JPH0426589A - 気相成長装置 - Google Patents
気相成長装置Info
- Publication number
- JPH0426589A JPH0426589A JP13239290A JP13239290A JPH0426589A JP H0426589 A JPH0426589 A JP H0426589A JP 13239290 A JP13239290 A JP 13239290A JP 13239290 A JP13239290 A JP 13239290A JP H0426589 A JPH0426589 A JP H0426589A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- substrate
- susceptor
- growth
- jigs
- vapor phase
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、気相成長技術に関し、特に縦型の気相成長装
置におけるサセプタ上への基板の載置方式に利用して好
適な技術に関する。
置におけるサセプタ上への基板の載置方式に利用して好
適な技術に関する。
[従来の技術]
従来、炉内に設置された基板上に、成長用ガスを流して
GaAsのような化合物半導体層をクロライドCVD法
により気相エピタキシャル成長させる装置として、横型
気相成長装置や、垂直バレル型気相成長装置等が使用さ
れている。
GaAsのような化合物半導体層をクロライドCVD法
により気相エピタキシャル成長させる装置として、横型
気相成長装置や、垂直バレル型気相成長装置等が使用さ
れている。
このうち、第3図には、垂直バレル型気相成長装置の一
例が示されている。すなわち、従来の垂直バレル型気相
成長装置は、円筒状耐熱容器1の中央にバレル型サセプ
タ2が垂直姿勢で配設され、回転軸3により支持されて
いる。上記サセプタ2上には多数の結晶基板4が若干上
方に向くように傾斜された状態で載置されている。原料
ガスは耐熱容器lの上に設けられたガス導入口5より導
入されて、耐熱容器lとバレル型サセプタ2との間の環
状空間を流下して耐熱容器下部に設けられた排出口6よ
り排気される。耐熱容器1の外周には冷却水のジャケッ
ト7が設けられており、その外側に高周波加熱コイル8
が配置され、サセプタ2上の基板4を均一に加熱するよ
うに構成されている。
例が示されている。すなわち、従来の垂直バレル型気相
成長装置は、円筒状耐熱容器1の中央にバレル型サセプ
タ2が垂直姿勢で配設され、回転軸3により支持されて
いる。上記サセプタ2上には多数の結晶基板4が若干上
方に向くように傾斜された状態で載置されている。原料
ガスは耐熱容器lの上に設けられたガス導入口5より導
入されて、耐熱容器lとバレル型サセプタ2との間の環
状空間を流下して耐熱容器下部に設けられた排出口6よ
り排気される。耐熱容器1の外周には冷却水のジャケッ
ト7が設けられており、その外側に高周波加熱コイル8
が配置され、サセプタ2上の基板4を均一に加熱するよ
うに構成されている。
[発明が解決しようとする課題]
上記気相成長装置においては、サセプタ2上に基板4を
設置する場合、基板を1枚ずつマガジンからサセプタ上
へ移す必要があった。従来一般に上記基板の移動は、真
空ビンセットで基板裏面を吸着して行なうことで基板表
面にダメージを与えたり、汚れが付着しないようにして
いるが、第3図のようにサセプタ2がほぼ垂直方向(傾
斜角70〜88°)に設置されている場合には、真空ビ
ンセットで基板の移動を行なうと、吸着を解除した際に
基板が落下してしまう欠点があり、基板をビンセットで
つかんで移さなくてはならなかった。
設置する場合、基板を1枚ずつマガジンからサセプタ上
へ移す必要があった。従来一般に上記基板の移動は、真
空ビンセットで基板裏面を吸着して行なうことで基板表
面にダメージを与えたり、汚れが付着しないようにして
いるが、第3図のようにサセプタ2がほぼ垂直方向(傾
斜角70〜88°)に設置されている場合には、真空ビ
ンセットで基板の移動を行なうと、吸着を解除した際に
基板が落下してしまう欠点があり、基板をビンセットで
つかんで移さなくてはならなかった。
そのため基板表面に汚れが付着したり、傷がついたりし
て、気相成長後のエピタキシャル層の表面状態を劣化さ
せる原因となっていた。
て、気相成長後のエピタキシャル層の表面状態を劣化さ
せる原因となっていた。
また、垂直バレル型気相成長装置には、第4図のように
サセプタ2の側面の基板載置部の傾斜角を60°ゆるや
かにしたものもある。このようにサセプタ側面の傾斜角
がゆるやかであると、基板を真空ビンセットでサセプタ
上に移す際に基板が落下し易いという欠点はないものの
、周囲に配置された円筒状のヒータ8から基板各部(特
に上部と下部)までの距離が異なるため、基板全体を均
一に加熱することが困難で、成長膜の均一性が損なわれ
たり、均一性を向上させようとするとヒータの構造もし
くは制御が複雑になるという欠点がある。
サセプタ2の側面の基板載置部の傾斜角を60°ゆるや
かにしたものもある。このようにサセプタ側面の傾斜角
がゆるやかであると、基板を真空ビンセットでサセプタ
上に移す際に基板が落下し易いという欠点はないものの
、周囲に配置された円筒状のヒータ8から基板各部(特
に上部と下部)までの距離が異なるため、基板全体を均
一に加熱することが困難で、成長膜の均一性が損なわれ
たり、均一性を向上させようとするとヒータの構造もし
くは制御が複雑になるという欠点がある。
本発明は、上記のような欠点を解決すべくなされたもの
で、垂直バレル型気相成長装置において、成長用基板を
サセプタから落したり基板表面に傷や汚れを付けること
なく容易にサセプタ上に載置できるような基板保持構造
を提供することにある。
で、垂直バレル型気相成長装置において、成長用基板を
サセプタから落したり基板表面に傷や汚れを付けること
なく容易にサセプタ上に載置できるような基板保持構造
を提供することにある。
[課題を解決するための手段]
上記目的を達成するため、この発明は耐熱容器内に配置
された支持部材上に載置された成長用基板を加熱手段に
より所定の温度に加熱しながらその表面へ成長用ガスを
供給して、薄膜を成長させる気相成長装置において、上
記支持部材表面に成長用基板の載置部を形成し、周縁に
鍔部を有する板状の治具を介して成長用基板を上記支持
部材の載置部に載置させるように構成した。
された支持部材上に載置された成長用基板を加熱手段に
より所定の温度に加熱しながらその表面へ成長用ガスを
供給して、薄膜を成長させる気相成長装置において、上
記支持部材表面に成長用基板の載置部を形成し、周縁に
鍔部を有する板状の治具を介して成長用基板を上記支持
部材の載置部に載置させるように構成した。
[作用]
上記した手段によれば、治具を水平に保持しておいて真
空ビンセットで成長用基板の裏面を吸着してマガジンか
ら治具に移し、基板をのせたままこの治具をサセプタの
載置部に移すことで、成長用基板をサセプタから落した
り基板表面にビンセットで傷や汚れをつけることなく基
板をサセプタ上に載置することができるようにし、これ
によって、表面状態の良好な薄膜を成長させることがで
きる。
空ビンセットで成長用基板の裏面を吸着してマガジンか
ら治具に移し、基板をのせたままこの治具をサセプタの
載置部に移すことで、成長用基板をサセプタから落した
り基板表面にビンセットで傷や汚れをつけることなく基
板をサセプタ上に載置することができるようにし、これ
によって、表面状態の良好な薄膜を成長させることがで
きる。
[実施例]
第1図には、−例として本発明を第3図に示すような気
相成長装置を構成するサセプタに適用した場合の一実施
例が示されている。
相成長装置を構成するサセプタに適用した場合の一実施
例が示されている。
すなわち、この実施例では、六角錐台形状のサセプタ2
の6つの側面に、縦方向に沿って3カ所ずつ第2図に拡
大して示すような矩形状の基板保持用治具9の載置部が
設けられており、各載置部はそれぞれ2対の突起11a
、llbと12a。
の6つの側面に、縦方向に沿って3カ所ずつ第2図に拡
大して示すような矩形状の基板保持用治具9の載置部が
設けられており、各載置部はそれぞれ2対の突起11a
、llbと12a。
12bとによって構成されている。これらの突起のうち
l 1. aとllbは互いに同一高さ位置で基板保持
用治具9の幅よりも僅かに広い間隔を有し、突起12a
と12bは互いに同一高さ位置で上記突起11a、ll
bよりも下方に設けられており、その間隔は基板保持用
治具9の幅よりも狭くなるように設定されている。
l 1. aとllbは互いに同一高さ位置で基板保持
用治具9の幅よりも僅かに広い間隔を有し、突起12a
と12bは互いに同一高さ位置で上記突起11a、ll
bよりも下方に設けられており、その間隔は基板保持用
治具9の幅よりも狭くなるように設定されている。
基板保持用治具9は、例えば石英で形成され、第2図に
示すように全体として矩形状をなし、両側部と下辺部に
各々鍔部9a、9b、9cが形成され、鍔部98〜9C
によってコの字状の枠が構成されている。
示すように全体として矩形状をなし、両側部と下辺部に
各々鍔部9a、9b、9cが形成され、鍔部98〜9C
によってコの字状の枠が構成されている。
治具9の上辺部は鍔部がなく、裏面側に向かって低くな
るようなテーパ面9dが形成されている。
るようなテーパ面9dが形成されている。
このように治具9の上辺部にテーパ面9dが形成されて
いると、基板の載置および取出しが容易になるとともに
、テーパ面9dが上方にくるようにサセプタ2上に載置
してやるとサセプタ2の表面との段差がなくなり、上方
からのガスの流れが円滑になって均一性の良い薄膜の形
成が可能となる。
いると、基板の載置および取出しが容易になるとともに
、テーパ面9dが上方にくるようにサセプタ2上に載置
してやるとサセプタ2の表面との段差がなくなり、上方
からのガスの流れが円滑になって均一性の良い薄膜の形
成が可能となる。
なお、上記基板保持用治具9は、石英製のみならず、ゲ
ラファーイト製の本体の表面をSiC等でコーティング
したものを用いてもよい。グラファイト製の治具を用い
ると石英製治具に比べて保持される基板各部の温度の均
一性が向上する。
ラファーイト製の本体の表面をSiC等でコーティング
したものを用いてもよい。グラファイト製の治具を用い
ると石英製治具に比べて保持される基板各部の温度の均
一性が向上する。
また、サセプタ2の側面の載置部を、突起によって構成
する代わりに、基板保持用治具9がはまるような浅い凹
部もしくは段差を形成することで載置部としてもよい。
する代わりに、基板保持用治具9がはまるような浅い凹
部もしくは段差を形成することで載置部としてもよい。
上記基板保持用治具9上に成長用基板を載せる際には、
基板4のオリエンテーションフラット部4aが下になる
つまり第2図の鍔部9bに接するように載置すると、サ
セプタ2上に移動するときの安定性がよくなる。
基板4のオリエンテーションフラット部4aが下になる
つまり第2図の鍔部9bに接するように載置すると、サ
セプタ2上に移動するときの安定性がよくなる。
さらに、上記実施例ではG a A sのような半導体
基板上にGaAsエピタキシャル層のような化合物半導
体層を気相成長させる装置を例にとって説明したが、そ
れに限定されるものでなく、5101Mその他の薄膜を
気相成長させる装置一般に適用することができる。
基板上にGaAsエピタキシャル層のような化合物半導
体層を気相成長させる装置を例にとって説明したが、そ
れに限定されるものでなく、5101Mその他の薄膜を
気相成長させる装置一般に適用することができる。
また、上記実施例では、サセプタが円筒状である垂直バ
レル型の気相成長装置に適用した場合について説明した
が横型の石英管内に原料ボートと成長用基板とを入れ、
原料ボート側から反応ガスを導入して基板表面にエピタ
キシャル層を成長させる横型気相成長装置における基板
の保持構造にも利用することができる。
レル型の気相成長装置に適用した場合について説明した
が横型の石英管内に原料ボートと成長用基板とを入れ、
原料ボート側から反応ガスを導入して基板表面にエピタ
キシャル層を成長させる横型気相成長装置における基板
の保持構造にも利用することができる。
[発明の効果コ
以上説明したようにこの発明は、耐熱容器内に配置され
た支持部材上に載置された成長用基板を加熱手段により
所定の温度に加熱しながらその表面へ成長用ガスを供給
して、薄膜を成長させる気相成長装置において、上記支
持部材表面には成長用基板の載置部を形成し、周縁に鍔
部を有する板状の治具を介して成長用基板を上記支持部
材の載置部に載置させるように構成したので、治具を水
平に保持しておいて真空ビンセットで成長用基板の裏面
を吸着してマガジンから治具に移し、基板をのせたまま
二の治具をサセプタの保持部に載置することで、成長用
基板をサセプタから落したり基板表面にビンセットで傷
や汚れをつけることなく基板をサセプタ上に載置するこ
とができるようになり、これによって、表面状態の良好
な薄膜が成長可能になるという効果がある。
た支持部材上に載置された成長用基板を加熱手段により
所定の温度に加熱しながらその表面へ成長用ガスを供給
して、薄膜を成長させる気相成長装置において、上記支
持部材表面には成長用基板の載置部を形成し、周縁に鍔
部を有する板状の治具を介して成長用基板を上記支持部
材の載置部に載置させるように構成したので、治具を水
平に保持しておいて真空ビンセットで成長用基板の裏面
を吸着してマガジンから治具に移し、基板をのせたまま
二の治具をサセプタの保持部に載置することで、成長用
基板をサセプタから落したり基板表面にビンセットで傷
や汚れをつけることなく基板をサセプタ上に載置するこ
とができるようになり、これによって、表面状態の良好
な薄膜が成長可能になるという効果がある。
第1図は本発明に係る気相成長装置を構成する支持台と
してのサセプタの構造の一実施例を示す斜視図、 第2図は基板保持用治具の一実施例を示す斜視図、 第3図は従来の気相成長装置の一例を示す断面正面図、 第4図は従来の気相成長装置の他の例を示す断面正面図
である。 l・・・・耐熱容器、2・・・・支持部材(サセプタ)
、4・・・・成長用基板、9・・・・基板保持用治具。 第 図 第 図 b
してのサセプタの構造の一実施例を示す斜視図、 第2図は基板保持用治具の一実施例を示す斜視図、 第3図は従来の気相成長装置の一例を示す断面正面図、 第4図は従来の気相成長装置の他の例を示す断面正面図
である。 l・・・・耐熱容器、2・・・・支持部材(サセプタ)
、4・・・・成長用基板、9・・・・基板保持用治具。 第 図 第 図 b
Claims (1)
- (1)耐熱容器内に配置された支持部材上に載置された
成長用基板を加熱手段により所定の温度に加熱しながら
その表面へ成長用ガスを供給して、薄膜を成長させる気
相成長装置において、上記支持部材表面には成長用基板
の載置部が形成され、周縁に鍔部を有する板状の治具を
介して成長用基板が上記支持部材の載置部に載置可能に
構成されてなることを特徴とする気相成長装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13239290A JPH0426589A (ja) | 1990-05-22 | 1990-05-22 | 気相成長装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13239290A JPH0426589A (ja) | 1990-05-22 | 1990-05-22 | 気相成長装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0426589A true JPH0426589A (ja) | 1992-01-29 |
Family
ID=15080315
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13239290A Pending JPH0426589A (ja) | 1990-05-22 | 1990-05-22 | 気相成長装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0426589A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2014174627A1 (ja) * | 2013-04-25 | 2014-10-30 | 株式会社島津製作所 | サンプルホルダ |
-
1990
- 1990-05-22 JP JP13239290A patent/JPH0426589A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2014174627A1 (ja) * | 2013-04-25 | 2014-10-30 | 株式会社島津製作所 | サンプルホルダ |
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