JPH0429176B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0429176B2 JPH0429176B2 JP57068643A JP6864382A JPH0429176B2 JP H0429176 B2 JPH0429176 B2 JP H0429176B2 JP 57068643 A JP57068643 A JP 57068643A JP 6864382 A JP6864382 A JP 6864382A JP H0429176 B2 JPH0429176 B2 JP H0429176B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- cathode
- emission
- grid
- color picture
- picture tube
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J9/00—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture, installation, removal, maintenance of electric discharge tubes, discharge lamps, or parts thereof; Recovery of material from discharge tubes or lamps
- H01J9/42—Measurement or testing during manufacture
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Manufacture Of Electron Tubes, Discharge Lamp Vessels, Lead-In Wires, And The Like (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明はカラー受像管の検査方法に係り、特に
エミツシヨン特性を劣化する要因をもつたカラー
受像管を早期に検出し、再生工程に送ると共に、
その情報を製造工程に利用することが可能なカラ
ー受像管の検査方法に関するものである。
エミツシヨン特性を劣化する要因をもつたカラー
受像管を早期に検出し、再生工程に送ると共に、
その情報を製造工程に利用することが可能なカラ
ー受像管の検査方法に関するものである。
カラー受像管の製造は通常次のような工程順に
よつて行なわれる。
よつて行なわれる。
先ず、内面に赤、緑、青の各色に発光する蛍光
体層からなる蛍光スクリーンが被着形成されか
つ、シヤドウマスクの装着されたパネルと、内部
導電膜の被着形成されたフアンネル及びネツクか
らなるフアンネルネツクとをフリツトガラスなど
で封着して所謂コンプリートバルブを形成する。
体層からなる蛍光スクリーンが被着形成されか
つ、シヤドウマスクの装着されたパネルと、内部
導電膜の被着形成されたフアンネル及びネツクか
らなるフアンネルネツクとをフリツトガラスなど
で封着して所謂コンプリートバルブを形成する。
次にこのコンプリートバルブのネツク開放端よ
りステム上に組立てられた電子銃を挿入し、ネツ
クとステムとを溶着する。
りステム上に組立てられた電子銃を挿入し、ネツ
クとステムとを溶着する。
次にステムに設けられた排気管を介して管内を
排気し、その排気管を封止する。
排気し、その排気管を封止する。
次にゲツターフラツシを行ない管内を高真空に
する。
する。
次にパネルの側壁部に防爆バンドを取付ける。
次にカソードエージング工程を経て高圧処理
（耐電圧処理）を行なつた後、各種の成品検査を
行なう。この成品検査には種々の検査項目がある
が、その１つにエミツシヨン検査がある。
（耐電圧処理）を行なつた後、各種の成品検査を
行なう。この成品検査には種々の検査項目がある
が、その１つにエミツシヨン検査がある。
このエミツシヨン検査にはカソードの速動性を
評価するエミツシヨンの立上り特性と、カソード
のエミツシヨン能力を評価する飽和エミツシヨン
特性とがある。
評価するエミツシヨンの立上り特性と、カソード
のエミツシヨン能力を評価する飽和エミツシヨン
特性とがある。
次にこのエミツシヨンの立上り特性の検査を第
１図及び第２図により説明する。
１図及び第２図により説明する。
即ち内面に蛍光スクリーン１が被着形成されか
つこの蛍光スクリーン１と所定間隔をもつてシヤ
ドウマスク２が配置されたパネル３と、内部導電
膜４及びこの内部導電膜４に電気的に接続された
陽極端子５の形成されたフアンネル６と、このフ
アンネル６に溶着されたネツク７に溶着されたス
テム８上に組立てられてネツク７内に配置された
ヒータ９、カソード１０、第１グリツド１１、第
２グリツド１２、第３グリツド１３及び第４グリ
ツド１４より構成された電子銃とを具備するカラ
ー受像管において、陽極端子５に内部導電膜４を
介して電気的に接続された第４グリツド１４とス
テム８を介して電気的に接続された第３グリツド
１３及び第２グリツド１２とに電源１５から＋
200〜300Vの電圧を印加し、第１グリツド１１を
直接接地し、カソード１０に定格の電圧を印加
し、かつカソード電流計１６を介して接地した状
態でヒータ９に定格電圧を印加して、第２図に示
す曲線２５のように流れるカソード電流が規定値
になつた時の時間ｔを読んでカソードのエミツシ
ヨンの立上り特性を検査する。
つこの蛍光スクリーン１と所定間隔をもつてシヤ
ドウマスク２が配置されたパネル３と、内部導電
膜４及びこの内部導電膜４に電気的に接続された
陽極端子５の形成されたフアンネル６と、このフ
アンネル６に溶着されたネツク７に溶着されたス
テム８上に組立てられてネツク７内に配置された
ヒータ９、カソード１０、第１グリツド１１、第
２グリツド１２、第３グリツド１３及び第４グリ
ツド１４より構成された電子銃とを具備するカラ
ー受像管において、陽極端子５に内部導電膜４を
介して電気的に接続された第４グリツド１４とス
テム８を介して電気的に接続された第３グリツド
１３及び第２グリツド１２とに電源１５から＋
200〜300Vの電圧を印加し、第１グリツド１１を
直接接地し、カソード１０に定格の電圧を印加
し、かつカソード電流計１６を介して接地した状
態でヒータ９に定格電圧を印加して、第２図に示
す曲線２５のように流れるカソード電流が規定値
になつた時の時間ｔを読んでカソードのエミツシ
ヨンの立上り特性を検査する。
このようなエミツシヨンの立上り特性の検査に
おいては、カソード１０から射出された電子は第
１図に示した矢印１７のように第１グリツド１
１、第２グリツド１２、第３グリツド１３、第４
グリツド１４に衝突し捕捉される。
おいては、カソード１０から射出された電子は第
１図に示した矢印１７のように第１グリツド１
１、第２グリツド１２、第３グリツド１３、第４
グリツド１４に衝突し捕捉される。
また飽和エミツシヨン特性検査は第３図に示す
ように陽極端子５及び内部導電膜４を介して第４
グリツド１４に電源１８から定格の高圧を印加
し、第３グリツド１３に電源１９から定格のフオ
ーカス電圧を印加し、第２グリツド１２に電源２
０から＋200〜300Vの電圧を印加し、第１グリツ
ドを直接接地し、カソード１０に定格の電圧を印
加し、かつカソード電流計１０を介して接地し、
偏向ヨークを正常の装着位置の近くに装着して動
作させることにより電子ビーム２１を蛍光スクリ
ーン１一ぱいに走査させて行なわれる。
ように陽極端子５及び内部導電膜４を介して第４
グリツド１４に電源１８から定格の高圧を印加
し、第３グリツド１３に電源１９から定格のフオ
ーカス電圧を印加し、第２グリツド１２に電源２
０から＋200〜300Vの電圧を印加し、第１グリツ
ドを直接接地し、カソード１０に定格の電圧を印
加し、かつカソード電流計１０を介して接地し、
偏向ヨークを正常の装着位置の近くに装着して動
作させることにより電子ビーム２１を蛍光スクリ
ーン１一ぱいに走査させて行なわれる。
このような飽和エミツシヨン特性の検査ではカ
ソード１０から射出された電子ビームは蛍光スク
リーン１やシヤドウマスク２及び図示しないマス
ククレームなどに衝突し、斜線２２1，２２2で示
したように捕捉される。
ソード１０から射出された電子ビームは蛍光スク
リーン１やシヤドウマスク２及び図示しないマス
ククレームなどに衝突し、斜線２２1，２２2で示
したように捕捉される。
従つてこのエミツシヨン検査によれば、カソー
ド１０のエミツシヨン能力が低く、必要とされる
カソード電流値が取出せないカラー受像管や、各
グリツド１１，１２，１３，１４やシヤドウマス
ク２や蛍光体スクリーン１などに排気工程やカソ
ードエージング工程で充分に取り除けなかつた残
留ガス源を有するカラー受像管に対しては、第１
図及び第３図に示した検査方法で測定中にガス放
出が起り、エミツシヨンが低下するので、エミツ
シヨン不良として検知可能であり、このようなカ
ラー受像管はエミツシヨン不良の要因をもつもの
としてリジエクトできる。
ド１０のエミツシヨン能力が低く、必要とされる
カソード電流値が取出せないカラー受像管や、各
グリツド１１，１２，１３，１４やシヤドウマス
ク２や蛍光体スクリーン１などに排気工程やカソ
ードエージング工程で充分に取り除けなかつた残
留ガス源を有するカラー受像管に対しては、第１
図及び第３図に示した検査方法で測定中にガス放
出が起り、エミツシヨンが低下するので、エミツ
シヨン不良として検知可能であり、このようなカ
ラー受像管はエミツシヨン不良の要因をもつもの
としてリジエクトできる。
しかしながらフアンネル６とネツク７の境界の
フアンネルのフルート部６1に残留ガス源を持つ
カラー受像管や実際の動作中に高圧電極と低圧電
極との間に発生する管内放電によりカソード１０
を劣化するものは第１図や第３図に示した従来の
検査方法では電子ビームが衝突する部分の範囲外
に残留ガス源があるので、充分に検知できないと
云う問題がある。
フアンネルのフルート部６1に残留ガス源を持つ
カラー受像管や実際の動作中に高圧電極と低圧電
極との間に発生する管内放電によりカソード１０
を劣化するものは第１図や第３図に示した従来の
検査方法では電子ビームが衝突する部分の範囲外
に残留ガス源があるので、充分に検知できないと
云う問題がある。
更にカラー受像管がテレビジヨンセツトに組み
込まれ動作状態では、管や偏向ヨークの製造のば
らつきなどによりカソードから放出された電子ビ
ームの一部がフアンネルのフルート部６1に衝突
するものがある。このように電子ビームの一部が
フアンネルのフルート部６1に衝突すると、従来
の検査方法ではこのフアンネルのフルート部６1
に残留ガス源をもつカラー受像管はエミツシヨン
不良の原因をもつものとして検知されないまま出
荷されるため、得意先のセツト組立ラインや市場
に出てからエミツシヨン不良として返却されるも
のがでると云う問題もある。
込まれ動作状態では、管や偏向ヨークの製造のば
らつきなどによりカソードから放出された電子ビ
ームの一部がフアンネルのフルート部６1に衝突
するものがある。このように電子ビームの一部が
フアンネルのフルート部６1に衝突すると、従来
の検査方法ではこのフアンネルのフルート部６1
に残留ガス源をもつカラー受像管はエミツシヨン
不良の原因をもつものとして検知されないまま出
荷されるため、得意先のセツト組立ラインや市場
に出てからエミツシヨン不良として返却されるも
のがでると云う問題もある。
本発明は前記従来の諸問題に鑑みてなされたも
のであり、エミツシヨン劣化の要因を持ちなが
ら、従来の検査方法では検知されなかつたカラー
受像管を製造工程内で事前に検知し、リジエクト
できるカラー受像管の検査方法を提供することを
目的としている。
のであり、エミツシヨン劣化の要因を持ちなが
ら、従来の検査方法では検知されなかつたカラー
受像管を製造工程内で事前に検知し、リジエクト
できるカラー受像管の検査方法を提供することを
目的としている。
即ち本発明は排気、ゲツタフラツシユ、高圧処
理、カソードエージングの各工程を終了したカラ
ー受像管について、ヒータ電圧を定格より下げか
つ接地電位の第１グリツドに対するカソード電圧
を定格より上げてカソード電流を定格より多く
し、陽極端子に印加する高圧を定格より高くする
と共に、偏向ヨークを正常の装着位置よりも電子
銃側に後退させて前記カラー受像管のフアンネル
のフルート部に電子ビームを衝突させて所定時間
処理したのち、カソードのエミツシヨンの立上が
り特性及びカソードの飽和エミツシヨン特性を検
査するエミツシヨン検査を行なうことを特徴とす
るカラー受像管の検査方法である。
理、カソードエージングの各工程を終了したカラ
ー受像管について、ヒータ電圧を定格より下げか
つ接地電位の第１グリツドに対するカソード電圧
を定格より上げてカソード電流を定格より多く
し、陽極端子に印加する高圧を定格より高くする
と共に、偏向ヨークを正常の装着位置よりも電子
銃側に後退させて前記カラー受像管のフアンネル
のフルート部に電子ビームを衝突させて所定時間
処理したのち、カソードのエミツシヨンの立上が
り特性及びカソードの飽和エミツシヨン特性を検
査するエミツシヨン検査を行なうことを特徴とす
るカラー受像管の検査方法である。
次に第４図により本発明のカラー受像管の検査
方法の一実施例を説明する。図中従来例と同一符
号は同一部分を示す。
方法の一実施例を説明する。図中従来例と同一符
号は同一部分を示す。
即ち、内面に蛍光スクリーン１が被着形成され
かつこの蛍光スクリーン１と所定間隔をもつてシ
ヤドウマスク２が配設されたパネル３と、内部導
電膜４及びこの内部導電膜４に電気的に接続され
た陽極端子５の形成されたフアンネル６と、この
フアンネルに溶着されたネツク７に溶着されたス
テム８とに組立てられてネツク７内に配置された
ヒータ９、カソード１０、第１グリツド１１，第
２グリツド１２、第３グリツド１３及び第４グリ
ツド１４より構成された電子銃とを具備するカラ
ー受像管は排気、ゲツタフラツシユ、高圧処理、
カソードエージングの各工程を終了したのち、陽
極端子５から内部導電膜４を介して電気的に接続
された第４グリツド１４に電源２８から定格より
数％高い電圧を印加し、第３グリツド１３に電源
１９より定格の電圧、第２グリツド１２に電源２
０より定格の電圧をそれぞれ印加し、第１グリツ
ド１１を直接接地し、ヒータ９電圧を定格より数
％下げかつ接地電位の第１グリツド１１に付する
カソード電圧を定格より上げてカソード電流計１
６に示されるカソード電流を定格より数％多く
し、かつ図示しない偏向ヨークを正常の位置より
電子銃側（後方）に後退させて電子ビーム３１が
フアンネル６のフルート部６1にも衝突するよう
にして数10分間のランニング処理を行なう。
かつこの蛍光スクリーン１と所定間隔をもつてシ
ヤドウマスク２が配設されたパネル３と、内部導
電膜４及びこの内部導電膜４に電気的に接続され
た陽極端子５の形成されたフアンネル６と、この
フアンネルに溶着されたネツク７に溶着されたス
テム８とに組立てられてネツク７内に配置された
ヒータ９、カソード１０、第１グリツド１１，第
２グリツド１２、第３グリツド１３及び第４グリ
ツド１４より構成された電子銃とを具備するカラ
ー受像管は排気、ゲツタフラツシユ、高圧処理、
カソードエージングの各工程を終了したのち、陽
極端子５から内部導電膜４を介して電気的に接続
された第４グリツド１４に電源２８から定格より
数％高い電圧を印加し、第３グリツド１３に電源
１９より定格の電圧、第２グリツド１２に電源２
０より定格の電圧をそれぞれ印加し、第１グリツ
ド１１を直接接地し、ヒータ９電圧を定格より数
％下げかつ接地電位の第１グリツド１１に付する
カソード電圧を定格より上げてカソード電流計１
６に示されるカソード電流を定格より数％多く
し、かつ図示しない偏向ヨークを正常の位置より
電子銃側（後方）に後退させて電子ビーム３１が
フアンネル６のフルート部６1にも衝突するよう
にして数10分間のランニング処理を行なう。
このようにカソード電流を多くしかつ陽極電圧
を高くすると共に、偏向ヨークの位置を正常の位
置よりも後退させるのは、フアンネルのフルート
部６1にカソード１０から電子ビームを加速して
高エネルギーの電子ビームをより多く衝突させ、
フアンネルのフルート部６1の残留ガス源から効
果的にガス放出を起こさせ、その結果生じるエミ
ツシヨンの低下をエミツシヨン検査で測定してエ
ミツシヨン不良の要因をもつものとしてリジエク
トするためと、放電の要因を持つカラー受像管に
対する放電を促進させるためである。
を高くすると共に、偏向ヨークの位置を正常の位
置よりも後退させるのは、フアンネルのフルート
部６1にカソード１０から電子ビームを加速して
高エネルギーの電子ビームをより多く衝突させ、
フアンネルのフルート部６1の残留ガス源から効
果的にガス放出を起こさせ、その結果生じるエミ
ツシヨンの低下をエミツシヨン検査で測定してエ
ミツシヨン不良の要因をもつものとしてリジエク
トするためと、放電の要因を持つカラー受像管に
対する放電を促進させるためである。
このようにすることによりカソード１０から射
出された電子ビームは蛍光スクリーン１やシヤド
ウマスク２及び図示しないマスククレームなどに
衝突し、斜線２２1，２２2で示したように捕捉さ
れると共に、フアンネルのフルート部６1にも斜
線２２3で示したように衝突し、このフアンネル
のフルート部６1の残留ガス源からのガス放出を
促進させることができ、その結果生じるエミツシ
ヨンの低下をエミツシヨン検査で測定してエミツ
シヨン不良の要因をもつものとしてリジエクトす
ることが可能となる。
出された電子ビームは蛍光スクリーン１やシヤド
ウマスク２及び図示しないマスククレームなどに
衝突し、斜線２２1，２２2で示したように捕捉さ
れると共に、フアンネルのフルート部６1にも斜
線２２3で示したように衝突し、このフアンネル
のフルート部６1の残留ガス源からのガス放出を
促進させることができ、その結果生じるエミツシ
ヨンの低下をエミツシヨン検査で測定してエミツ
シヨン不良の要因をもつものとしてリジエクトす
ることが可能となる。
なお、前記実施例では４個のグリツドを有する
電子銃を具備するカラー受像管について述べた
が、他の形の電子銃を具備するカラー受像管にも
そのまま適用できることは勿論である。
電子銃を具備するカラー受像管について述べた
が、他の形の電子銃を具備するカラー受像管にも
そのまま適用できることは勿論である。
上述のように本発明によれば、テレビジヨンセ
ツトメーカー並びに市場におけるエミツシヨン不
良率を極めて少なくすることができ、また製造工
程内でエミツシヨン不良の要因をもつものを早期
に発見でき、その情報を製造工程に利用すること
で品質事故を未然に防止することが可能となり、
その工業的価値は極めて大である。
ツトメーカー並びに市場におけるエミツシヨン不
良率を極めて少なくすることができ、また製造工
程内でエミツシヨン不良の要因をもつものを早期
に発見でき、その情報を製造工程に利用すること
で品質事故を未然に防止することが可能となり、
その工業的価値は極めて大である。
第１図は従来のカソードの立上り特性検査方法
を示す説明図、第２図はカソード電流の立上り時
間を示す曲線図、第３図は従来の飽和エミツシヨ
ン特性検査方法を示す説明図、第４図は本発明の
カラー受像管の検査方法の一実施例を示す説明図
である。 １……蛍光スクリーン、２……シヤドウマス
ク、３……パネル、４……内部導電膜、５……陽
極端子、６……フアンネル、６1……フアンネル
のフルート部、７……ネツク、８……ステム、９
……ヒータ、１０……カソード、１１……第１グ
リツド、１２……第２グリツド、１３……第３グ
リツド、１４……第４グリツド、１５，１８，１
９，２０，２８……電源。
を示す説明図、第２図はカソード電流の立上り時
間を示す曲線図、第３図は従来の飽和エミツシヨ
ン特性検査方法を示す説明図、第４図は本発明の
カラー受像管の検査方法の一実施例を示す説明図
である。 １……蛍光スクリーン、２……シヤドウマス
ク、３……パネル、４……内部導電膜、５……陽
極端子、６……フアンネル、６1……フアンネル
のフルート部、７……ネツク、８……ステム、９
……ヒータ、１０……カソード、１１……第１グ
リツド、１２……第２グリツド、１３……第３グ
リツド、１４……第４グリツド、１５，１８，１
９，２０，２８……電源。
Claims (1)
- １ 排気、ゲツタフラツシユ、高圧処理、カソー
ドエージングの各工程を終了したカラー受像管に
ついて、ヒータ電圧を定格より下げかつ接地電位
の第１グリツドに対するカソード電圧を定格より
上げてカソード電流を定格より多くし、陽極端子
に印加する高圧を定格より高くすると共に、偏向
ヨークを正常の装置位置よりも電子銃側に後退さ
せて前記カラー受像管のフアンネルのフルート部
に電子ビームを衝突させて所定時間処理したの
ち、カソードのエミツシヨンの立上がり特性及び
カソードの飽和エミツシヨン特性を検査するエミ
ツシヨン検査を行なうことを特徴とするカラー受
像管の検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57068643A JPS58186136A (ja) | 1982-04-26 | 1982-04-26 | カラ−受像管の検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57068643A JPS58186136A (ja) | 1982-04-26 | 1982-04-26 | カラ−受像管の検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58186136A JPS58186136A (ja) | 1983-10-31 |
| JPH0429176B2 true JPH0429176B2 (ja) | 1992-05-18 |
Family
ID=13379603
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57068643A Granted JPS58186136A (ja) | 1982-04-26 | 1982-04-26 | カラ−受像管の検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58186136A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5012194A (en) * | 1989-09-05 | 1991-04-30 | Raytheon Company | Method testing electron discharge tubes |
-
1982
- 1982-04-26 JP JP57068643A patent/JPS58186136A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58186136A (ja) | 1983-10-31 |
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