JPH04279921A - 座標検出装置 - Google Patents
座標検出装置Info
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- JPH04279921A JPH04279921A JP3041836A JP4183691A JPH04279921A JP H04279921 A JPH04279921 A JP H04279921A JP 3041836 A JP3041836 A JP 3041836A JP 4183691 A JP4183691 A JP 4183691A JP H04279921 A JPH04279921 A JP H04279921A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、多項目を入力するタッ
チパネルスイッチ等に好適な座標検出装置に関する。
チパネルスイッチ等に好適な座標検出装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、図４に示すような対向する２枚の
抵抗膜１、２を備え、点Ｐにおいて両抵抗膜を接触させ
て点Ｐの抵抗膜上の座標位置を検出する座標検出装置２
００が知られている。この座標検出装置２００は、対向
する２枚の均一な抵抗膜１、２に電位を与えるための電
源３及び定電圧回路１６と、切換スイッチ５、６、７と
、Ａ／Ｄコンバータ４と、ＣＰＵ１７とを備えている。 抵抗膜１、２は酸化インジウム（ＩＴＯ）などで形成さ
れる。抵抗膜１上には電極１１、１２が設けられ、電極
１１は切換スイッチ５に接続され、電極１２は切換スイ
ッチ６に接続されている。また、抵抗膜２上には電極１
１、１２の方向とは直角方向に電極１３、１４が設けら
れ、電極１３は切換スイッチ５に接続され、電極１４は
切換スイッチ７に接続されている。
抵抗膜１、２を備え、点Ｐにおいて両抵抗膜を接触させ
て点Ｐの抵抗膜上の座標位置を検出する座標検出装置２
００が知られている。この座標検出装置２００は、対向
する２枚の均一な抵抗膜１、２に電位を与えるための電
源３及び定電圧回路１６と、切換スイッチ５、６、７と
、Ａ／Ｄコンバータ４と、ＣＰＵ１７とを備えている。 抵抗膜１、２は酸化インジウム（ＩＴＯ）などで形成さ
れる。抵抗膜１上には電極１１、１２が設けられ、電極
１１は切換スイッチ５に接続され、電極１２は切換スイ
ッチ６に接続されている。また、抵抗膜２上には電極１
１、１２の方向とは直角方向に電極１３、１４が設けら
れ、電極１３は切換スイッチ５に接続され、電極１４は
切換スイッチ７に接続されている。
【０００３】この座標検出装置２００により点Ｐの座標
位置を検出する場合には、まず、指で点Ｐの位置を圧下
させることなどにより点Ｐにおいて両抵抗膜１、２を接
触させる。ＣＰＵ１７が切換スイッチ５、６を図示のよ
うに切換え、定電圧回路１６の電位を電極１１から電極
１２の方向（以下、ｘ方向とする。）に印加する。そし
て、点Ｐのｘ方向の電位ｖ１ は、抵抗膜２から電極１
４、切換スイッチ７を経てＡ／Ｄコンバータ４に入力さ
れ、ディジタル信号としてＣＰＵ１７に入力され点Ｐの
ｘ方向の位置、すなわちｘ座標ｘＰ が算出される。
位置を検出する場合には、まず、指で点Ｐの位置を圧下
させることなどにより点Ｐにおいて両抵抗膜１、２を接
触させる。ＣＰＵ１７が切換スイッチ５、６を図示のよ
うに切換え、定電圧回路１６の電位を電極１１から電極
１２の方向（以下、ｘ方向とする。）に印加する。そし
て、点Ｐのｘ方向の電位ｖ１ は、抵抗膜２から電極１
４、切換スイッチ７を経てＡ／Ｄコンバータ４に入力さ
れ、ディジタル信号としてＣＰＵ１７に入力され点Ｐの
ｘ方向の位置、すなわちｘ座標ｘＰ が算出される。
【０００４】この座標検出装置２００の等価回路を図５
に示す。この場合、点Ｐのｘ方向の電位ｖ１ に相当す
る抵抗膜１の等価抵抗値をＲ１ 、抵抗膜１全体の等価
抵抗値を（Ｒ１ ＋Ｒ２ ）とし、電極１１と電極１２
との距離をＬ１ 、点Ｐと電極１２との距離をｌ１ と
し、定電圧回路１６の電位をＶとすると、抵抗膜は均一
であるから、ｖ１ ／Ｖ＝Ｒ１ ／（Ｒ１ ＋Ｒ２ ）
の式が成立し、距離Ｌ１ が抵抗値（Ｒ１ ＋Ｒ２ ）
に相当し、距離ｌ１ が抵抗値Ｒ１ に相当するから、
図６に示すように、 ｌ１ ＝ｖ１ ×Ｌ１ ／Ｖ の式から、点Ｐと電極１２とのｘ方向の距離ｌ１ が算
出できる。ここで、電極１２の位置をｘ＝０とすれば、
ｌ１ は点ＰのＸ座標ｘＰを表すことになる。
に示す。この場合、点Ｐのｘ方向の電位ｖ１ に相当す
る抵抗膜１の等価抵抗値をＲ１ 、抵抗膜１全体の等価
抵抗値を（Ｒ１ ＋Ｒ２ ）とし、電極１１と電極１２
との距離をＬ１ 、点Ｐと電極１２との距離をｌ１ と
し、定電圧回路１６の電位をＶとすると、抵抗膜は均一
であるから、ｖ１ ／Ｖ＝Ｒ１ ／（Ｒ１ ＋Ｒ２ ）
の式が成立し、距離Ｌ１ が抵抗値（Ｒ１ ＋Ｒ２ ）
に相当し、距離ｌ１ が抵抗値Ｒ１ に相当するから、
図６に示すように、 ｌ１ ＝ｖ１ ×Ｌ１ ／Ｖ の式から、点Ｐと電極１２とのｘ方向の距離ｌ１ が算
出できる。ここで、電極１２の位置をｘ＝０とすれば、
ｌ１ は点ＰのＸ座標ｘＰを表すことになる。
【０００５】次に、ＣＰＵ１７が切換スイッチ５、６、
７を各々図４に示す位置とは逆の方向に切換えることに
より、定電圧回路１６の電位が抵抗膜２に与えられ、上
記と同様に、点Ｐの電極１３、１４の方向（以下、ｙ方
向とする。）の電位ｖ２ が抵抗膜１から電極１２、切
換スイッチ６を経てＡ／Ｄコンバータ４に入力され、デ
ィジタル信号としてＣＰＵ１７に入力され点Ｐのｙ方向
の位置、すなわちｙ座標ｙＰ が算出される。
７を各々図４に示す位置とは逆の方向に切換えることに
より、定電圧回路１６の電位が抵抗膜２に与えられ、上
記と同様に、点Ｐの電極１３、１４の方向（以下、ｙ方
向とする。）の電位ｖ２ が抵抗膜１から電極１２、切
換スイッチ６を経てＡ／Ｄコンバータ４に入力され、デ
ィジタル信号としてＣＰＵ１７に入力され点Ｐのｙ方向
の位置、すなわちｙ座標ｙＰ が算出される。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記従来の座
標検出装置２００においては、抵抗膜に与えられる電源
の電位は一定でないと検出電圧ｖ１ 、ｖ２ が変動し
誤差の原因となる。また、Ａ／Ｄコンバータ４の電源電
圧の変動もディジタル信号出力の精度に影響する。この
ため、複雑でかつ高価な定電圧回路１６等を設ける必要
があった。
標検出装置２００においては、抵抗膜に与えられる電源
の電位は一定でないと検出電圧ｖ１ 、ｖ２ が変動し
誤差の原因となる。また、Ａ／Ｄコンバータ４の電源電
圧の変動もディジタル信号出力の精度に影響する。この
ため、複雑でかつ高価な定電圧回路１６等を設ける必要
があった。
【０００７】そこで、本発明は、定電圧回路を必要とせ
ず、またＡ／Ｄコンバータの電源電圧の精度もそれほと
必要とせず、かつ、座標検出精度を向上させうる接触式
の座標検出装置を提供することを目的とする。
ず、またＡ／Ｄコンバータの電源電圧の精度もそれほと
必要とせず、かつ、座標検出精度を向上させうる接触式
の座標検出装置を提供することを目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
、請求項１記載の発明は、図１に示すように構成される
。図１に示すように、この座標検出装置１００は、対向
して配置された第１の抵抗膜１０１及び第２の抵抗膜１
０２と、この第１の抵抗膜１０１又は第２の抵抗膜１０
２に電位を与える電源供給手段１０３と、２枚の抵抗膜
１０１、１０２を任意の点Ｐにおいて接触させた際に、
第１の抵抗膜１０１のｘ軸方向に電源供給手段１０３か
ら電源電位ＶＳ を与えるとともに第２の抵抗膜１０２
からｘ座標電位Ｖｘ を検出する第１検出動作と、電源
電位ＶＳ を検出する第２検出動作と、を任意に切換え
て行わせる制御手段１０４と、ｘ座標電位Ｖｘ と電源
電位ＶＳ とから接触点Ｐのｘ座標値ｘＰ を算出する
演算手段１０５とを備えて構成される。
、請求項１記載の発明は、図１に示すように構成される
。図１に示すように、この座標検出装置１００は、対向
して配置された第１の抵抗膜１０１及び第２の抵抗膜１
０２と、この第１の抵抗膜１０１又は第２の抵抗膜１０
２に電位を与える電源供給手段１０３と、２枚の抵抗膜
１０１、１０２を任意の点Ｐにおいて接触させた際に、
第１の抵抗膜１０１のｘ軸方向に電源供給手段１０３か
ら電源電位ＶＳ を与えるとともに第２の抵抗膜１０２
からｘ座標電位Ｖｘ を検出する第１検出動作と、電源
電位ＶＳ を検出する第２検出動作と、を任意に切換え
て行わせる制御手段１０４と、ｘ座標電位Ｖｘ と電源
電位ＶＳ とから接触点Ｐのｘ座標値ｘＰ を算出する
演算手段１０５とを備えて構成される。
【０００９】請求項２記載の発明は、図１に示すように
、対向して配置された第１の抵抗膜１０１及び第２の抵
抗膜１０２と、この第１の抵抗膜１０１又は第２の抵抗
膜１０２に電位を与える電源供給手段１０３と、２枚の
抵抗膜１０１、１０２を任意の点Ｐにおいて接触させた
際に、第１の抵抗膜１０１のｘ軸方向に電源供給手段１
０３から電源電位ＶＳ を与えるとともに第２の抵抗膜
１０２からｘ座標電位Ｖｘ を検出する第１検出動作と
、第２の抵抗膜１０２のｙ軸方向に電源電位ＶＳ を与
えるとともに第１の抵抗膜１０１からｙ座標電位Ｖｙ
を検出する第２検出動作と、電源電位ＶＳ を検出する
第３検出動作と、を任意に切換えて行わせる制御手段１
０４と、ｘ座標電位Ｖｘ と電源電位ＶＳ とから接触
点Ｐのｘ座標値ｘＰ を算出し、かつ、ｙ座標電位Ｖｙ
と電源電位ＶＳ とから接触点Ｐのｙ座標値ｙＰ を
算出する演算手段１０５と、を備えて構成される。
、対向して配置された第１の抵抗膜１０１及び第２の抵
抗膜１０２と、この第１の抵抗膜１０１又は第２の抵抗
膜１０２に電位を与える電源供給手段１０３と、２枚の
抵抗膜１０１、１０２を任意の点Ｐにおいて接触させた
際に、第１の抵抗膜１０１のｘ軸方向に電源供給手段１
０３から電源電位ＶＳ を与えるとともに第２の抵抗膜
１０２からｘ座標電位Ｖｘ を検出する第１検出動作と
、第２の抵抗膜１０２のｙ軸方向に電源電位ＶＳ を与
えるとともに第１の抵抗膜１０１からｙ座標電位Ｖｙ
を検出する第２検出動作と、電源電位ＶＳ を検出する
第３検出動作と、を任意に切換えて行わせる制御手段１
０４と、ｘ座標電位Ｖｘ と電源電位ＶＳ とから接触
点Ｐのｘ座標値ｘＰ を算出し、かつ、ｙ座標電位Ｖｙ
と電源電位ＶＳ とから接触点Ｐのｙ座標値ｙＰ を
算出する演算手段１０５と、を備えて構成される。
【００１０】請求項３記載の発明は、対向して配置され
た第１の抵抗膜及び第２の抵抗膜とを含んで構成される
第１のパネルと、対向して配置された第３の抵抗膜及び
第４の抵抗膜とを含んで構成されるとともに第１のパネ
ルと交角をなして設けられた第２のパネルと、いずれか
の抵抗膜に電位を与える電源供給手段と、第１のパネル
と第２のパネルとで決定される空間内の任意の空間点の
第１のパネルへの第１の投影点において第１の抵抗膜及
び第２の抵抗膜を接触された際に、第１の抵抗膜のｘ軸
方向に電源供給手段から電源電位を与えるとともに第２
の抵抗膜からｘ座標電位を検出する第１検出動作と、第
２の抵抗膜のｙ軸方向に電源電位を与えるとともに第１
の抵抗膜からｙ座標電位を検出する第２検出動作と、電
源電位を検出する第３検出動作と、を任意に切換えて行
わせ、かつ、空間点の第２パネルへの第２の投影点にお
いて第３の抵抗膜及び第４の抵抗膜を接触させた際に、
第３の抵抗膜のｚ軸方向に電源電位を与えるとともに第
４の抵抗膜からｚ座標電位を検出する第４検出動作と、
電源電位を検出する第５検出動作と、を任意に切替えて
行わせる制御手段と、ｘ座標電位と電源電位とから空間
点のｘ座標値を算出し、ｙ座標電位と電源電位とから空
間点のｙ座標値を算出し、かつ、ｚ座標電位と電源電位
とから空間点のｚ座標値を算出する演算手段と、を備え
て構成される。
た第１の抵抗膜及び第２の抵抗膜とを含んで構成される
第１のパネルと、対向して配置された第３の抵抗膜及び
第４の抵抗膜とを含んで構成されるとともに第１のパネ
ルと交角をなして設けられた第２のパネルと、いずれか
の抵抗膜に電位を与える電源供給手段と、第１のパネル
と第２のパネルとで決定される空間内の任意の空間点の
第１のパネルへの第１の投影点において第１の抵抗膜及
び第２の抵抗膜を接触された際に、第１の抵抗膜のｘ軸
方向に電源供給手段から電源電位を与えるとともに第２
の抵抗膜からｘ座標電位を検出する第１検出動作と、第
２の抵抗膜のｙ軸方向に電源電位を与えるとともに第１
の抵抗膜からｙ座標電位を検出する第２検出動作と、電
源電位を検出する第３検出動作と、を任意に切換えて行
わせ、かつ、空間点の第２パネルへの第２の投影点にお
いて第３の抵抗膜及び第４の抵抗膜を接触させた際に、
第３の抵抗膜のｚ軸方向に電源電位を与えるとともに第
４の抵抗膜からｚ座標電位を検出する第４検出動作と、
電源電位を検出する第５検出動作と、を任意に切替えて
行わせる制御手段と、ｘ座標電位と電源電位とから空間
点のｘ座標値を算出し、ｙ座標電位と電源電位とから空
間点のｙ座標値を算出し、かつ、ｚ座標電位と電源電位
とから空間点のｚ座標値を算出する演算手段と、を備え
て構成される。
【００１１】
【作用】上記構成を有する請求項１記載の発明によれば
、ｘ座標電位Ｖｘ を検出する第１検出動作と、電源電
位ＶＳ を検出する第２検出動作との切換を電源の変動
速度よりも高速で行うことにより、電源の変動による誤
差を含まない精度のよい接触点Ｐのｘ座標値ｘＰ を算
出できる。
、ｘ座標電位Ｖｘ を検出する第１検出動作と、電源電
位ＶＳ を検出する第２検出動作との切換を電源の変動
速度よりも高速で行うことにより、電源の変動による誤
差を含まない精度のよい接触点Ｐのｘ座標値ｘＰ を算
出できる。
【００１２】同様にして請求項２記載の発明のように、
接触点Ｐのｘ座標値ｘＰ 及びｙ座標値ｙＰ について
も電源変動による誤差を含まない精度のよい値を得るこ
とができる。さらに請求項３記載の発明のように、２枚
のパネルを用いて空間点のｘ座標値、ｙ座標値、ｚ座標
値を電源変動誤差を含まない高精度の値で得ることがで
きる。従って、電源電圧を一定に保つ定電圧回路は不要
となり、Ａ／Ｄコンバータの電源電圧の精度もそれほど
必要としない構成とすることができる。
接触点Ｐのｘ座標値ｘＰ 及びｙ座標値ｙＰ について
も電源変動による誤差を含まない精度のよい値を得るこ
とができる。さらに請求項３記載の発明のように、２枚
のパネルを用いて空間点のｘ座標値、ｙ座標値、ｚ座標
値を電源変動誤差を含まない高精度の値で得ることがで
きる。従って、電源電圧を一定に保つ定電圧回路は不要
となり、Ａ／Ｄコンバータの電源電圧の精度もそれほど
必要としない構成とすることができる。
【００１３】
【実施例】次に、本発明の好適な実施例を図に基づいて
説明する。図２に本発明の一実施例の構成を示す。図２
において、この座標検出装置１００Ａは、２枚の均一な
抵抗膜１、２と、この抵抗膜１又は２に電位を与えるた
めの電源３と、抵抗膜１又は２に電源３からの電位を与
え、かつ、抵抗膜１又は２から接触点Ｐの座標を算出す
るための電位を検出するための切換スイッチ５、６、７
、１０と、電源３の電位を検出するための切換スイッチ
８、９、１０と、検出した電位をディジタル信号化する
Ａ／Ｄコンバータ４と、ディジタル信号から点Ｐの座標
値を演算して出力するＣＰＵ１５とを備えている。
説明する。図２に本発明の一実施例の構成を示す。図２
において、この座標検出装置１００Ａは、２枚の均一な
抵抗膜１、２と、この抵抗膜１又は２に電位を与えるた
めの電源３と、抵抗膜１又は２に電源３からの電位を与
え、かつ、抵抗膜１又は２から接触点Ｐの座標を算出す
るための電位を検出するための切換スイッチ５、６、７
、１０と、電源３の電位を検出するための切換スイッチ
８、９、１０と、検出した電位をディジタル信号化する
Ａ／Ｄコンバータ４と、ディジタル信号から点Ｐの座標
値を演算して出力するＣＰＵ１５とを備えている。
【００１４】図２に示す実施例が図４に示す従来例と異
なる点は、電源３の電位の計測を行うための切換スイッ
チ８、９、１０を設けた点である。このことにより、図
２に示すようにＣＰＵ１５により切換スイッチ５、６、
７、８、９を切換え、切換スイッチ１０を端子ａ側に切
換えておけば接触点Ｐの電極１１、１２の方向（ｘ方向
）の座標値を算出するための電位ｖ１ を検出すること
ができる。
なる点は、電源３の電位の計測を行うための切換スイッ
チ８、９、１０を設けた点である。このことにより、図
２に示すようにＣＰＵ１５により切換スイッチ５、６、
７、８、９を切換え、切換スイッチ１０を端子ａ側に切
換えておけば接触点Ｐの電極１１、１２の方向（ｘ方向
）の座標値を算出するための電位ｖ１ を検出すること
ができる。
【００１５】すなわち、ＣＰＵ１５により切換スイッチ
１０を端子ｂ側に切換えれば、この時点の電源３の電源
電位、すなわち電極１１における電位Ｅ１ を検出する
ことができる。この切換えをＣＰＵ１５により十分高速
で行えば、電源の変動周期よりも高速で電位ｖ１ 、Ｅ
１ を検出でき、電圧変動による誤差の影響は除去でき
る。ここに、ｌ１ ＝ｖ１ ×Ｌ１ ／Ｅ１ の式によ
り点Ｐと電極１２との距離が求められ、電極１２の位置
をｘ＝０とすれば、ｘＰ ＝ｌ１ として点Ｐのｘ座標
値ｘＰ が得られる。 同様にして点Ｐの電極１３、１４の方向（ｙ方向）の座
標値ｙＰ も電源電圧の変動の影響を受けることなく検
出できる。すなわち、電極１３、１４の距離をＬ２ 、
点Ｐと電極１４との距離をｌ２ とし、ｌ２ に相当す
る電位をｖ２ 、このときの電源３の電位をＥ２ とす
ればｌ２ ＝ｖ２ ×Ｌ２ ／Ｅ２ となり、電極１４
の位置をｙ＝０とすればｙＰ ＝ｌ２ として点Ｐのｙ
座標値ｙＰ が求められる。
１０を端子ｂ側に切換えれば、この時点の電源３の電源
電位、すなわち電極１１における電位Ｅ１ を検出する
ことができる。この切換えをＣＰＵ１５により十分高速
で行えば、電源の変動周期よりも高速で電位ｖ１ 、Ｅ
１ を検出でき、電圧変動による誤差の影響は除去でき
る。ここに、ｌ１ ＝ｖ１ ×Ｌ１ ／Ｅ１ の式によ
り点Ｐと電極１２との距離が求められ、電極１２の位置
をｘ＝０とすれば、ｘＰ ＝ｌ１ として点Ｐのｘ座標
値ｘＰ が得られる。 同様にして点Ｐの電極１３、１４の方向（ｙ方向）の座
標値ｙＰ も電源電圧の変動の影響を受けることなく検
出できる。すなわち、電極１３、１４の距離をＬ２ 、
点Ｐと電極１４との距離をｌ２ とし、ｌ２ に相当す
る電位をｖ２ 、このときの電源３の電位をＥ２ とす
ればｌ２ ＝ｖ２ ×Ｌ２ ／Ｅ２ となり、電極１４
の位置をｙ＝０とすればｙＰ ＝ｌ２ として点Ｐのｙ
座標値ｙＰ が求められる。
【００１６】この場合、各電位の検出順序は、例えばＶ
１ →Ｅ１→Ｖ２ →Ｅ２ でもよいし、Ｅ１ →Ｖ１
→Ｅ２ →Ｖ２ あるいはＶ１ →Ｖ２ →Ｅ２ 等
であってもい。要はｘ座標に相当する電位と、ｙ座標に
相当する電位と、電源の電位とを任意かつ十分高速に切
換えられればよいのである。ここで、抵抗膜１は第１の
抵抗膜に相当し、抵抗膜２は第２の抵抗膜に相当する電
源３は電源供給手段に相当する。また、切換スイッチ５
、６、７、８、９、１０及びＣＰＵ１５は制御手段を構
成している。Ａ／Ｄコンバータ４及びＣＰＵ１５は演算
手段を構成している。 そして、電位Ｅ１ 及び電位Ｅ２ は電源電位に相当し
、電位ｖ１ はｘ座標電位に相当し、電位ｖ２ はｙ座
標電位にそれぞれ相当している。
１ →Ｅ１→Ｖ２ →Ｅ２ でもよいし、Ｅ１ →Ｖ１
→Ｅ２ →Ｖ２ あるいはＶ１ →Ｖ２ →Ｅ２ 等
であってもい。要はｘ座標に相当する電位と、ｙ座標に
相当する電位と、電源の電位とを任意かつ十分高速に切
換えられればよいのである。ここで、抵抗膜１は第１の
抵抗膜に相当し、抵抗膜２は第２の抵抗膜に相当する電
源３は電源供給手段に相当する。また、切換スイッチ５
、６、７、８、９、１０及びＣＰＵ１５は制御手段を構
成している。Ａ／Ｄコンバータ４及びＣＰＵ１５は演算
手段を構成している。 そして、電位Ｅ１ 及び電位Ｅ２ は電源電位に相当し
、電位ｖ１ はｘ座標電位に相当し、電位ｖ２ はｙ座
標電位にそれぞれ相当している。
【００１７】上記実施例は接触点Ｐの平面上の座標（ｘ
Ｐ 、ｙＰ）を検出する装置について開示したが、接触
点Ｐの直線上の座標（例えばｘＰ ）のみを検出する装
置も本発明の範囲内に含まれる。すなわち、図２におい
て、切換スイッチ９を除去し、切換スイッチ５及び６を
図示の端子側にのみ固定すれば、接触点Ｐのｘ座標値ｘ
Ｐ のみを検出することができる。この変形例は、図２
に示す実施例を２次元の座標検出装置とすれば、１次元
の座標検出装置と言うことができる。もちろん、これは
接触点Ｐのｙ座標値ｙＰ のみを検出するとができるよ
うに構成してもよい。
Ｐ 、ｙＰ）を検出する装置について開示したが、接触
点Ｐの直線上の座標（例えばｘＰ ）のみを検出する装
置も本発明の範囲内に含まれる。すなわち、図２におい
て、切換スイッチ９を除去し、切換スイッチ５及び６を
図示の端子側にのみ固定すれば、接触点Ｐのｘ座標値ｘ
Ｐ のみを検出することができる。この変形例は、図２
に示す実施例を２次元の座標検出装置とすれば、１次元
の座標検出装置と言うことができる。もちろん、これは
接触点Ｐのｙ座標値ｙＰ のみを検出するとができるよ
うに構成してもよい。
【００１８】さらに、他の実施例として、図３に空間座
標（３次元座標）を検出する装置を示す。この装置は上
記の２次元座標検出装置である第１パネル２１と１次元
座標検出装置である第２パネル２２とを組み合わせたも
のである。このように構成することにより、空間点Ｐの
座標（ｘＰ 、ｙＰ 、ｚＰ ）を上記と同様にして電
源変動の影響を受けることなく精度よく検出でできる。 このような３次元座標検出装置は、多項目の入力装置に
用いることができるほか、３次元的なヒストグラムデー
タを入力するデータ入力装置などにも好適である。この
場合、第２パネル２２は、第１パネル２１と同様な２次
元座標検出装置であってもかまわない。
標（３次元座標）を検出する装置を示す。この装置は上
記の２次元座標検出装置である第１パネル２１と１次元
座標検出装置である第２パネル２２とを組み合わせたも
のである。このように構成することにより、空間点Ｐの
座標（ｘＰ 、ｙＰ 、ｚＰ ）を上記と同様にして電
源変動の影響を受けることなく精度よく検出でできる。 このような３次元座標検出装置は、多項目の入力装置に
用いることができるほか、３次元的なヒストグラムデー
タを入力するデータ入力装置などにも好適である。この
場合、第２パネル２２は、第１パネル２１と同様な２次
元座標検出装置であってもかまわない。
【００１９】本発明は上記実施例に限定されるものでは
ない。上記実施例においては、抵抗膜１の電極１１、１
２と抵抗膜２の電極１３、１４とは互いに直角をなして
おり、点Ｐの座標（ｘＰ 、ｙＰ ）は直交座標系の座
標となるが、電極１１、１２と電極１３、１４とは斜交
するように両抵抗膜を配置してもよい。この場合には座
標Ｐ（ｘＰ 、ｙＰ ）は斜交座標系の座標を表わす。 空間座標Ｐ（ｘＰ 、ｙＰ 、ｚＰ ）の場合も同様で
ある。また、上記切換スイッチ１０の端子ａ側とｂ側と
の切換えはどちらが先であってもかまわない。
ない。上記実施例においては、抵抗膜１の電極１１、１
２と抵抗膜２の電極１３、１４とは互いに直角をなして
おり、点Ｐの座標（ｘＰ 、ｙＰ ）は直交座標系の座
標となるが、電極１１、１２と電極１３、１４とは斜交
するように両抵抗膜を配置してもよい。この場合には座
標Ｐ（ｘＰ 、ｙＰ ）は斜交座標系の座標を表わす。 空間座標Ｐ（ｘＰ 、ｙＰ 、ｚＰ ）の場合も同様で
ある。また、上記切換スイッチ１０の端子ａ側とｂ側と
の切換えはどちらが先であってもかまわない。
【００２０】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
定電圧回路が不要で、Ａ／Ｄコンバータの精度もそれほ
ど必要とせず、かつ、座標検出精度を向上することがで
きるという利点を有する。
定電圧回路が不要で、Ａ／Ｄコンバータの精度もそれほ
ど必要とせず、かつ、座標検出精度を向上することがで
きるという利点を有する。
【図１】本発明の原理説明図である。
【図２】本発明の一実施例の構成を示す図である。
【図３】本発明の他の実施例の構成を示す図である。
【図４】従来例の構成を示す図である。
【図５】従来例の等価回路を示す図である。
【図６】従来例の動作を説明する図である。
１、２…抵抗膜
３…電源
４…Ａ／Ｄコンバータ
５、６、７、８、９、１０…切換スイッチ１１、１２、
１３、１４…電極 １５…ＣＰＵ １６…定電圧回路 １７…ＣＰＵ ２１…第１のパネル ２２…第２のパネル １００、１００Ａ…座標検出装置 １０１…第１の抵抗膜 １０２…第２の抵抗膜 １０３…電源供給手段 １０４…制御手段 １０５…演算手段 ２００…座標検出装置 ａ、ｂ…端子 Ｌ、ｌ１ 、ｌ２ …距離 Ｐ…接触点、空間点 Ｒ１ 、Ｒ２ …等価抵抗
１３、１４…電極 １５…ＣＰＵ １６…定電圧回路 １７…ＣＰＵ ２１…第１のパネル ２２…第２のパネル １００、１００Ａ…座標検出装置 １０１…第１の抵抗膜 １０２…第２の抵抗膜 １０３…電源供給手段 １０４…制御手段 １０５…演算手段 ２００…座標検出装置 ａ、ｂ…端子 Ｌ、ｌ１ 、ｌ２ …距離 Ｐ…接触点、空間点 Ｒ１ 、Ｒ２ …等価抵抗
Claims (3)
- 【請求項１】 対向して配置された第１の抵抗膜（１
０１）及び第２の抵抗膜（１０２）と、当該第１の抵抗
膜（１０１）又は第２の抵抗膜（１０２）に電位を与え
る電源供給手段（１０３）と、前記２枚の抵抗膜（１０
１、１０２）を任意の点（Ｐ）において接触させた際に
、前記第１の抵抗膜（１０１）のｘ軸方向に前記電源供
給手段（１０３）から電源電位（ＶＳ ）を与えるとと
もに前記第２の抵抗膜（１０２）からｘ座標電位（Ｖｘ
）を検出する第１検出動作と、前記電源電位（ＶＳ
）を検出する第２検出動作と、を任意に切換えて行わせ
る制御手段（１０４）と、前記ｘ座標電位（Ｖｘ ）と
前記電源電位（ＶＳ ）とから前記接触点（Ｐ）のｘ座
標値（ｘＰ ）を算出する演算手段（１０５）と、を備
えたことを特徴とする座標検出装置。 - 【請求項２】 対向して配置された第１の抵抗膜（１
０１）及び第２の抵抗膜（１０２）と、当該第１の抵抗
膜（１０１）又は第２の抵抗膜（１０２）に電位を与え
る電源供給手段（１０３）と、前記２枚の抵抗膜（１０
１、１０２）を任意の点（Ｐ）において接触させた際に
、前記第１の抵抗膜（１０１）のｘ軸方向に前記電源供
給手段（１０３）から電源電位（ＶＳ ）を与えるとと
もに前記第２の抵抗膜（１０２）からｘ座標電位（Ｖｘ
）を検出する第１検出動作と、前記第２の抵抗膜（１
０２）のｙ軸方向に前記電源電位（ＶＳ）を与えるとと
もに前記第１の抵抗膜（１０１）からｙ座標電位（Ｖｙ
）を検出する第２検出動作と、前記電源電位（ＶＳ
）を検出する第３検出動作と、を任意に切換えて行わせ
る制御手段（１０４）と、前記ｘ座標電位（Ｖｘ ）と
前記電源電位（ＶＳ ）とから前記接触点（Ｐ）のｘ座
標値（ｘＰ ）を算出し、かつ、前記ｙ座標電位（Ｖｙ
）と前記電源電位（ＶＳ ）とから前記接触点（Ｐ）
のｙ座標値（ｙＰ ）を算出する演算手段（１０５）と
、を備えたことを特徴とする座標検出装置。 - 【請求項３】 対向して配置された第１の抵抗膜及び
第２の抵抗膜とを含んで構成される第１のパネルと、対
向して配置された第３の抵抗膜及び第４の抵抗膜とを含
んで構成されるとともに前記第１のパネルと交角をなし
て設けられた第２のパネルと、前記いずれかの抵抗膜に
電位を与える電源供給手段と、前記第１のパネルと第２
のパネルとで決定される空間内の任意の空間点の前記第
１のパネルへの第１の投影点において前記第１の抵抗膜
及び第２の抵抗膜を接触された際に、前記第１の抵抗膜
のｘ軸方向に前記電源供給手段から電源電位を与えると
ともに前記第２の抵抗膜からｘ座標電位を検出する第１
検出動作と、前記第２の抵抗膜のｙ軸方向に前記電源電
位を与えるとともに前記第１の抵抗膜からｙ座標電位を
検出する第２検出動作と、前記電源電位を検出する第３
検出動作と、を任意に切換えて行わせ、かつ、前記空間
点の前記第２パネルへの第２の投影点において前記第３
の抵抗膜及び第４の抵抗膜を接触させた際に、前記第３
の抵抗膜のｚ軸方向に前記電源電位を与えるとともに前
記第４の抵抗膜からｚ座標電位を検出する第４検出動作
と、前記電源電位を検出する第５検出動作と、を任意に
切替えて行わせる制御手段と、前記ｘ座標電位と前記電
源電位とから前記空間点のｘ座標値を算出し、前記ｙ座
標電位と前記電源電位とから前記空間点のｙ座標値を算
出し、かつ、前記ｚ座標電位と前記電源電位とから前記
空間点のｚ座標値を算出する演算手段と、を備えたこと
を特徴とする座標検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4183691A JP2688292B2 (ja) | 1991-03-07 | 1991-03-07 | 座標検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4183691A JP2688292B2 (ja) | 1991-03-07 | 1991-03-07 | 座標検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04279921A true JPH04279921A (ja) | 1992-10-06 |
| JP2688292B2 JP2688292B2 (ja) | 1997-12-08 |
Family
ID=12619350
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4183691A Expired - Fee Related JP2688292B2 (ja) | 1991-03-07 | 1991-03-07 | 座標検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2688292B2 (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS585150U (ja) * | 1981-06-30 | 1983-01-13 | 日本電気ホームエレクトロニクス株式会社 | 手書き入力装置 |
-
1991
- 1991-03-07 JP JP4183691A patent/JP2688292B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS585150U (ja) * | 1981-06-30 | 1983-01-13 | 日本電気ホームエレクトロニクス株式会社 | 手書き入力装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2688292B2 (ja) | 1997-12-08 |
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