JPH0429027B2 - - Google Patents
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- JPH0429027B2 JPH0429027B2 JP55181987A JP18198780A JPH0429027B2 JP H0429027 B2 JPH0429027 B2 JP H0429027B2 JP 55181987 A JP55181987 A JP 55181987A JP 18198780 A JP18198780 A JP 18198780A JP H0429027 B2 JPH0429027 B2 JP H0429027B2
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- current
- emitter
- voltage
- resistor
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R19/00—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
- G01R19/145—Indicating the presence of current or voltage
- G01R19/15—Indicating the presence of current
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
この発明は、電流検出回路に関する。
[従来の技術]
従来より、電流検出用抵抗の両端の電圧をトラ
ンジスタのベース、エミツタ間に印加し、トラン
ジスタのベース、エミツタ間電圧(しきい値電
圧)VBEを利用した電流検出回路が提案されてい
る。
ンジスタのベース、エミツタ間に印加し、トラン
ジスタのベース、エミツタ間電圧(しきい値電
圧)VBEを利用した電流検出回路が提案されてい
る。
[発明が解決しようとする課題]
このような電流検出回路では、トランジスタの
ベース、エミツタ間電圧VBEの温度依存性のため
に、温度変化により検出電流が変化するという欠
点がある。また、電流検出用抵抗における電圧降
下が約0.7ボルトにならないと、検出信号が得ら
れないため、電圧損失が大きく低電圧回路では使
用できないという欠点がある。
ベース、エミツタ間電圧VBEの温度依存性のため
に、温度変化により検出電流が変化するという欠
点がある。また、電流検出用抵抗における電圧降
下が約0.7ボルトにならないと、検出信号が得ら
れないため、電圧損失が大きく低電圧回路では使
用できないという欠点がある。
この発明の目的は、検出電流精度の向上を図る
とともに、電圧損失を低減した電流検出回路を提
供することにある。
とともに、電圧損失を低減した電流検出回路を提
供することにある。
[課題を解決するための手段]
この発明の基本的特徴によれば、電流検出トラ
ンジスタのベース、エミツタ間に、ベース、コレ
クタ間に抵抗が設けられたトランジスタのエミツ
タ、コレクタ間電圧と電流検出用抵抗における電
圧との和の電圧が印加されるとともに、両トラン
ジスタのエミツタ電流密度が等しく設定される。
ンジスタのベース、エミツタ間に、ベース、コレ
クタ間に抵抗が設けられたトランジスタのエミツ
タ、コレクタ間電圧と電流検出用抵抗における電
圧との和の電圧が印加されるとともに、両トラン
ジスタのエミツタ電流密度が等しく設定される。
[実施例]
以下、この発明を実施例とともに詳細に説明す
る。
る。
第1図は、この発明の一実施例を示す基本的回
路図である。
路図である。
検出すべき電流Iの電流路T1,T2間に電流−
電圧変換のための抵抗R101が設けられる。この抵
抗R101の一方の端子T2にエミツタが接続された
トランジスタQ15のベース、コレクタ間には抵抗
R18が設けられる。そして、抵抗R18とトランジ
スタQ15のベースとの接続点には、バイアス用の
定電流回路I2が設けられる。
電圧変換のための抵抗R101が設けられる。この抵
抗R101の一方の端子T2にエミツタが接続された
トランジスタQ15のベース、コレクタ間には抵抗
R18が設けられる。そして、抵抗R18とトランジ
スタQ15のベースとの接続点には、バイアス用の
定電流回路I2が設けられる。
一方、抵抗R101の他方の端子T1は、トランジ
スタQ16のエミツタに接続される。このトランジ
スタQ16のベースは、トランジスタQ15のコレク
タと抵抗R18の接続点に接続される。これによ
り、トランジスタQ16のエミツタ、ベース間に
は、抵抗R101における電圧とトランジスタQ15の
エミツタ、コレクタ間電圧との和の電圧が印加さ
れる。
スタQ16のエミツタに接続される。このトランジ
スタQ16のベースは、トランジスタQ15のコレク
タと抵抗R18の接続点に接続される。これによ
り、トランジスタQ16のエミツタ、ベース間に
は、抵抗R101における電圧とトランジスタQ15の
エミツタ、コレクタ間電圧との和の電圧が印加さ
れる。
上記トランジスタQ15のエミツタ、コレクタ間
電圧は、言い換えれば、トランジスタQ15のベー
ス、エミツタ間電圧VBEQ15から抵抗R18における
電圧降下分(R18×I2)を差し引いた定電圧とな
る。
電圧は、言い換えれば、トランジスタQ15のベー
ス、エミツタ間電圧VBEQ15から抵抗R18における
電圧降下分(R18×I2)を差し引いた定電圧とな
る。
また、トランジスタQ16のコレクタには、定電
流回路I1が設けられ、トランジスタQ16のコレク
タ電流と定電流I1との差の電流が出力信号OUT
として出力される。
流回路I1が設けられ、トランジスタQ16のコレク
タ電流と定電流I1との差の電流が出力信号OUT
として出力される。
上記トランジスタQ15,Q16のエミツタ電流密
度が略等しくなるように、トランジスタQ15,
Q16のエミツタ面積に対して、上記定電流I1,I2
の電流値が設定される。例えば、トランジスタ
Q15,Q16のエミツタ面積を同一とした場合には、
電流I1とI2とは等しく設定される。
度が略等しくなるように、トランジスタQ15,
Q16のエミツタ面積に対して、上記定電流I1,I2
の電流値が設定される。例えば、トランジスタ
Q15,Q16のエミツタ面積を同一とした場合には、
電流I1とI2とは等しく設定される。
トランジスタQ16がオンする条件は、次式(1)に
より求められる。
より求められる。
VBEQ16IR101+VBEQ15−I2R18 …(1)
ここで、トランジスタQ16,Q15のエミツタ電
流密度が等しく設定されていることにより、ま
た、電流I1,I2が等しく設定されていることによ
り、トランジスタQ16がオンした状態では、
VBEQ16とVBEQ15が等しくなるため、上式(1)から
VBEQ16とVBEQ15を完全に除去することができ、次
式(2)のように変形することができる。
流密度が等しく設定されていることにより、ま
た、電流I1,I2が等しく設定されていることによ
り、トランジスタQ16がオンした状態では、
VBEQ16とVBEQ15が等しくなるため、上式(1)から
VBEQ16とVBEQ15を完全に除去することができ、次
式(2)のように変形することができる。
IR18/R101 ……(2)
すなわち、I<R18/R101I2の下では、トランジス
タQ16がオフして、コレクタ電流が流れないため
出力OUTには定電流I1の吸い込み電流が得られ
る。
出力OUTには定電流I1の吸い込み電流が得られ
る。
一方、IR18/R101I2の下では、トランジスタ
Q16がオンして、そのコレクタ電流が定電流I1と
等しくなつたとき、出力端子OUTの電流が零と
なり、IR18/R101I2以上の電流が電流路T1,T2 間に流れることを検出できる。
等しくなつたとき、出力端子OUTの電流が零と
なり、IR18/R101I2以上の電流が電流路T1,T2 間に流れることを検出できる。
上記条件式から明らかなように、トランジスタ
Q16,Q15のベース、エミツタ間電圧が相殺され
ることの結果、トランジスタの温度依存性に影響
されて検出すべき電流値がバラツクということが
なくなり、従つて温度補償されることとなる。ま
た、トランジスタQ15,Q16を同一のシリコンチ
ツプに形成することにより、そのベース、エミツ
タ間電圧VBEの製造上のバラツキに対して検出す
べき電流値が影響されることもない。このことに
より、高精度の電流検出を行なうことができる。
Q16,Q15のベース、エミツタ間電圧が相殺され
ることの結果、トランジスタの温度依存性に影響
されて検出すべき電流値がバラツクということが
なくなり、従つて温度補償されることとなる。ま
た、トランジスタQ15,Q16を同一のシリコンチ
ツプに形成することにより、そのベース、エミツ
タ間電圧VBEの製造上のバラツキに対して検出す
べき電流値が影響されることもない。このことに
より、高精度の電流検出を行なうことができる。
また、抵抗R101における必要最小の電圧降下
は、抵抗R18における電圧降下R18×I2で設定で
き、トランジスタQ16のベース、エミツタ間電圧
VBEQ16以下の小さな電圧値となる。したがつて、
電流路における電圧損失も小さくできるし、その
用途の拡大を図ることができる。
は、抵抗R18における電圧降下R18×I2で設定で
き、トランジスタQ16のベース、エミツタ間電圧
VBEQ16以下の小さな電圧値となる。したがつて、
電流路における電圧損失も小さくできるし、その
用途の拡大を図ることができる。
第2図は、この発明をモータ駆動回路に応用し
た場合の一実施例の回路図である。
た場合の一実施例の回路図である。
このモータ駆動回路は、特に限定されないが、
カセツト式テープレコーダに用いられる。
カセツト式テープレコーダに用いられる。
第2図において、点線で囲まれた部分の回路素
子は、周知の半導体製造方法によつて1個のシリ
コンチツプに形成される。また、丸で囲まれた数
字は端子番号である。
子は、周知の半導体製造方法によつて1個のシリ
コンチツプに形成される。また、丸で囲まれた数
字は端子番号である。
この実施例回路は、大きく分けると、ボルテー
ジフオロワ回路としてのエミツタフオロワ電流増
幅回路と、サージ保護回路と、バイアス回路及び
この発明にかかる電流検出回路を用いた電流制限
回路とにより構成される。
ジフオロワ回路としてのエミツタフオロワ電流増
幅回路と、サージ保護回路と、バイアス回路及び
この発明にかかる電流検出回路を用いた電流制限
回路とにより構成される。
エミツタフオロワ回路は、ダーリントン形態の
駆動トランジスタQ11、出力トランジスタQ12と、
その入出力であるトランジスタQ11のベースとト
ランジスタQ12のエミツタ間に設けられたバイア
ス回路とにより構成される。このバイアス回路
は、次の各素子により構成される。すなわち、ベ
ース、エミツタ間に抵抗R14が設けられ、ベー
ス、コレクタ間にダイオード(ダイオード形態の
トランジスタを含む)Q14が設けられたトランジ
スタQ13におけるベース、コレクタ間電圧がバイ
アス電圧として、トランジスタQ7,Q8のベース、
エミツタを通して、上記トランジスタQ11,Q12
のベース、エミツタ間に印加される。トランジス
タQ13のコレクタには、定電流トランジスタQ6か
ら、上記バイアス電圧を形成するためのバイアス
電流が供給されている。
駆動トランジスタQ11、出力トランジスタQ12と、
その入出力であるトランジスタQ11のベースとト
ランジスタQ12のエミツタ間に設けられたバイア
ス回路とにより構成される。このバイアス回路
は、次の各素子により構成される。すなわち、ベ
ース、エミツタ間に抵抗R14が設けられ、ベー
ス、コレクタ間にダイオード(ダイオード形態の
トランジスタを含む)Q14が設けられたトランジ
スタQ13におけるベース、コレクタ間電圧がバイ
アス電圧として、トランジスタQ7,Q8のベース、
エミツタを通して、上記トランジスタQ11,Q12
のベース、エミツタ間に印加される。トランジス
タQ13のコレクタには、定電流トランジスタQ6か
ら、上記バイアス電圧を形成するためのバイアス
電流が供給されている。
なお、このエミツタフオロワ回路には、負荷に
対する電流引き抜き回路として、言い換えれば、
出力の低インピーダンス化のために、出力トラン
ジスQ12にカスケード接続されたトランジスタ
Q10が設けられる。このトランジスタQ10のベー
スには、バイアス回路を構成するトランジスタ
Q8のコレクタ分圧電流で駆動される反転トラン
ジスタQ9のコレクタ電流が入力される。これに
より、出力トランジスタQ12に対してトランジス
タQ10を相補的に動作させることができる。
対する電流引き抜き回路として、言い換えれば、
出力の低インピーダンス化のために、出力トラン
ジスQ12にカスケード接続されたトランジスタ
Q10が設けられる。このトランジスタQ10のベー
スには、バイアス回路を構成するトランジスタ
Q8のコレクタ分圧電流で駆動される反転トラン
ジスタQ9のコレクタ電流が入力される。これに
より、出力トランジスタQ12に対してトランジス
タQ10を相補的に動作させることができる。
一方、抵抗R3とツエナーダイオードZDで形成
された定電流がベースに印加され、エミツタに抵
抗R1,R2で分圧された電源電圧VCCが印加された
トランジスタQ1は、サージ電圧検出トランジス
タである。このトランジスタQ1のコレクタには
抵抗R4が設けられ、そのサージ検出電圧で制御
されるサージ保護トランジスタQ17,Q19のオン
動作により、駆動トランジスタQ11、出力トラン
ジスタQ12が強制的にオフさせられる。
された定電流がベースに印加され、エミツタに抵
抗R1,R2で分圧された電源電圧VCCが印加された
トランジスタQ1は、サージ電圧検出トランジス
タである。このトランジスタQ1のコレクタには
抵抗R4が設けられ、そのサージ検出電圧で制御
されるサージ保護トランジスタQ17,Q19のオン
動作により、駆動トランジスタQ11、出力トラン
ジスタQ12が強制的にオフさせられる。
また、次に説明する電流制限回路のバイアス電
流を形成する定電流源回路のトランジスタQ2も
サージ検出電圧で同様に制限されるサージ保護ト
ランジスタQ18のオン動作により強制的にオフさ
せられる。
流を形成する定電流源回路のトランジスタQ2も
サージ検出電圧で同様に制限されるサージ保護ト
ランジスタQ18のオン動作により強制的にオフさ
せられる。
出力トランジスタQ12のコレクタは、4番端子
に接続される。そして、4番端子と電源電圧VCC
が供給される5番端子との間に電流検出用抵抗
R101が外付け部品として接続されている。
に接続される。そして、4番端子と電源電圧VCC
が供給される5番端子との間に電流検出用抵抗
R101が外付け部品として接続されている。
この4番端子と5番端子に前記説明したような
電流検出回路を構成するトランジスタQ15,Q16
及び抵抗R18が設けられる。トランジスタQ20は、
トランジスタQ15へのバイアス電流を流すための
定電流I2を形成する。また、トランジスタQ3は、
前記定電流I1を形成するものである。
電流検出回路を構成するトランジスタQ15,Q16
及び抵抗R18が設けられる。トランジスタQ20は、
トランジスタQ15へのバイアス電流を流すための
定電流I2を形成する。また、トランジスタQ3は、
前記定電流I1を形成するものである。
これらの定電流I1,I2は、上記ツエナーダイオ
ードZDで形成された定電圧に基づいて形成され
る。すなわち、上記ツエナー定電圧がベースに印
加されたトランジスタQ22のエミツタに、抵抗R5
とダイオード形態のトランジスタQ2及びエミツ
タ抵抗R6とにより定電圧を形成し、上記定電流
トランジスタQ3,Q20のベースに印加するもので
ある。そして、上記定電流トランジスタQ2のコ
レクタから得られる定電流I1は、電流ミラー回路
を構成するトランジスタQ4,Q5を介して、駆動
トランジスタQ11へのベース駆動電流としても用
いられる。なお、上記トランジスタQ4とともに、
定電流トランジスタQ6も電流ミラー回路を構成
し、バイアス回路への定電流が形成される。
ードZDで形成された定電圧に基づいて形成され
る。すなわち、上記ツエナー定電圧がベースに印
加されたトランジスタQ22のエミツタに、抵抗R5
とダイオード形態のトランジスタQ2及びエミツ
タ抵抗R6とにより定電圧を形成し、上記定電流
トランジスタQ3,Q20のベースに印加するもので
ある。そして、上記定電流トランジスタQ2のコ
レクタから得られる定電流I1は、電流ミラー回路
を構成するトランジスタQ4,Q5を介して、駆動
トランジスタQ11へのベース駆動電流としても用
いられる。なお、上記トランジスタQ4とともに、
定電流トランジスタQ6も電流ミラー回路を構成
し、バイアス回路への定電流が形成される。
なお、この実施例にける電流検出回路には、後
述する電流制限動作時の発振を防止するためにト
ランジスタQ16のベースには、ローパスフイルタ
を構成する抵抗R20とコンデンサC2が設けられて
いる。トランジスタQ16のベースだけ抵抗R20を
挿入したのでは、前記電流検出動作に影響を及ぼ
すので、同様な抵抗値の抵抗R19をトランジスタ
Q16のベースに挿入して、ベース電流に電圧降下
を両トランジスタQ15,Q16間で等しくするもの
である。
述する電流制限動作時の発振を防止するためにト
ランジスタQ16のベースには、ローパスフイルタ
を構成する抵抗R20とコンデンサC2が設けられて
いる。トランジスタQ16のベースだけ抵抗R20を
挿入したのでは、前記電流検出動作に影響を及ぼ
すので、同様な抵抗値の抵抗R19をトランジスタ
Q16のベースに挿入して、ベース電流に電圧降下
を両トランジスタQ15,Q16間で等しくするもの
である。
この実施例回路の動作は、次に説明で理解され
よう。
よう。
2番端子から印加された入力電圧VINは、トラ
ンジスタQ7のエミツタ、ベースを通して駆動ト
ランジスタQ11のベースに伝えられる。したがつ
て、出力トランジスタQ12のエミツタに接続され
た1番端子から得られる出力電圧VOUTは、VIN−
VBEQ12の電圧となり、負荷である直流モータを駆
動する。このモータの回転数は、電圧変換されて
入力側に帰還され、所定の回転数を得、電圧VIN
が形成される(図示せず)。
ンジスタQ7のエミツタ、ベースを通して駆動ト
ランジスタQ11のベースに伝えられる。したがつ
て、出力トランジスタQ12のエミツタに接続され
た1番端子から得られる出力電圧VOUTは、VIN−
VBEQ12の電圧となり、負荷である直流モータを駆
動する。このモータの回転数は、電圧変換されて
入力側に帰還され、所定の回転数を得、電圧VIN
が形成される(図示せず)。
この直流モータへの電流が許容値内である場合
には、トランジスタQ16がオフしているので、駆
動トランジスタQ11、及びバイアス回路のトラン
ジスタQ12のコレクタには、上記定電流I1が供給
されている。
には、トランジスタQ16がオフしているので、駆
動トランジスタQ11、及びバイアス回路のトラン
ジスタQ12のコレクタには、上記定電流I1が供給
されている。
そして、出力トランジスタQ12を通して直流モ
ータに過大電流が流れると、トランジスタQ16が
オンして、定電流I1を形成するトランジスタQ3へ
電流を供給するため、相対的に電流ミラー回路を
介して駆動トランジスタQ11及びバイアス回路へ
の電流が減少して、トランジスタQ12に流れる電
流を制限することができる。これにより、出力ト
ランジスタQ12及びモーターの破損を防止するこ
とができる。
ータに過大電流が流れると、トランジスタQ16が
オンして、定電流I1を形成するトランジスタQ3へ
電流を供給するため、相対的に電流ミラー回路を
介して駆動トランジスタQ11及びバイアス回路へ
の電流が減少して、トランジスタQ12に流れる電
流を制限することができる。これにより、出力ト
ランジスタQ12及びモーターの破損を防止するこ
とができる。
この実施例のように、電流検出回路を構成する
トランジスタQ15,Q16及び抵抗R18と定電流I1,
I2を形成する回路を同一のシリコンチツプに形成
した場合には、トランジスタQ15,Q16の特性が
そろつたものが形成できることの他、抵抗R18に
おける電圧降下は精度良く形成できる抵抗R5,
R6,RL,R11及びR18における抵抗比で決定され
るため、素子のバラツキの影響を受けることな
く、高精度の電流検出を行うことができる。
トランジスタQ15,Q16及び抵抗R18と定電流I1,
I2を形成する回路を同一のシリコンチツプに形成
した場合には、トランジスタQ15,Q16の特性が
そろつたものが形成できることの他、抵抗R18に
おける電圧降下は精度良く形成できる抵抗R5,
R6,RL,R11及びR18における抵抗比で決定され
るため、素子のバラツキの影響を受けることな
く、高精度の電流検出を行うことができる。
すなわち、トランジスタQ16がオンする電圧は
抵抗R18と抵抗R101との電圧降下が等しくなつた
ときであるからである。
抵抗R18と抵抗R101との電圧降下が等しくなつた
ときであるからである。
第3図には、この発明の他の一実施例を示す回
路図が示されている。
路図が示されている。
この実施例では、エミツタフオロワ出力トラン
ジスタQ12エミツタ側に電流検出用抵抗R101が設
けられる。したがつて、電流検出回路を構成する
トランジスタQ15′,Q16′は、前記実施例と異なり
npnトランジスタが用いられ、バイアス電流I1′,
I2′も押し出し定電流に置き換えられている。
ジスタQ12エミツタ側に電流検出用抵抗R101が設
けられる。したがつて、電流検出回路を構成する
トランジスタQ15′,Q16′は、前記実施例と異なり
npnトランジスタが用いられ、バイアス電流I1′,
I2′も押し出し定電流に置き換えられている。
また、電流検出トランジスタQ16′は、出力トラ
ンジスタQ12のベース、エミツタ間に挿入され、
出力トランジスタQ12のベース電流を直接制限す
るものとされている。そして、トランジスタ
Q16′がオン動作時における発振防止の為の抵抗
R20、コンデンサC2と、補償抵抗R19が前記同様
に設けられている。
ンジスタQ12のベース、エミツタ間に挿入され、
出力トランジスタQ12のベース電流を直接制限す
るものとされている。そして、トランジスタ
Q16′がオン動作時における発振防止の為の抵抗
R20、コンデンサC2と、補償抵抗R19が前記同様
に設けられている。
また、出力トランジスタQ12のベースには、増
幅トランジスタQ21と、そのコレクタに設けられ
上記バイアス電流源I1′としても作用する定電流
負荷とで構成された電圧増幅信号が印加される。
幅トランジスタQ21と、そのコレクタに設けられ
上記バイアス電流源I1′としても作用する定電流
負荷とで構成された電圧増幅信号が印加される。
この回路の動作は、トランジスタQ12のエミツ
タ電流が所定の電流値以上になるとトランジスタ
Q16′がオンして、トランジスタQ12へのベース電
流を制限することにより、前記同様な保護動作を
行うものである。
タ電流が所定の電流値以上になるとトランジスタ
Q16′がオンして、トランジスタQ12へのベース電
流を制限することにより、前記同様な保護動作を
行うものである。
上記出力トランジスタQ12に対してカスケード
接続され、出力トランジスタQ12に対して出力中
点電圧で切り換えられる出力トランジスタを追加
すれば、この実施例回路はB級プツシユプル出力
回路に変形することができる。
接続され、出力トランジスタQ12に対して出力中
点電圧で切り換えられる出力トランジスタを追加
すれば、この実施例回路はB級プツシユプル出力
回路に変形することができる。
この発明は、電流検出回路として、各種電流制
限回路等に広く利用できるものである。
限回路等に広く利用できるものである。
第1図は、この発明の一実施例を示す基本的回
路図、第2図、第3図は、それぞれこの発明の一
実施例を示す具体的回路図である。
路図、第2図、第3図は、それぞれこの発明の一
実施例を示す具体的回路図である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 検出すべき電流の経路に設けられた第1抵抗
R101と、上記第1抵抗R101における基準となる一
方の端子にエミツタが接続された第1トランジス
タQ15のベース、コレクタ間に設けられた上記第
1トランジスタQ15のコレクタ電流が流れる第2
抵抗R18と、上記第1トランジスタQ15のエミツ
タ、コレクタ間電圧と上記第1抵抗R101で発生し
た電圧の和の電圧がエミツタ、ベース間に印加さ
れた第2トランジスタQ16と、上記第2トランジ
スタQ16のコレクタに接続された第1定電流回路
I1と、上記第1トランジスタQ15のベースに接続
された第2定電流回路I2とを含み、上記第1トラ
ンジスタQ15、第2トランジスタQ16のエミツタ
電流密度を略等しくして上記第1、第2定電流回
路I1,I2の電流値を設定し、上記第2トランジス
タQ16のコレクタより検出信号を得るものとし、
上記第1、第2トランジスタQ15,Q16及び第1、
第2定電流回路I1,I2が同一のシリコンチツプに
形成されることを特徴とする電流検出回路。 2 上記第1トランジスタQ15、上記第2トラン
ジスタQ16のエミツタサイズを等しくし、かつ上
記第1定電流回路I1、上記第1定電流回路I2の電
流値を等しくしたことを特徴とする特許請求の範
囲第1項記載の電流検出回路。 3 検出すべき電流は、パワー出力トランジスタ
に流れる電流であり、検出信号は上記パワー出力
トランジスタの入力電流を制限するものであるこ
とを特徴とする特許請求の範囲第1項又は、第2
項記載の電流検出回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18198780A JPS57106871A (en) | 1980-12-24 | 1980-12-24 | Current detecting circuit |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18198780A JPS57106871A (en) | 1980-12-24 | 1980-12-24 | Current detecting circuit |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS57106871A JPS57106871A (en) | 1982-07-02 |
| JPH0429027B2 true JPH0429027B2 (ja) | 1992-05-15 |
Family
ID=16110337
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18198780A Granted JPS57106871A (en) | 1980-12-24 | 1980-12-24 | Current detecting circuit |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS57106871A (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59144799U (ja) * | 1983-03-18 | 1984-09-27 | テクトロニクス・インコ−ポレイテツド | ランプ制御装置 |
| JPH01274858A (ja) * | 1988-04-25 | 1989-11-02 | Tadahiro Yuki | サイクロン分別方法 |
| JPH0225874U (ja) * | 1988-08-04 | 1990-02-20 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB2007055B (en) * | 1977-10-21 | 1982-08-18 | Plessey Co Ltd | Circuit arrangement |
-
1980
- 1980-12-24 JP JP18198780A patent/JPS57106871A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS57106871A (en) | 1982-07-02 |
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