JPH04273382A - Lsiの論理シミュレーション方式 - Google Patents
Lsiの論理シミュレーション方式Info
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- JPH04273382A JPH04273382A JP3053657A JP5365791A JPH04273382A JP H04273382 A JPH04273382 A JP H04273382A JP 3053657 A JP3053657 A JP 3053657A JP 5365791 A JP5365791 A JP 5365791A JP H04273382 A JPH04273382 A JP H04273382A
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- output
- signal
- circuit
- pin
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は複数の論理回路がトライ
ステート素子を介して共通バスにアクセスするLSI論
理回路の論理シミュレーション方式に関する。
ステート素子を介して共通バスにアクセスするLSI論
理回路の論理シミュレーション方式に関する。
【0002】
【従来の技術】近年のVLSIなどの製造技術の進歩に
ともない、1チップ上に実現できる回路の規模は飛躍的
に増大している。このため、1個のVLSI中には論理
回路に加えて外部メモリとのインターフェイス回路やバ
ス回路までも実現することが可能になっており、このよ
うなVLSIには双方向の外部入出力ピン(バスピン)
が存在する。
ともない、1チップ上に実現できる回路の規模は飛躍的
に増大している。このため、1個のVLSI中には論理
回路に加えて外部メモリとのインターフェイス回路やバ
ス回路までも実現することが可能になっており、このよ
うなVLSIには双方向の外部入出力ピン(バスピン)
が存在する。
【0003】回路設計時に論理シミュレーションを行っ
て設計を検証するが、この双方向ピンを、あるパターン
のもとでは入力と見なしたり、また別のパターンのもと
では出力と見なす処理が必要である。また、VLSI製
造後の不良品を判別するために、あらかじめテストパタ
ーンを生成したり、生成したパターンの故障検出能力を
測定するために故障シミュレーションを行う。テストパ
ターンを生成する際、双方向ピンは、検出率が向上する
ように、場合に応じて入力と見なしたり出力と見なす処
理が必要となる。
て設計を検証するが、この双方向ピンを、あるパターン
のもとでは入力と見なしたり、また別のパターンのもと
では出力と見なす処理が必要である。また、VLSI製
造後の不良品を判別するために、あらかじめテストパタ
ーンを生成したり、生成したパターンの故障検出能力を
測定するために故障シミュレーションを行う。テストパ
ターンを生成する際、双方向ピンは、検出率が向上する
ように、場合に応じて入力と見なしたり出力と見なす処
理が必要となる。
【0004】これまで、論理シミュレーションや故障シ
ミュレーション、テスト生成は大形計算機上のソフトウ
エアにより実現され処理を行っていたが、双方向ピンを
扱う場合には、その処理の特別のルーチンとして記述す
ることで対応していた。
ミュレーション、テスト生成は大形計算機上のソフトウ
エアにより実現され処理を行っていたが、双方向ピンを
扱う場合には、その処理の特別のルーチンとして記述す
ることで対応していた。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】前述したように、従来
は、双方向ピンを扱うLSI論理回路の論理シミュレー
ションには、双方向ピンを入力と見なしたり、また、出
力と見なしたりする特別のルーチンとして記述して対処
していた。
は、双方向ピンを扱うLSI論理回路の論理シミュレー
ションには、双方向ピンを入力と見なしたり、また、出
力と見なしたりする特別のルーチンとして記述して対処
していた。
【0006】しかし、近年の回路の大規模化にともない
、一回のシミュレーションに要する時間が膨大になって
きた。これに対処するために、論理シミュレーションの
専用マシンが開発されているが、ゲートレベルのシミュ
レータでは双方向ゲートをモデルとして持たないものが
ある。この場合、計算機側は双方向ピンを扱うための特
別のルーチンを追加できないので、対象回路側に双方向
ピンを対処する付加回路が必要となる。
、一回のシミュレーションに要する時間が膨大になって
きた。これに対処するために、論理シミュレーションの
専用マシンが開発されているが、ゲートレベルのシミュ
レータでは双方向ゲートをモデルとして持たないものが
ある。この場合、計算機側は双方向ピンを扱うための特
別のルーチンを追加できないので、対象回路側に双方向
ピンを対処する付加回路が必要となる。
【0007】本発明は双方向入出力素子をモデルとして
持たない論理シミュレーション上において、双方向の入
出力素子を含む論理回路の論理シミュレーションを容易
に行なうようにしたLSIの論理シミュレーション方式
をを提供することを目的とする。
持たない論理シミュレーション上において、双方向の入
出力素子を含む論理回路の論理シミュレーションを容易
に行なうようにしたLSIの論理シミュレーション方式
をを提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】前述の課題を解決するた
めに本発明が採用した手段を図1を参照して説明する。 図1は本発明の原理図である。
めに本発明が採用した手段を図1を参照して説明する。 図1は本発明の原理図である。
【0009】一つの信号線に双方向の入出力ピンを含む
ワイヤード論理がとれない複数のトライステート素子が
接続するバネ回路を含むLSI回路の論理シミュレーシ
ョン方式であって、
ワイヤード論理がとれない複数のトライステート素子が
接続するバネ回路を含むLSI回路の論理シミュレーシ
ョン方式であって、
【0010】前記トライステート素子よりのステートに
対応する信号に対する演算を行なうトライステート演算
手段1と、
対応する信号に対する演算を行なうトライステート演算
手段1と、
【0011】前記トライステート素子よりのステートに
対応する信号より、前記バス回路に接続された双方向ピ
ンの信号入出力を判定するピン入出力判定手段2と、
対応する信号より、前記バス回路に接続された双方向ピ
ンの信号入出力を判定するピン入出力判定手段2と、
【
0012】前記ピン入出力判定手段2の判定する結果に
よって、双方向ピンおよび論理回路への入出力信号をセ
レクトする入出力信号セレクト手段3と、
0012】前記ピン入出力判定手段2の判定する結果に
よって、双方向ピンおよび論理回路への入出力信号をセ
レクトする入出力信号セレクト手段3と、
【0013】
前記トライステート素子より出力されるトライステート
に対応する信号と、前記双方向ピンを介して外部回路よ
り入力されるトライステートに対応した信号とを比較し
、バスコンフリクトの発生を検出するバスコンフリクト
検出手段4と、を備え、バスコンフリクトが、双方向ピ
ンを介して外部回路より入力される信号に起因して発生
するとき、前記入力値を訂正するようにする。
前記トライステート素子より出力されるトライステート
に対応する信号と、前記双方向ピンを介して外部回路よ
り入力されるトライステートに対応した信号とを比較し
、バスコンフリクトの発生を検出するバスコンフリクト
検出手段4と、を備え、バスコンフリクトが、双方向ピ
ンを介して外部回路より入力される信号に起因して発生
するとき、前記入力値を訂正するようにする。
【0014】
【作用】トライステート演算手段1では、トライステー
ト素子よりのステートに対応する信号に対する演算を行
なう。
ト素子よりのステートに対応する信号に対する演算を行
なう。
【0015】ピン入出力判定手段2では、トライステー
ト素子よりのステートに対応する信号より、共通バスに
接続された双方向ピンの信号入出力を判定する。
ト素子よりのステートに対応する信号より、共通バスに
接続された双方向ピンの信号入出力を判定する。
【0016】入出力セレクト手段3では、ピン入出力判
定手手段2での判定結果にもとづいて、双方向ピンおよ
び論理回路への入出力信号をセレクトして出力する。
定手手段2での判定結果にもとづいて、双方向ピンおよ
び論理回路への入出力信号をセレクトして出力する。
【0017】バスコンフリクト検出手段4では、トライ
ステート素子より出力されるトライステート信号と、双
方向ピンを介して外部回路より入力されるトライステー
ト信号とを比較し、バスコンフリクトの発生を検出する
。
ステート素子より出力されるトライステート信号と、双
方向ピンを介して外部回路より入力されるトライステー
ト信号とを比較し、バスコンフリクトの発生を検出する
。
【0018】以上のように、双方向入出力素子をモデル
として持たない論理シミュレータにおいて、論理回路よ
りのトライステート信号にもとずいて双方向ピンの信号
入出力を判定させるとともに、バスコンフリクトを検出
するようにしたので、双方向の入出力素子を含む論理回
路の論理シミュレーションを容易に行なわせることがで
きる。
として持たない論理シミュレータにおいて、論理回路よ
りのトライステート信号にもとずいて双方向ピンの信号
入出力を判定させるとともに、バスコンフリクトを検出
するようにしたので、双方向の入出力素子を含む論理回
路の論理シミュレーションを容易に行なわせることがで
きる。
【0019】
【実施例】本発明の第1の実施例を図2〜4を参照して
説明する。図2は本発明の第1の実施例の構成図、図3
はモデル化のための具体的回路構成例を示す図、図4は
第1の実施例の動作説明図である。
説明する。図2は本発明の第1の実施例の構成図、図3
はモデル化のための具体的回路構成例を示す図、図4は
第1の実施例の動作説明図である。
【0020】[第1の実施例の構成]図2において、ト
ライステート演算手段1、ピン入出力判定手段2および
入出力信号セレクト手段3、およびバスコンフリクト検
出手段4については図1で説明したとおりである。
ライステート演算手段1、ピン入出力判定手段2および
入出力信号セレクト手段3、およびバスコンフリクト検
出手段4については図1で説明したとおりである。
【0021】7は論理シミュレーションを行なう対象回
路であり、7o は対象回路よりの出力を、7i は対
象回路への入力である。
路であり、7o は対象回路よりの出力を、7i は対
象回路への入力である。
【0022】対象回路7o 内の72aおよび72nは
3値状態すなわちトライステート素子(TRST)であ
り、ケート入力(a)が1のときTRST72aの出力
(f)はZ、(a)が0のときはもう一方の入力(b)
の信号値である0または1を出力する。
3値状態すなわちトライステート素子(TRST)であ
り、ケート入力(a)が1のときTRST72aの出力
(f)はZ、(a)が0のときはもう一方の入力(b)
の信号値である0または1を出力する。
【0023】9は対象回路と外部回路を接続する双方向
ピンであり、eo は双方向ピンを介して外部回路に出
力する信号を、ei は双方向ピンを介して外部回路よ
り入力される信号を示している。
ピンであり、eo は双方向ピンを介して外部回路に出
力する信号を、ei は双方向ピンを介して外部回路よ
り入力される信号を示している。
【0024】31,32および33はセレクト回路であ
り、ピン入出力判定手段2より出力される制御信号に従
って、セレクト回路に入力される信号のいづれか一方を
セレクトして出力する。
り、ピン入出力判定手段2より出力される制御信号に従
って、セレクト回路に入力される信号のいづれか一方を
セレクトして出力する。
【0025】33のセレクト回路S1に入力するei
又はトライステート素子72より出力されるZと同じ信
号である。
又はトライステート素子72より出力されるZと同じ信
号である。
【0026】[第1の実施例の動作]第1の実施例の動
作を説明する前に、具体的回路構成例によるモデル化を
図3を参照して説明する。
作を説明する前に、具体的回路構成例によるモデル化を
図3を参照して説明する。
【0027】図3はLSI論理回路内の構成例を示した
ものであり、7a,7jおよび7nは論理回路である。 各論理回路7aおよび7nよりの出力信号(b)および
(d)、入力信号(h)は、それぞれドライバ71aお
よび71nを介して、共通バス8にアクセスする。また
、各論理回路7a,7j,7nへの入力は共通バス8よ
り、入力信号(h)で示すように、直接入力される。
ものであり、7a,7jおよび7nは論理回路である。 各論理回路7aおよび7nよりの出力信号(b)および
(d)、入力信号(h)は、それぞれドライバ71aお
よび71nを介して、共通バス8にアクセスする。また
、各論理回路7a,7j,7nへの入力は共通バス8よ
り、入力信号(h)で示すように、直接入力される。
【0028】ドライバ71aおよび71nの制御入力(
a)および(c)は、図示しないバスアビータより伝送
される。
a)および(c)は、図示しないバスアビータより伝送
される。
【0029】9は双方向ピンであり、共通バス8の外部
接続端子である。
接続端子である。
【0030】制御入力信号(a)が0となるとドライバ
71aはゲートオン、すなわち、低インピーダンスとな
り、出力信号(b)を共通バス8に送出する。
71aはゲートオン、すなわち、低インピーダンスとな
り、出力信号(b)を共通バス8に送出する。
【0031】制御入力信号(a)が1となるとドライバ
71aはゲートオフ、すなわち、高インピーダンスとな
り、共通バス8よりの信号を入力信号(h)として入力
する。ただし、入力した信号(h)を回路7aが処理入
力として図示しないレジスタにリードするか否かは回路
7aが判定する。
71aはゲートオフ、すなわち、高インピーダンスとな
り、共通バス8よりの信号を入力信号(h)として入力
する。ただし、入力した信号(h)を回路7aが処理入
力として図示しないレジスタにリードするか否かは回路
7aが判定する。
【0032】図2で示した回路7o の(a)(b)(
c)および(d)は図3で示した制御信号(a)および
(c)と出力信号(b)および(d)に対応する。また
、回路7i の入力信号(h)は図3の回路7a,7j
および7nの入力信号(h)に対応する。
c)および(d)は図3で示した制御信号(a)および
(c)と出力信号(b)および(d)に対応する。また
、回路7i の入力信号(h)は図3の回路7a,7j
および7nの入力信号(h)に対応する。
【0033】トライステート素子TRST72aは、図
3で示すドライバ71aが高インピーダンスの状態をZ
に対応させた動作が行なわれる。
3で示すドライバ71aが高インピーダンスの状態をZ
に対応させた動作が行なわれる。
【0034】すなわち
(a)=0,(b)=0のとき(f)=0(a)=0,
(b)=1のとき(f)=1(a)=1,(b)=0の
とき(f)=Z(a)=1,(b)=1のとき(f)=
Zなる信号を出力するものとする。
(b)=1のとき(f)=1(a)=1,(b)=0の
とき(f)=Z(a)=1,(b)=1のとき(f)=
Zなる信号を出力するものとする。
【0035】TRST72nも同様の3状態に対応した
出力信号(g)を出力する。
出力信号(g)を出力する。
【0036】トライステート演算手段1では入力を(f
)および(g)、出力を(x)とするとき、
)および(g)、出力を(x)とするとき、
【0037
】 (f)=0,(g)=0のとき(x)=0(f)=1,
(g)=0のとき(x)=C(f)=0,(g)=1の
とき(x)=C(f)=1,(g)=1のとき(x)=
1(f)=Z,(g)=0のとき(x)=0(f)=Z
,(g)=1のとき(x)=1(f)=0,(g)=Z
のとき(x)=0(f)=1,(g)=Zのとき(x)
=1(f)=Z,(g)=Zのとき(x)=Zなる演算
処理が行なわれる。Cは新たにコンフリクトを表わす信
号である。
】 (f)=0,(g)=0のとき(x)=0(f)=1,
(g)=0のとき(x)=C(f)=0,(g)=1の
とき(x)=C(f)=1,(g)=1のとき(x)=
1(f)=Z,(g)=0のとき(x)=0(f)=Z
,(g)=1のとき(x)=1(f)=0,(g)=Z
のとき(x)=0(f)=1,(g)=Zのとき(x)
=1(f)=Z,(g)=Zのとき(x)=Zなる演算
処理が行なわれる。Cは新たにコンフリクトを表わす信
号である。
【0038】ピン入出力判定手段2では入力を(f)お
よび(g)、出力を(y)とするとき、
よび(g)、出力を(y)とするとき、
【0039】
(f)=Z,(g)=Zのとき(y)=0(f)および
(g)が上記以外は全て(y)=1を出力する。
(g)が上記以外は全て(y)=1を出力する。
【0040】セレクト回路S0 31,S1 32およ
びS2 33は、ピン入出力判定手段2より出力される
制御信号値が0の場合は全て双方向ピン9より入力され
る信号(ei )をセレクトして出力する。制御信号値
が1の場合はセレクト回路S0 31はトライステート
演算手段1よりの出力(x)をセレクト回路S1 32
は信号(eiz)をセレクト回路S2 33はトライス
テート演算手段1よりの出力(x)をセレクトして出力
する。
びS2 33は、ピン入出力判定手段2より出力される
制御信号値が0の場合は全て双方向ピン9より入力され
る信号(ei )をセレクトして出力する。制御信号値
が1の場合はセレクト回路S0 31はトライステート
演算手段1よりの出力(x)をセレクト回路S1 32
は信号(eiz)をセレクト回路S2 33はトライス
テート演算手段1よりの出力(x)をセレクトして出力
する。
【0041】バスコンフリクト検出手段4では、双方向
ピン9より入力される信号(ei )とトライステート
演算手段1より出力される信号(x)を比較し、
ピン9より入力される信号(ei )とトライステート
演算手段1より出力される信号(x)を比較し、
【00
42】(x)がCのときは(ei )の値に関係せずに
出力(Bcon )=1 (x)=1,(ei )=0のとき(Bcon )=1
(x)=0,(ei )=1のとき(Bcon )=1
を出力し、入力信号(x)および(ei )が上記以外
は全て0にする。上記例では出力信号(Bcon )=
1はバスコンフリクトの発生に対応している。
42】(x)がCのときは(ei )の値に関係せずに
出力(Bcon )=1 (x)=1,(ei )=0のとき(Bcon )=1
(x)=0,(ei )=1のとき(Bcon )=1
を出力し、入力信号(x)および(ei )が上記以外
は全て0にする。上記例では出力信号(Bcon )=
1はバスコンフリクトの発生に対応している。
【0043】つぎに、図4を参照して、第1の実施例の
動作を説明する。図4(A),(B),(C)および(
D)ともに、第1列は図2に示す信号(a)(b)……
(h)を示し、第2列以後はその信号値を示している。
動作を説明する。図4(A),(B),(C)および(
D)ともに、第1列は図2に示す信号(a)(b)……
(h)を示し、第2列以後はその信号値を示している。
【0044】図4(A)は双方向ピンを入力と見なす場
合を示している。
合を示している。
【0045】信号(a)および(c)ともに1であるか
ら、信号(b)および(d)の値にかかわらず信号(f
),(g)および(x)はZとなり、信号(y)は0に
なる。すなわち、回路W7は高インピーダンスとなり、
回路W7よりは信号は送出されない。
ら、信号(b)および(d)の値にかかわらず信号(f
),(g)および(x)はZとなり、信号(y)は0に
なる。すなわち、回路W7は高インピーダンスとなり、
回路W7よりは信号は送出されない。
【0046】この状態において、すなわち、(y)が0
であるから、セレクト回路S1 32、セレクト回路S
2 33およびセレクト回路S0 31は、ともに、信
号(ei )をセレクトして、出力信号(h)を出力し
、回路W7i へ送出する。
であるから、セレクト回路S1 32、セレクト回路S
2 33およびセレクト回路S0 31は、ともに、信
号(ei )をセレクトして、出力信号(h)を出力し
、回路W7i へ送出する。
【0047】図4(B)は双方向ピンを出力と見なす場
合を示している。
合を示している。
【0048】信号(a),(b),(c)および(d)
は、第2列から第5列に示すように、信号値によって4
通りの場合がある。第2列と第4列は図3で示す回路W
a 7aより共通バス8に信号(b)が送出された場合
に対応し、第3列と第5列は回路Wn 7nより共通バ
ス8に信号(d)が送出された場合に対応する。
は、第2列から第5列に示すように、信号値によって4
通りの場合がある。第2列と第4列は図3で示す回路W
a 7aより共通バス8に信号(b)が送出された場合
に対応し、第3列と第5列は回路Wn 7nより共通バ
ス8に信号(d)が送出された場合に対応する。
【0049】第2列で、信号(c)が1であるから(g
)はZ、(b)が0であるから(x)は0、また(y)
は1を出力する。
)はZ、(b)が0であるから(x)は0、また(y)
は1を出力する。
【0050】一方、双方向ピン9に接続された外部回路
は、信号受信状態であるから、(ei )はZである。
は、信号受信状態であるから、(ei )はZである。
【0051】セレクト回路S0 31は、(y)が1で
あるから、信号(x)をセレクトして、出力信号(h)
は0を出力し、回路W7i に送出する。
あるから、信号(x)をセレクトして、出力信号(h)
は0を出力し、回路W7i に送出する。
【0052】セレクト回路S1 32は、(y)が1で
あるから、信号(x)をセレクトして、出力信号(em
)はZを出力する。
あるから、信号(x)をセレクトして、出力信号(em
)はZを出力する。
【0053】セレクト回路S2 33は、(y)が1で
あるから、信号(x)をセレクトして、出力信号(eo
)は0を出力する。
あるから、信号(x)をセレクトして、出力信号(eo
)は0を出力する。
【0054】以下第3〜5列に対する信号入力に対して
も同様に動作し、信号(h),(em )および(eo
)を出力する。
も同様に動作し、信号(h),(em )および(eo
)を出力する。
【0055】図4(c)は双方向ピンからの入力値に起
因するバスコンフリクトを訂正する場合を示している。
因するバスコンフリクトを訂正する場合を示している。
【0056】第2列から第5列の信号(a),(b),
(c)および(d)の信号値に対して、信号(f),(
g),(x)および(y)が出力され、セレクト回路S
0 31,S1 32およびS2 33よりの出力信号
(h),(em )および(eo )は、それぞれ、信
号(x),(eiz)および(x)がセレクトされて出
力される。
(c)および(d)の信号値に対して、信号(f),(
g),(x)および(y)が出力され、セレクト回路S
0 31,S1 32およびS2 33よりの出力信号
(h),(em )および(eo )は、それぞれ、信
号(x),(eiz)および(x)がセレクトされて出
力される。
【0057】この時、双方向ピン9より入力される信号
(ei )が信号(x)の値と異なった場合はバスコン
フリクト検出手段4でコンフリクトが発生したことを出
力する信号(Bcon )を1として出力する。
(ei )が信号(x)の値と異なった場合はバスコン
フリクト検出手段4でコンフリクトが発生したことを出
力する信号(Bcon )を1として出力する。
【0058】また、図4(D)は、図3で示す各回路の
ドライバの出力値に起因するバスコンフリクトを検出す
る場合を示している。
ドライバの出力値に起因するバスコンフリクトを検出す
る場合を示している。
【0059】第2および3列の信号(a),(b),(
c)および(d)の信号値に対して、信号(f),(g
),(x)および(y)が出力され、各セレクト回路3
1,32および33よりの出力信号(h),(em )
および(eo )は、それぞれ、信号(x),(eiz
)および(x)がセレクトされて出力される。
c)および(d)の信号値に対して、信号(f),(g
),(x)および(y)が出力され、各セレクト回路3
1,32および33よりの出力信号(h),(em )
および(eo )は、それぞれ、信号(x),(eiz
)および(x)がセレクトされて出力される。
【0060】また、バスコンフリクト検出信号4では、
信号(x)がCであるから、コンフリクトが発生したこ
とを示す信号(Bcon )を1として出力する。
信号(x)がCであるから、コンフリクトが発生したこ
とを示す信号(Bcon )を1として出力する。
【0061】以上の説明においては、ピン入出力判定手
段2は回路W7o よりの信号(f)および(9)をも
とに判定させていたが、トライステート演算手段1の出
力信号(x)をもとにし、(x)がZのとき(y)を0
、(x)がZ以外のときは(y)を1とするようにして
も同様の結果が得られる。
段2は回路W7o よりの信号(f)および(9)をも
とに判定させていたが、トライステート演算手段1の出
力信号(x)をもとにし、(x)がZのとき(y)を0
、(x)がZ以外のときは(y)を1とするようにして
も同様の結果が得られる。
【0062】つぎに、本発明の第2の実施例を図5およ
び6を参照して説明する。図5は第2の実施例の構成図
、図6は同実施例の動作説明図である。
び6を参照して説明する。図5は第2の実施例の構成図
、図6は同実施例の動作説明図である。
【0063】[第2の実施例の構成]図5において、ト
ライステート演算手段1、ピン入出力判定手段2、入出
力信号セレクト手段3およびバスコンフリクト検出手段
4については図1で説明したとおりである。
ライステート演算手段1、ピン入出力判定手段2、入出
力信号セレクト手段3およびバスコンフリクト検出手段
4については図1で説明したとおりである。
【0064】34は入力フォルト発生部であり、双方向
ピンを介して外部に接続されている論理回路よりの信号
を誤まらせ、疑似障害を発生させる。
ピンを介して外部に接続されている論理回路よりの信号
を誤まらせ、疑似障害を発生させる。
【0065】35は出力フォルト発生部であり、双方向
ピンを介して外部に接続されている論理回路への信号を
誤まらせ、疑似障害を発生させる。
ピンを介して外部に接続されている論理回路への信号を
誤まらせ、疑似障害を発生させる。
【0066】[第2の実施例の動作]つぎに、図6を参
照して、第2の実施例の動作を説明する。
照して、第2の実施例の動作を説明する。
【0067】第2の実施例は論理回路の故障をシミュレ
ートさせる場合であり、論理回路の故障をシミュレート
する場合は、入力フォールト発生部34および出力フォ
ールト発生部25での疑似傷害を発生させる故障挿入信
号(flt)を1にする。
ートさせる場合であり、論理回路の故障をシミュレート
する場合は、入力フォールト発生部34および出力フォ
ールト発生部25での疑似傷害を発生させる故障挿入信
号(flt)を1にする。
【0068】図6(A)は双方向ピン9を入力と見なし
た場合を示している。
た場合を示している。
【0069】双方向ピン9を入力と見なす場合は、トラ
イステート演算手段1の出力信号(x)はZ、ピン入出
力判定手段2の出力信号(y)は0であるから、セレク
ト回路31,32および33は双方向ピン9よりの入力
信号(ei )をセレクトして出力する。
イステート演算手段1の出力信号(x)はZ、ピン入出
力判定手段2の出力信号(y)は0であるから、セレク
ト回路31,32および33は双方向ピン9よりの入力
信号(ei )をセレクトして出力する。
【0070】しかし、入力フォールト発生部34への故
障挿入信号(flt)が1であるから、入力フォールト
発生部34より出力され、セレクト回路S031に入力
される信号(Fi )は信号(ei )を誤まらせDま
たはEを出力する。
障挿入信号(flt)が1であるから、入力フォールト
発生部34より出力され、セレクト回路S031に入力
される信号(Fi )は信号(ei )を誤まらせDま
たはEを出力する。
【0071】その結果、回路W7i に入力される信号
(h)は誤まった信号DまたはEが入力される。
(h)は誤まった信号DまたはEが入力される。
【0072】入力フォールト発生部34で信号を誤まら
せる方法としては、論理回路の故障をシミュレートでき
る特殊信号に変換する。すなわち、例えば、論理回路内
の或る回路が傷害であると想定すると、その回路が傷害
になったと等価な信号に変換して入力すれば論理回路を
シミュレートできる。実施例では、正常信号値が1で故
障信号値が0である場合を記号Dで示し、正常信号値が
0で故障信号値が1である場合を記号Eで示す。
せる方法としては、論理回路の故障をシミュレートでき
る特殊信号に変換する。すなわち、例えば、論理回路内
の或る回路が傷害であると想定すると、その回路が傷害
になったと等価な信号に変換して入力すれば論理回路を
シミュレートできる。実施例では、正常信号値が1で故
障信号値が0である場合を記号Dで示し、正常信号値が
0で故障信号値が1である場合を記号Eで示す。
【0073】図6(B)は双方向ピンを出力と見なした
場合を示す。
場合を示す。
【0074】この場合は、ピン入出力判定手段2の出力
信号(y)は1であるから、セレクト回路S0 31お
よびS2 33はトライステート演算手段1の出力信号
(x)をセレクトして出力する。
信号(y)は1であるから、セレクト回路S0 31お
よびS2 33はトライステート演算手段1の出力信号
(x)をセレクトして出力する。
【0075】しかし、出力フォールト発生部35への故
障挿入信号(flt)が1であるから、出力フォールト
発生部35より出力され、セレクト回路S233に入力
される信号(Fo )は信号(x)を誤まらせてDまた
はEを出力する。
障挿入信号(flt)が1であるから、出力フォールト
発生部35より出力され、セレクト回路S233に入力
される信号(Fo )は信号(x)を誤まらせてDまた
はEを出力する。
【0076】その結果、双方向ピン9を介して出力され
る信号(eo )は誤まった信号Dを出力する。しかし
、回路W7i へ入力される信号(h)は誤りの無い信
号(x)が入力され、外部回路の故障の場合をシミュレ
ートすることができる。
る信号(eo )は誤まった信号Dを出力する。しかし
、回路W7i へ入力される信号(h)は誤りの無い信
号(x)が入力され、外部回路の故障の場合をシミュレ
ートすることができる。
【0077】出力フォールト発生部35で信号を誤まら
せる方法は、前述した入出力フォールト発生部34での
方法と同様であって、論理回路内の或る回路が故障とな
ったとき出力され信号と等価な信号に変換が行なわれる
。
せる方法は、前述した入出力フォールト発生部34での
方法と同様であって、論理回路内の或る回路が故障とな
ったとき出力され信号と等価な信号に変換が行なわれる
。
【0078】なお、論理シミュレーションを行なう場合
、各信号値が特定出来ずにシミュレーションを行う場合
があるが、そのような場合においても、トライステート
演算手段、ピン入出力判定手段、入出力信号セレクト手
段およびバスコンフリクト検出手段での動作は、各手段
に入力される信号値に対して、実施例で説明したと同様
の動作が行なわれる。
、各信号値が特定出来ずにシミュレーションを行う場合
があるが、そのような場合においても、トライステート
演算手段、ピン入出力判定手段、入出力信号セレクト手
段およびバスコンフリクト検出手段での動作は、各手段
に入力される信号値に対して、実施例で説明したと同様
の動作が行なわれる。
【0079】以上、本発明の一実施例について説明した
が、本発明はこれらの実施例に限定されるものではなく
、その発明の主旨に従った各種変形が可能である。
が、本発明はこれらの実施例に限定されるものではなく
、その発明の主旨に従った各種変形が可能である。
【0080】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば次
の諸効果が得られる。
の諸効果が得られる。
【0081】■双方向入出力素子をモデルとして持たな
い論理シミュレータにおいて、論理回路よりのトライス
テート信号にもとずいて双方向ピンの信号入出力を判定
させるとともに、バスコンフリクトを検出するようにし
たので、双方向の入出力素子を含む論理回路の論理シミ
ュレーションを容易に行なわせることができる。
い論理シミュレータにおいて、論理回路よりのトライス
テート信号にもとずいて双方向ピンの信号入出力を判定
させるとともに、バスコンフリクトを検出するようにし
たので、双方向の入出力素子を含む論理回路の論理シミ
ュレーションを容易に行なわせることができる。
【0082】■信号を誤まらせ、疑似障害を発生させる
ようにさせたので、障害時の動作を容易にシミュレート
させることができる。
ようにさせたので、障害時の動作を容易にシミュレート
させることができる。
【図1】本発明の原理図である。
【図2】本発明の第1の実施例の構成図である。
【図3】モデル化のための具体的回路構成例を示す図で
ある。
ある。
【図4】第1の実施例の動作説明図である。
【図5】本発明の第2の実施例の構成図である。
【図6】第2の実施例の動作説明図である。
1 トライステート演算手段2
ピン入出力判定手段 3 入出力信号セレクト手段4
バスコンフリクト検出手段7 論理回路 8 共通バス 9 双方向ピン 31 セレクト回路S0 32 セレクト回路S1 33 セレクト回路S2 34 入力フォルト発生部 35 出力フォルト発生部 71 ドライバ
ピン入出力判定手段 3 入出力信号セレクト手段4
バスコンフリクト検出手段7 論理回路 8 共通バス 9 双方向ピン 31 セレクト回路S0 32 セレクト回路S1 33 セレクト回路S2 34 入力フォルト発生部 35 出力フォルト発生部 71 ドライバ
Claims (2)
- 【請求項1】 一つの信号線に双方向の入出力ピンを
含むワイヤード論理がとれない複数のトライステート素
子が接続するバス回路を含むLSI回路の論理シミュレ
ーション方式であって、■前記トライステート素子より
のステートに対応する信号に対する演算を行なうトライ
ステート演算手段1と、■前記トライステート素子より
のステートに対応する信号より、前記バス回路に接続さ
れた双方向ピンの信号入出力を判定するピン入出力判定
手段2と、■前記ピン入出力判定手段2の判定する結果
によって、双方向ピンおよび論理回路への入出力信号を
セレクトする入出力信号セレクト手段3と、■前記トラ
イステート素子より出力されるトライステートに対応す
る信号と、前記双方向ピンを介して外部回路より入力さ
れるトライステートに対応した信号とを比較し、バスコ
ンフリクトの発生を検出するバスコンフリクト検出手段
4と、を備え、バスコンフリクトが、双方向ピンを介し
て外部回路より入力される信号に起因して発生するとき
、前記入力値を訂正するようにしたことをを特徴とする
LSIの論理シミュレーション方式。 - 【請求項2】 前記入出力信号セレクト手段3が、■
双方向ピンを介してLSI回路に信号が入力される、入
力信号を誤らせ、疑似障害を発生させる入力フォルト発
生部34と、■LSI回路より双方向ピンを介して信号
が出力される、出力信号を誤らせ、疑似障害を発生させ
る出力フォルト発生部35と、を備えたことを特徴とす
る請求項1記載のLSIの論理シミュレーション方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3053657A JPH04273382A (ja) | 1991-02-27 | 1991-02-27 | Lsiの論理シミュレーション方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3053657A JPH04273382A (ja) | 1991-02-27 | 1991-02-27 | Lsiの論理シミュレーション方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04273382A true JPH04273382A (ja) | 1992-09-29 |
Family
ID=12948934
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3053657A Pending JPH04273382A (ja) | 1991-02-27 | 1991-02-27 | Lsiの論理シミュレーション方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04273382A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0700008A3 (en) * | 1994-09-01 | 1996-04-24 | Symbios Logic Inc | Method for modeling an electrical circuit and apparatus |
| US5995740A (en) * | 1996-12-23 | 1999-11-30 | Lsi Logic Corporation | Method for capturing ASIC I/O pin data for tester compatibility analysis |
-
1991
- 1991-02-27 JP JP3053657A patent/JPH04273382A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0700008A3 (en) * | 1994-09-01 | 1996-04-24 | Symbios Logic Inc | Method for modeling an electrical circuit and apparatus |
| US6480817B1 (en) | 1994-09-01 | 2002-11-12 | Hynix Semiconductor, Inc. | Integrated circuit I/O pad cell modeling |
| US5995740A (en) * | 1996-12-23 | 1999-11-30 | Lsi Logic Corporation | Method for capturing ASIC I/O pin data for tester compatibility analysis |
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