JPH06213841A - 示差熱分析装置 - Google Patents
示差熱分析装置Info
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- JPH06213841A JPH06213841A JP2057593A JP2057593A JPH06213841A JP H06213841 A JPH06213841 A JP H06213841A JP 2057593 A JP2057593 A JP 2057593A JP 2057593 A JP2057593 A JP 2057593A JP H06213841 A JPH06213841 A JP H06213841A
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- Japan
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- reference substance
- heating furnace
- detector
- temperature
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- Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 厳密なＤＴＡディテクタと加熱炉との相対的
位置調整を行う必要がなく、加熱炉に種々の非等方的要
因があっても正確な分析を行うことの出来る示差熱分析
装置を提供すること。 【構成】 試料及びＸ方向とＹ方向に一致するよう３つ
の基準物質を載置しそれぞれ熱電対を接続して成るディ
テクタ２と、該ディテクタ２を内部に配置し内部温度が
制御される加熱炉炉芯管１と、該加熱炉炉芯管１を載置
しＸ−Ｙ駆動機構６によりＸ方向及びＹ方向に移動可能
としたＸ−Ｙステ−ジ５と、前記３つの基準物質間の温
度差電気信号として検出・増幅する手段７と、前記Ｘ−
Ｙステ−ジ駆動機構６を制御するコントロ−ラ８と、よ
り成ることを特徴とする示差熱分析装置。
位置調整を行う必要がなく、加熱炉に種々の非等方的要
因があっても正確な分析を行うことの出来る示差熱分析
装置を提供すること。 【構成】 試料及びＸ方向とＹ方向に一致するよう３つ
の基準物質を載置しそれぞれ熱電対を接続して成るディ
テクタ２と、該ディテクタ２を内部に配置し内部温度が
制御される加熱炉炉芯管１と、該加熱炉炉芯管１を載置
しＸ−Ｙ駆動機構６によりＸ方向及びＹ方向に移動可能
としたＸ−Ｙステ−ジ５と、前記３つの基準物質間の温
度差電気信号として検出・増幅する手段７と、前記Ｘ−
Ｙステ−ジ駆動機構６を制御するコントロ−ラ８と、よ
り成ることを特徴とする示差熱分析装置。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、加熱炉内に測定試料
と基準物質とを入れて加熱し温度上昇に伴う試料の状態
変化（物性変化）を測定する熱分析装置の一種である示
差熱分析装置に関する。
と基準物質とを入れて加熱し温度上昇に伴う試料の状態
変化（物性変化）を測定する熱分析装置の一種である示
差熱分析装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】示差熱分析装置では、試料と基準物質と
の温度差を検出するため試料載置用の微小な容器と基準
物質載置用の同様な容器とのそれぞれに熱電対を接続し
た一対のディテクタ（以下、ＤＴＡディテクタとする）
が筒状の加熱炉内部に載置される。そして加熱炉には加
熱手段として電気抵抗による発熱体（カンタル線等）や
赤外線ランプ等が備えられている。このような示差熱分
析装置で精密に温度変化を測定するためには試料と基準
物質とは出来るだけ同一な加熱環境におく必要がある。
そのためＤＴＡディテクタは厳密に加熱炉中心にセット
しなければならないが、逆にＤＴＡディテクタが固定さ
れ加熱炉の位置調整を行う場合もある。尚、ＤＴＡディ
テクタでは容器は熱電対の一方の線と同一の材料で製作
されることが多い。
の温度差を検出するため試料載置用の微小な容器と基準
物質載置用の同様な容器とのそれぞれに熱電対を接続し
た一対のディテクタ（以下、ＤＴＡディテクタとする）
が筒状の加熱炉内部に載置される。そして加熱炉には加
熱手段として電気抵抗による発熱体（カンタル線等）や
赤外線ランプ等が備えられている。このような示差熱分
析装置で精密に温度変化を測定するためには試料と基準
物質とは出来るだけ同一な加熱環境におく必要がある。
そのためＤＴＡディテクタは厳密に加熱炉中心にセット
しなければならないが、逆にＤＴＡディテクタが固定さ
れ加熱炉の位置調整を行う場合もある。尚、ＤＴＡディ
テクタでは容器は熱電対の一方の線と同一の材料で製作
されることが多い。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上記するような従来の
構造の示差熱分析装置では、ある状態（例えば加熱前の
室温）でＤＴＡディテクタと加熱炉との相対的位置調整
を行い、加熱して行っても熱的環境による誤差は避ける
ことが出来ない。即ち、ＤＴＡディテクタの周囲には種
々の非等方的要因、例えば加熱炉炉心管の肉圧の偏り、
炉心管内壁やディテクタ表面の状態（汚れや付着物等に
よる輻射率の不均一）、加工や組立時の歪に起因する特
定方向への熱膨張、等々が存在するためこれらが加熱に
伴い試料と基準物質の熱的環境のズレとなって発生しＤ
ＴＡベ−スラインのドリフトとなって測定及びデ−タ解
析に悪影響を及ぼしている。従って当初の測定開始前Ｄ
ＴＡディテクタと加熱炉との相対的位置調整を厳密に行
ってもそれが測定全温度範囲にわたって測定結果に必ず
しも寄与しないという問題がある。特に測定温度範囲が
広い場合、高温域におけるベ−スラインノイズドリフト
が顕著になることがある。
構造の示差熱分析装置では、ある状態（例えば加熱前の
室温）でＤＴＡディテクタと加熱炉との相対的位置調整
を行い、加熱して行っても熱的環境による誤差は避ける
ことが出来ない。即ち、ＤＴＡディテクタの周囲には種
々の非等方的要因、例えば加熱炉炉心管の肉圧の偏り、
炉心管内壁やディテクタ表面の状態（汚れや付着物等に
よる輻射率の不均一）、加工や組立時の歪に起因する特
定方向への熱膨張、等々が存在するためこれらが加熱に
伴い試料と基準物質の熱的環境のズレとなって発生しＤ
ＴＡベ−スラインのドリフトとなって測定及びデ−タ解
析に悪影響を及ぼしている。従って当初の測定開始前Ｄ
ＴＡディテクタと加熱炉との相対的位置調整を厳密に行
ってもそれが測定全温度範囲にわたって測定結果に必ず
しも寄与しないという問題がある。特に測定温度範囲が
広い場合、高温域におけるベ−スラインノイズドリフト
が顕著になることがある。
【０００４】この発明は上記する課題に鑑みてなされた
ものでありその目的とする所は、厳密なＤＴＡディテク
タと加熱炉との相対的位置調整を行う必要がなく、上記
する種々の非等方的要因があっても、これらを克服し正
確な分析を行うことの出来る示差熱分析装置を提供する
ことにある。
ものでありその目的とする所は、厳密なＤＴＡディテク
タと加熱炉との相対的位置調整を行う必要がなく、上記
する種々の非等方的要因があっても、これらを克服し正
確な分析を行うことの出来る示差熱分析装置を提供する
ことにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】即ち、この発明は上記す
る課題を解決するために、示差熱分析装置は、試料を載
置し且つ熱電対を接続した容器と第２の基準物質と第３
の基準物質とを載置し且つ熱電対を接続した容器をＸ方
向に一致するよう配置すると共に第１の基準物質と第３
の基準物質とを載置し且つ熱電対を接続した容器をＹ方
向に一致するよう配置して成るディテクタと、該ディテ
クタを内部に配置し温度調節手段により内部温度が制御
される加熱炉炉芯管と、該加熱炉炉芯管を載置しＸ方向
及びＹ方向に移動可能としたＸ−Ｙステ−ジと、該Ｘ−
Ｙステ−ジを駆動するＸ−Ｙ駆動機構と、前記第２の基
準物質と第３の基準物質との温度差及び第１の基準物質
と第３の基準物質との温度差を電気信号として検出・増
幅する手段と、該検出・増幅手段の増幅信号により前記
Ｘ−Ｙステ−ジ駆動機構を制御するコントロ−ラと、よ
り成ることを特徴とする。
る課題を解決するために、示差熱分析装置は、試料を載
置し且つ熱電対を接続した容器と第２の基準物質と第３
の基準物質とを載置し且つ熱電対を接続した容器をＸ方
向に一致するよう配置すると共に第１の基準物質と第３
の基準物質とを載置し且つ熱電対を接続した容器をＹ方
向に一致するよう配置して成るディテクタと、該ディテ
クタを内部に配置し温度調節手段により内部温度が制御
される加熱炉炉芯管と、該加熱炉炉芯管を載置しＸ方向
及びＹ方向に移動可能としたＸ−Ｙステ−ジと、該Ｘ−
Ｙステ−ジを駆動するＸ−Ｙ駆動機構と、前記第２の基
準物質と第３の基準物質との温度差及び第１の基準物質
と第３の基準物質との温度差を電気信号として検出・増
幅する手段と、該検出・増幅手段の増幅信号により前記
Ｘ−Ｙステ−ジ駆動機構を制御するコントロ−ラと、よ
り成ることを特徴とする。
【０００６】
【作用】示差熱分析装置を上記手段とした時の作用につ
いて添付図（図１乃至図３）の符号を用いて説明する。
第１の基準物質と第２の基準物質及び第３の基準物質を
載置した容器２１と２２及び２３を同一の熱的環境とし
て示差熱分析を行うためこれらを試料を載置した容器２
０と共に内部に配置した加熱炉炉芯管１を温度調節回路
４により制御しつつ昇温させて行く。そして第２の基準
物質と第３の基準物質の温度差ΔＴ2,3と第１の基準物
質と第３の基準物質の温度差ΔＴ1,3 とを測定するが、
これらの温度差はＤＴＡ信号検出・増幅回路７により検
出され増幅されコントロ−ラ８を介してＸ−Ｙステ−ジ
駆動機構６にフィ−ドバックされる。該Ｘ−Ｙステ−ジ
駆動機構６は、ΔＴ2,3 が０となるようにＸ−Ｙステ−
ジ５はコントロ−ラ８によりＸ方向に駆動されると共に
ΔＴ1,3 が０となるようにＹ方向に駆動される。このと
き、同時に第１の基準物質温度Ｔ1 と第２の基準物質温
度Ｔ2 との平均値（Ｔ1 ＋Ｔ2 ）／２と、試料温度Ｔs
との差をＤＴＡ信号としてレコ−ダやパソコン等の記録
手段１０（図１参照）に記録する。
いて添付図（図１乃至図３）の符号を用いて説明する。
第１の基準物質と第２の基準物質及び第３の基準物質を
載置した容器２１と２２及び２３を同一の熱的環境とし
て示差熱分析を行うためこれらを試料を載置した容器２
０と共に内部に配置した加熱炉炉芯管１を温度調節回路
４により制御しつつ昇温させて行く。そして第２の基準
物質と第３の基準物質の温度差ΔＴ2,3と第１の基準物
質と第３の基準物質の温度差ΔＴ1,3 とを測定するが、
これらの温度差はＤＴＡ信号検出・増幅回路７により検
出され増幅されコントロ−ラ８を介してＸ−Ｙステ−ジ
駆動機構６にフィ−ドバックされる。該Ｘ−Ｙステ−ジ
駆動機構６は、ΔＴ2,3 が０となるようにＸ−Ｙステ−
ジ５はコントロ−ラ８によりＸ方向に駆動されると共に
ΔＴ1,3 が０となるようにＹ方向に駆動される。このと
き、同時に第１の基準物質温度Ｔ1 と第２の基準物質温
度Ｔ2 との平均値（Ｔ1 ＋Ｔ2 ）／２と、試料温度Ｔs
との差をＤＴＡ信号としてレコ−ダやパソコン等の記録
手段１０（図１参照）に記録する。
【０００７】
【実施例】以下、この発明の具体的実施例について図面
を参照して説明する。図１はこの発明の示差熱分析装置
の要部斜視図であり、図２は図１のＡ−Ａ矢視断面図で
ある。１は加熱炉炉芯管、２はＤＴＡディテクタ、３は
加熱炉炉芯管１の温度検出部（熱電対）、４は温度調節
回路、５はＸ−Ｙステ−ジである。尚、図１においては
熱の外部への放散を抑える反射板や断熱材や分析用ガス
の供給部は省略してある。
を参照して説明する。図１はこの発明の示差熱分析装置
の要部斜視図であり、図２は図１のＡ−Ａ矢視断面図で
ある。１は加熱炉炉芯管、２はＤＴＡディテクタ、３は
加熱炉炉芯管１の温度検出部（熱電対）、４は温度調節
回路、５はＸ−Ｙステ−ジである。尚、図１においては
熱の外部への放散を抑える反射板や断熱材や分析用ガス
の供給部は省略してある。
【０００８】前記加熱炉炉芯管１の内部にはＤＴＡディ
テクタ２が配置されるが、該ＤＴＡディテクタ２は試料
載置用の微小な容器２０と基準物質載置用の容器２１と
２２及び２３とこれらに熱電対を接続して構成されてい
る。更に、前記基準物質載置用の容器２１と２２及び２
３にはそれぞれ第１の基準物質と第２の基準物質と第３
の基準物質とが載置されるが、これらの基準物質は同一
物質で且つ同量のものが載置される。このように基準物
質が第１から第３までＸ方向及びＹ方向の３ヶ所に配置
するのは基準物質がＸ方向にもＹ方向にも熱的に同一条
件であることを保証するためである。
テクタ２が配置されるが、該ＤＴＡディテクタ２は試料
載置用の微小な容器２０と基準物質載置用の容器２１と
２２及び２３とこれらに熱電対を接続して構成されてい
る。更に、前記基準物質載置用の容器２１と２２及び２
３にはそれぞれ第１の基準物質と第２の基準物質と第３
の基準物質とが載置されるが、これらの基準物質は同一
物質で且つ同量のものが載置される。このように基準物
質が第１から第３までＸ方向及びＹ方向の３ヶ所に配置
するのは基準物質がＸ方向にもＹ方向にも熱的に同一条
件であることを保証するためである。
【０００９】前記加熱炉炉芯管１の周囲にはヒ−タ線
（例えばニクロム線、カンタル線等）１１が巻回され、
温度検出部である熱電対３で温度を測定しつつ温度調節
回路４で加熱炉炉芯管１の内部温度を制御するようにな
っている。加熱炉炉芯管１の温度は所期のプログラムに
基づいて昇温したり或いは所定温度に保持される。該加
熱炉炉芯管１の下部には台１２を取付けてあるが、該台
１２はＸ−Ｙステ−ジ５の台５６の上に載置してある。
このＸ−Ｙステ−ジ５はＸ方向のレ−ル５１、５１を固
定した台５２と、下面に固定したガイド５４により前記
レ−ル５１、５１の上を移動する台５３と、下面に固定
したガイド５７、５７により前記台５３の上面にＹ方向
に固定されたレ−ル５５、５５の上を移動する台５６
と、より構成される。
（例えばニクロム線、カンタル線等）１１が巻回され、
温度検出部である熱電対３で温度を測定しつつ温度調節
回路４で加熱炉炉芯管１の内部温度を制御するようにな
っている。加熱炉炉芯管１の温度は所期のプログラムに
基づいて昇温したり或いは所定温度に保持される。該加
熱炉炉芯管１の下部には台１２を取付けてあるが、該台
１２はＸ−Ｙステ−ジ５の台５６の上に載置してある。
このＸ−Ｙステ−ジ５はＸ方向のレ−ル５１、５１を固
定した台５２と、下面に固定したガイド５４により前記
レ−ル５１、５１の上を移動する台５３と、下面に固定
したガイド５７、５７により前記台５３の上面にＹ方向
に固定されたレ−ル５５、５５の上を移動する台５６
と、より構成される。
【００１０】前記Ｘ−Ｙステ−ジ５はＸ−Ｙステ−ジ駆
動機構（例えばステッピングモ−タやリニアモ−タ、そ
の他機械的な駆動装置でも良い）６で独立にＸ方向やＹ
方向に駆動されるようになっている。この場合後述する
ようにＤＴＡ信号検出回路・増幅回路７により各基準物
質間の温度差を検出し増幅しコントロ−ラ８を介してＸ
−Ｙステ−ジ駆動機構６にフィ−ドバックするようにし
てある。尚、Ｘ−Ｙステ−ジ５の台５２及び５３の中央
部はＤＴＡ信号線取出しや分析用ガスの供給等のため開
口部５２ａ、５３ａ等を設けることが望ましい。
動機構（例えばステッピングモ−タやリニアモ−タ、そ
の他機械的な駆動装置でも良い）６で独立にＸ方向やＹ
方向に駆動されるようになっている。この場合後述する
ようにＤＴＡ信号検出回路・増幅回路７により各基準物
質間の温度差を検出し増幅しコントロ−ラ８を介してＸ
−Ｙステ−ジ駆動機構６にフィ−ドバックするようにし
てある。尚、Ｘ−Ｙステ−ジ５の台５２及び５３の中央
部はＤＴＡ信号線取出しや分析用ガスの供給等のため開
口部５２ａ、５３ａ等を設けることが望ましい。
【００１１】図２に示すように加熱炉炉芯管１内に配置
されるＤＴＡディテクタ２は、第２の基準物質を載置し
た容器２２と第３の基準物質を載置した容器２３とを結
ぶ直線が前記Ｘ−Ｙステ−ジ５のＸ方向へ移動する方向
と一致し、第１の基準物質を載置した容器２１と第３の
基準物質を載置した容器２３とを結ぶ直線は前記Ｘ−Ｙ
ステ−ジ５のＹ方向へ移動する方向と一致している。
されるＤＴＡディテクタ２は、第２の基準物質を載置し
た容器２２と第３の基準物質を載置した容器２３とを結
ぶ直線が前記Ｘ−Ｙステ−ジ５のＸ方向へ移動する方向
と一致し、第１の基準物質を載置した容器２１と第３の
基準物質を載置した容器２３とを結ぶ直線は前記Ｘ−Ｙ
ステ−ジ５のＹ方向へ移動する方向と一致している。
【００１２】次に、図３は前記加熱炉炉芯管１の内部に
配置されるＤＴＡディテクタ２の熱電対の配線と各熱電
対間の検出温度差を示す図である。尚、９は冷接点であ
る。この図において、ΔＴ2,3 は第２の基準物質と第３
の基準物質との温度差を示し、ΔＴ1,3 は第１の基準物
質と第３の基準物質との温度差を示す。またＴs は試料
温度であり、（Ｔ1 ＋Ｔ2 ）／２は第１の基準物質温度
と第２の基準物質温度との平均値を示す。
配置されるＤＴＡディテクタ２の熱電対の配線と各熱電
対間の検出温度差を示す図である。尚、９は冷接点であ
る。この図において、ΔＴ2,3 は第２の基準物質と第３
の基準物質との温度差を示し、ΔＴ1,3 は第１の基準物
質と第３の基準物質との温度差を示す。またＴs は試料
温度であり、（Ｔ1 ＋Ｔ2 ）／２は第１の基準物質温度
と第２の基準物質温度との平均値を示す。
【００１３】この示差熱分析装置は以上のような構成か
ら成るが、次に試料と基準物質との示差熱分析を行う場
合の動作（作用）について説明する。第１の基準物質と
第２の基準物質及び第３の基準物質を同一の熱的環境と
して示差熱分析を行うためこれら基準物質を載置した容
器２１と２２及び２３を試料を載置した容器２０と共に
内部に配置した加熱炉炉芯管１を温度調節回路４により
制御しつつ昇温させて行く（これらの容器には同一材質
で製作した熱電対が接続されている）。そして各基準物
質の温度差ΔＴ2,3 とΔＴ1,3 とを測定するが、これら
の温度差はＤＴＡ信号検出回路・増幅回路７により検出
され増幅されコントロ−ラ８を介してＸ−Ｙステ−ジ駆
動機構６にフィ−ドバックされる。該Ｘ−Ｙステ−ジ駆
動機構６は、 第２の基準物質と第３の基準物質の温度差ΔＴ2,3 が
０となるようにＸ−Ｙステ−ジ５はコントロ−ラ８によ
りＸ方向に駆動される。 第１の基準物質と第３の基準物質の温度差ΔＴ1,3 が
０となるようにＸ−Ｙステ−ジ５はコントロ−ラ８によ
りＹ方向に駆動される。そして、 第１の基準物質温度Ｔ1 と第２の基準物質温度Ｔ2 と
の平均値（Ｔ1 ＋Ｔ2 ）／２と、試料温度Ｔs との差を
ＤＴＡ信号としてレコ−ダやパソコン等の記録手段１０
（図１参照）に記録する。
ら成るが、次に試料と基準物質との示差熱分析を行う場
合の動作（作用）について説明する。第１の基準物質と
第２の基準物質及び第３の基準物質を同一の熱的環境と
して示差熱分析を行うためこれら基準物質を載置した容
器２１と２２及び２３を試料を載置した容器２０と共に
内部に配置した加熱炉炉芯管１を温度調節回路４により
制御しつつ昇温させて行く（これらの容器には同一材質
で製作した熱電対が接続されている）。そして各基準物
質の温度差ΔＴ2,3 とΔＴ1,3 とを測定するが、これら
の温度差はＤＴＡ信号検出回路・増幅回路７により検出
され増幅されコントロ−ラ８を介してＸ−Ｙステ−ジ駆
動機構６にフィ−ドバックされる。該Ｘ−Ｙステ−ジ駆
動機構６は、 第２の基準物質と第３の基準物質の温度差ΔＴ2,3 が
０となるようにＸ−Ｙステ−ジ５はコントロ−ラ８によ
りＸ方向に駆動される。 第１の基準物質と第３の基準物質の温度差ΔＴ1,3 が
０となるようにＸ−Ｙステ−ジ５はコントロ−ラ８によ
りＹ方向に駆動される。そして、 第１の基準物質温度Ｔ1 と第２の基準物質温度Ｔ2 と
の平均値（Ｔ1 ＋Ｔ2 ）／２と、試料温度Ｔs との差を
ＤＴＡ信号としてレコ−ダやパソコン等の記録手段１０
（図１参照）に記録する。
【００１４】この示差熱分析装置の一実施例は以上のよ
うであるが、図１に示した実施例だけでなく、横型加熱
炉や輻射式加熱炉（赤外線ランプやハロゲンランプを用
いたもの）にも適用することがが出来る。また示差熱・
熱重量同時測定装置にも適用することが出来るのはいう
までもない。更に差動型天秤を用いた示差・熱重量同時
測定装置に用いれば特に有効である。
うであるが、図１に示した実施例だけでなく、横型加熱
炉や輻射式加熱炉（赤外線ランプやハロゲンランプを用
いたもの）にも適用することがが出来る。また示差熱・
熱重量同時測定装置にも適用することが出来るのはいう
までもない。更に差動型天秤を用いた示差・熱重量同時
測定装置に用いれば特に有効である。
【００１５】
【発明の効果】この発明の示差熱分析装置は以上詳述し
たような構成としたので、従来必ず必要とされたＤＴＡ
ディテクタと加熱炉炉芯管との厳密な位置調整（芯合わ
せ）作業が不要となり分析作業が極めて容易となる。更
に、加熱することにより装置自体に存在する種々の非等
方的要因、即ち、加熱炉炉心管の肉圧の偏り、炉心管内
壁やディテクタ表面の状態（汚れや付着物等による輻射
率の不均一）、加工や組立時の歪に起因する特定方向へ
の熱膨張が存在しても試料と基準物質とは常に同一の熱
的環境下に置かれるため試料の潜熱による変化以外のベ
−スライン変化（ベ−スラインドリフト）が一切無くな
り正確且つ理想的な示差熱分析を行うことが出来る。
たような構成としたので、従来必ず必要とされたＤＴＡ
ディテクタと加熱炉炉芯管との厳密な位置調整（芯合わ
せ）作業が不要となり分析作業が極めて容易となる。更
に、加熱することにより装置自体に存在する種々の非等
方的要因、即ち、加熱炉炉心管の肉圧の偏り、炉心管内
壁やディテクタ表面の状態（汚れや付着物等による輻射
率の不均一）、加工や組立時の歪に起因する特定方向へ
の熱膨張が存在しても試料と基準物質とは常に同一の熱
的環境下に置かれるため試料の潜熱による変化以外のベ
−スライン変化（ベ−スラインドリフト）が一切無くな
り正確且つ理想的な示差熱分析を行うことが出来る。
【図１】この発明の示差熱分析装置の要部斜視図であ
る。
る。
【図２】図１のＡ−Ａ矢視断面図である。
【図３】加熱炉炉芯管の内部に配置されるＤＴＡディテ
クタの熱電対の配線と各熱電対間の検出温度差を示す図
である。
クタの熱電対の配線と各熱電対間の検出温度差を示す図
である。
１ 加熱炉炉芯管 １１ ヒ−タ線
１２ 台 ２ ＤＴＡディテクタ ２０ 試料容器 ２１、２２、２３ 基準物質容器 ３ 温度検出部
（熱電対） ４ 温度調節回路 ５ Ｘ−Ｙステ
−ジ ６ Ｘ−Ｙステ−ジ駆動機構 ７ ＤＴＡディテクタ信号検出回路・増幅回路 ８ コントロ−ラ ９ 熱電対冷接点 １０ 記録手段
１２ 台 ２ ＤＴＡディテクタ ２０ 試料容器 ２１、２２、２３ 基準物質容器 ３ 温度検出部
（熱電対） ４ 温度調節回路 ５ Ｘ−Ｙステ
−ジ ６ Ｘ−Ｙステ−ジ駆動機構 ７ ＤＴＡディテクタ信号検出回路・増幅回路 ８ コントロ−ラ ９ 熱電対冷接点 １０ 記録手段
Claims (1)
- 【請求項１】 試料を載置し且つ熱電対を接続した容器
と第２の基準物質と第３の基準物質とを載置し且つ熱電
対を接続した容器をＸ方向に一致するよう配置すると共
に第１の基準物質と第３の基準物質とを載置し且つ熱電
対を接続した容器をＹ方向に一致するよう配置して成る
ディテクタと、該ディテクタを内部に配置し温度調節手
段により内部温度が制御される加熱炉炉芯管と、該加熱
炉炉芯管を載置しＸ方向及びＹ方向に移動可能としたＸ
−Ｙステ−ジと、該Ｘ−Ｙステ−ジを駆動するＸ−Ｙ駆
動機構と、前記第２の基準物質と第３の基準物質との温
度差及び第１の基準物質と第３の基準物質との温度差を
電気信号として検出・増幅する手段と、該検出・増幅手
段の増幅信号により前記Ｘ−Ｙステ−ジ駆動機構を制御
するコントロ−ラと、より成る示差熱分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2057593A JPH06213841A (ja) | 1993-01-13 | 1993-01-13 | 示差熱分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2057593A JPH06213841A (ja) | 1993-01-13 | 1993-01-13 | 示差熱分析装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06213841A true JPH06213841A (ja) | 1994-08-05 |
Family
ID=12031008
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2057593A Pending JPH06213841A (ja) | 1993-01-13 | 1993-01-13 | 示差熱分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06213841A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009029085A (ja) * | 2007-07-30 | 2009-02-12 | Sumitomo Heavy Ind Ltd | 射出成形機の監視装置 |
| US8877019B2 (en) | 2007-12-26 | 2014-11-04 | Canon Anelva Corporation | Sputtering apparatus, sputter deposition method, and analysis apparatus |
| US20160054181A1 (en) * | 2014-08-22 | 2016-02-25 | Netzsch-Geratebau Gmbh | Device And Method For Thermal Analysis |
-
1993
- 1993-01-13 JP JP2057593A patent/JPH06213841A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009029085A (ja) * | 2007-07-30 | 2009-02-12 | Sumitomo Heavy Ind Ltd | 射出成形機の監視装置 |
| US8877019B2 (en) | 2007-12-26 | 2014-11-04 | Canon Anelva Corporation | Sputtering apparatus, sputter deposition method, and analysis apparatus |
| US20160054181A1 (en) * | 2014-08-22 | 2016-02-25 | Netzsch-Geratebau Gmbh | Device And Method For Thermal Analysis |
| US9939329B2 (en) * | 2014-08-22 | 2018-04-10 | Netzsch-Gerätebau GmbH | Device and method for thermal analysis |
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