JPH042936A - 超音波ボルト軸力測定装置 - Google Patents
超音波ボルト軸力測定装置Info
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- JPH042936A JPH042936A JP10475790A JP10475790A JPH042936A JP H042936 A JPH042936 A JP H042936A JP 10475790 A JP10475790 A JP 10475790A JP 10475790 A JP10475790 A JP 10475790A JP H042936 A JPH042936 A JP H042936A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
この発明は、超音波ボルト軸力測定装置に関し、詳しく
は、ボルト締付は作業において、部材と部材とを締結し
たボルトが適正な軸力となっているか否かをより正確に
測定することができるような超音波ボルト軸力測定装置
に関する。
は、ボルト締付は作業において、部材と部材とを締結し
たボルトが適正な軸力となっているか否かをより正確に
測定することができるような超音波ボルト軸力測定装置
に関する。
[従来の技術]
超音波を用いて計測を行う超音波測定装置では、超音波
のエコーを検出して欠陥の有無、欠陥までの距離(ある
いは位置)、板厚の測定などが行われる。また、このよ
うな超音波測定の特徴を利用してボルトの軸力測定(ト
ルクの測定)も行われている。それは、超音波の伝播時
間がボルトの軸力に応じて変化することを利用するもの
であって、例えば、超音波探触子(以下プローブ)から
得られる受信エコー信号をデイスプレィの画面上に表示
し、その底面エコーの位置が僅かに変化するのを読取る
ことなどで行われる。
のエコーを検出して欠陥の有無、欠陥までの距離(ある
いは位置)、板厚の測定などが行われる。また、このよ
うな超音波測定の特徴を利用してボルトの軸力測定(ト
ルクの測定)も行われている。それは、超音波の伝播時
間がボルトの軸力に応じて変化することを利用するもの
であって、例えば、超音波探触子(以下プローブ)から
得られる受信エコー信号をデイスプレィの画面上に表示
し、その底面エコーの位置が僅かに変化するのを読取る
ことなどで行われる。
この種の超音波を用いたボルト軸力測定においては、計
測すべきエコー(通常、ボルトの先端側から得られる底
面エコー)を確実に捕らえるために、次のような方法を
用いている。
測すべきエコー(通常、ボルトの先端側から得られる底
面エコー)を確実に捕らえるために、次のような方法を
用いている。
(1)測定ボルトに対応して別途入力したボルトの長さ
の情報から適正な時間位置を算出して、そこにゲートを
かけて底面エコーE3 (第4図参照)に対応する受
信エコー信号を抽出し、それにスレッシュホールドTH
1をかけ、スレッシュホールドTH1を越えた信号の最
大ピーク位置を測定してボルトの底部までの時間計測を
行う方法。
の情報から適正な時間位置を算出して、そこにゲートを
かけて底面エコーE3 (第4図参照)に対応する受
信エコー信号を抽出し、それにスレッシュホールドTH
1をかけ、スレッシュホールドTH1を越えた信号の最
大ピーク位置を測定してボルトの底部までの時間計測を
行う方法。
これは、第4図の(a)、(b)にそのAスコープ像を
ボルト21との関係で示すようにゲートG1を底部エコ
ーの受信信号の時間位置を跨ぐように底面エコーの発生
する範囲に設定するものである。なお、Elは、ボルト
の首部分の受信エコー信号であって%E2は、その軸の
ねじが切られた端部からの受信エコー信号、そして、E
3は、ボルト21の先端部側に当たる底面からの受信エ
コー信号である。なお、22は、プローブである。
ボルト21との関係で示すようにゲートG1を底部エコ
ーの受信信号の時間位置を跨ぐように底面エコーの発生
する範囲に設定するものである。なお、Elは、ボルト
の首部分の受信エコー信号であって%E2は、その軸の
ねじが切られた端部からの受信エコー信号、そして、E
3は、ボルト21の先端部側に当たる底面からの受信エ
コー信号である。なお、22は、プローブである。
(2)測定ボルトに対応して別途入力したボルトの長さ
の情報から疑似エコーが発生し易い時間位置を算出して
、その位置をマスクしてスレッシュホールドを越えた信
号の最大ピーク位置を測定してボルトの底部までの時間
計測を行う方法。
の情報から疑似エコーが発生し易い時間位置を算出して
、その位置をマスクしてスレッシュホールドを越えた信
号の最大ピーク位置を測定してボルトの底部までの時間
計測を行う方法。
これは、第4図の(C)にそのAスコープ像を示すよう
に、マスクMが首部分の受信エコー信号El と、その
軸のねじか切られた端部からの受信エコー4M号E2を
無効にするようにかけられ、底面エコーの受信信号E3
の時間位置の受信エコー信号を有効にするように設定す
るものである。
に、マスクMが首部分の受信エコー信号El と、その
軸のねじか切られた端部からの受信エコー4M号E2を
無効にするようにかけられ、底面エコーの受信信号E3
の時間位置の受信エコー信号を有効にするように設定す
るものである。
[解決しようとする課題]
しかし、ボルト軸力測定でゲートをかけて採取する底面
エコーは、実際には、1つのピークではなく、後述する
第2図(a)に示すようにい(つものピークが含まれた
信号となる。それは、第4図(b)に示すように、直接
反射波Eaによる底面エコーE3のほかにボルトの側面
で反射する側面反射波Ebによる遅れエコーEd(第2
図(a)参照)等が発生することによるものであって、
それが正常な底面エコーE3に隣接して現れる。特に、
内部に欠陥F(第4図(b)参照)等があるような場合
には、第2図(a)に示すように、正常な底面エコーE
3よりもこの側面反射波Ebによる遅れエコーEdの方
が高いピークを示すことがある。このようなときには、
前記の(1)の方法では遅れエコーEdを測定してしま
うことになり、正確な軸力測定ができない。
エコーは、実際には、1つのピークではなく、後述する
第2図(a)に示すようにい(つものピークが含まれた
信号となる。それは、第4図(b)に示すように、直接
反射波Eaによる底面エコーE3のほかにボルトの側面
で反射する側面反射波Ebによる遅れエコーEd(第2
図(a)参照)等が発生することによるものであって、
それが正常な底面エコーE3に隣接して現れる。特に、
内部に欠陥F(第4図(b)参照)等があるような場合
には、第2図(a)に示すように、正常な底面エコーE
3よりもこの側面反射波Ebによる遅れエコーEdの方
が高いピークを示すことがある。このようなときには、
前記の(1)の方法では遅れエコーEdを測定してしま
うことになり、正確な軸力測定ができない。
そこで、このようなことを回避するために、単に所定の
スレッシュホールドを越えた位置において最初の底面エ
コーの位置として時間を計測する方法もあるが、この場
合には、本来のピーク位置の手前となり、また、ゲイン
の変化により底面エコーの位置が変わってしまう問題が
ある。
スレッシュホールドを越えた位置において最初の底面エ
コーの位置として時間を計測する方法もあるが、この場
合には、本来のピーク位置の手前となり、また、ゲイン
の変化により底面エコーの位置が変わってしまう問題が
ある。
遅れエコーを排除して本来の底面エコーだけにゲートを
かけることも考えられるが、それには、ゲート幅を狭く
しなければならないうえにボルト長自体にばらつきがあ
るためためにそのタイミングを選択することが実際には
なかなか難しい。
かけることも考えられるが、それには、ゲート幅を狭く
しなければならないうえにボルト長自体にばらつきがあ
るためためにそのタイミングを選択することが実際には
なかなか難しい。
この発明の目的は、このような従来技術の問題点を解決
するものであって、軸力測定をより正確に行える超音波
ボルト軸力測定装置を提供することになる。
するものであって、軸力測定をより正確に行える超音波
ボルト軸力測定装置を提供することになる。
[課題を解決するための手段]
このような目的を達成するための第1の発明の超音波ボ
ルト軸力測定装置の特徴は、底面エコーが発生する範囲
においてボルトから底面エコーを採取し、採取した底面
エコーのうち底面エコーを検出する所定のスレッシュホ
ールドを越えたエコーレベルの位置を基準にここから送
信超音波の時間幅に相当する位置までにおける最大ピー
ク位置を検出し、この最大ピーク位置までの時間値を底
面エコーの時間値とするものである。
ルト軸力測定装置の特徴は、底面エコーが発生する範囲
においてボルトから底面エコーを採取し、採取した底面
エコーのうち底面エコーを検出する所定のスレッシュホ
ールドを越えたエコーレベルの位置を基準にここから送
信超音波の時間幅に相当する位置までにおける最大ピー
ク位置を検出し、この最大ピーク位置までの時間値を底
面エコーの時間値とするものである。
[作用]
ところで、直接反射波の底面エコーは、側面反射波より
も路程が短いので遅れエコーよりも必ず手前に発生する
。そこで、底面エコーの発生範囲において所定のレベル
のスレッシュホールドを設定して底面エコーを検出する
と、直接反射波に対応する最初の底面エコーがまず採取
できる。しかも、1つの底面エコーの幅は、送信超音波
の幅に対応する幅を単位として生じる。
も路程が短いので遅れエコーよりも必ず手前に発生する
。そこで、底面エコーの発生範囲において所定のレベル
のスレッシュホールドを設定して底面エコーを検出する
と、直接反射波に対応する最初の底面エコーがまず採取
できる。しかも、1つの底面エコーの幅は、送信超音波
の幅に対応する幅を単位として生じる。
この点に着目し、前記の構成のように採取した底面エコ
ーのうち所定のスレッシュホールドを越えたエコーレベ
ルの位置から送信超音波の幅に相一 =6− 当する範囲までにおいて最大ピーク位置を検出するよう
にすれば、それが直接反射波の本来の底面エコーの位置
であって、これを検出することで遅れエコーを排除する
ことができる。
ーのうち所定のスレッシュホールドを越えたエコーレベ
ルの位置から送信超音波の幅に相一 =6− 当する範囲までにおいて最大ピーク位置を検出するよう
にすれば、それが直接反射波の本来の底面エコーの位置
であって、これを検出することで遅れエコーを排除する
ことができる。
[実施例コ
以下、この発明の一実施例を図面を参照して詳細に説明
する。
する。
第1図は、この発明を適用した超音波ボルト軸力測定装
置のブロック図、第2図(aL (b)は、ボルトを
測定したとき得られる底面エコーの波形と検出されるピ
ークとの関係の説明図、第2図(c)は、超音波送信波
の波形の説明図、第3図は、その軸力測定処理の流れ図
である。
置のブロック図、第2図(aL (b)は、ボルトを
測定したとき得られる底面エコーの波形と検出されるピ
ークとの関係の説明図、第2図(c)は、超音波送信波
の波形の説明図、第3図は、その軸力測定処理の流れ図
である。
第1図において、20は、超音波ボルト軸力測定装置で
あり、プローブ4が接続された超音波探傷部6を有して
いる。プローブ4は、図示するように、締付は締結する
部材2,3に挿入された被測定ボルト(以下ボルト)■
の頭部に当接される。
あり、プローブ4が接続された超音波探傷部6を有して
いる。プローブ4は、図示するように、締付は締結する
部材2,3に挿入された被測定ボルト(以下ボルト)■
の頭部に当接される。
超音波探傷部6は、プローブ4に送信パルス信号を送出
し、これから超音波エコーの受信信号(受信エコー信号
)を受ける。これは、いわゆるパルサ・レシーバ(レシ
ーバは増幅器、検波回路を含む)を内蔵するエコー受信
信号検出部であって、受信したエコー信号を増幅又は減
衰して検波し、第4図に示すようなAスコープ像の信号
を発生してそれをA/D変換回路7へと送出する。
し、これから超音波エコーの受信信号(受信エコー信号
)を受ける。これは、いわゆるパルサ・レシーバ(レシ
ーバは増幅器、検波回路を含む)を内蔵するエコー受信
信号検出部であって、受信したエコー信号を増幅又は減
衰して検波し、第4図に示すようなAスコープ像の信号
を発生してそれをA/D変換回路7へと送出する。
A/D変換回路7は、Aスコープ像の信号をデジタル値
に変換して、測定データ処理装置16に送出する。
に変換して、測定データ処理装置16に送出する。
測定データ処理装置16は、マイクロプロセッサ(以下
CPU)9及び、キーボード(又は操作パネル、以下キ
ーボード)IO、インタフェース12、画像メモリ13
、メインメモリ14、そして、LCD(液晶)デイスプ
レィ15等を備えていて、これらがバス11により相互
に接続されている。また、前記A/D変換回路7、そし
て、超音波探傷部6もインタフェース12を介してバス
11に接続され、CPU9により制御される。
CPU)9及び、キーボード(又は操作パネル、以下キ
ーボード)IO、インタフェース12、画像メモリ13
、メインメモリ14、そして、LCD(液晶)デイスプ
レィ15等を備えていて、これらがバス11により相互
に接続されている。また、前記A/D変換回路7、そし
て、超音波探傷部6もインタフェース12を介してバス
11に接続され、CPU9により制御される。
CPU9は、A / D変換回路7から得られるAスコ
ープ像の信号をメモリ14の測定データ領域14fに一
旦記憶する。そして、このデータに対してメモリ14に
格納された種々の処理プログラムに従って後述する処理
を実行し、その結果を画像メモリ13に記憶して測定結
果をデイスプレィ15に表示する処理をする。
ープ像の信号をメモリ14の測定データ領域14fに一
旦記憶する。そして、このデータに対してメモリ14に
格納された種々の処理プログラムに従って後述する処理
を実行し、その結果を画像メモリ13に記憶して測定結
果をデイスプレィ15に表示する処理をする。
ここで、メインメモリ14には、底面エコー位置検出φ
時間算出プログラム14aと、軸力算出処理プログラム
14b1軸力判定処理プログラム14c1そして、測定
データ表示処理プログラム14d等が格納され、底面エ
コーデータ領域14eには、測定データ領域14fの測
定データのうちから第2図(a)のゲートGの範囲に対
応する底面エコーのデータが測定データから抽出されて
転送される。
時間算出プログラム14aと、軸力算出処理プログラム
14b1軸力判定処理プログラム14c1そして、測定
データ表示処理プログラム14d等が格納され、底面エ
コーデータ領域14eには、測定データ領域14fの測
定データのうちから第2図(a)のゲートGの範囲に対
応する底面エコーのデータが測定データから抽出されて
転送される。
第2図(b)は、超音波探傷部6において得られるエコ
ー受信信号のうち、第2図(a)のゲートGに相当する
範囲の底面エコ一部分の拡大説明図であって、Gがその
ゲート幅である。図示するように、直接反射波Eaによ
る底面エコーE3のほかに遅れエコーEdが隣接してそ
の後に発生している。測定処理がマイクロプロセッサ9
により開始されると、測定データ領域14fには、これ
らの底面エコーの信号データを含む、第2図(a)に示
すボルトの首部分の受信エコー信号El とその軸のね
じが切られた端部からの受信エコー信号E2、そして、
欠陥Kfがあるときには欠陥エコーEf等の信号データ
がマイクロプロセッサ9の処理により採取されて記憶さ
れている。
ー受信信号のうち、第2図(a)のゲートGに相当する
範囲の底面エコ一部分の拡大説明図であって、Gがその
ゲート幅である。図示するように、直接反射波Eaによ
る底面エコーE3のほかに遅れエコーEdが隣接してそ
の後に発生している。測定処理がマイクロプロセッサ9
により開始されると、測定データ領域14fには、これ
らの底面エコーの信号データを含む、第2図(a)に示
すボルトの首部分の受信エコー信号El とその軸のね
じが切られた端部からの受信エコー信号E2、そして、
欠陥Kfがあるときには欠陥エコーEf等の信号データ
がマイクロプロセッサ9の処理により採取されて記憶さ
れている。
このような測定データの採取が終了すると、マイクロプ
ロセッサ9は、底面エコー位置検出・時間算出プログラ
ム14aを起動して、まず、設定されたボルト寸法とA
/D変換回路7のサンプリング周期との関係で決定され
るゲート位置データ(ゲートGの位置と幅とを示すデー
タ)を参照して測定データ領域14fのうちから底面エ
コーが含まれるゲートGの位置にあるデータを底面エコ
ーデータ領域14eに転送して記憶する。
ロセッサ9は、底面エコー位置検出・時間算出プログラ
ム14aを起動して、まず、設定されたボルト寸法とA
/D変換回路7のサンプリング周期との関係で決定され
るゲート位置データ(ゲートGの位置と幅とを示すデー
タ)を参照して測定データ領域14fのうちから底面エ
コーが含まれるゲートGの位置にあるデータを底面エコ
ーデータ領域14eに転送して記憶する。
次、に、そこから第2図(b)に示すスレッシュホール
ドTHを越える位置の時間にして一番手前の最初のデー
タの検出を行い、そのデータ位置Qを検出する。このデ
ータ位置Qから第2図(C)に示す送信パルスにより発
生する送信超音波Taの幅Wに相当する幅の範囲で最大
ピークPを検出する。なお、スレッシュホールドTHは
、ノイズよりレベルが高く、底面エコーを検出できる範
囲の比較的低いレベルに設定されているものとする。
ドTHを越える位置の時間にして一番手前の最初のデー
タの検出を行い、そのデータ位置Qを検出する。このデ
ータ位置Qから第2図(C)に示す送信パルスにより発
生する送信超音波Taの幅Wに相当する幅の範囲で最大
ピークPを検出する。なお、スレッシュホールドTHは
、ノイズよりレベルが高く、底面エコーを検出できる範
囲の比較的低いレベルに設定されているものとする。
こうして検出した最大ピークPの位置を底面エコー E
3の検出位置としてその最大ピークPまでの時間tを
測定データ領域14fに記憶されたデータに基づき、例
えば、送信パルスあるいは表面エコーを基準として算出
し、それを最大ピークPまでの時間tとして求め、これ
を底面エコーE3までの時間としてメモリ14に記憶す
る。
3の検出位置としてその最大ピークPまでの時間tを
測定データ領域14fに記憶されたデータに基づき、例
えば、送信パルスあるいは表面エコーを基準として算出
し、それを最大ピークPまでの時間tとして求め、これ
を底面エコーE3までの時間としてメモリ14に記憶す
る。
ところで、ボルト1に軸力が印加されると、ボルト1の
各部で反射したエコー信号の伝播時間は、発生軸力及び
各部の寸法に関係し、これらに応じて増加する。そこで
、ボルトの底面エコーの伝播時間の増加量を測定するこ
とによって、ボルト1に印加された軸力を算出すること
ができる。
各部で反射したエコー信号の伝播時間は、発生軸力及び
各部の寸法に関係し、これらに応じて増加する。そこで
、ボルトの底面エコーの伝播時間の増加量を測定するこ
とによって、ボルト1に印加された軸力を算出すること
ができる。
そこで、軸力の測定は、前記のピークPまでの時間tを
ボルト締め付は前に測定し、かつ、それと締め付は後時
間tとの変化量を計算することでなされる。すなわち、
軸力測定を開始するに当たって、マイクロプロセッサ9
は、軸力算出処理プログラム14bを起動し、これを実
行して、ボルト1(これは、ボルト1に対応する基準ボ
ルトを測定することでもよい)のボルト締付は前の底面
エコー伝播時間値ts(第2図(a)参照)を前記の時
間tとして算出し、これをメモリ14に記憶する。そし
て、測定状態に入ったときに軸力算出処理プログラム1
4bが前記の底面エコー位置検出・時間算出プログラム
14aの処理終了後にこれに続いて起動されて実行され
、マイクロプロセッサ9は、底面エコー位置検出・時間
算出プログラム14aの処理により得られたボルト締付
は状態における底面エコー伝播時間値としてピークPま
での時間値tを得て、これと先の1);1記憶面エコー
伝播時間値tsとによりΔt=t−tsを算出し、締付
は軸力Fを計算する。
ボルト締め付は前に測定し、かつ、それと締め付は後時
間tとの変化量を計算することでなされる。すなわち、
軸力測定を開始するに当たって、マイクロプロセッサ9
は、軸力算出処理プログラム14bを起動し、これを実
行して、ボルト1(これは、ボルト1に対応する基準ボ
ルトを測定することでもよい)のボルト締付は前の底面
エコー伝播時間値ts(第2図(a)参照)を前記の時
間tとして算出し、これをメモリ14に記憶する。そし
て、測定状態に入ったときに軸力算出処理プログラム1
4bが前記の底面エコー位置検出・時間算出プログラム
14aの処理終了後にこれに続いて起動されて実行され
、マイクロプロセッサ9は、底面エコー位置検出・時間
算出プログラム14aの処理により得られたボルト締付
は状態における底面エコー伝播時間値としてピークPま
での時間値tを得て、これと先の1);1記憶面エコー
伝播時間値tsとによりΔt=t−tsを算出し、締付
は軸力Fを計算する。
つづいて行われる軸力の判定は、この後に起動される軸
力判定処理プログラム14cによす行ワれ、その判定は
、軸力算出処理プログラム14bの実行により算出され
た軸力Fとあらかじめメモリ14の所定のデータ記憶領
域に記憶されている適正軸力としての締付は基準となる
軸力Fsとが比較されることで行われる。
力判定処理プログラム14cによす行ワれ、その判定は
、軸力算出処理プログラム14bの実行により算出され
た軸力Fとあらかじめメモリ14の所定のデータ記憶領
域に記憶されている適正軸力としての締付は基準となる
軸力Fsとが比較されることで行われる。
その結果、軸力Fが軸力Fs以上となっているときには
、マイクロプロセッサ9は、締付は完了を示すフラグを
所定の記憶領域に記憶する。そして、測定データ表示処
理プログラム14dが次に起動される。
、マイクロプロセッサ9は、締付は完了を示すフラグを
所定の記憶領域に記憶する。そして、測定データ表示処
理プログラム14dが次に起動される。
マイクロプロセッサ9は、測定データ表示処理プログラ
ム14dの実行により底面エコーデータ領域14eに記
憶された軸力Fとそれが適正値か否かを示すフラグを読
出して、画像メモリ13に転送してボルトの軸力、そし
てそれが目標値に達したか否かをデイスプレィ15に表
示する処理をする。そして、この表示処理の後に再び測
定状態に戻り、同様なボルト軸力測定が測定周期(送信
パルスがプローブ4に加えられるごと)あるいは測定周
期の整数倍の周期に対応して行われ、その後に行われた
軸力測定とそれが適正か否かが順次表示される。
ム14dの実行により底面エコーデータ領域14eに記
憶された軸力Fとそれが適正値か否かを示すフラグを読
出して、画像メモリ13に転送してボルトの軸力、そし
てそれが目標値に達したか否かをデイスプレィ15に表
示する処理をする。そして、この表示処理の後に再び測
定状態に戻り、同様なボルト軸力測定が測定周期(送信
パルスがプローブ4に加えられるごと)あるいは測定周
期の整数倍の周期に対応して行われ、その後に行われた
軸力測定とそれが適正か否かが順次表示される。
次に、その全体的な測定動作について第3図の処理の流
れ図に従って説明する。
れ図に従って説明する。
第3図のステップ■において、ボルトの寸法(全長或は
全長と径)をキーボード10から入力する。次のステッ
プ■において、この入力情報を受けて測定するボルト1
の底面エコーの発生時間位置にゲートが設定されるよう
にゲートデータが算出され、算出されたゲートデータが
メモリ14に記憶される。
全長と径)をキーボード10から入力する。次のステッ
プ■において、この入力情報を受けて測定するボルト1
の底面エコーの発生時間位置にゲートが設定されるよう
にゲートデータが算出され、算出されたゲートデータが
メモリ14に記憶される。
次のステップ■においては、ボルト締付は前の底面エコ
ーまでの時間値測定か否かをあらかじめ入力された機能
キー等により判定する。ボルト締付は前の底面エコーま
での時間値測定のときには、ステップ■にて、部材に挿
入されていない状態(あるいはボルト締付は前)のボル
ト1に対して底面エコーE3の時間値の測定を行い、前
述したごとく、第2図(a)のピークPの検出を幅Wに
亙って行い、このとき得られる時間値tを締め付は前の
時間位置tsとしてメモリに記憶する。また、ボルト締
付は前の測定でないときには、その待ちループに入る。
ーまでの時間値測定か否かをあらかじめ入力された機能
キー等により判定する。ボルト締付は前の底面エコーま
での時間値測定のときには、ステップ■にて、部材に挿
入されていない状態(あるいはボルト締付は前)のボル
ト1に対して底面エコーE3の時間値の測定を行い、前
述したごとく、第2図(a)のピークPの検出を幅Wに
亙って行い、このとき得られる時間値tを締め付は前の
時間位置tsとしてメモリに記憶する。また、ボルト締
付は前の測定でないときには、その待ちループに入る。
なお、この場合、締め付は前の時間位置tsは、後述す
るステップ■において測定開始時点の最初のピークPの
時間位置tをそのまま適用してもよい。
るステップ■において測定開始時点の最初のピークPの
時間位置tをそのまま適用してもよい。
次のステップ■ではボルト締付は状態における軸力の測
定か否かの判定に入る。この判定もキーボード10から
入力された機能キーに基づいて行われる。他のキーが入
力されてボルト軸力測定でないと判定されたときには、
入カキ−に応じて待ちループとなるか、ここで、処理を
終了するか、他の処理へと移る。なお、処理をここで終
了したり、他の処理へ移ったときには、次にキーボード
10からボルト締付は状態の測定に対応する機能キーが
入力されたときに、この判定処理のステップ■に戻る。
定か否かの判定に入る。この判定もキーボード10から
入力された機能キーに基づいて行われる。他のキーが入
力されてボルト軸力測定でないと判定されたときには、
入カキ−に応じて待ちループとなるか、ここで、処理を
終了するか、他の処理へと移る。なお、処理をここで終
了したり、他の処理へ移ったときには、次にキーボード
10からボルト締付は状態の測定に対応する機能キーが
入力されたときに、この判定処理のステップ■に戻る。
ステップ■の判定の結果、ボルト締付は状態における軸
力測定であるときには測定データが採取された後に、ス
テップ■において、底面エコー位置検出・時間算出プロ
グラム14aが起動され、前述したスレッシュホールド
THによるデータ検出位置(データ位置Q)から幅Wの
範囲で第2図(b)に示す底面エコーE3の位置のピー
クPが検出され、それまでの時間位置tが算出される。
力測定であるときには測定データが採取された後に、ス
テップ■において、底面エコー位置検出・時間算出プロ
グラム14aが起動され、前述したスレッシュホールド
THによるデータ検出位置(データ位置Q)から幅Wの
範囲で第2図(b)に示す底面エコーE3の位置のピー
クPが検出され、それまでの時間位置tが算出される。
次にステップ■で軸力算出処理プログラム14bが起動
されて締め付は前の時間位置tsと現在の時間位置tと
から変化量Δtが算出され、それにより軸力Fとが算出
される。
されて締め付は前の時間位置tsと現在の時間位置tと
から変化量Δtが算出され、それにより軸力Fとが算出
される。
次のステップ■では、軸力判定処理プログラム14cが
起動されて、算出された軸力Fが基準値Fs以ドである
か否かの判定が行われ、そのそれぞれの結果がメモリ1
4に記憶される。
起動されて、算出された軸力Fが基準値Fs以ドである
か否かの判定が行われ、そのそれぞれの結果がメモリ1
4に記憶される。
ステップ■では、メモリ14に記憶された測定結果が表
示される処理が行われ、ステップ[相]で測定処理が終
了か否かの判定が終了キー人力の有無によりなされる。
示される処理が行われ、ステップ[相]で測定処理が終
了か否かの判定が終了キー人力の有無によりなされる。
そして、測定処理が終了していないときには、ステップ
■へと戻り、同様な測定が繰り返される。
■へと戻り、同様な測定が繰り返される。
以−1−説明してきたが、第2図(b)に示す底面エコ
ーE3のピークPの位置やそれまでの時間値(路程)t
の測定は、超音波探傷部6に設けられたアナログ回路と
カウンタ等により行うことでもよい。この場合には、第
2図(a)のゲートGの範囲の時間タイミングでスレッ
シュホールドTHを基準値とするコンパレータによりス
レッシュホールドTHを越えるタイミング(Qの位置)
を検出し、そこから新たに送信超音波の幅Wに相当する
パルスをゲートパルスとして発生させて、これによりエ
コー受信信号を抽出し、そのエコー受信信号の最大ピー
ク(ピークPに対応)を検出してそこまでの時間tをカ
ウンタによりクロックをカウントすることで計測すれば
よい。したがって、この発明は、Aスコープ像(検波後
のビデオ信号であっても、あるいは検波前のRF信号で
あっても可)を直接A/D変換して測定するものに限定
されるものではない。
ーE3のピークPの位置やそれまでの時間値(路程)t
の測定は、超音波探傷部6に設けられたアナログ回路と
カウンタ等により行うことでもよい。この場合には、第
2図(a)のゲートGの範囲の時間タイミングでスレッ
シュホールドTHを基準値とするコンパレータによりス
レッシュホールドTHを越えるタイミング(Qの位置)
を検出し、そこから新たに送信超音波の幅Wに相当する
パルスをゲートパルスとして発生させて、これによりエ
コー受信信号を抽出し、そのエコー受信信号の最大ピー
ク(ピークPに対応)を検出してそこまでの時間tをカ
ウンタによりクロックをカウントすることで計測すれば
よい。したがって、この発明は、Aスコープ像(検波後
のビデオ信号であっても、あるいは検波前のRF信号で
あっても可)を直接A/D変換して測定するものに限定
されるものではない。
[発明の効果]
このように、この発明にあっては、採取した底面エコー
のうち所定のスレッシュホールドを越えたエコーレベル
の位置から送信超音波の幅に相当する範囲までにおいて
最大ピーク位置を検出するようにすれば、それが直接反
射波の本来の底面エコーの位置であって、これを検出す
ることで遅れエコーを排除することができる。
のうち所定のスレッシュホールドを越えたエコーレベル
の位置から送信超音波の幅に相当する範囲までにおいて
最大ピーク位置を検出するようにすれば、それが直接反
射波の本来の底面エコーの位置であって、これを検出す
ることで遅れエコーを排除することができる。
その結果、超音波探傷装置のゲインや測定ボルトの長さ
のばらつき、そして内部の欠陥等の状態に影響されずに
、正確に底面エコーまでの時間測定ができ、正確なボル
ト軸力測定を行うことができる。
のばらつき、そして内部の欠陥等の状態に影響されずに
、正確に底面エコーまでの時間測定ができ、正確なボル
ト軸力測定を行うことができる。
第1図は、この発明を適用した超音波ボルト軸力測定装
置のブロック図、第2図(aL (b)は、ボルトを
測定したとき得られる底面エコーの波形と検出されるピ
ークとの関係の説明図、第2図(c)は、超音波送信波
の波形の説明図、第3図・は、その軸力測定処理の流れ
図、第4図は、ボルトを測定したときの従来のAスコー
プ像とゲート位置との関係を示す説明図である。 ■・・・被測定ボルト、2,3・・・締付は締結する部
材、4・・・超音波探触子(プローブ)、6・・・超音
波探傷部、7・・・ピーク検出・路程測定部、8a・・
・A/D変換回路、8b・・・時間計測回路、9・・・
マイクロプロセッサ(CPU)、10・・・キーボード
、11・・・バス、13・・・画像メモリ、14・・・
メインメモリ、14a・・・底面エコー位置検出・時間
算出プログラム、14b・・・軸力算出処理プログラム
、14c・・・ゲート位置更新処理プログラム、14c
・・・軸力判定処理プログラム、14d・・・測定デー
タ表示処理プログラム、14e・・・データ記憶領域、 16・・・測定データ処理装置。
置のブロック図、第2図(aL (b)は、ボルトを
測定したとき得られる底面エコーの波形と検出されるピ
ークとの関係の説明図、第2図(c)は、超音波送信波
の波形の説明図、第3図・は、その軸力測定処理の流れ
図、第4図は、ボルトを測定したときの従来のAスコー
プ像とゲート位置との関係を示す説明図である。 ■・・・被測定ボルト、2,3・・・締付は締結する部
材、4・・・超音波探触子(プローブ)、6・・・超音
波探傷部、7・・・ピーク検出・路程測定部、8a・・
・A/D変換回路、8b・・・時間計測回路、9・・・
マイクロプロセッサ(CPU)、10・・・キーボード
、11・・・バス、13・・・画像メモリ、14・・・
メインメモリ、14a・・・底面エコー位置検出・時間
算出プログラム、14b・・・軸力算出処理プログラム
、14c・・・ゲート位置更新処理プログラム、14c
・・・軸力判定処理プログラム、14d・・・測定デー
タ表示処理プログラム、14e・・・データ記憶領域、 16・・・測定データ処理装置。
Claims (1)
- (1)ボルト締付け前のボルトの先端側から得られる底
面エコーまでの時間値とボルト締付け状態における前記
底面エコーまでの時間値との変化量を算出してこの変化
量に基づきボルトの軸力を算出する超音波ボルト軸力測
定装置において、前記底面エコーが発生する範囲におい
て前記ボルトから底面エコーを採取し、採取した底面エ
コーのうち底面エコーを検出する所定のスレッシュホー
ルドを越えたエコーレベルの位置を基準にここから送信
超音波の時間幅に相当する位置までにおける最大ピーク
位置を検出し、この最大ピーク位置までの時間値を前記
底面エコーの時間値とすることを特徴とする超音波ボル
ト軸力測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2104757A JPH0795006B2 (ja) | 1990-04-20 | 1990-04-20 | 超音波ボルト軸力測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2104757A JPH0795006B2 (ja) | 1990-04-20 | 1990-04-20 | 超音波ボルト軸力測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH042936A true JPH042936A (ja) | 1992-01-07 |
| JPH0795006B2 JPH0795006B2 (ja) | 1995-10-11 |
Family
ID=14389363
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2104757A Expired - Fee Related JPH0795006B2 (ja) | 1990-04-20 | 1990-04-20 | 超音波ボルト軸力測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0795006B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010008215A (ja) * | 2008-06-26 | 2010-01-14 | Jfe Steel Corp | 超音波計測装置及び超音波計測方法 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6136542U (ja) * | 1984-08-03 | 1986-03-06 | トヨタ自動車株式会社 | ボルト軸力測定装置 |
-
1990
- 1990-04-20 JP JP2104757A patent/JPH0795006B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6136542U (ja) * | 1984-08-03 | 1986-03-06 | トヨタ自動車株式会社 | ボルト軸力測定装置 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010008215A (ja) * | 2008-06-26 | 2010-01-14 | Jfe Steel Corp | 超音波計測装置及び超音波計測方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0795006B2 (ja) | 1995-10-11 |
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