JPH04302414A - 塗布機 - Google Patents

塗布機

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Publication number
JPH04302414A
JPH04302414A JP3091436A JP9143691A JPH04302414A JP H04302414 A JPH04302414 A JP H04302414A JP 3091436 A JP3091436 A JP 3091436A JP 9143691 A JP9143691 A JP 9143691A JP H04302414 A JPH04302414 A JP H04302414A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wafer
rotary table
film thickness
chemical liquid
rotary
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP3091436A
Other languages
English (en)
Inventor
Tsuneaki Isozaki
磯崎 常明
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP3091436A priority Critical patent/JPH04302414A/ja
Publication of JPH04302414A publication Critical patent/JPH04302414A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Landscapes

  • Coating Apparatus (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は塗布機に関し、特に半導
体装置製造時に使用される塗布機に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の塗布機は図3に示すように、回転
台1と薬液滴下ノズル3とを有している。半導体ウェハ
ー2を回転台1上に乗せ、回転台1に形成された開口部
よりウェハー2を真空吸着し固定する。次に、ウェハー
2上にノズル3からフォトレジスト又はシリカ等の薬液
を滴下し、その後回転台1をモーターで回転し、ウェハ
ー2上の薬液をウェハー上に広げる。薬液の膜厚は、ウ
ェハー2回転時の遠心力と、ウェハー上の薬液表面の粘
度によって決まる。薬液膜厚はウェハー面内で図2(b
)に示したようになる。すなわち、ウェハー中央部は遠
心力が小さいため、その近傍に比べて厚くなり、ウェハ
ーの中央と端の中間位置は中央に比べて薄くなる。 ところが、ウェハー端近傍になると、ウェハー表面の風
速が大きくなり、薬液中の溶剤が早く抜けて粘度が高く
なるため、厚くなっていく。ウェハー面内の膜厚均一性
を上げるためにウェハーの回転数と薬液の粘度を適切な
値にする必要がある。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】従来の塗布機は、ウェ
ハー中央部と周辺部で、ウェハー上の点の移動速度が異
るため、ウェハー表面の風速が変わり、薬液中の溶剤の
蒸発量が変わるので、ウェハー周辺部の薬液が厚くなり
膜厚均一性を悪くするという問題点があった。
【0004】本発明の目的は前記課題を解決した塗布機
を提供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
、本発明に係る塗布機においては、回転台と、回転板と
を有し、ウェハー上に薬液滴下ノズルより薬液を滴下し
て該ウェハーに塗布する塗布機であって、回転台は、ウ
ェハーを吸着し該ウェハーに遠心力を作用させるもので
あり、回転板は、回転台上のウェハーに対し平行に配置
され、ウェハーとの間に生ずる空気の流れをコントロー
ルするものである。
【0006】
【作用】回転板4は、回転台1のウェハー2を回転し薬
液を広げる際に同時に回転し、ウェハー2と回転板4の
間の空気の流れをコントロールし、これによって薬液中
の溶剤の蒸発速度をコントロールするものである。
【0007】
【実施例】次に本発明について図面を参照して説明する
【0008】図1は、本発明の一実施例に係る塗布機を
示す断面図である。
【0009】図において、本発明装置は回転台1と、薬
液滴下ノズル3と、回転板4とを有するものである。
【0010】回転台1は、その上面にウェハー2を吸着
し、ウェハー2を回転させて遠心力を作用させるもので
ある。
【0011】薬液滴下ノズル3は、回転台1のウェハー
2上に薬液を滴下させるものである。
【0012】回転板4は、ウェハー2とほぼ同じ大きさ
のもので、回転台1のウェハー2と平行に配置されてお
り、ウェハー2の回転時に回転するものである。
【0013】回転台1にウェハー2を乗せ、薬液滴下ノ
ズル3より粘度21cpのフォトレジストをウェハー2
上に滴下する。次に円形の回転板4がウェハー2上2c
mの高さに移動し、回転台1の回転と共に回転板4が回
転を始める。このとき、回転台1と回転板4は同一軸を
中心にして回転する。回転板4と回転台1の回転数を共
に4000rpmにすると、ウェハー2と回転板4の間
の空気もほぼ同じ回転をするため、ウェハーの周辺にい
く程、ウェハー上の空気の流れが速くなり、ウェハー端
部のフォトレジストの膜厚が厚くなりすぎるということ
がなくなる。4000rpmの回転を20秒続けた時の
ウェハー面内のフォトレジスト膜厚は図2(a)に示し
たようになり、レンジで3nm以下の膜厚面内ばらつき
となる。従来の回転板4のない方式で塗布を行うと、図
2(b)に示すようにレンジで5nmの膜厚ばらつきと
なった。
【0014】尚、実施例では、回転板4をウェハー2上
方から取り除いた状態でノズル3から薬液滴下を行うよ
うにしたが、回転板4の中心部に穴を設けて薬液滴下ノ
ズル3を一体に設置した構造とすることにより、塗布作
業を行うようにしてもよい。
【0015】
【発明の効果】以上説明したように本発明はウェハー上
部に回転板をとり付けることによってウェハー表面の風
速をコントロールしたため、ウェハー端近傍での塗布膜
厚の増大を抑えることができ、ウェハー面内の膜厚ばら
つきを小さくすることができるという効果を有する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を示す断面図である。
【図2】(a)は本発明による塗布膜厚のウェハー面内
分布図、(b)は従来方法による塗布膜厚のウェハー面
内分布図である。
【図3】従来例による塗布部を示す断面図である。
【符号の説明】
1  回転台 2  半導体ウェハー 3  薬液滴下ノズル 4  回転板

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  回転台と、回転板とを有し、ウェハー
    上に薬液滴下ノズルより薬液を滴下して該ウェハーに塗
    布する塗布機であって、回転台は、ウェハーを吸着し該
    ウェハーに遠心力を作用させるものであり、回転板は、
    回転台上のウェハーに対し平行に配置され、ウェハーと
    の間に生ずる空気の流れをコントロールするものである
    ことを特徴とする塗布機。
JP3091436A 1991-03-29 1991-03-29 塗布機 Pending JPH04302414A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3091436A JPH04302414A (ja) 1991-03-29 1991-03-29 塗布機

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3091436A JPH04302414A (ja) 1991-03-29 1991-03-29 塗布機

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH04302414A true JPH04302414A (ja) 1992-10-26

Family

ID=14026320

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3091436A Pending JPH04302414A (ja) 1991-03-29 1991-03-29 塗布機

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH04302414A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6709699B2 (en) 2000-09-27 2004-03-23 Kabushiki Kaisha Toshiba Film-forming method, film-forming apparatus and liquid film drying apparatus
CN104834033A (zh) * 2015-04-10 2015-08-12 北京空间机电研究所 一种光学元件用透明衍射薄膜的旋涂制备方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6709699B2 (en) 2000-09-27 2004-03-23 Kabushiki Kaisha Toshiba Film-forming method, film-forming apparatus and liquid film drying apparatus
CN104834033A (zh) * 2015-04-10 2015-08-12 北京空间机电研究所 一种光学元件用透明衍射薄膜的旋涂制备方法
CN104834033B (zh) * 2015-04-10 2017-05-10 北京空间机电研究所 一种光学元件用透明衍射薄膜的旋涂制备方法

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