JPH04274748A - 示差型熱分析装置 - Google Patents
示差型熱分析装置Info
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- JPH04274748A JPH04274748A JP3059750A JP5975091A JPH04274748A JP H04274748 A JPH04274748 A JP H04274748A JP 3059750 A JP3059750 A JP 3059750A JP 5975091 A JP5975091 A JP 5975091A JP H04274748 A JPH04274748 A JP H04274748A
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Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、試料と基準試料との温
度を比較することにより、試料に発生した熱変化を検出
する示差型熱分析装置に関する。
度を比較することにより、試料に発生した熱変化を検出
する示差型熱分析装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、上記の示差型熱分析装置として、
いわゆる示差熱分析装置(DTA)、示差走査熱量測定
装置(DSC)等が知られている。例えば、物質の温度
変化による転移熱を測定することにより熱分析を行なう
熱流束形の示差走査熱量測定装置として、図5に示す構
造のものが知られている。この示差走査熱量測定装置は
、試料7a及び基準試料7bを加熱する円筒形状の加熱
炉1と、プログラム式温度制御回路2と、直流増幅器3
と、冷接点温度補償器温度リニアライザ4と、熱量補正
回路5と、2ペンレコーダ等の記録部6とで構成されて
いる。
いわゆる示差熱分析装置(DTA)、示差走査熱量測定
装置(DSC)等が知られている。例えば、物質の温度
変化による転移熱を測定することにより熱分析を行なう
熱流束形の示差走査熱量測定装置として、図5に示す構
造のものが知られている。この示差走査熱量測定装置は
、試料7a及び基準試料7bを加熱する円筒形状の加熱
炉1と、プログラム式温度制御回路2と、直流増幅器3
と、冷接点温度補償器温度リニアライザ4と、熱量補正
回路5と、2ペンレコーダ等の記録部6とで構成されて
いる。
【0003】上記加熱炉1は、銀等の金属材料により形
成され、加熱用のヒータ11が埋設されている。加熱炉
1の内部には、ヒータ熱を試料7a及び基準試料7bに
供給する白金等の金属によって形成した感熱板12がロ
ー付け等によってを設けられ、この感熱板12上に試料
7aと基準試料7bを入れた容器を配置している。
成され、加熱用のヒータ11が埋設されている。加熱炉
1の内部には、ヒータ熱を試料7a及び基準試料7bに
供給する白金等の金属によって形成した感熱板12がロ
ー付け等によってを設けられ、この感熱板12上に試料
7aと基準試料7bを入れた容器を配置している。
【0004】加熱炉1のヒータ11は、一定のプログラ
ムに従って試料5と基準試料6の昇温または冷却を行な
うプログラム式温度制御回路2によって温度制御がなさ
れる。また、プログラム式温度制御回路2には、加熱炉
1に設けられた制御用熱電対10が接続されており、プ
ログラム式温度制御回路2は、制御用熱電対10からの
温度情報に基づいて加熱炉1、すなわちヒータ11の温
度を制御する。感熱板12の試料7aと基準試料7bの
ホルダー部分には、それぞれ測温熱電対8,9が取付け
られ、直流増幅器3及び冷接点温度補償器温度リニアラ
イザ4に接続されている。
ムに従って試料5と基準試料6の昇温または冷却を行な
うプログラム式温度制御回路2によって温度制御がなさ
れる。また、プログラム式温度制御回路2には、加熱炉
1に設けられた制御用熱電対10が接続されており、プ
ログラム式温度制御回路2は、制御用熱電対10からの
温度情報に基づいて加熱炉1、すなわちヒータ11の温
度を制御する。感熱板12の試料7aと基準試料7bの
ホルダー部分には、それぞれ測温熱電対8,9が取付け
られ、直流増幅器3及び冷接点温度補償器温度リニアラ
イザ4に接続されている。
【0005】直流増幅器3には、試料7aの転移や融解
によって生じた試料7aと基準試料7bの温度差に対応
した熱起電力が入力され、増幅されて熱量補正回路5に
出力される。熱量補正回路5では、上記温度差を補償す
るのに必要な熱量を求めて記録部6に送られる。また、
冷接点温度補償器温度リニアライザ4には、試料7aの
温度に対応した熱起電力が入力され、冷接点温度に基づ
く補償がなされた状態で記録部6に送られる。記録部6
では、上記熱量補正回路5から送られた熱量を冷接点温
度補償器温度リニアライザ4から送られた温度と共に記
録される。
によって生じた試料7aと基準試料7bの温度差に対応
した熱起電力が入力され、増幅されて熱量補正回路5に
出力される。熱量補正回路5では、上記温度差を補償す
るのに必要な熱量を求めて記録部6に送られる。また、
冷接点温度補償器温度リニアライザ4には、試料7aの
温度に対応した熱起電力が入力され、冷接点温度に基づ
く補償がなされた状態で記録部6に送られる。記録部6
では、上記熱量補正回路5から送られた熱量を冷接点温
度補償器温度リニアライザ4から送られた温度と共に記
録される。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の示差走
査熱量測定装置のうち、標準温度用の測定装置では、加
熱炉1に銀等の金属材料が用いられているが、これでは
最高でせいぜい600〜700℃までしか使用すること
ができないという問題があった。
査熱量測定装置のうち、標準温度用の測定装置では、加
熱炉1に銀等の金属材料が用いられているが、これでは
最高でせいぜい600〜700℃までしか使用すること
ができないという問題があった。
【0007】また、高温用の示差走査熱量測定装置では
、加熱炉1にアルミナ等のセラミックを用いて約150
0℃程度まで使用できるようにしたものがあるが、セラ
ミックの場合金属に較べて熱伝導率が小さいため、加熱
炉の温度均一性が悪く、このため感熱板12に温度ムラ
が生じ試料7aと基準試料7bを同一温度で昇温するこ
とができず、分析データのベースラインの傾斜や凹凸等
を生じ精度の高い分析結果が得られないという問題があ
った。また、感熱板12を固定するのにアルミナセメン
ト等を使用した場合、熱膨張の差によってアルミナにひ
びがはいったり、はがれが生じるといった問題もあった
。以上のような問題は、示差走査熱量測定装置(DSC
)に限らず、示差熱分析装置(DTA)あるいはその他
の示差型熱分析装置についても同様に生じていた。
、加熱炉1にアルミナ等のセラミックを用いて約150
0℃程度まで使用できるようにしたものがあるが、セラ
ミックの場合金属に較べて熱伝導率が小さいため、加熱
炉の温度均一性が悪く、このため感熱板12に温度ムラ
が生じ試料7aと基準試料7bを同一温度で昇温するこ
とができず、分析データのベースラインの傾斜や凹凸等
を生じ精度の高い分析結果が得られないという問題があ
った。また、感熱板12を固定するのにアルミナセメン
ト等を使用した場合、熱膨張の差によってアルミナにひ
びがはいったり、はがれが生じるといった問題もあった
。以上のような問題は、示差走査熱量測定装置(DSC
)に限らず、示差熱分析装置(DTA)あるいはその他
の示差型熱分析装置についても同様に生じていた。
【0008】本発明は、上述した従来の問題点に鑑みて
なされたものであって、高温の測定にも使用することが
でき、かつ試料と基準試料を同一温度で昇温することが
できることにより分析の精度向上を図ることの可能な示
差型熱分析装置を提供することを目的としている。
なされたものであって、高温の測定にも使用することが
でき、かつ試料と基準試料を同一温度で昇温することが
できることにより分析の精度向上を図ることの可能な示
差型熱分析装置を提供することを目的としている。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、請求項1記載の示差型熱分析装置は、セラミックに
より形成した加熱炉内に、加熱炉の熱を加熱炉の環状の
中心部に導く導入部を設け、さらに導入部の熱を感熱部
に導く伝熱部を設け、その伝熱部に試料と基準試料を配
置する感熱部を固定したことを特徴とする。また、請求
項2記載の示差型熱分析装置は、伝熱部を加熱炉の長手
方向中心位置に設けたことを特徴とする。さらに、請求
項3記載の示差型熱分析装置は、加熱炉の内部に中心に
嵌合孔を有する導入部を形成し、その嵌合孔に伝熱部を
着脱可能に嵌合したことを特徴とする。
め、請求項1記載の示差型熱分析装置は、セラミックに
より形成した加熱炉内に、加熱炉の熱を加熱炉の環状の
中心部に導く導入部を設け、さらに導入部の熱を感熱部
に導く伝熱部を設け、その伝熱部に試料と基準試料を配
置する感熱部を固定したことを特徴とする。また、請求
項2記載の示差型熱分析装置は、伝熱部を加熱炉の長手
方向中心位置に設けたことを特徴とする。さらに、請求
項3記載の示差型熱分析装置は、加熱炉の内部に中心に
嵌合孔を有する導入部を形成し、その嵌合孔に伝熱部を
着脱可能に嵌合したことを特徴とする。
【0010】
【作 用】本発明によれば、加熱炉(1)をセラミッ
クにより形成したことにより、高温、例えば約1500
℃までの高温での熱分析が可能である。また、熱を加熱
炉(1)の中心部に導く伝熱部(15)を設け、この伝
熱部(15)に試料(7a)と基準試料(7b)を対称
的に配置する感熱部(16)を固定している。このため
、加熱炉(1)の熱は、伝熱部(15)を通して感熱部
(16)に集中して均一に供給されるようになり、試料
(7a)と基準試料(7b)が同一温度で昇温される。
クにより形成したことにより、高温、例えば約1500
℃までの高温での熱分析が可能である。また、熱を加熱
炉(1)の中心部に導く伝熱部(15)を設け、この伝
熱部(15)に試料(7a)と基準試料(7b)を対称
的に配置する感熱部(16)を固定している。このため
、加熱炉(1)の熱は、伝熱部(15)を通して感熱部
(16)に集中して均一に供給されるようになり、試料
(7a)と基準試料(7b)が同一温度で昇温される。
【0011】
【実施例】図1は本発明に係る示差型熱分析装置の一実
施例である、熱流束形の示差走査熱量測定装置の加熱炉
の一部拡大断面図、そして図2はその実施例の全体の構
成を示す構成図である。なお、図5に示した従来の構成
と同一部分については、共通の符号を付している。
施例である、熱流束形の示差走査熱量測定装置の加熱炉
の一部拡大断面図、そして図2はその実施例の全体の構
成を示す構成図である。なお、図5に示した従来の構成
と同一部分については、共通の符号を付している。
【0012】本実施例の加熱炉1は、円筒形状に形成さ
れ、その材料には、高温に耐え得る材料としてセラミッ
クの1種であるアルミナが使用されている。このアルミ
ナを使用することによって、約1500℃の高温までの
熱分析を可能としている。加熱炉1には、熱供給を行な
うためのヒータ11が埋設されている。ヒータ11は、
プログラム式温度制御部2によって温度制御がなされ、
試料7a及び基準試料7bに対し熱を供給する。また、
加熱炉1上部の開口部を覆う蓋1aも、加熱炉1と同様
にアルミナによって形成されている。
れ、その材料には、高温に耐え得る材料としてセラミッ
クの1種であるアルミナが使用されている。このアルミ
ナを使用することによって、約1500℃の高温までの
熱分析を可能としている。加熱炉1には、熱供給を行な
うためのヒータ11が埋設されている。ヒータ11は、
プログラム式温度制御部2によって温度制御がなされ、
試料7a及び基準試料7bに対し熱を供給する。また、
加熱炉1上部の開口部を覆う蓋1aも、加熱炉1と同様
にアルミナによって形成されている。
【0013】加熱炉1内の長手方向ほぼ中央には、図1
に示される如く、導入部13が加熱炉1と一体に形成さ
れており、この導入部13の部分に、伝熱部15、感熱
部16、試料部蓋17、測温熱電対8,9よりなる試料
加熱部が構成されている。
に示される如く、導入部13が加熱炉1と一体に形成さ
れており、この導入部13の部分に、伝熱部15、感熱
部16、試料部蓋17、測温熱電対8,9よりなる試料
加熱部が構成されている。
【0014】伝熱部15は、耐熱性で熱伝導率の大きい
白金等の金属材料により管状に形成され、導入部13の
中心部に設けられた伝熱部15の外径とほぼ同じ内径の
嵌合孔20に着脱可能に嵌合固定されている。導入部1
3の中心、即ち加熱炉1の中心に伝熱部15を設けたこ
とにより、ヒータ11の熱は導入部13を介して中央の
伝熱部15に伝えられ、さらに感熱部16へと伝達され
る。また、伝熱部15を加熱炉1の長手方向ほぼ中央に
位置させているのは、外気雰囲気の影響を極力受けない
ようにするためである。さらに、伝熱部15には、図3
に示すように長手方向に沿ってすり割り15aが設けら
れている。このすり割り15aによって伝熱部15は一
定の弾性を持って嵌合孔20に嵌合し、また伝熱部15
と嵌合孔20との加熱時の熱膨張の差が直径方向でなく
円周方向に吸収され、安定した装着状態が得られると共
に、均一な熱伝導が可能となる。
白金等の金属材料により管状に形成され、導入部13の
中心部に設けられた伝熱部15の外径とほぼ同じ内径の
嵌合孔20に着脱可能に嵌合固定されている。導入部1
3の中心、即ち加熱炉1の中心に伝熱部15を設けたこ
とにより、ヒータ11の熱は導入部13を介して中央の
伝熱部15に伝えられ、さらに感熱部16へと伝達され
る。また、伝熱部15を加熱炉1の長手方向ほぼ中央に
位置させているのは、外気雰囲気の影響を極力受けない
ようにするためである。さらに、伝熱部15には、図3
に示すように長手方向に沿ってすり割り15aが設けら
れている。このすり割り15aによって伝熱部15は一
定の弾性を持って嵌合孔20に嵌合し、また伝熱部15
と嵌合孔20との加熱時の熱膨張の差が直径方向でなく
円周方向に吸収され、安定した装着状態が得られると共
に、均一な熱伝導が可能となる。
【0015】感熱部16は、伝熱部15と同様に耐熱性
で熱伝導率の大きい白金等の金属材料により、図4に示
すように、中央に伝熱部15との固着部16a、その左
右に試料7aと基準試料7bを載置する載置部16b,
16cを対称に備えた形状に形成されている。そして、
感熱部16は、中央の固着部16aが伝熱部15の上端
に固着されて、導入部13から僅かに浮いた状態で加熱
炉1内に設置されている。左右の載置部16b,16c
には、容器に入れた試料7a及び基準試料7bがそれぞ
れ載置される。伝熱部15を伝達したヒータ熱は、伝熱
部15の上端から感熱部16へ伝えられ試料7a及び基
準試料7bに供給され、これにより試料7a及び基準試
料7bは均一に加熱されて温度差が生じることなく昇温
がなされる。
で熱伝導率の大きい白金等の金属材料により、図4に示
すように、中央に伝熱部15との固着部16a、その左
右に試料7aと基準試料7bを載置する載置部16b,
16cを対称に備えた形状に形成されている。そして、
感熱部16は、中央の固着部16aが伝熱部15の上端
に固着されて、導入部13から僅かに浮いた状態で加熱
炉1内に設置されている。左右の載置部16b,16c
には、容器に入れた試料7a及び基準試料7bがそれぞ
れ載置される。伝熱部15を伝達したヒータ熱は、伝熱
部15の上端から感熱部16へ伝えられ試料7a及び基
準試料7bに供給され、これにより試料7a及び基準試
料7bは均一に加熱されて温度差が生じることなく昇温
がなされる。
【0016】試料部蓋17は、高温に耐え得るようにア
ルミナ等の材料で形成されており、感熱部16全体を覆
うように導入部13上に設置される。この試料部蓋17
は、加熱炉1内の輻射熱が試料7aと基準試料7bに直
接当るのを防止するためのものである。
ルミナ等の材料で形成されており、感熱部16全体を覆
うように導入部13上に設置される。この試料部蓋17
は、加熱炉1内の輻射熱が試料7aと基準試料7bに直
接当るのを防止するためのものである。
【0017】測温熱電対8,9は、白金あるいは白金−
ロジウム等の高温用のものが使用されており、それぞれ
感熱部16の載置部16b,16cの下面に取付けられ
、導入部13に設けられた挿通孔21,21を通して直
流増幅回路3及び冷接点温度補償器温度リニアライザ4
に接続されている。
ロジウム等の高温用のものが使用されており、それぞれ
感熱部16の載置部16b,16cの下面に取付けられ
、導入部13に設けられた挿通孔21,21を通して直
流増幅回路3及び冷接点温度補償器温度リニアライザ4
に接続されている。
【0018】本実施例では、上述した如く構成したこと
により、ヒータ11の熱は、加熱炉1から導入部13を
経て中心部の伝熱部15に伝達され、伝熱部15から感
熱部16に伝えられて最終的に試料7a及び基準試料7
bへと供給される。このように、熱伝導率の高い材料か
らなる伝熱部15を介して感熱部16を設けたことから
、加熱炉1から伝熱部15、伝熱部15から感熱部16
といったヒータ熱の良好な経路が形成されるため、感熱
部16に載置した試料7a及び基準試料7bは、均一か
つ迅速に加熱されるようになり、試料7aと基準試料7
bを同一温度で昇温することができるようになる。また
、従来の示差走査熱量測定装置では、試料と基準試料を
載置する感熱板12がロー付け等により加熱炉1に対し
一体に固定されていて交換不能であったが、本実施例で
は伝熱部15を導入部13の嵌合孔20に着脱可能に取
付けたことから、伝熱部15を取り外すことによって感
熱部16の交換を容易に行なうことができる。
により、ヒータ11の熱は、加熱炉1から導入部13を
経て中心部の伝熱部15に伝達され、伝熱部15から感
熱部16に伝えられて最終的に試料7a及び基準試料7
bへと供給される。このように、熱伝導率の高い材料か
らなる伝熱部15を介して感熱部16を設けたことから
、加熱炉1から伝熱部15、伝熱部15から感熱部16
といったヒータ熱の良好な経路が形成されるため、感熱
部16に載置した試料7a及び基準試料7bは、均一か
つ迅速に加熱されるようになり、試料7aと基準試料7
bを同一温度で昇温することができるようになる。また
、従来の示差走査熱量測定装置では、試料と基準試料を
載置する感熱板12がロー付け等により加熱炉1に対し
一体に固定されていて交換不能であったが、本実施例で
は伝熱部15を導入部13の嵌合孔20に着脱可能に取
付けたことから、伝熱部15を取り外すことによって感
熱部16の交換を容易に行なうことができる。
【0019】以上、好ましい実施例をあげて本発明を説
明したが、本発明は上記実施例に限定されることはない
。例えば、導入部13を加熱炉1と一体に形成している
が、この部分を白金等の材料で加熱炉1と別体として設
けてもよい。導入部13を熱伝導率の大きい材料で形成
すれば、ヒータ熱をより効率的に伝熱部15へ伝えるこ
とが期待できる。また、伝熱部15を略L字形に形成し
、その一端を加熱炉1内壁に直接固着する構成とするこ
とも可能である。この場合、導入部13を省略すること
ができる。また、実施例では、本発明を熱流束形の示差
走査熱量測定装置に適用したが、入力補償形の示差走査
熱量測定装置あるいはその他の示差型熱分析装置にも適
用できるのは言うまでもない。
明したが、本発明は上記実施例に限定されることはない
。例えば、導入部13を加熱炉1と一体に形成している
が、この部分を白金等の材料で加熱炉1と別体として設
けてもよい。導入部13を熱伝導率の大きい材料で形成
すれば、ヒータ熱をより効率的に伝熱部15へ伝えるこ
とが期待できる。また、伝熱部15を略L字形に形成し
、その一端を加熱炉1内壁に直接固着する構成とするこ
とも可能である。この場合、導入部13を省略すること
ができる。また、実施例では、本発明を熱流束形の示差
走査熱量測定装置に適用したが、入力補償形の示差走査
熱量測定装置あるいはその他の示差型熱分析装置にも適
用できるのは言うまでもない。
【0020】
【発明の効果】本発明によれば、加熱炉を高温に耐え得
るセラミックにて形成したことにより、高温の測定にも
安定した使用が可能であると共に、試料と基準試料が均
一に加熱され同一温度で昇温することにより、分析デー
タのベースラインが安定し分析の精度向上が図られる。 また、請求項2記載の示差型熱分析装置では、伝熱部を
加熱炉の長手方向中心位置に設けたことにより、外気雰
囲気の影響を極力受けないようにし、また伝熱部を軸方
向の熱中心に置くことができ、安定した測定が可能とな
る。さらに、請求項3記載の示差型熱分析装置は、伝熱
部を着脱可能に設けたことにより、感熱部の交換が容易
に行なえるようになる。
るセラミックにて形成したことにより、高温の測定にも
安定した使用が可能であると共に、試料と基準試料が均
一に加熱され同一温度で昇温することにより、分析デー
タのベースラインが安定し分析の精度向上が図られる。 また、請求項2記載の示差型熱分析装置では、伝熱部を
加熱炉の長手方向中心位置に設けたことにより、外気雰
囲気の影響を極力受けないようにし、また伝熱部を軸方
向の熱中心に置くことができ、安定した測定が可能とな
る。さらに、請求項3記載の示差型熱分析装置は、伝熱
部を着脱可能に設けたことにより、感熱部の交換が容易
に行なえるようになる。
【図1】本発明に係る示差型熱分析装置の一実施例の加
熱炉の一部拡大断面図である。
熱炉の一部拡大断面図である。
【図2】図1に示す示差型熱分析装置の全体構成を示す
構成図である。
構成図である。
【図3】図1に示す示差型熱分析装置の感熱部と伝熱部
の側面図である。
の側面図である。
【図4】図1に示す示差型熱分析装置の感熱部の平面図
である。
である。
【図5】従来の示差型熱分析装置の一例を示す構成図で
ある。
ある。
1 加熱炉
7a 試料7b 基準試料
11 ヒータ
13 導入部
15 伝熱部15a すり割り
16 感熱部1
6a 固着部
16b,16c 載置部 20 嵌合孔
7a 試料7b 基準試料
11 ヒータ
13 導入部
15 伝熱部15a すり割り
16 感熱部1
6a 固着部
16b,16c 載置部 20 嵌合孔
Claims (3)
- 【請求項1】 加熱炉内に試料と基準試料とを配置し
、試料と基準試料の温度を比較することにより、試料に
発生した熱変化を検出する示差型熱分析装置であって、
前記加熱炉をセラミックにより形成し、前記加熱炉内に
、加熱炉の熱を加熱炉の中心部に導く伝熱部を設け、該
伝熱部に前記試料と基準試料を配置する感熱部を固定し
たことを特徴とする示差型熱分析装置。 - 【請求項2】 前記伝熱部を、加熱炉の長手方向中心
位置に設けたことを特徴とする請求項1記載の示差型熱
分析装置。 - 【請求項3】 加熱炉の内部に中心に嵌合孔を有する
導入部を形成し、該導入部の嵌合孔に前記伝熱部を着脱
可能に嵌合したことを特徴とする請求項1または2の示
差型熱分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3059750A JPH04274748A (ja) | 1991-03-01 | 1991-03-01 | 示差型熱分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3059750A JPH04274748A (ja) | 1991-03-01 | 1991-03-01 | 示差型熱分析装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04274748A true JPH04274748A (ja) | 1992-09-30 |
Family
ID=13122235
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3059750A Pending JPH04274748A (ja) | 1991-03-01 | 1991-03-01 | 示差型熱分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04274748A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6497509B2 (en) * | 2000-06-08 | 2002-12-24 | Perkinelmer Instruments Llc | Method for measuring absolute value of thermal conductivity |
| EP3798626A1 (en) * | 2019-09-25 | 2021-03-31 | Netzsch-Gerätebau GmbH | Thermal analysis device, sample holder assembly and thermal analysis method |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57104847A (en) * | 1980-11-03 | 1982-06-30 | Du Pont | Differential heat analysis method of and apparatus for measuring heat value |
| JPS5910056U (ja) * | 1982-06-28 | 1984-01-21 | 株式会社島津製作所 | 示差熱分析装置 |
| JPS6064250U (ja) * | 1983-10-07 | 1985-05-07 | セイコーインスツルメンツ株式会社 | 示差走査熱量計 |
-
1991
- 1991-03-01 JP JP3059750A patent/JPH04274748A/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57104847A (en) * | 1980-11-03 | 1982-06-30 | Du Pont | Differential heat analysis method of and apparatus for measuring heat value |
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