JPH0426514B2 - - Google Patents
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- JPH0426514B2 JPH0426514B2 JP60180344A JP18034485A JPH0426514B2 JP H0426514 B2 JPH0426514 B2 JP H0426514B2 JP 60180344 A JP60180344 A JP 60180344A JP 18034485 A JP18034485 A JP 18034485A JP H0426514 B2 JPH0426514 B2 JP H0426514B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- scanning line
- runs
- holes
- input
- Prior art date
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- Image Analysis (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、テレビジヨンカメラ等の映像信号か
ら画像内に存在する物体の個数及び穴数を計数す
る方式に関するものである。
ら画像内に存在する物体の個数及び穴数を計数す
る方式に関するものである。
最近、製品の自動検査やロボツトの視覚装置等
に画像処理技術が使われてきているが、高速に物
体の個数・穴数を計数することが大切な画像処理
技術の1つとなつている。
に画像処理技術が使われてきているが、高速に物
体の個数・穴数を計数することが大切な画像処理
技術の1つとなつている。
たとえば、プレス打ち抜き部品のように高速に
大量生産される製品を画像処理で自動検査するに
は、1画面に多数の製品をまとめて写して高速に
個数を計数する必要がある。このとき同時に、プ
レスで打ち抜くべき穴があかなかつたり隣接した
穴がつながつてしまうなどの不良を検出するた
め、1画面中の貫通穴の総数を計数する。1個の
製品に存在すべき貫通穴の数は既知なので、画面
中の製品個数から存在すべき貫通穴の総数が算出
でき、この値と穴数計数結果が一致しないとき不
良品があると判定する。このような場合には、物
体の個数の計数と同時に穴数の計数も必要にな
る。
大量生産される製品を画像処理で自動検査するに
は、1画面に多数の製品をまとめて写して高速に
個数を計数する必要がある。このとき同時に、プ
レスで打ち抜くべき穴があかなかつたり隣接した
穴がつながつてしまうなどの不良を検出するた
め、1画面中の貫通穴の総数を計数する。1個の
製品に存在すべき貫通穴の数は既知なので、画面
中の製品個数から存在すべき貫通穴の総数が算出
でき、この値と穴数計数結果が一致しないとき不
良品があると判定する。このような場合には、物
体の個数の計数と同時に穴数の計数も必要にな
る。
物体の個数及び穴数を計数する機能は、計算機
のソフトウエアで実現することができるが、処理
速度が遅いという問題がある。また処理速度を高
めるためハードウエアによる計数方式が提案され
ているが、物体に穴があつた場合、誤つた計数を
するという問題がある。たとえば、第1図に示す
ように各画素において4近傍のラプラシアンLを
とり、ラプラシアンLが零より小さいときは−
1、零のときは零、零より大きいときは+1と
し、その総和を4で割つた値を物体の個数とする
方法であるが、第1図bに示すように物体に穴が
1つ存在する場合は上記結果は零となり物体の固
数と一致しない。さらに穴の数が物体の数より多
数ある場合は、上記結果は負の値になるという欠
点がある。即ち、上記従来方法は個数の計数では
なく{(個数)−(穴数)}の計数である。
のソフトウエアで実現することができるが、処理
速度が遅いという問題がある。また処理速度を高
めるためハードウエアによる計数方式が提案され
ているが、物体に穴があつた場合、誤つた計数を
するという問題がある。たとえば、第1図に示す
ように各画素において4近傍のラプラシアンLを
とり、ラプラシアンLが零より小さいときは−
1、零のときは零、零より大きいときは+1と
し、その総和を4で割つた値を物体の個数とする
方法であるが、第1図bに示すように物体に穴が
1つ存在する場合は上記結果は零となり物体の固
数と一致しない。さらに穴の数が物体の数より多
数ある場合は、上記結果は負の値になるという欠
点がある。即ち、上記従来方法は個数の計数では
なく{(個数)−(穴数)}の計数である。
また穴があると誤つた計数をするので前処理と
して穴を埋める方法が提案されているが、ハード
ウエア処理を行なつても1画面につき1回の走査
では実現できず、複数回の走査が必要となり、処
理速度の点で適用できないという問題がある。
して穴を埋める方法が提案されているが、ハード
ウエア処理を行なつても1画面につき1回の走査
では実現できず、複数回の走査が必要となり、処
理速度の点で適用できないという問題がある。
従つて、本発明の目的は、上記欠点をなくし、
非常に簡単な処理で高速に画像内の物体の個数及
び穴数を数え上げることができる個数・穴数計数
方式を提供することにある。
非常に簡単な処理で高速に画像内の物体の個数及
び穴数を数え上げることができる個数・穴数計数
方式を提供することにある。
以下、図面に従つて本発明を詳細に説明する。
第2図は、本発明の原理を説明するための画像
信号波形の1例である。同図中aは3個の物体を
含みそのうち1個に穴が1つ存在するような入力
画像を2値化した波形、bは現走査線と前走査線
の論理積をとつた波形、cは前走査線において
“1”のつながりである1つのランが現走査線に
おいて2つに分れたとき、後に位置するランを示
し、記憶回路に記憶するための波形、dはcで検
出したランが次の走査においてつながつているか
否かを判定するために前走査線の情報を読み出し
た波形、eは前走査線における1つのランが現走
査線において2つに分れた時、前に位置するラン
の情報として記憶回路に記憶するために1画素分
前に再生される波形、fはd同様の波形、gは前
走査線における2つのランが現走査線において1
つになつたとき出力される波形、hはdの波形と
fの波形さらにgの波形の3つの論理積をとつた
波形を、それぞれ示すものである。なお同図中破
線は2値化波形と対比するために記入したもので
あり信号は“0”である。
信号波形の1例である。同図中aは3個の物体を
含みそのうち1個に穴が1つ存在するような入力
画像を2値化した波形、bは現走査線と前走査線
の論理積をとつた波形、cは前走査線において
“1”のつながりである1つのランが現走査線に
おいて2つに分れたとき、後に位置するランを示
し、記憶回路に記憶するための波形、dはcで検
出したランが次の走査においてつながつているか
否かを判定するために前走査線の情報を読み出し
た波形、eは前走査線における1つのランが現走
査線において2つに分れた時、前に位置するラン
の情報として記憶回路に記憶するために1画素分
前に再生される波形、fはd同様の波形、gは前
走査線における2つのランが現走査線において1
つになつたとき出力される波形、hはdの波形と
fの波形さらにgの波形の3つの論理積をとつた
波形を、それぞれ示すものである。なお同図中破
線は2値化波形と対比するために記入したもので
あり信号は“0”である。
第3図および第4図は本発明の1実施例の回路
図である。
図である。
第3図において、1は画像を入力するカメラ、
2は背景を“0”とし物体を“1”とする2値化
回路、3は1走査線分のシフトレジスタ、4a,
4bは2ビツト分のシフトレジスタ、5は各入力
の論理積をとるアンド回路、6は第4図で詳細に
説明する穴検出回路、7a,7b,7cはそれぞ
れ入力が“0”から“1”に変化するときカウン
トアツプし16ビツト出力する計数回路、8は各入
力をx,y,zとするとき(x−y+z)なる演
算を行う演算回路、9は入力画像より同期信号を
分離する同期信号分離回路、10は貫通穴のある
複数の物体が置かれたパレツトをカメラの下方を
経由して順送するパレツト搬送装置を、それぞれ
示すものである。
2は背景を“0”とし物体を“1”とする2値化
回路、3は1走査線分のシフトレジスタ、4a,
4bは2ビツト分のシフトレジスタ、5は各入力
の論理積をとるアンド回路、6は第4図で詳細に
説明する穴検出回路、7a,7b,7cはそれぞ
れ入力が“0”から“1”に変化するときカウン
トアツプし16ビツト出力する計数回路、8は各入
力をx,y,zとするとき(x−y+z)なる演
算を行う演算回路、9は入力画像より同期信号を
分離する同期信号分離回路、10は貫通穴のある
複数の物体が置かれたパレツトをカメラの下方を
経由して順送するパレツト搬送装置を、それぞれ
示すものである。
第4図は第3図の6に示した穴検出回路の1例
を示すもので、61,71はi1端子が“1”でi2
端子が“1”から“0”に変化したとき“1”を
出力し、i1端子が“0”であるときは常に“0”
を出力するフリツプフロツプ回路、62a,62
b,72,73は各入力の論理積をとるアンド回
路、63a,63bは各入力の論理和をとるオア
回路、64a,64b,64cは入力の反転をす
るノツト回路、65a,65b,65cは入力が
“0”から“1”に変つた時点から一定時間のパ
ルスを出力するワンシヨツト回路、66a,66
bはs端子が“0”のときには端子i1の入力が端
子o1に出力され端子i2の入力が端子o2に出力さ
れ、s端子が“1”のときには端子i1の入力が端
子o2に出力され端子i2の入力が端子o1に出力され
るセレクト回路、67は入力が“0”から“1”
に変化したとき出力が反転する2進カウンタ回
路、68a,68bは入力が“0”から“1”に
変つたときカウントアツプし10ビツト出力する計
数回路、69a,69bはs端子が“0”のとき
にはio端子の入力がo端子に出力されi端子はハ
イ,インピーダンスとなり、s端子が“1”のと
きにはi端子の入力がio端子に出力されo端子は
ハイ,インピーダンスとなるようなスリーステー
トの入出力切替回路、70a,70bは1走査線
分の情報が記憶できる記憶回路を、それぞれ示す
ものである。6−2の回路構成は6−1とまつた
く同様である。ただし、6−1中に示した入力
I1,I2,I3をそれぞれ(2)側に接続した回路が
6−2である。
を示すもので、61,71はi1端子が“1”でi2
端子が“1”から“0”に変化したとき“1”を
出力し、i1端子が“0”であるときは常に“0”
を出力するフリツプフロツプ回路、62a,62
b,72,73は各入力の論理積をとるアンド回
路、63a,63bは各入力の論理和をとるオア
回路、64a,64b,64cは入力の反転をす
るノツト回路、65a,65b,65cは入力が
“0”から“1”に変つた時点から一定時間のパ
ルスを出力するワンシヨツト回路、66a,66
bはs端子が“0”のときには端子i1の入力が端
子o1に出力され端子i2の入力が端子o2に出力さ
れ、s端子が“1”のときには端子i1の入力が端
子o2に出力され端子i2の入力が端子o1に出力され
るセレクト回路、67は入力が“0”から“1”
に変化したとき出力が反転する2進カウンタ回
路、68a,68bは入力が“0”から“1”に
変つたときカウントアツプし10ビツト出力する計
数回路、69a,69bはs端子が“0”のとき
にはio端子の入力がo端子に出力されi端子はハ
イ,インピーダンスとなり、s端子が“1”のと
きにはi端子の入力がio端子に出力されo端子は
ハイ,インピーダンスとなるようなスリーステー
トの入出力切替回路、70a,70bは1走査線
分の情報が記憶できる記憶回路を、それぞれ示す
ものである。6−2の回路構成は6−1とまつた
く同様である。ただし、6−1中に示した入力
I1,I2,I3をそれぞれ(2)側に接続した回路が
6−2である。
かかる構成によつて、以下に説明する如くし
て、1画面の入力が終了した後即座に物体の個数
及び穴数が計数できる。
て、1画面の入力が終了した後即座に物体の個数
及び穴数が計数できる。
第3図において、パレツト搬送装置10の1つ
のパレツトの画像をカメラ1でとらえる。このと
きパレツト上には複数の物体が置かれており、貫
通穴のある物体も含まれている。カメラ1からの
入力信号を2値化回路2により背景を論理“0”
とし物体を論理“1”とするように2値化し、シ
フトレジスタ3,4a,4bにより2×2の局所
領域画像を抽出し、この2×2局所領域画像のう
ちの現走査線上の1画素(同図面中のC画素)を
計数回路7aに入力し、“0”から“1”への変
化点を計数することにより、1画面内のランの数
を計数する。第2図aの例では、計数値xは31と
なる。また前走査線(第3図中のA画素)と現走
査線(第3図中のC画素)の論理積をアンド回路
5で求めて計数回路7bに入力し、同様に“0”
から“1”への変化点を計数する。第2図bにカ
ウンタ7bへの入力波形を示すが、この場合カウ
ンタ7bの計数値yは29となる。この計数値xと
yの差(31−29=2)は、従来の技術でも求めら
れる{(物体の個数)−(穴数)}であるが、この値
に以下で詳細に説明する穴検出回路6の出力を計
数回路7cで計数した値即ち穴数を加える事によ
り、物体の個数を算出できる。即ち、演算回路8
の出力N1が物体の個数であり、計数回路7cの
出力N2が穴数である。
のパレツトの画像をカメラ1でとらえる。このと
きパレツト上には複数の物体が置かれており、貫
通穴のある物体も含まれている。カメラ1からの
入力信号を2値化回路2により背景を論理“0”
とし物体を論理“1”とするように2値化し、シ
フトレジスタ3,4a,4bにより2×2の局所
領域画像を抽出し、この2×2局所領域画像のう
ちの現走査線上の1画素(同図面中のC画素)を
計数回路7aに入力し、“0”から“1”への変
化点を計数することにより、1画面内のランの数
を計数する。第2図aの例では、計数値xは31と
なる。また前走査線(第3図中のA画素)と現走
査線(第3図中のC画素)の論理積をアンド回路
5で求めて計数回路7bに入力し、同様に“0”
から“1”への変化点を計数する。第2図bにカ
ウンタ7bへの入力波形を示すが、この場合カウ
ンタ7bの計数値yは29となる。この計数値xと
yの差(31−29=2)は、従来の技術でも求めら
れる{(物体の個数)−(穴数)}であるが、この値
に以下で詳細に説明する穴検出回路6の出力を計
数回路7cで計数した値即ち穴数を加える事によ
り、物体の個数を算出できる。即ち、演算回路8
の出力N1が物体の個数であり、計数回路7cの
出力N2が穴数である。
以下に、穴の検出方法について説明する。
第5図に穴を検出する原理を示す。即ち、図中
a部に示すように前走査線における1つのランが
現走査線において2つのランに分ける位置をとら
え、次の走査でそれぞれのランが図中b,c部に
示すように、つながつていくことを確認し、それ
ぞれつながつてきた2つのランが図中d部に示す
ように1つのランになつた時、つながつてきた2
つのランに挟まれてきた論理“0”の領域はもは
や背景と連結することはありえないので穴と認識
し1パルス出力する。これを実現するための1回
路例が第4図であり、回路6−1は第5図中に示
すa部をとらえb部を確認する回路、回路6−2
は第5図中に示すa部をとらえc部を確認する回
路、回路6−3は第5図中に示すd部をとらえる
回路、回路6−4は上記3つの出力の論理積をと
るアンド回路である。このアンド回路の出力パル
ス数が、穴の数と一致する。
a部に示すように前走査線における1つのランが
現走査線において2つのランに分ける位置をとら
え、次の走査でそれぞれのランが図中b,c部に
示すように、つながつていくことを確認し、それ
ぞれつながつてきた2つのランが図中d部に示す
ように1つのランになつた時、つながつてきた2
つのランに挟まれてきた論理“0”の領域はもは
や背景と連結することはありえないので穴と認識
し1パルス出力する。これを実現するための1回
路例が第4図であり、回路6−1は第5図中に示
すa部をとらえb部を確認する回路、回路6−2
は第5図中に示すa部をとらえc部を確認する回
路、回路6−3は第5図中に示すd部をとらえる
回路、回路6−4は上記3つの出力の論理積をと
るアンド回路である。このアンド回路の出力パル
ス数が、穴の数と一致する。
以下に、更に詳細にその動作を第4図をもとに
説明する。
説明する。
フリツプ,フロツプ61とアンド回路62aの
構成により、前走査線の1つのランが現走査線に
おいて2つ以上に分れたとき、出力が“1”とな
る。第2図の例では同図cのd走査線に示すよう
にパルスが出力される。この情報は、オア回路6
3bをとおり現走査線が奇数ラインのときは入出
力切替回路69aをとおり記憶回路70aに記憶
され、現走査線が偶数ラインのときは、入出力切
替回路69bをとおり記憶回路70bに記憶され
る。このときのアドレスは現走査線のC画素の情
報をもとに、ノツト回路64b,セレクト回路6
6b,計数回路68bあるいは68aにより決め
られ、書き込み信号は、現走査線のD画素の情報
から、ノツト回路64a,ワンシヨツト回路65
a,オア回路63a,セレクト回路66aによつ
てランの終りの画素のとき1パルス出力される。
即ち、第2図cのd走査線の例ではアドレス1,
2,4には“0”が書き込まれ、アドレス3,5
には“1”が書き込まれる。この記憶された情報
は次の走査のとき該当する位置で読み出される。
即ち、奇数ラインのときは記憶回路70bから読
み出され、偶数ラインのときは記憶回路70aか
ら読み出され、入出力切替回路69bあるいは6
9aをとおりアンド回路62bの入力となる。読
み出されるアドレスは前走査線のA画素の情報を
もとにセレクト回路66b,計数回路68a(あ
るいは68b)により決められ、読み出し信号は
前走査線のA画素の情報をもとにワンシヨツト回
路65b,セレクト回路66aにより前走査線の
ランの始まりの画素のときに1パルス出力され
る。第2図dにその状態を示すが、走査線eにお
いて第1,2,4番目のランでは“0”であるの
で出力なし、第3,5番目のランでは“1”であ
るので前走査線のランの始まりから“1”が出力
され、現走査線と前走査線において共にランが存
在しなくなるまで“1”が保たれる。この出力が
アンド回路62bの一方の入力で他方の入力は現
走査線のC画素の情報である。従つて、アンド回
路62bの出力は先にとらえたランが現走査線に
おいてつながつているとき“1”、つながつてい
ないとき“0”となる。この情報は再びオア回路
63b,入出力切替回路69aあるいは69bをと
おり記憶回路70aあるいは70bに記憶され
る。以下同様に繰返すことにより、第2図dのf
以下の走査線に示すように同図cで抽出されたラ
ンとつながつてきている場合“1”となり、つな
がりが切れると“0”となる。これにより穴が始
まり後方に位置するランのつながりが検出でき
る。
構成により、前走査線の1つのランが現走査線に
おいて2つ以上に分れたとき、出力が“1”とな
る。第2図の例では同図cのd走査線に示すよう
にパルスが出力される。この情報は、オア回路6
3bをとおり現走査線が奇数ラインのときは入出
力切替回路69aをとおり記憶回路70aに記憶
され、現走査線が偶数ラインのときは、入出力切
替回路69bをとおり記憶回路70bに記憶され
る。このときのアドレスは現走査線のC画素の情
報をもとに、ノツト回路64b,セレクト回路6
6b,計数回路68bあるいは68aにより決め
られ、書き込み信号は、現走査線のD画素の情報
から、ノツト回路64a,ワンシヨツト回路65
a,オア回路63a,セレクト回路66aによつ
てランの終りの画素のとき1パルス出力される。
即ち、第2図cのd走査線の例ではアドレス1,
2,4には“0”が書き込まれ、アドレス3,5
には“1”が書き込まれる。この記憶された情報
は次の走査のとき該当する位置で読み出される。
即ち、奇数ラインのときは記憶回路70bから読
み出され、偶数ラインのときは記憶回路70aか
ら読み出され、入出力切替回路69bあるいは6
9aをとおりアンド回路62bの入力となる。読
み出されるアドレスは前走査線のA画素の情報を
もとにセレクト回路66b,計数回路68a(あ
るいは68b)により決められ、読み出し信号は
前走査線のA画素の情報をもとにワンシヨツト回
路65b,セレクト回路66aにより前走査線の
ランの始まりの画素のときに1パルス出力され
る。第2図dにその状態を示すが、走査線eにお
いて第1,2,4番目のランでは“0”であるの
で出力なし、第3,5番目のランでは“1”であ
るので前走査線のランの始まりから“1”が出力
され、現走査線と前走査線において共にランが存
在しなくなるまで“1”が保たれる。この出力が
アンド回路62bの一方の入力で他方の入力は現
走査線のC画素の情報である。従つて、アンド回
路62bの出力は先にとらえたランが現走査線に
おいてつながつているとき“1”、つながつてい
ないとき“0”となる。この情報は再びオア回路
63b,入出力切替回路69aあるいは69bをと
おり記憶回路70aあるいは70bに記憶され
る。以下同様に繰返すことにより、第2図dのf
以下の走査線に示すように同図cで抽出されたラ
ンとつながつてきている場合“1”となり、つな
がりが切れると“0”となる。これにより穴が始
まり後方に位置するランのつながりが検出でき
る。
次に穴が始まり前方に位置するランのつながり
の検出であるが、基本的には上記の説明と同様で
ある。ただ1つ大きく異なる点は、第2図eに示
すようにランが2つに分れて穴が始まると判るの
は後方に位置しているランが現われたときであつ
て、前方のランが存在しているときは判らない。
その状態で、穴の始まりであるという情報を1つ
前のアドレスに書込まなければならない。これを
解決するに、回路6−2に示すようにI1,I2の入
力を回路6−1の入力より1画素分先に再生され
るB,D画素とし、穴の始まりを1画素分先にと
らえ記憶回路のアドレスが変る前にその情報を抽
出し記憶する。I3は、このときの書き込みパルス
を生成するための入力である。第2図eのd走査
線に示すように、この場合第3番目のランの情報
をアドレス2に、第5番目の情報をアドレス4に
記憶する。即ち、アドレス1,3,5は“0”、
アドレス2,4は“1”となる。次の走査におい
て、この2,4番目のランとつながつているラン
の抽出方法は前記と全く同様であり、その出力波
形は第2図fのようになる。これにより穴が始ま
り前方に位置するランのつながりが検出できる。
の検出であるが、基本的には上記の説明と同様で
ある。ただ1つ大きく異なる点は、第2図eに示
すようにランが2つに分れて穴が始まると判るの
は後方に位置しているランが現われたときであつ
て、前方のランが存在しているときは判らない。
その状態で、穴の始まりであるという情報を1つ
前のアドレスに書込まなければならない。これを
解決するに、回路6−2に示すようにI1,I2の入
力を回路6−1の入力より1画素分先に再生され
るB,D画素とし、穴の始まりを1画素分先にと
らえ記憶回路のアドレスが変る前にその情報を抽
出し記憶する。I3は、このときの書き込みパルス
を生成するための入力である。第2図eのd走査
線に示すように、この場合第3番目のランの情報
をアドレス2に、第5番目の情報をアドレス4に
記憶する。即ち、アドレス1,3,5は“0”、
アドレス2,4は“1”となる。次の走査におい
て、この2,4番目のランとつながつているラン
の抽出方法は前記と全く同様であり、その出力波
形は第2図fのようになる。これにより穴が始ま
り前方に位置するランのつながりが検出できる。
次に穴の終りをとらえるには、回路6−3に
C,A画素を入力しフリツプ,フロツプ71とア
ンド回路72により実現できる。この出力波形は
第2図gのようになる。
C,A画素を入力しフリツプ,フロツプ71とア
ンド回路72により実現できる。この出力波形は
第2図gのようになる。
以上回路6−1,6−2,6−3の3出力を回
路6−4(アンド回路73)に入力することによ
り、回路6−4の出力は第2図hに示すように、
対象物に穴が1個存在するときは1パルス出力さ
れる。穴が複数個あるときはそれと同じ数のパル
スが出力される。
路6−4(アンド回路73)に入力することによ
り、回路6−4の出力は第2図hに示すように、
対象物に穴が1個存在するときは1パルス出力さ
れる。穴が複数個あるときはそれと同じ数のパル
スが出力される。
これにより穴数が計数でき、前述したように対
象物の個数も正確に計数できる。
象物の個数も正確に計数できる。
以上、詳細に説明したように、本発明によれ
ば、画面内に物体の個数及び穴数の計数を簡単な
処理で行い得ること、計数を高速で行い得るこ
と、計数装置のハードウエア構成を小型化できる
こと等の顕著な効果が得られる。
ば、画面内に物体の個数及び穴数の計数を簡単な
処理で行い得ること、計数を高速で行い得るこ
と、計数装置のハードウエア構成を小型化できる
こと等の顕著な効果が得られる。
第1図は従来の計数方法を説明するための説明
図、第2図は本発明の処理を説明するための説明
図、第3図は本発明の1実施例の全体回路図、第
4図は本発明の穴検出回路の1実施例の回路図、
第5図は穴の検出方法を説明するための説明図で
ある。 1…カメラ、2…2値化回路、3,4a,4b
…シフトレジスタ、5…アンド回路、6…穴検出
回路、7a,7b,7c…計数回路、8…演算回
路、9…同期信号分離回路、10…パレツト搬送
装置、61,71…フリツプ,フロツプ回路、6
2a,62b,72,73…アンド回路、63
a,63b…オア回路、64a,64b,64c
…ノツト回路、65a,65b,65c…ワンシ
ヨツト回路、66a,66b…セレクト回路、6
7…2進カウンタ回路、68a,68b…計数回
路、69a,96b…入出力切替回路、70a,
70b…記憶回路。
図、第2図は本発明の処理を説明するための説明
図、第3図は本発明の1実施例の全体回路図、第
4図は本発明の穴検出回路の1実施例の回路図、
第5図は穴の検出方法を説明するための説明図で
ある。 1…カメラ、2…2値化回路、3,4a,4b
…シフトレジスタ、5…アンド回路、6…穴検出
回路、7a,7b,7c…計数回路、8…演算回
路、9…同期信号分離回路、10…パレツト搬送
装置、61,71…フリツプ,フロツプ回路、6
2a,62b,72,73…アンド回路、63
a,63b…オア回路、64a,64b,64c
…ノツト回路、65a,65b,65c…ワンシ
ヨツト回路、66a,66b…セレクト回路、6
7…2進カウンタ回路、68a,68b…計数回
路、69a,96b…入出力切替回路、70a,
70b…記憶回路。
Claims (1)
- 1 画像を走査して得られる画像信号を2値化
し、走査線上での“1”のつながりであるランの
数を1画面分計数し、同時に現走査線と前走査線
の信号の論理積をとつた結果のランの数を計数
し、更に前走査線の1つのランが、現走査線にお
いて2つのランに分れる位置を抽出し、2つに分
れたランがそれぞれ次の走査においてつながつて
いる部分を抽出し、つながつてきた2つのランが
1つのランになつたとき、穴であると認識し計数
し、以上3つの値をもとに物体の個数及び穴数を
算出することを特徴とする個数・穴数計数方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18034485A JPS6240593A (ja) | 1985-08-17 | 1985-08-17 | 個数・穴数計数方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18034485A JPS6240593A (ja) | 1985-08-17 | 1985-08-17 | 個数・穴数計数方式 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6240593A JPS6240593A (ja) | 1987-02-21 |
| JPH0426514B2 true JPH0426514B2 (ja) | 1992-05-07 |
Family
ID=16081581
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18034485A Granted JPS6240593A (ja) | 1985-08-17 | 1985-08-17 | 個数・穴数計数方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6240593A (ja) |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5962994A (ja) * | 1982-09-30 | 1984-04-10 | Matsushita Electric Works Ltd | 計数装置 |
-
1985
- 1985-08-17 JP JP18034485A patent/JPS6240593A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6240593A (ja) | 1987-02-21 |
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