JPH04294201A - 変位検出装置 - Google Patents
変位検出装置Info
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- JPH04294201A JPH04294201A JP8315691A JP8315691A JPH04294201A JP H04294201 A JPH04294201 A JP H04294201A JP 8315691 A JP8315691 A JP 8315691A JP 8315691 A JP8315691 A JP 8315691A JP H04294201 A JPH04294201 A JP H04294201A
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Links
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Landscapes
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、被検出体と磁気センサ
を用いた検出器との相対的な変位を検出する変位検出装
置に関する。
を用いた検出器との相対的な変位を検出する変位検出装
置に関する。
【0002】
【従来の技術】磁気センサを利用した変位検出装置は、
磁気センサの受けるバイアス磁界の強度を変化させるた
め、被検出体の表面に凹凸を設けたり、表面の透磁率を
部分的に変化させる等の加工が施されるのが一般的であ
る。
磁気センサの受けるバイアス磁界の強度を変化させるた
め、被検出体の表面に凹凸を設けたり、表面の透磁率を
部分的に変化させる等の加工が施されるのが一般的であ
る。
【0003】図16は被検出体の表面に凹溝を設けた従
来の変位検出装置の構成を示す断面図である。図におい
て、1は被検出体、2は被検出体1との相対的な変位を
検出する検出器である。
来の変位検出装置の構成を示す断面図である。図におい
て、1は被検出体、2は被検出体1との相対的な変位を
検出する検出器である。
【0004】被検出体1は磁性材料で構成されており、
検出器2との相対的な変位方向Xに対して凹部分121
及び凸部分131が得られるように、検出器2と対向す
る表面に凹溝12が所定の間隔で設けられている。これ
によって、検出体1の表面には凸部分131を磁性部分
13とし凹部分121を非磁性部分12とする磁気目盛
部分14が形成される。凹溝12は機械加工またはエッ
チング加工により形成される。
検出器2との相対的な変位方向Xに対して凹部分121
及び凸部分131が得られるように、検出器2と対向す
る表面に凹溝12が所定の間隔で設けられている。これ
によって、検出体1の表面には凸部分131を磁性部分
13とし凹部分121を非磁性部分12とする磁気目盛
部分14が形成される。凹溝12は機械加工またはエッ
チング加工により形成される。
【0005】検出器2はマグネット21と、磁気センサ
22とを含んでいる。マグネット21は直方形または円
筒形の永久磁石で構成され、被検出体1の表面に対して
ほぼ垂直方向に磁化されており、被検出体1の表面に対
して垂直となる一様な垂直磁界210を発生している。 磁気センサ22はホ−ル素子等で構成され、マグネット
21と磁気目盛部分14との間に設けられている。
22とを含んでいる。マグネット21は直方形または円
筒形の永久磁石で構成され、被検出体1の表面に対して
ほぼ垂直方向に磁化されており、被検出体1の表面に対
して垂直となる一様な垂直磁界210を発生している。 磁気センサ22はホ−ル素子等で構成され、マグネット
21と磁気目盛部分14との間に設けられている。
【0006】磁気センサ22に加わる垂直磁界210の
強度は、対向する磁気目盛部分14が磁性部分12か非
磁性部分13かによって変化し、磁気センサ22はそれ
ぞれの垂直磁界210の強度に対応した検出信号を発生
する。被検出体1の位置は磁性部分13から非磁性部分
12に、または非磁性部分12から磁性部分13に変化
する検出信号が何回得られたかによって検出される。
強度は、対向する磁気目盛部分14が磁性部分12か非
磁性部分13かによって変化し、磁気センサ22はそれ
ぞれの垂直磁界210の強度に対応した検出信号を発生
する。被検出体1の位置は磁性部分13から非磁性部分
12に、または非磁性部分12から磁性部分13に変化
する検出信号が何回得られたかによって検出される。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来の変位検出装置には、次のような問題点がある。 (A) 磁気センサに一様な垂直磁界を与えるための
マグネットのサイズは、磁気センサのサイズよりも大き
くなければならず、検出器の小型化の障害となる。 (B) ホ−ル素子は温度変化を相殺する作用がなく
、検出信号の温度影響が大きいという欠点を有する。
た従来の変位検出装置には、次のような問題点がある。 (A) 磁気センサに一様な垂直磁界を与えるための
マグネットのサイズは、磁気センサのサイズよりも大き
くなければならず、検出器の小型化の障害となる。 (B) ホ−ル素子は温度変化を相殺する作用がなく
、検出信号の温度影響が大きいという欠点を有する。
【0008】そこで、本発明の課題は、上述した従来の
問題点を解決し、一様な垂直磁界を必要としない方式で
、しかも、温度影響の少ない変位検出装置を提供するこ
とである。
問題点を解決し、一様な垂直磁界を必要としない方式で
、しかも、温度影響の少ない変位検出装置を提供するこ
とである。
【0009】
【課題を解決するための手段】上述した課題解決のため
、本発明は、表面に磁気目盛部分を有する被検出体と、
前記磁気目盛部分に対向して設けられ前記被検出体との
相対的な変位を検出する検出器とを有する変位検出装置
であって、前記磁気目盛部分は、前記検出器との相対的
な変位方向に対して磁性部分と非磁性部分とが順次得ら
れるようになっており、前記検出器は、マグネットと、
磁気抵抗センサとを含み、前記マグネットは、前記被検
出体の表面に対してほぼ垂直方向に磁化されており、前
記磁気センサは、前記マグネットと前記磁気目盛部分と
の間に設けられ、前記被検出体の表面に平行となる面に
少なくとも一対の強磁性薄膜を有しており、前記一対の
強磁性薄膜は、前記マグネットの中心軸から離れた位置
に所定の間隔で設けられ、直列に接続される一端を出力
端とし他端をバイアス端としていることを特徴とする
、本発明は、表面に磁気目盛部分を有する被検出体と、
前記磁気目盛部分に対向して設けられ前記被検出体との
相対的な変位を検出する検出器とを有する変位検出装置
であって、前記磁気目盛部分は、前記検出器との相対的
な変位方向に対して磁性部分と非磁性部分とが順次得ら
れるようになっており、前記検出器は、マグネットと、
磁気抵抗センサとを含み、前記マグネットは、前記被検
出体の表面に対してほぼ垂直方向に磁化されており、前
記磁気センサは、前記マグネットと前記磁気目盛部分と
の間に設けられ、前記被検出体の表面に平行となる面に
少なくとも一対の強磁性薄膜を有しており、前記一対の
強磁性薄膜は、前記マグネットの中心軸から離れた位置
に所定の間隔で設けられ、直列に接続される一端を出力
端とし他端をバイアス端としていることを特徴とする
【0010】
【作用】マグネットは、被検出体の表面に対してほぼ垂
直方向に磁化されているので、マグネットの中心軸から
離れた位置では被検出体の表面に平行となる平行磁界成
分が大きくなる。
直方向に磁化されているので、マグネットの中心軸から
離れた位置では被検出体の表面に平行となる平行磁界成
分が大きくなる。
【0011】磁気センサは、マグネットと被検出体の表
面に設けられた磁気目盛部分との間に設けられ、被検出
体の表面に平行となる面に少なくとも一対の強磁性薄膜
を有しており、一対の強磁性薄膜はマグネットの中心軸
から離れた位置に所定の間隔で設けられているので、磁
気抵抗効果による平行磁界成分を感磁できる。しかも、
平行磁界は中心軸から離れるほど大きくなるから容易に
飽和磁界が得られる。強磁性薄膜に対向する磁気目盛部
分が磁性部分であれば平行磁界成分が低下し、非磁性部
分であれば平行磁界成分が増加するので、強磁性薄膜は
平行磁界の増減に合わせて抵抗値が変化し、その抵抗変
化に従った検出信号が得られる。このため、一様な垂直
磁界を必要としない方式の変位検出装置を提供できる。
面に設けられた磁気目盛部分との間に設けられ、被検出
体の表面に平行となる面に少なくとも一対の強磁性薄膜
を有しており、一対の強磁性薄膜はマグネットの中心軸
から離れた位置に所定の間隔で設けられているので、磁
気抵抗効果による平行磁界成分を感磁できる。しかも、
平行磁界は中心軸から離れるほど大きくなるから容易に
飽和磁界が得られる。強磁性薄膜に対向する磁気目盛部
分が磁性部分であれば平行磁界成分が低下し、非磁性部
分であれば平行磁界成分が増加するので、強磁性薄膜は
平行磁界の増減に合わせて抵抗値が変化し、その抵抗変
化に従った検出信号が得られる。このため、一様な垂直
磁界を必要としない方式の変位検出装置を提供できる。
【0012】一対の強磁性薄膜は、直列に接続される一
端を出力端とし他端をバイアス端としているので、抵抗
の温度係数の影響を相殺した検出信号が得られる。この
ため、温度影響の少ない変位検出装置を提供できる。
端を出力端とし他端をバイアス端としているので、抵抗
の温度係数の影響を相殺した検出信号が得られる。この
ため、温度影響の少ない変位検出装置を提供できる。
【0013】
【実施例】図1は本発明に係る変位検出装置の構成を示
す断面図、図2は磁気センサの平面図、図3はマグネッ
トの平行磁界を示す特性図である。図において、図16
と同一参照符号は同一性ある構成部分を示している。図
において、2は磁気目盛である。
す断面図、図2は磁気センサの平面図、図3はマグネッ
トの平行磁界を示す特性図である。図において、図16
と同一参照符号は同一性ある構成部分を示している。図
において、2は磁気目盛である。
【0014】磁気目盛部分14は、図16に示すように
、検出器2との相対的な変位方向Xに対して磁性部分1
3と非磁性部分12とが順次得られるようになっていれ
ばよく、軟磁性材料、例えば鉄、ステンレス等の薄板に
スリット(図示せず)を設けて被検出体に張り合わせた
ものでも可能である。この場合、被検出体1は磁性材料
または非磁性材料の何れでも構成できる。また、磁性部
分13と非磁性部分12との段差は50μm以上であれ
ばよい。
、検出器2との相対的な変位方向Xに対して磁性部分1
3と非磁性部分12とが順次得られるようになっていれ
ばよく、軟磁性材料、例えば鉄、ステンレス等の薄板に
スリット(図示せず)を設けて被検出体に張り合わせた
ものでも可能である。この場合、被検出体1は磁性材料
または非磁性材料の何れでも構成できる。また、磁性部
分13と非磁性部分12との段差は50μm以上であれ
ばよい。
【0015】マグネット21は、被検出体1の表面に対
してほぼ垂直方向に磁化されている。211はマグネッ
ト21の中心軸であり、212はマグネット21によっ
て得られる平行磁界である。本実施例のマグネット21
は10mm×10mm×5mmの直方体となっている。
してほぼ垂直方向に磁化されている。211はマグネッ
ト21の中心軸であり、212はマグネット21によっ
て得られる平行磁界である。本実施例のマグネット21
は10mm×10mm×5mmの直方体となっている。
【0016】磁気センサ22は、マグネット21と磁気
目盛部分14との間に設けられ、被検出体1の表面に平
行となる基板221上に少なくとも一対の強磁性薄膜を
222、223有しており、一対の強磁性薄膜222、
223はマグネット21の中心軸211から離れた位置
に所定の間隔Pで設けられ、直列に接続される一端を出
力端224とし他端をバイアス端225、226として
いる。強磁性薄膜222、223はNi −Co 系、
Ni −Fe 系等の高透磁率材料で構成されている。
目盛部分14との間に設けられ、被検出体1の表面に平
行となる基板221上に少なくとも一対の強磁性薄膜を
222、223有しており、一対の強磁性薄膜222、
223はマグネット21の中心軸211から離れた位置
に所定の間隔Pで設けられ、直列に接続される一端を出
力端224とし他端をバイアス端225、226として
いる。強磁性薄膜222、223はNi −Co 系、
Ni −Fe 系等の高透磁率材料で構成されている。
【0017】図3はマグネット21の平行磁界212の
強さを示す特性図である。平行磁界212の強さは中心
軸211からの距離に比例して増加するようになってい
る。
強さを示す特性図である。平行磁界212の強さは中心
軸211からの距離に比例して増加するようになってい
る。
【0018】一対の強磁性薄膜222、223は中心軸
211から離れた位置に所定の間隔Pで設けられている
ので、磁気抵抗効果により平行磁界212を感磁できる
。しかも、強磁性薄膜の飽和磁界は200エルステッド
と小さく、平行磁界212は中心軸211から離れるほ
ど大きくなるから、容易に強磁性薄膜222、223の
飽和磁界が得られる。強磁性薄膜222、223に対向
する磁気目盛部分14が磁性部分13であれば平行磁界
212の強さが低下し、非磁性部分13であれば平行磁
界の強さが増加するので、強磁性薄膜222、223は
平行磁界212の増減に合わせて抵抗値R222、R2
23が減増し、図4に示すような検出信号23が得られ
る。被検出体1の変位は、磁性部分13から非磁性部分
12に、または非磁性部分12から磁性部分13に変化
する検出信号が何回得られたかによって検出される。 具体的には、基準レベル231を越えた回数が何回ある
かによって検出される。
211から離れた位置に所定の間隔Pで設けられている
ので、磁気抵抗効果により平行磁界212を感磁できる
。しかも、強磁性薄膜の飽和磁界は200エルステッド
と小さく、平行磁界212は中心軸211から離れるほ
ど大きくなるから、容易に強磁性薄膜222、223の
飽和磁界が得られる。強磁性薄膜222、223に対向
する磁気目盛部分14が磁性部分13であれば平行磁界
212の強さが低下し、非磁性部分13であれば平行磁
界の強さが増加するので、強磁性薄膜222、223は
平行磁界212の増減に合わせて抵抗値R222、R2
23が減増し、図4に示すような検出信号23が得られ
る。被検出体1の変位は、磁性部分13から非磁性部分
12に、または非磁性部分12から磁性部分13に変化
する検出信号が何回得られたかによって検出される。 具体的には、基準レベル231を越えた回数が何回ある
かによって検出される。
【0019】このため、一様な垂直磁界を必要としない
検出方式の変位検出装置が提供できる。同時にマグネッ
トを小型化し安価な変位検出装置も提供できる。
検出方式の変位検出装置が提供できる。同時にマグネッ
トを小型化し安価な変位検出装置も提供できる。
【0020】一対の強磁性薄膜222、223は、直列
に接続される一端を出力端224とし他端をバイアス端
225、226としているので、一対の強磁性薄膜の抵
抗R222、R223の温度係数の影響を相殺した検出
信号23が得られる。
に接続される一端を出力端224とし他端をバイアス端
225、226としているので、一対の強磁性薄膜の抵
抗R222、R223の温度係数の影響を相殺した検出
信号23が得られる。
【0021】一対の強磁性薄膜222、223の間隔P
は、磁気目盛部分14の磁性部分13と非磁性部分12
とのピッチをλとすると、 P=(n+1/2)λ
・・・(
1)但し、n=0、1、2・・・の関係となっている。 図2ではn=1となっている。バイアス端225は電源
電圧のVcc側に接続され、バイアス端226はGND
側に接続されている。
は、磁気目盛部分14の磁性部分13と非磁性部分12
とのピッチをλとすると、 P=(n+1/2)λ
・・・(
1)但し、n=0、1、2・・・の関係となっている。 図2ではn=1となっている。バイアス端225は電源
電圧のVcc側に接続され、バイアス端226はGND
側に接続されている。
【0022】強磁性薄膜222が磁性部分13と対向し
ているときは、強磁性薄膜223は非磁性部分12と対
向するようになるので、強磁性薄膜222の抵抗R22
2が最大となり、強磁性薄膜223の抵抗R223が最
小となる。従って、出力端224から得られる検出信号
はVcc/2より低くなる。反対に、強磁性薄膜222
が非磁性部分12と対向しているときは、強磁性薄膜2
23が磁性部分13と対向しているので、抵抗R222
が最小となり、抵抗R223は最大となる。従って、出
力端224から得られる検出信号はVcc/2より高く
なる。従って、Vcc/2を基準レベル231とする図
4と同様な検出信号が得られる。また、強磁性薄膜22
2、223は直列に接続されているので、抵抗の温度係
数による検出信号の温度影響は相殺される。
ているときは、強磁性薄膜223は非磁性部分12と対
向するようになるので、強磁性薄膜222の抵抗R22
2が最大となり、強磁性薄膜223の抵抗R223が最
小となる。従って、出力端224から得られる検出信号
はVcc/2より低くなる。反対に、強磁性薄膜222
が非磁性部分12と対向しているときは、強磁性薄膜2
23が磁性部分13と対向しているので、抵抗R222
が最小となり、抵抗R223は最大となる。従って、出
力端224から得られる検出信号はVcc/2より高く
なる。従って、Vcc/2を基準レベル231とする図
4と同様な検出信号が得られる。また、強磁性薄膜22
2、223は直列に接続されているので、抵抗の温度係
数による検出信号の温度影響は相殺される。
【0023】このため、温度影響を防止すると共に、最
も大きい検出信号が得られる変位検出装置を提供できる
。
も大きい検出信号が得られる変位検出装置を提供できる
。
【0024】図5は本発明に係る変位検出装置の第2の
実施例の構成を示す断面図である。本実施例は強磁性薄
膜222、223を中心軸211から一方側に片よらせ
て設けた例を示している。強磁性薄膜222、223は
平行磁界212を感磁するので、上記と同様の作用、効
果が得られる。
実施例の構成を示す断面図である。本実施例は強磁性薄
膜222、223を中心軸211から一方側に片よらせ
て設けた例を示している。強磁性薄膜222、223は
平行磁界212を感磁するので、上記と同様の作用、効
果が得られる。
【0025】図6は磁気センサの第2の実施例を示す平
面図、図7は図6の磁気センサと磁気目盛部分との実装
状態を示す断面図である。磁気センサ22は少なくとも
二対の強磁性薄膜222、223及び242、243を
有している。二対の強磁性薄膜の間隔Qは、図示しない
磁気目盛部分14の磁性部分13と非磁性部分12との
ピッチをλとすると、 Q=(m+1/2)λ
・・・(
2)但し、m=0、1、2・・・の関係となっている。 第2の実施例ではn=1、m=3となっている。バイア
ス端225、245は電源電圧Vcc側に接続され、バ
イアス端226、246はGND側に接続されている。 出力端224、244から差動出力を得るようになって
いる。
面図、図7は図6の磁気センサと磁気目盛部分との実装
状態を示す断面図である。磁気センサ22は少なくとも
二対の強磁性薄膜222、223及び242、243を
有している。二対の強磁性薄膜の間隔Qは、図示しない
磁気目盛部分14の磁性部分13と非磁性部分12との
ピッチをλとすると、 Q=(m+1/2)λ
・・・(
2)但し、m=0、1、2・・・の関係となっている。 第2の実施例ではn=1、m=3となっている。バイア
ス端225、245は電源電圧Vcc側に接続され、バ
イアス端226、246はGND側に接続されている。 出力端224、244から差動出力を得るようになって
いる。
【0026】強磁性薄膜222が磁性部分13と対向す
るときは強磁性薄膜242が非磁性部分12に対向し、
強磁性薄膜223が非磁性部分12と対向するときは強
磁性薄膜243が磁性部分13に対向するので、出力端
224、244から得られる差動出力は負側に最大とな
る出力電圧が得られる。反対に、強磁性薄膜222が非
磁性部分12と対向するときは強磁性薄膜242が磁性
部分13に対向し、強磁性薄膜223が磁性部分13と
対向するときは強磁性薄膜243が非磁性部分12に対
向するので、出力端224、244から得られる差動出
力は正側に最大となる出力電圧が得られる。
るときは強磁性薄膜242が非磁性部分12に対向し、
強磁性薄膜223が非磁性部分12と対向するときは強
磁性薄膜243が磁性部分13に対向するので、出力端
224、244から得られる差動出力は負側に最大とな
る出力電圧が得られる。反対に、強磁性薄膜222が非
磁性部分12と対向するときは強磁性薄膜242が磁性
部分13に対向し、強磁性薄膜223が磁性部分13と
対向するときは強磁性薄膜243が非磁性部分12に対
向するので、出力端224、244から得られる差動出
力は正側に最大となる出力電圧が得られる。
【0027】このため、最も大きい差動出力が得られる
変位検出装置を提供できる。
変位検出装置を提供できる。
【0028】図8は磁気センサの第3の実施例を示す平
面図、図9は図8の磁気センサと磁気目盛部分との実装
状態を示す断面図である。図において図6と同一参照符
号は同一性ある構成部分を示している。本実施例はバイ
アス端の一端を共通接続する場合を示している。二対の
強磁性薄膜222、223及び242、243の間隔Q
は、 Q=mλ
・・・(3)但し、m=1、2・・・の関係となっ
ている。図8に示す実施例もn=1、m=3となってい
る。バイアス端225、245は電源電圧Vcc側に接
続され、バイアス端226、246はGND側に接続さ
れている。出力端224、244から差動出力を得るよ
うになっている。
面図、図9は図8の磁気センサと磁気目盛部分との実装
状態を示す断面図である。図において図6と同一参照符
号は同一性ある構成部分を示している。本実施例はバイ
アス端の一端を共通接続する場合を示している。二対の
強磁性薄膜222、223及び242、243の間隔Q
は、 Q=mλ
・・・(3)但し、m=1、2・・・の関係となっ
ている。図8に示す実施例もn=1、m=3となってい
る。バイアス端225、245は電源電圧Vcc側に接
続され、バイアス端226、246はGND側に接続さ
れている。出力端224、244から差動出力を得るよ
うになっている。
【0029】強磁性薄膜222、223及び242、2
43と磁気目盛部分14との関係は図7に示す実施例と
同一であるから同様の作用、効果が得られる。
43と磁気目盛部分14との関係は図7に示す実施例と
同一であるから同様の作用、効果が得られる。
【0030】図10は磁気センサの第4の実施例を示す
平面図である。図において図8と同一参照符号は同一性
ある構成部分を示している。二対の強磁性薄膜222、
223及び242、243の間隔Qは、 Q
=(m+1/4)λ
・・・(4)但し、m=
0、1、2・・・の関係となっている。
平面図である。図において図8と同一参照符号は同一性
ある構成部分を示している。二対の強磁性薄膜222、
223及び242、243の間隔Qは、 Q
=(m+1/4)λ
・・・(4)但し、m=
0、1、2・・・の関係となっている。
【0031】一対の強磁性薄膜222、223と、もう
一対の強磁性薄膜242、243は1/4λずらして配
置されているから、出力端224から得られる検出信号
232と出力端244とから得られる検出信号233は
、図11に示すように、90度の位相差を持つようにな
る。このため、どちらの検出信号が先に基準レベル23
1を越えたかを検出することによって被検出体1と検出
器2との相対的な変位方向をも検出できる。
一対の強磁性薄膜242、243は1/4λずらして配
置されているから、出力端224から得られる検出信号
232と出力端244とから得られる検出信号233は
、図11に示すように、90度の位相差を持つようにな
る。このため、どちらの検出信号が先に基準レベル23
1を越えたかを検出することによって被検出体1と検出
器2との相対的な変位方向をも検出できる。
【0032】図12は磁気センサの第5の実施例を示す
平面図である。図において図10と同一参照符号は同一
性ある構成部分を示している。二対の強磁性薄膜222
、223及び242、243の間隔Qは、
Q=(m+3/4)λ
・・・(5)但し、m
=0、1、2・・・の関係となっている。
平面図である。図において図10と同一参照符号は同一
性ある構成部分を示している。二対の強磁性薄膜222
、223及び242、243の間隔Qは、
Q=(m+3/4)λ
・・・(5)但し、m
=0、1、2・・・の関係となっている。
【0033】一対の強磁性薄膜222、223と、もう
一対の強磁性薄膜242、243は3/4λずらして配
置されているから、出力端224から得られる検出信号
232と、出力端244とから得られる検出信号233
とは270度の位相差を持つようになる。このため、図
10に示す実施例と同様に被検出体1と検出器2との相
対的な変位方向を検出できる。
一対の強磁性薄膜242、243は3/4λずらして配
置されているから、出力端224から得られる検出信号
232と、出力端244とから得られる検出信号233
とは270度の位相差を持つようになる。このため、図
10に示す実施例と同様に被検出体1と検出器2との相
対的な変位方向を検出できる。
【0034】図13は磁気センサの第6の実施例を示す
平面図、図14は磁気センサの第7の実施例を示す平面
図である。図において図10と同一参照符号は同一性あ
る構成部分を示している。図13の実施例では、強磁性
薄膜252、253及び262、263が強磁性薄膜2
22、223及び242、243に向き合わせて設けて
られている。強磁性薄膜の配置252、253及び26
2、263は、図10に示す実施例と同様にn=1、m
=3となっている。出力端254及び264は出力端2
24及び244と同様の検出信号を発生させる。マグネ
ット21が大きい場合は、図示はしないが、強磁性薄膜
252、253及び262、263を強磁性薄膜222
、223及び242、243の横に並べて設けても同様
の検出信号が得られる。図14の実施例では、図13の
実施例の強磁性薄膜252、253及び262、263
をλ/2ずらして配置している。このため出力端254
及び264は出力端224及び244の検出信号と18
0度の位相を持つ検出信号を発生させる。
平面図、図14は磁気センサの第7の実施例を示す平面
図である。図において図10と同一参照符号は同一性あ
る構成部分を示している。図13の実施例では、強磁性
薄膜252、253及び262、263が強磁性薄膜2
22、223及び242、243に向き合わせて設けて
られている。強磁性薄膜の配置252、253及び26
2、263は、図10に示す実施例と同様にn=1、m
=3となっている。出力端254及び264は出力端2
24及び244と同様の検出信号を発生させる。マグネ
ット21が大きい場合は、図示はしないが、強磁性薄膜
252、253及び262、263を強磁性薄膜222
、223及び242、243の横に並べて設けても同様
の検出信号が得られる。図14の実施例では、図13の
実施例の強磁性薄膜252、253及び262、263
をλ/2ずらして配置している。このため出力端254
及び264は出力端224及び244の検出信号と18
0度の位相を持つ検出信号を発生させる。
【0035】図15は磁気センサの第8の実施例を示す
平面図である。磁気センサ22は二つの強磁性薄膜群2
7、28を有している。強磁性薄膜群27、28は直列
にされる一端を出力端274とし他端をバイアス端27
5、276としている。
平面図である。磁気センサ22は二つの強磁性薄膜群2
7、28を有している。強磁性薄膜群27、28は直列
にされる一端を出力端274とし他端をバイアス端27
5、276としている。
【0036】それぞれの強磁性薄膜群27、28は直列
に接続される複数の強磁性薄膜271 〜27n 、2
81 〜28n を有し、強磁性薄膜の間隔Rは磁気目
盛部分14の磁性部分12と非磁性部分13とのピッチ
をλとすると、 R=mλ
・・・(6)但し、m=1、2・・・となっている
。図ではm=1となっている。
に接続される複数の強磁性薄膜271 〜27n 、2
81 〜28n を有し、強磁性薄膜の間隔Rは磁気目
盛部分14の磁性部分12と非磁性部分13とのピッチ
をλとすると、 R=mλ
・・・(6)但し、m=1、2・・・となっている
。図ではm=1となっている。
【0037】強磁性薄膜群27の一の強磁性薄膜271
と強磁性薄膜群28の一の強磁性薄膜281 との間
隔Sは、 S=(n+1/2)λ
・・・(
7)但し、n=0、1、2・・・となっている。図では
n個の強磁性薄膜を直列に接続してあるので(n+1/
2)λとなっている。強磁性薄膜の結線によってはn=
0の場合も可能である。他の強磁性薄膜も同様の関係と
なっている。
と強磁性薄膜群28の一の強磁性薄膜281 との間
隔Sは、 S=(n+1/2)λ
・・・(
7)但し、n=0、1、2・・・となっている。図では
n個の強磁性薄膜を直列に接続してあるので(n+1/
2)λとなっている。強磁性薄膜の結線によってはn=
0の場合も可能である。他の強磁性薄膜も同様の関係と
なっている。
【0038】強磁性薄膜群27が磁性部分13と対向す
るときは強磁性薄膜群28が非磁性部分12と対向する
ようになるので、強磁性薄膜群27が図2の強磁性薄膜
222と同様の作用をし、強磁性薄膜群28が強磁性薄
膜223と同様の作用をして図4と同様の検出信号が得
られる。この場合、強磁性薄膜群27、28が同時に変
化するので、更に大きな検出信号が得られる。本実施例
は、特に、磁気目盛部分14のピッチが小さくなった場
合に有効である。図14のように対向させ噛み合わせる
ように配置すると最も効率よく大きな検出信号が得られ
る。
るときは強磁性薄膜群28が非磁性部分12と対向する
ようになるので、強磁性薄膜群27が図2の強磁性薄膜
222と同様の作用をし、強磁性薄膜群28が強磁性薄
膜223と同様の作用をして図4と同様の検出信号が得
られる。この場合、強磁性薄膜群27、28が同時に変
化するので、更に大きな検出信号が得られる。本実施例
は、特に、磁気目盛部分14のピッチが小さくなった場
合に有効である。図14のように対向させ噛み合わせる
ように配置すると最も効率よく大きな検出信号が得られ
る。
【0039】
【発明の効果】以上述べたように、本発明によれば、次
のような効果が得られる。 (a)マグネットは被検出体の表面に対してほぼ垂直方
向に磁化されており、磁気センサはマグネットと被検出
体の表面に設けられた磁気目盛部分との間に設けられ、
被検出体の表面に平行となる面に少なくとも一対の強磁
性薄膜を有しており、一対の強磁性薄膜はマグネットの
中心軸から離れた位置に所定の間隔で設けられているの
で、一様な垂直磁界を必要としない変位検出装置を提供
できる。 (b)強磁性薄膜は、直列に接続される一端を出力端と
し他端をバイアス端としているので、温度影響の少ない
変位検出装置を提供できる。
のような効果が得られる。 (a)マグネットは被検出体の表面に対してほぼ垂直方
向に磁化されており、磁気センサはマグネットと被検出
体の表面に設けられた磁気目盛部分との間に設けられ、
被検出体の表面に平行となる面に少なくとも一対の強磁
性薄膜を有しており、一対の強磁性薄膜はマグネットの
中心軸から離れた位置に所定の間隔で設けられているの
で、一様な垂直磁界を必要としない変位検出装置を提供
できる。 (b)強磁性薄膜は、直列に接続される一端を出力端と
し他端をバイアス端としているので、温度影響の少ない
変位検出装置を提供できる。
【図1】本発明に係る変位検出装置の第1の実施例の構
成を示す断面図である。
成を示す断面図である。
【図2】磁気センサの平面図である。
【図3】マグネットの平行磁界を示す特性図である。
【図4】本発明に係る変位検出装置の検出信号の波形図
である。
である。
【図5】本発明に係る変位検出装置の第2の実施例の構
成を示す断面図である。
成を示す断面図である。
【図6】磁気センサの第2の実施例を示す平面図である
。
。
【図7】図6の磁気センサと磁気目盛部分との実装状態
を示す断面図である。
を示す断面図である。
【図8】磁気センサの第3の実施例を示す平面図である
。
。
【図9】図8の磁気センサと磁気目盛部分との実装状態
を示す断面図である。
を示す断面図である。
【図10】磁気センサの第4の実施例を示す平面図であ
る。
る。
【図11】図10の磁気センサを使用した場合に得られ
る検出信号の波形図である。
る検出信号の波形図である。
【図12】磁気センサの第5の実施例を示す平面図であ
る。
る。
【図13】磁気センサの第6の実施例を示す平面図であ
る。
る。
【図14】磁気センサの第7の実施例を示す平面図であ
る。
る。
【図15】磁気センサの第8の実施例を示す平面図であ
る。
る。
【図16】従来の変位検出装置の構成を示す断面図であ
る。
る。
1 被検出体12
非磁性部分13
磁性部分14 磁気目盛部
分2 検出器21
マグネット22
磁気センサ222、223 強磁性薄膜 224 出力端 225、226 バイアス端
非磁性部分13
磁性部分14 磁気目盛部
分2 検出器21
マグネット22
磁気センサ222、223 強磁性薄膜 224 出力端 225、226 バイアス端
Claims (7)
- 【請求項1】 表面に磁気目盛部分を有する被検出体
と、前記磁気目盛部分に対向して設けられ前記被検出体
との相対的な変位を検出する検出器とを有する変位検出
装置であって、前記磁気目盛部分は、前記検出器との相
対的な変位方向に対して磁性部分と非磁性部分とが順次
得られるようになっており、前記検出器は、マグネット
と、磁気センサとを含み、前記マグネットは、前記被検
出体の表面に対してほぼ垂直方向に磁化されており、前
記磁気センサは、前記マグネットと前記磁気目盛部分と
の間に設けられ、前記被検出体の表面に平行となる面に
少なくとも一対の強磁性薄膜を有しており、前記一対の
強磁性薄膜は、前記マグネットの中心軸から離れた位置
に所定の間隔で設けられ、直列に接続される一端を出力
端とし他端をバイアス端としていることを特徴とする変
位検出装置。 - 【請求項2】 前記一対の強磁性薄膜の間隔Pは、前
記磁気目盛部分の磁性部分と非磁性部分とのピッチをλ
とすると、 P=(n+1/2)λ 但し、n=0、1、2・・・ の関係となっていることを特徴とする請求項1に記載の
変位検出装置。 - 【請求項3】 前記磁気センサは、少なくとも二対の
強磁性薄膜を有しており、前記二対の強磁性薄膜の間隔
Qは、前記磁気目盛部分の磁性部分と非磁性部分とのピ
ッチをλとすると、 Q=(m+1/2)λ 但し、m=0、1、2・・・ の関係となっていることを特徴とする請求項1または請
求項2に記載の変位検出装置。 - 【請求項4】 前記磁気センサは、少なくとも二対の
強磁性薄膜を有しており、前記二対の強磁性薄膜の間隔
Qは、前記磁気目盛部分の磁性部分と非磁性部分とのピ
ッチをλとすると、 Q=mλ 但し、m=1、2・・・ の関係となっていることを特徴とする請求項1または請
求項2に記載の変位検出装置。 - 【請求項5】 前記磁気センサは、少なくとも二対の
強磁性薄膜を有しており、前記二対の強磁性薄膜の間隔
Qは、前記磁気目盛部分の磁性部分と非磁性部分とのピ
ッチをλとすると、 Q=(m+1/4)λ 但し、m=0、1、2・・・ の関係となっていることを特徴とする請求項1または請
求項2に記載の変位検出装置。 - 【請求項6】 前記磁気センサは、少なくとも二対の
強磁性薄膜を有しており、前記二対の強磁性薄膜の間隔
Qは、前記磁気目盛部分の磁性部分と非磁性部分とのピ
ッチをλとすると、 Q=(m+3/4)λ 但し、m=0、1、2・・・ の関係となっていることを特徴とする請求項1または請
求項2に記載の変位検出装置。 - 【請求項7】 前記磁気センサは、二つの強磁性薄膜
群を有し、前記強磁性薄膜群は直列にされる一端を出力
端とし他端をバイアス端としており、それぞれの前記強
磁性薄膜群は直列に接続される複数の強磁性薄膜を有し
、前記強磁性薄膜の間隔Rは、前記磁気目盛部分の磁性
部分と非磁性部分とのピッチをλとすると、R=mλ 但し、m=1、2・・・ となっており、前記強磁性薄膜群の一の前記強磁性薄膜
と前記他の強磁性薄膜群の一の前記強磁性薄膜との間隔
Sは、 S=(n+1/2)λ 但し、n=0、1、2・・・ となっていることを特徴とする請求項1に記載の変位検
出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8315691A JPH04294201A (ja) | 1991-03-22 | 1991-03-22 | 変位検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8315691A JPH04294201A (ja) | 1991-03-22 | 1991-03-22 | 変位検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04294201A true JPH04294201A (ja) | 1992-10-19 |
Family
ID=13794384
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8315691A Withdrawn JPH04294201A (ja) | 1991-03-22 | 1991-03-22 | 変位検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04294201A (ja) |
-
1991
- 1991-03-22 JP JP8315691A patent/JPH04294201A/ja not_active Withdrawn
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19980514 |