JPH042683A - ルチル単結晶の製造方法 - Google Patents
ルチル単結晶の製造方法Info
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- JPH042683A JPH042683A JP2099910A JP9991090A JPH042683A JP H042683 A JPH042683 A JP H042683A JP 2099910 A JP2099910 A JP 2099910A JP 9991090 A JP9991090 A JP 9991090A JP H042683 A JPH042683 A JP H042683A
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- GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N titanium dioxide Inorganic materials O=[Ti]=O GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 title claims abstract description 15
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Classifications
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- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C30—CRYSTAL GROWTH
- C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
- C30B29/00—Single crystals or homogeneous polycrystalline material with defined structure characterised by the material or by their shape
- C30B29/10—Inorganic compounds or compositions
- C30B29/16—Oxides
- C30B29/22—Complex oxides
- C30B29/32—Titanates; Germanates; Molybdates; Tungstates
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- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C30—CRYSTAL GROWTH
- C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
- C30B13/00—Single-crystal growth by zone-melting; Refining by zone-melting
- C30B13/34—Single-crystal growth by zone-melting; Refining by zone-melting characterised by the seed, e.g. by its crystallographic orientation
-
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-
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
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- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的コ
(産業上の利用分野)
本発明はルチル(T、02)単結晶の製造方法に関する
。
。
(従来の技術)
ルチル単結晶は高精度光学部品として注目されており、
各種の製造方法が既に提案されている。
各種の製造方法が既に提案されている。
例えば特公平2−5720号公報では、良質のルチル結
晶を得るためには融液の固化に際して1種類だけの結晶
相を晶出することの必要性を挙げ、そのためには融液か
ら結晶を成長させるに際し、結晶成長における雰囲気中
の酸素分圧を3×10−2気圧以下の範囲とすれば良い
ことを提案している。
晶を得るためには融液の固化に際して1種類だけの結晶
相を晶出することの必要性を挙げ、そのためには融液か
ら結晶を成長させるに際し、結晶成長における雰囲気中
の酸素分圧を3×10−2気圧以下の範囲とすれば良い
ことを提案している。
(発明が解決しようとする課題)
上記した従来方法を適用する時、例えばフローティング
ゾーン法を用いて、ルチル単結晶の直径が15o++n
φ程度までのものを育成する場合は、従来例として記載
された方法のみで殆んど問題はない。
ゾーン法を用いて、ルチル単結晶の直径が15o++n
φ程度までのものを育成する場合は、従来例として記載
された方法のみで殆んど問題はない。
しかし直径が15IIIIIφ以上のものの場合は、前
記従来方法では結晶を製造することができなかった。
記従来方法では結晶を製造することができなかった。
即ち、フローティングゾーン法は種子結晶と原料棒との
間を加熱して浮遊体を形成するものであるが、結晶口径
が大きくなるに伴ない、浮遊体の量か増大して重量が大
きくなる結果、表面張力では浮遊体を保持することがで
きなくなり、浮遊体が垂れ落ちてしまうためである。
間を加熱して浮遊体を形成するものであるが、結晶口径
が大きくなるに伴ない、浮遊体の量か増大して重量が大
きくなる結果、表面張力では浮遊体を保持することがで
きなくなり、浮遊体が垂れ落ちてしまうためである。
本発明は上記問題点を解決するなめになされたものであ
り、大形の結晶を得ることの可能なルチル単結晶の製造
方法を提供することを目的としている。
り、大形の結晶を得ることの可能なルチル単結晶の製造
方法を提供することを目的としている。
[発明の構成]
(課題を解決するための手段と作用)
上記目的を達成するため、本発明はルチル(T102)
単結晶をフローティングゾーン法にて製造するに際し、
結晶の成長軸方向が[001]軸であるようにした。
単結晶をフローティングゾーン法にて製造するに際し、
結晶の成長軸方向が[001]軸であるようにした。
第1図は浮遊体付近の詳細図であり、保持棒1に種子結
晶2を取付け、原料棒3との間に浮遊体4があって、こ
れが加熱された状態を示し、一部が結晶保温装置5に覆
われている。なお点線矢印は種子の[001]軸方向を
示し、実線矢印は結晶の成長方向を示す。そして結晶成
長軸の方向と種子結晶の[001]軸とのなす角は15
°までの範囲がよく、望ましくは3°以内であれば更に
よい。一方、30°以上の場合は浮遊体を保持すること
は非常に困離である。
晶2を取付け、原料棒3との間に浮遊体4があって、こ
れが加熱された状態を示し、一部が結晶保温装置5に覆
われている。なお点線矢印は種子の[001]軸方向を
示し、実線矢印は結晶の成長方向を示す。そして結晶成
長軸の方向と種子結晶の[001]軸とのなす角は15
°までの範囲がよく、望ましくは3°以内であれば更に
よい。一方、30°以上の場合は浮遊体を保持すること
は非常に困離である。
ここで種子の[001]軸を結晶の成長軸とした場合に
、浮遊体が保持し易いことは実験的な事実であって、何
故保持し易いかは明らかてはない。
、浮遊体が保持し易いことは実験的な事実であって、何
故保持し易いかは明らかてはない。
しかしながらルチルの結晶面のうち成長し易い面が(1
10)面、即ち、成長の遅い軸方向か[110]軸方向
であることと関係しているものと考えられる。即ち、[
001]軸成長の場合は(110)面ファセットは固液
界面のどこにも出現ぜす、他の軸方向で育成すると、固
液界面内に(110)ファセットか形成され、固液界面
が浮遊体を保持しにくい形状となるためと考えられる。
10)面、即ち、成長の遅い軸方向か[110]軸方向
であることと関係しているものと考えられる。即ち、[
001]軸成長の場合は(110)面ファセットは固液
界面のどこにも出現ぜす、他の軸方向で育成すると、固
液界面内に(110)ファセットか形成され、固液界面
が浮遊体を保持しにくい形状となるためと考えられる。
(実施例)
以下に実施例を説明する。
市販のT、02 (99,98%)粉末を11On/c
aの静水圧で棒状にラバープレス成形し、1400″C
の空気中て焼結した。これを回転楕円面鏡を用いた集光
フローティング法単結晶製造装置に原料として装填し、
種子結晶の軸方向を[001]軸方向とした。浮遊体の
近傍には結晶保温装置を取付けた。そして、雰囲気中の
酸素分圧を制御するために結晶室内にCO2を導入し、
21/分の流量て結晶成長終了まで流し続け、フローテ
ィングゾーン法の常法に従って結晶育成操作を行ない、
青黒色の結晶を得た。この場合の育成条件は原料棒及び
種子結晶の回転速度が逆方向に夫々25回/分であり、
結晶成長速度は3關/時間であった。得られた結晶を8
00℃、48時間空気中で焼鈍した結果、僅かに黄色を
帯びた透明な結晶体を得た。この結晶から成長方向及び
垂直方向に平行な面を持つ試料を切り出して光学研磨を
した後、偏光顕微鏡で調べた結果、歪、気泡及びサブグ
レイン組成などが検出されない、良質なルチル単結晶で
あることが判った。
aの静水圧で棒状にラバープレス成形し、1400″C
の空気中て焼結した。これを回転楕円面鏡を用いた集光
フローティング法単結晶製造装置に原料として装填し、
種子結晶の軸方向を[001]軸方向とした。浮遊体の
近傍には結晶保温装置を取付けた。そして、雰囲気中の
酸素分圧を制御するために結晶室内にCO2を導入し、
21/分の流量て結晶成長終了まで流し続け、フローテ
ィングゾーン法の常法に従って結晶育成操作を行ない、
青黒色の結晶を得た。この場合の育成条件は原料棒及び
種子結晶の回転速度が逆方向に夫々25回/分であり、
結晶成長速度は3關/時間であった。得られた結晶を8
00℃、48時間空気中で焼鈍した結果、僅かに黄色を
帯びた透明な結晶体を得た。この結晶から成長方向及び
垂直方向に平行な面を持つ試料を切り出して光学研磨を
した後、偏光顕微鏡で調べた結果、歪、気泡及びサブグ
レイン組成などが検出されない、良質なルチル単結晶で
あることが判った。
なお、種子結晶として成長方向に対し45゛となるもの
と、90°となるものを準備し、上記したのと全く同様
の操作を行なって結晶育成を試みたが、浮遊体を保持す
ることができずに垂れ落ちてしまうため、結晶を育成す
ることができなかった。
と、90°となるものを準備し、上記したのと全く同様
の操作を行なって結晶育成を試みたが、浮遊体を保持す
ることができずに垂れ落ちてしまうため、結晶を育成す
ることができなかった。
[発明の効果]
以上説明したように、本発明によればフローティングゾ
ーン法によってルチル単結晶を製造するに際し、結晶の
成長軸方向が[001]軸であるようにしたので、結晶
口径が15 nmφ以上の大きなルチル単結晶が得られ
るようになった。
ーン法によってルチル単結晶を製造するに際し、結晶の
成長軸方向が[001]軸であるようにしたので、結晶
口径が15 nmφ以上の大きなルチル単結晶が得られ
るようになった。
第1図は結晶育成に際しての浮遊体付近の詳細図である
。 1・・・保持棒 2・・・種子結晶3・・・
原料棒 4・・・浮遊体5・・・結晶保温装
置 特許出願人 秩父セメント株式会社 代理人弁理士 石 井 紀 男
。 1・・・保持棒 2・・・種子結晶3・・・
原料棒 4・・・浮遊体5・・・結晶保温装
置 特許出願人 秩父セメント株式会社 代理人弁理士 石 井 紀 男
Claims (2)
- (1)フローティングゾーン法を用いてルチル単結晶を
製造する方法におて、結晶の成長軸方向が[001]軸
であることを特徴とするルチル単結晶の製造方法。 - (2)結晶成長軸の方向と種子結晶の[001]軸との
なす角は15゜までの範囲内とすることを特徴とする請
求項1項記載のルチル単結晶の製造方法。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2099910A JPH042683A (ja) | 1990-04-16 | 1990-04-16 | ルチル単結晶の製造方法 |
| DE4112298A DE4112298A1 (de) | 1990-04-16 | 1991-04-15 | Verfahren zur herstellung eines rutil-einkristalls |
| FR9104639A FR2660940A1 (fr) | 1990-04-16 | 1991-04-16 | Procede de fabrication d'un monocristal de rutile. |
| KR1019910006103A KR950001794B1 (ko) | 1990-04-16 | 1991-04-16 | 루틸(Rutile) 단결정의 제조방법 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2099910A JPH042683A (ja) | 1990-04-16 | 1990-04-16 | ルチル単結晶の製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH042683A true JPH042683A (ja) | 1992-01-07 |
Family
ID=14259937
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2099910A Pending JPH042683A (ja) | 1990-04-16 | 1990-04-16 | ルチル単結晶の製造方法 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH042683A (ja) |
| KR (1) | KR950001794B1 (ja) |
| DE (1) | DE4112298A1 (ja) |
| FR (1) | FR2660940A1 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2005007940A1 (ja) * | 2003-07-23 | 2005-01-27 | Shin-Etsu Handotai Co.,Ltd. | シリコンウェーハの製造方法およびシリコンウェーハ |
| US7351920B2 (en) | 2002-05-22 | 2008-04-01 | Kabushiki Kaisha Toshiba | IC card and semiconductor integrated circuit device package |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61111997A (ja) * | 1984-11-05 | 1986-05-30 | Shinkosha:Kk | ルチル単結晶の製造法 |
| JPS62292699A (ja) * | 1986-06-11 | 1987-12-19 | Seiko Epson Corp | ルチル単結晶の合成方法 |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| NL104644C (ja) * | 1959-09-18 | |||
| US3650703A (en) * | 1967-09-08 | 1972-03-21 | Tyco Laboratories Inc | Method and apparatus for growing inorganic filaments, ribbon from the melt |
| US3642443A (en) * | 1968-08-19 | 1972-02-15 | Ibm | Group iii{14 v semiconductor twinned crystals and their preparation by solution growth |
| JPS61101495A (ja) * | 1984-10-24 | 1986-05-20 | Natl Inst For Res In Inorg Mater | ルチル単結晶の製造方法 |
-
1990
- 1990-04-16 JP JP2099910A patent/JPH042683A/ja active Pending
-
1991
- 1991-04-15 DE DE4112298A patent/DE4112298A1/de not_active Withdrawn
- 1991-04-16 FR FR9104639A patent/FR2660940A1/fr active Pending
- 1991-04-16 KR KR1019910006103A patent/KR950001794B1/ko not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61111997A (ja) * | 1984-11-05 | 1986-05-30 | Shinkosha:Kk | ルチル単結晶の製造法 |
| JPS62292699A (ja) * | 1986-06-11 | 1987-12-19 | Seiko Epson Corp | ルチル単結晶の合成方法 |
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|---|---|---|---|---|
| US7351920B2 (en) | 2002-05-22 | 2008-04-01 | Kabushiki Kaisha Toshiba | IC card and semiconductor integrated circuit device package |
| US7531757B2 (en) | 2002-05-22 | 2009-05-12 | Kabushiki Kaisha Toshiba | IC card and semiconductor integrated circuit device package |
| WO2005007940A1 (ja) * | 2003-07-23 | 2005-01-27 | Shin-Etsu Handotai Co.,Ltd. | シリコンウェーハの製造方法およびシリコンウェーハ |
| US7361219B2 (en) | 2003-07-23 | 2008-04-22 | Shin-Etsu Handotai Co., Ltd. | Method for producing silicon wafer and silicon wafer |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE4112298A1 (de) | 1991-10-17 |
| KR950001794B1 (ko) | 1995-03-02 |
| FR2660940A1 (fr) | 1991-10-18 |
| KR910018586A (ko) | 1991-11-30 |
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