジスタ部TM とセンスト
ランジスタ部Ts とは、コレクタ領域を共通とし、か
つベース領域及びエミッタ領域を各々独立とした構成で
ある。しかも、2つのトランジスタ部TMTsの各ベー
ス領域(p型拡散領域2.3)にはそれぞれベース電流
分流用の抵抗RIIM、RIISの一端が接続され、そ
の他端が共通のベース電極7eに接続された構成となっ
ている。
型拡散領域4をそれぞれコレクタ領域、ベース領域、エ
ミッタ領域とするnpn型のメイントランジスタ部T、
と、n型基板1、p型拡散領域3、n゛型拡散領域5を
それぞれコレクタ領域、ベース領域、エミッタ領域とす
るnpn型のセンストランジスタ部Tsとが得られてい
る。すなわち、メイントランジスタ部TM とセンスト
ランジスタ部Ts とは、コレクタ領域を共通とし、か
つベース領域及びエミッタ領域を各々独立とした構成で
ある。しかも、2つのトランジスタ部TMTsの各ベー
ス領域(p型拡散領域2.3)にはそれぞれベース電流
分流用の抵抗RIIM、RIISの一端が接続され、そ
の他端が共通のベース電極7eに接続された構成となっ
ている。
このことを第2図に基づいて述べれば、コレクタCは2
つのトランジスタ部TM、TSに共通のコレクタであり
、一方、エミッタはメイントランジスタ部TM用のエミ
ッタ(メインエミッタ)EMとセンストランジスタ部T
s用のエミッタ(センスエミッタ)E、としてそれぞれ
独立に設けられ、また、ベースは互いに独立したベース
領域がらそれぞれ延びた2つの抵抗RIIM、R[lS
の一端を共通としてなる、見掛は上の単一ベースBとな
っている。
つのトランジスタ部TM、TSに共通のコレクタであり
、一方、エミッタはメイントランジスタ部TM用のエミ
ッタ(メインエミッタ)EMとセンストランジスタ部T
s用のエミッタ(センスエミッタ)E、としてそれぞれ
独立に設けられ、また、ベースは互いに独立したベース
領域がらそれぞれ延びた2つの抵抗RIIM、R[lS
の一端を共通としてなる、見掛は上の単一ベースBとな
っている。
なお、ベース電流分流用の抵抗R□、R11sは、R□
(RBSとなるように設定し、かつ、トランジスタ部T
M 、Tsのそれぞれ固有のベース・エミッタ間抵抗を
RIIE%、 RIE′ とすると、RI]E(R11
M、RIIE’(R□となるように設定するものとする
。
(RBSとなるように設定し、かつ、トランジスタ部T
M 、Tsのそれぞれ固有のベース・エミッタ間抵抗を
RIIE%、 RIE′ とすると、RI]E(R11
M、RIIE’(R□となるように設定するものとする
。
ここで、RIIMとRBSの大きさや比率は、それらの
レイアウト寸法(幅、長さ、厚さ、形状等)を決めるこ
とにより、適宜設定可能である。或いは、予め同寸法の
多数の基本抵抗を形成しでおき、これらを直列又は並列
に適宜接続することにより、所望の大きさ及び比率のR
11M、RIISを得るようにすることもできる。
レイアウト寸法(幅、長さ、厚さ、形状等)を決めるこ
とにより、適宜設定可能である。或いは、予め同寸法の
多数の基本抵抗を形成しでおき、これらを直列又は並列
に適宜接続することにより、所望の大きさ及び比率のR
11M、RIISを得るようにすることもできる。
上記構成からなるトランジスタにおいては、外部の駆動
回路からベースBに振り込まれた共通のベース電流IB
が、抵抗RIIM、RIIsによって2つの電流IBM
、I ms (I IIM) r l1s)に分流され
、電流11Mはメインベース電流としてメイントランジ
スタ部TMのベース領域に、電流111Sはセンスベー
ス電流としてセンストランジスタ部Tsのベース領域に
、それぞれ振り込まれる。一方、共通のコレクタCには
全体のコレクタ電流ICが流れ、また、メインエミッタ
EMにはメインベース電流rl?lに応じたエミッタ電
流(メインエミッタ電流)TENが流れ、センスエミッ
タE、にはセンスベース電流Itsに応じた微小なエミ
ッタ電流(センスエミッタ電流)Itsが流れる。
回路からベースBに振り込まれた共通のベース電流IB
が、抵抗RIIM、RIIsによって2つの電流IBM
、I ms (I IIM) r l1s)に分流され
、電流11Mはメインベース電流としてメイントランジ
スタ部TMのベース領域に、電流111Sはセンスベー
ス電流としてセンストランジスタ部Tsのベース領域に
、それぞれ振り込まれる。一方、共通のコレクタCには
全体のコレクタ電流ICが流れ、また、メインエミッタ
EMにはメインベース電流rl?lに応じたエミッタ電
流(メインエミッタ電流)TENが流れ、センスエミッ
タE、にはセンスベース電流Itsに応じた微小なエミ
ッタ電流(センスエミッタ電流)Itsが流れる。
この場合、2つの抵抗RIIM、R11Sを形成してい
るポリシリコン抵抗は温度係数を持っているが、抵抗R
RM、RBSは同一のポリシリコン抵抗で形成されてい
るので、これらの抵抗値の比は温度変化とは無関係に一
定となる。このように抵抗RBM。
るポリシリコン抵抗は温度係数を持っているが、抵抗R
RM、RBSは同一のポリシリコン抵抗で形成されてい
るので、これらの抵抗値の比は温度変化とは無関係に一
定となる。このように抵抗RBM。
RBSの大きさの比が常に一定となるので、メインベー
ス電流IBMとセンスベース電流IBSの大きさの比も
常に一定となる。よって、外部の駆動回路から見掛は上
の単一ベースBに供給される共通のベース電流Imが一
定であれば、2つのベース電流IRHz I@Sの大
きさ自体も常に一定となる。従って、上記の駆動回路と
しては、第5図に示した従来のトランジスタのようにメ
インベースB。とセンスベースBsとに個々に一定比の
ベース電流IBM、IISを供給しなければならないと
いう面倒がなくなり、見掛は上の単一ベースBにのみ共
通のベース電流1++を供給すればよいので、非常に簡
単な回路構成で済むようになる。
ス電流IBMとセンスベース電流IBSの大きさの比も
常に一定となる。よって、外部の駆動回路から見掛は上
の単一ベースBに供給される共通のベース電流Imが一
定であれば、2つのベース電流IRHz I@Sの大
きさ自体も常に一定となる。従って、上記の駆動回路と
しては、第5図に示した従来のトランジスタのようにメ
インベースB。とセンスベースBsとに個々に一定比の
ベース電流IBM、IISを供給しなければならないと
いう面倒がなくなり、見掛は上の単一ベースBにのみ共
通のベース電流1++を供給すればよいので、非常に簡
単な回路構成で済むようになる。
しかも、上記のように見掛は上は単一ベースBであるが
、実質的にはベース領域(P型拡散領域2.3)及びエ
ミッタ領域(n”型拡散領域4.5)が各々独立した構
成であるため、その動作原理は第5図に示した従来のト
ランジスタと同等であり、電流値や温度の変化とは無関
係に高精度な電流検出が可能となる。すなわち、分流用
抵抗RIM、RBSの比が一定に保たれている限り、た
とえ電流値や温度が変化しても、主電流であるコレクタ
電流Ic (ζIts)と、検出用電流であるセンスエ
ミッタ電流rtsとの比を常に一定に維持することがで
きるので、このセンスエミッタ電流IESの測定値に基
づきコレクタ電流Tcの大きさを常に正確に検出するこ
とができる。
、実質的にはベース領域(P型拡散領域2.3)及びエ
ミッタ領域(n”型拡散領域4.5)が各々独立した構
成であるため、その動作原理は第5図に示した従来のト
ランジスタと同等であり、電流値や温度の変化とは無関
係に高精度な電流検出が可能となる。すなわち、分流用
抵抗RIM、RBSの比が一定に保たれている限り、た
とえ電流値や温度が変化しても、主電流であるコレクタ
電流Ic (ζIts)と、検出用電流であるセンスエ
ミッタ電流rtsとの比を常に一定に維持することがで
きるので、このセンスエミッタ電流IESの測定値に基
づきコレクタ電流Tcの大きさを常に正確に検出するこ
とができる。
次に、第3図は、本発明の第2の実施例に係る電流検出
機能付バイポーラトランジスタの断面構成図である。
機能付バイポーラトランジスタの断面構成図である。
本実施例のトランジスタは、各半導体領域の導電型を第
1図のものと逆転させてpnp型トランジスタの構成と
し、かつ分流用抵抗R□、RISとして拡散抵抗を用い
たものである。
1図のものと逆転させてpnp型トランジスタの構成と
し、かつ分流用抵抗R□、RISとして拡散抵抗を用い
たものである。
すなわち、第3図に明らかなように、共通のコレクタ領
域となるp型半導体基板11の表面部の所定領域に、各
ベース領域となる2つのn型拡散領域12.13が互い
に分離して形成され、更にこれらn型拡散領域12.1
3内の所定領域には、各エミッタ領域となるp゛型拡散
碩域14.15がそれぞれ形成されている。更に、p型
基板11の表面部の所定領域には、n型拡散領域からな
るベース電流分流用の2つの抵抗RIM、RBSが形成
されている。これら2つの抵抗RIIN、RIISの大
きさと比は、第1の実施例におけるポリシリコン抵抗の
場合と同様に設定可能である。そして、以上の半導体領
域の表面が酸化膜16で覆われ、ここに形成された善意
を介し、n型拡散領域I2.13上からそれぞれ抵抗R
IM、Rss上にかけてと、p゛型拡散領域14.15
上と、2つの抵抗RIIM、RBSの接続部上とに、そ
れぞれ電極17a、17bと17c、17dと17eが
形成されると共に、p型基板11の裏面の全面に電極1
8が形成されている。
域となるp型半導体基板11の表面部の所定領域に、各
ベース領域となる2つのn型拡散領域12.13が互い
に分離して形成され、更にこれらn型拡散領域12.1
3内の所定領域には、各エミッタ領域となるp゛型拡散
碩域14.15がそれぞれ形成されている。更に、p型
基板11の表面部の所定領域には、n型拡散領域からな
るベース電流分流用の2つの抵抗RIM、RBSが形成
されている。これら2つの抵抗RIIN、RIISの大
きさと比は、第1の実施例におけるポリシリコン抵抗の
場合と同様に設定可能である。そして、以上の半導体領
域の表面が酸化膜16で覆われ、ここに形成された善意
を介し、n型拡散領域I2.13上からそれぞれ抵抗R
IM、Rss上にかけてと、p゛型拡散領域14.15
上と、2つの抵抗RIIM、RBSの接続部上とに、そ
れぞれ電極17a、17bと17c、17dと17eが
形成されると共に、p型基板11の裏面の全面に電極1
8が形成されている。
以上の構成により、p型基板11、n型拡散領域12、
P゛型拡散領域14をそれぞれコレクタ領域、ベース領
域、エミッタ領域とするpnp型のメイントランジスタ
部TMと、p型基板11、n型拡散領域13、p゛型拡
散領域15をそれぞれコレクタ領域、ベース領域、エミ
ッタ領域とするPnp型のセンストランジスタ部Tsと
が得られており、第1の実施例と同様に、2つのトラン
ジスタ部TI4、Tsは、コレクタ領域を共通とし、ベ
ース領域及びエミッタ領域を各々独立としている。そし
て、2つのトランジスタ部TM、Tsの各ベース領域(
n型拡散領域12.13)にはそれぞれ抵抗RIIM、
RIISの一端が接続され、その他端が共通のベース電
極17eに接続された構成となっている。
P゛型拡散領域14をそれぞれコレクタ領域、ベース領
域、エミッタ領域とするpnp型のメイントランジスタ
部TMと、p型基板11、n型拡散領域13、p゛型拡
散領域15をそれぞれコレクタ領域、ベース領域、エミ
ッタ領域とするPnp型のセンストランジスタ部Tsと
が得られており、第1の実施例と同様に、2つのトラン
ジスタ部TI4、Tsは、コレクタ領域を共通とし、ベ
ース領域及びエミッタ領域を各々独立としている。そし
て、2つのトランジスタ部TM、Tsの各ベース領域(
n型拡散領域12.13)にはそれぞれ抵抗RIIM、
RIISの一端が接続され、その他端が共通のベース電
極17eに接続された構成となっている。
以上の構成からなる本実施例のトランジスタを回路記号
を用いて示せば、コレクタ電流及びエミッタ電流の流れ
る方向が逆転することの他は、第2図と同じになる。従
って、本実施例においても、第1の実施例と同様に、電
流値や温度の変化と無関係に高精度な電流検出を行うこ
とができ、しかもベース電流を供給するための駆動回路
を非常に簡単に構成することができる。
を用いて示せば、コレクタ電流及びエミッタ電流の流れ
る方向が逆転することの他は、第2図と同じになる。従
って、本実施例においても、第1の実施例と同様に、電
流値や温度の変化と無関係に高精度な電流検出を行うこ
とができ、しかもベース電流を供給するための駆動回路
を非常に簡単に構成することができる。
なお、本実施例のように半導体領域内に不純物拡散で抵
抗を形成する場合は、これによって生じる寄生素子が本
来のトランジスタ特性に悪影響を与えないように、導電
型等を考慮して形成することが望ましい。
抗を形成する場合は、これによって生じる寄生素子が本
来のトランジスタ特性に悪影響を与えないように、導電
型等を考慮して形成することが望ましい。
次に、本発明の電流検出機能付トランジスタの適用例と
して、このトランジスタ自体を過電流から保護するため
の過電流保護回路の一例を第4図に示す。なお、ここで
は、電流検出機能付トランジスタとして、上述した第1
の実施例のトランジスタを使用する。
して、このトランジスタ自体を過電流から保護するため
の過電流保護回路の一例を第4図に示す。なお、ここで
は、電流検出機能付トランジスタとして、上述した第1
の実施例のトランジスタを使用する。
同図に示すように、電流検出機能付トランジスタTのコ
レクタCは負荷21を介して直流電源22のプラス側に
接続され、メインエミッタE9は共通端子23を介して
直流電源22のマイナス側に接続されており、また、セ
ンスエミッタEsは電流検出用の抵抗R8を介して共通
端子23に接続されている。更に、見掛は上の単一ベー
スBには、トランジスタ駆動回路24から出力された共
通のベース電流1.が振り込まれるようになっている。
レクタCは負荷21を介して直流電源22のプラス側に
接続され、メインエミッタE9は共通端子23を介して
直流電源22のマイナス側に接続されており、また、セ
ンスエミッタEsは電流検出用の抵抗R8を介して共通
端子23に接続されている。更に、見掛は上の単一ベー
スBには、トランジスタ駆動回路24から出力された共
通のベース電流1.が振り込まれるようになっている。
また、センスエミッタEsに接続された電流検出用の抵
抗RSの両端に生ずる電圧は直流増幅器25に入力され
、ここで増幅して得られた出力電圧は基準電圧源260
基準電圧V REFと共に判断制御回路27に入力され
る。そして、この判断制御回路27の判断結果に応じた
出力電圧が、上記トランジスタ駆動回路24の制御入力
端子Sに制御信号として供給されるようになっている。
抗RSの両端に生ずる電圧は直流増幅器25に入力され
、ここで増幅して得られた出力電圧は基準電圧源260
基準電圧V REFと共に判断制御回路27に入力され
る。そして、この判断制御回路27の判断結果に応じた
出力電圧が、上記トランジスタ駆動回路24の制御入力
端子Sに制御信号として供給されるようになっている。
上記構成からなる過電流保護回路の具体的な動作を、以
下に説明する。
下に説明する。
まず、トランジスタ駆動回路24の駆動入力端子dに駆
動信号が入力されると、トランジスタ駆動回路24はト
ランジスタTの見掛は上のベースBに一定のベース電流
1.を供給する。すると、このベース電流I、は2つの
抵抗RIIM、RISによって2つのベース電流111
M、IBSに分流されて、それぞれ各トランジスタ部’
rs 、TSのそれぞれのベース領域(第1図参照)に
振り込まれる。その結果、トランジスタTが導通状態と
なり、主電流であるコレクタ電流ICが負荷21を介し
て流れる。この時、電流検出用の抵抗Rsにも微小なセ
ンスエミッタ電流IESが流れることにより、抵抗Rs
の両端にはコレクタ電流1cの大きさに正確に比例した
電圧が生じる。この電圧は、直流増幅器25で一定倍に
増幅される。
動信号が入力されると、トランジスタ駆動回路24はト
ランジスタTの見掛は上のベースBに一定のベース電流
1.を供給する。すると、このベース電流I、は2つの
抵抗RIIM、RISによって2つのベース電流111
M、IBSに分流されて、それぞれ各トランジスタ部’
rs 、TSのそれぞれのベース領域(第1図参照)に
振り込まれる。その結果、トランジスタTが導通状態と
なり、主電流であるコレクタ電流ICが負荷21を介し
て流れる。この時、電流検出用の抵抗Rsにも微小なセ
ンスエミッタ電流IESが流れることにより、抵抗Rs
の両端にはコレクタ電流1cの大きさに正確に比例した
電圧が生じる。この電圧は、直流増幅器25で一定倍に
増幅される。
直流増幅器25の出力電圧は判断制御回路27に入力さ
れ、基準電圧V R[Fと比較される。もし、何らかの
原因により負荷21が短絡してコレクタ電流ICが過大
になり、直流増幅器25の出力電圧が基準電圧V RE
Fよりも高くなると、判断制御回路27がトランジスタ
Tへのベース電流IIlの供給を減少させる。このよう
な負帰還ループにより、トランジスタT、負荷21及び
直流電源22が過電流から保護される。
れ、基準電圧V R[Fと比較される。もし、何らかの
原因により負荷21が短絡してコレクタ電流ICが過大
になり、直流増幅器25の出力電圧が基準電圧V RE
Fよりも高くなると、判断制御回路27がトランジスタ
Tへのベース電流IIlの供給を減少させる。このよう
な負帰還ループにより、トランジスタT、負荷21及び
直流電源22が過電流から保護される。
なお、前述した各実施例では、ベース電流分流用の抵抗
R!l、4−. Rvlsを素子内部に作り込んだ場合
を示したが、勿論、これらの抵抗を素子外部に設けるよ
うにしてもよい。ただ腰素子内部に形成する場合の方が
、2つの抵抗を同一材料を用いて同一プロセスで形成す
ることができるので、2つの抵抗に互いに同一の温度係
数を容易に持たせ1ことが可能となり、よって、これら
の抵抗にょ−て分流して得られる2つのベース電流r1
M、■8の大きさの比を、より精度良く一定に保つこと
力できる。なお、素子内部に抵抗を作り込むため3手段
としては、前述した各実施例で示したものC限定される
ことはなく、2つの抵抗の比率を一双に維持でき、かつ
トランジスタの特性に悪影響番与えないものであれば、
どのようなものであっ了もよい。
R!l、4−. Rvlsを素子内部に作り込んだ場合
を示したが、勿論、これらの抵抗を素子外部に設けるよ
うにしてもよい。ただ腰素子内部に形成する場合の方が
、2つの抵抗を同一材料を用いて同一プロセスで形成す
ることができるので、2つの抵抗に互いに同一の温度係
数を容易に持たせ1ことが可能となり、よって、これら
の抵抗にょ−て分流して得られる2つのベース電流r1
M、■8の大きさの比を、より精度良く一定に保つこと
力できる。なお、素子内部に抵抗を作り込むため3手段
としては、前述した各実施例で示したものC限定される
ことはなく、2つの抵抗の比率を一双に維持でき、かつ
トランジスタの特性に悪影響番与えないものであれば、
どのようなものであっ了もよい。
また、本発明は、バイポーラトランジスタ以名にも、靜
を誘導トランジスタや電界効果トランジスタ等、各種ト
ランジスタに適用可能である。
を誘導トランジスタや電界効果トランジスタ等、各種ト
ランジスタに適用可能である。
本発明によれば、従来のように2つのベース(メインベ
ースとセンスベース)に個々にベース電流を供給する必
要がなくなり、見掛は上の単一ベースにのみ共通のベー
ス電流を供給すればよいので、ベース電流供給のための
駆動回路を非常に簡単に構成することができる。
ースとセンスベース)に個々にベース電流を供給する必
要がなくなり、見掛は上の単一ベースにのみ共通のベー
ス電流を供給すればよいので、ベース電流供給のための
駆動回路を非常に簡単に構成することができる。
しかも、上記のように見掛は上は単一ベースであるが、
実質的には、ベース電流分流用の抵抗によってメインベ
ース電流とセンスベース電流に一定比で分流され、各ベ
ース領域にそれぞれ供給されることになるので、その動
作原理は2つのベース及び2つのエミッタを備えた従来
の電流検出機能付トランジスタと同等であり、従って電
流値や温度の変化と無関係に高精度な電流検出を実現す
ることができる。
実質的には、ベース電流分流用の抵抗によってメインベ
ース電流とセンスベース電流に一定比で分流され、各ベ
ース領域にそれぞれ供給されることになるので、その動
作原理は2つのベース及び2つのエミッタを備えた従来
の電流検出機能付トランジスタと同等であり、従って電
流値や温度の変化と無関係に高精度な電流検出を実現す
ることができる。
第1図は本発明の第1の実施例に係る電流検出機能付バ
イポーラトランジスタの断面構成図、第2図は第1図の
トランジスタを回路記号を用いて示した模式図、 第3図は本発明の第2の実施例に係る電流検出機能付バ
イポーラトランジスタの断面構成図、第4図は本発明の
第1の実施例のトランジスタを用いた過電流保護回路の
一例を示すブロック図、第5図は従来の電流検出機能付
バイポーラトランジスタの断面構成図である。 ■ ・ ・ 2.3 4、5 11 ・ ・ 12、1 14、 I Tn ・ Ts ・ C・ ・ B ・ ・ E9 ・ Es ・ RIIN\ ・n型半導体基Fi(コレクタ領域)、・・・p型拡散
領域(ベース領域)、 ・・・n゛型拡散領域(エミッタ領域)、・p型半導体
基板(コレクタ領域)、 3・・・n型拡散領域(ベース領域)、5・・・p゛型
拡散領域(エミッタ領域)・・メイントランジスタ部、 ・・センストランジスタ部、 ・コレクタ、 ・ベース、 ・・メインエミッタ、 ・・センスエミッタ、 RIIS・・・分流用抵抗。
イポーラトランジスタの断面構成図、第2図は第1図の
トランジスタを回路記号を用いて示した模式図、 第3図は本発明の第2の実施例に係る電流検出機能付バ
イポーラトランジスタの断面構成図、第4図は本発明の
第1の実施例のトランジスタを用いた過電流保護回路の
一例を示すブロック図、第5図は従来の電流検出機能付
バイポーラトランジスタの断面構成図である。 ■ ・ ・ 2.3 4、5 11 ・ ・ 12、1 14、 I Tn ・ Ts ・ C・ ・ B ・ ・ E9 ・ Es ・ RIIN\ ・n型半導体基Fi(コレクタ領域)、・・・p型拡散
領域(ベース領域)、 ・・・n゛型拡散領域(エミッタ領域)、・p型半導体
基板(コレクタ領域)、 3・・・n型拡散領域(ベース領域)、5・・・p゛型
拡散領域(エミッタ領域)・・メイントランジスタ部、 ・・センストランジスタ部、 ・コレクタ、 ・ベース、 ・・メインエミッタ、 ・・センスエミッタ、 RIIS・・・分流用抵抗。
Claims (1)
- 主電流を流すメイントランジスタ部と、該メイントラ
ンジスタ部に流れる電流を検出するためのセンストラン
ジスタ部とを備え、該2つのトランジスタ部のコレクタ
領域を共通とし、かつベース領域及びエミッタ領域を各
々独立にすると共に、共通のベース電流を一定比に分流
して各ベース領域に与える分流用抵抗を備えたことを特
徴とする電流検出機能付トランジスタ。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2130879A JPH0426155A (ja) | 1990-05-21 | 1990-05-21 | 電流検出機能付トランジスタ |
| US07/532,573 US5023693A (en) | 1989-06-06 | 1990-06-04 | Transistor with current sensing function |
| DE4017992A DE4017992A1 (de) | 1989-06-06 | 1990-06-05 | Transistor mit strommessfunktion |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2130879A JPH0426155A (ja) | 1990-05-21 | 1990-05-21 | 電流検出機能付トランジスタ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0426155A true JPH0426155A (ja) | 1992-01-29 |
Family
ID=15044831
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2130879A Pending JPH0426155A (ja) | 1989-06-06 | 1990-05-21 | 電流検出機能付トランジスタ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0426155A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0515422U (ja) * | 1991-08-07 | 1993-02-26 | 株式会社東海理化電機製作所 | 温度検出端子付バイポーラトランジスタ |
| KR100323008B1 (ko) * | 1998-01-13 | 2002-02-02 | 다니구찌 이찌로오, 기타오카 다카시 | 반도체 장치 및 그의 제조 방법 |
-
1990
- 1990-05-21 JP JP2130879A patent/JPH0426155A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0515422U (ja) * | 1991-08-07 | 1993-02-26 | 株式会社東海理化電機製作所 | 温度検出端子付バイポーラトランジスタ |
| KR100323008B1 (ko) * | 1998-01-13 | 2002-02-02 | 다니구찌 이찌로오, 기타오카 다카시 | 반도체 장치 및 그의 제조 방법 |
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