JPH0430678B2 - - Google Patents

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JPH0430678B2
JPH0430678B2 JP59236003A JP23600384A JPH0430678B2 JP H0430678 B2 JPH0430678 B2 JP H0430678B2 JP 59236003 A JP59236003 A JP 59236003A JP 23600384 A JP23600384 A JP 23600384A JP H0430678 B2 JPH0430678 B2 JP H0430678B2
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transistor
emitter
transistors
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array
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    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F5/00Methods or arrangements for data conversion without changing the order or content of the data handled
    • G06F5/06Methods or arrangements for data conversion without changing the order or content of the data handled for changing the speed of data flow, i.e. speed regularising or timing, e.g. delay lines, FIFO buffers; over- or underrun control therefor
    • G06F5/08Methods or arrangements for data conversion without changing the order or content of the data handled for changing the speed of data flow, i.e. speed regularising or timing, e.g. delay lines, FIFO buffers; over- or underrun control therefor having a sequence of storage locations, the intermediate ones not being accessible for either enqueue or dequeue operations, e.g. using a shift register

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  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Static Random-Access Memory (AREA)
  • Semiconductor Memories (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
本発明は、大略、フオールスルー(fall−
through)メモリアレイに関するものであつて、
特に、新規な先入れ先出し(FIFO)型バツフア
メモリアレイに関するものである。 メモリアレイは複数個のメモリセルによつて形
成されており、これらのメモリセルが、通常、複
数個の行及び列の形で配列されている。特定の行
におけるセルは一つのワードを形成する複数個の
ビツトをストアする。コンピユータ,通信回路網
等のようなデジタル装置において使用される種々
のタイプのメモリアレイの中において、屡々、フ
オールスルーメモリスタツク(又は、単にスタツ
クと略称される)と呼ばれるタイプのメモリアレ
イがある。明らかなことであるが、これらのアレ
イがスタツクと呼ばれるのは、その動作におい
て、データワード又はアドレスの何れかの形をし
た複数個のワードがアレイ内の最初のワード位置
内に順次ストアされ、次いでそのアレイが満杯に
なるまでアレイの反対側へ向かつて伝播されるか
らである。 概して、このようなアレイには二つのタイプが
あり、その一つは先入れ後出し(FILO)アレイ
であり、他方のタイプは先入れ先出力し(FIFO)
アレイである。その名前から理解される如く、先
入れ後出しアレイと呼ばれるのは、アレイへ転送
され且つアレイ内にストアされる一連の又は一続
きのワードの中で、アレイ内にストアされる最初
のワードがそのアレイから検索される最後のワー
ドだからである。これを対比して、先入れ先出し
アレイ(FIFO)は、アレイへ転送されアレイ内
にストアされる一連の又は一続きのワードの中
で、アレイ内にストアされる最初のワードがアレ
イから検索される最初のワードである。 本発明が関与する先入れ先出し型のアレイは従
来種々の方法で構成されている。このようなアレ
イの動作を説明する上で、保持モード及び転送モ
ードにおける動作を定義することによつてアレイ
内における各セルの動作を特徴づけることが便利
である。保持モードは、多かれ少なかれスタテイ
ツクな状態でデータを保持している期間中におけ
る特定のメモリセルの動作モードとして定義され
る。一方、転送モードは、メモリアレイ内のメモ
リセルの同じ列内における隣接するメモリセルへ
特定のメモリセルの内容、即ち論理1又は論理
0、が転送される期間中における動作モードとし
て定義される。通常、転送モードにおいて、メモ
リアレイ内の行における全てのメモリセルの内容
はアレイ内の隣接する行へ同時的に転送され、従
つてワード全体が一つの行から隣接する行へ転送
される。 典型的な従来の先入れ先出し型メモリアレイに
おいては、メモリセルの行における各メモリセル
は単一のワード線へ接続されているものであつ
た。その場合、ワード線上の制御電位がメモリセ
ルが保持モードで動作しているか又は転送モード
で動作しているかを決定していた。 動作について説明すると、従来のアレイの転送
モードにおいては、アレイの同じ列内の一つのメ
モリセルから別のメモリセルへ内容を転送するた
めに下降パルスを使用していた。然し乍ら、実際
上、広範囲の温度及び電源電圧に渡つて信頼性の
ある動作を確保することは困難であつた。例え
ば、温度及び電源電圧が変動すると、パルスが充
分に下降せずに、転送が行われない場合があつ
た。一方、このパルスが下降しすぎると、隣接す
るメモリセルの内容がデータを受け取ることが望
まれる行を越えて転送されてしまい制御不可能と
なる場合があつた。先入れ先出し型メモリアレイ
においてワードの転送を行なうために下降パルス
を使用するタイプのトランジスタ回路は、本願出
願人に譲渡されている発明者William E.Mossの
1979年4月24日に発行された米国特許第4151609
号の第2D図内のノード90に示されており且つ
第3欄30行以下の部分に記載されている。 本発明は、以上の点に鑑み為されたものであつ
て、上述した如き従来技術の欠点を解消し、ある
行のメモリセルから別の行のメモリセルへアレイ
を介してワードが自動的に伝播されるタイプの新
規なメモリアレイを提供することである。本発明
の別の目的とするところは、先入れ先出し及び先
入れ後出し型のメモリアレイとして知られている
種類のメモリアレイに属するタイプの新規なメモ
リアレイを提供することである。 本発明に基づいて構成されるアレイの主要な特
徴事項としては、アレイ内の各メモリセルが一対
の交叉結合したマルチエミツタトランジスタを有
しているということである。更に具体的に説明す
ると、各交叉結合したトランジスタは、第1エミ
ツタと、第2エミツタと、第3エミツタと、コレ
クタと、ベースとを有している。アレイ内の一つ
の行におけるこれらのトランジスタの各々の第1
エミツタは第1ワード線へ共通して接続されてい
る。アレイの一つの行におけるトランジスタの
各々の第2エミツタは第2ワード線へ共通して接
続されている。各マルチエミツタトランジスタの
コレクタはメモリセルの第1隣接行内におけるメ
モリセル内の対応するトランジスタの対応する第
3エミツタへ接続されている。この第3エミツタ
はメモリセルの第2隣接行におけるメモリセル内
の対応するトランジスタのコレクタへ接続されて
おり、前記第1及び第2隣接行はそれを介しての
ワードの伝播方向に関して先後関係が決められて
おり、夫々、下流側の行及び上流側の行に対応す
る。 動作について説明すると、ワード線が高状態に
維持される保持モードとワード線が瞬間的に低状
態とされる転送モードとを有する代わりに、本発
明のワード線は低電位状態から高電位状態へ変位
されてワードの転送を行なう。このことは、従来
必要とされていた比較的安定した電源電位及び温
度に対する依存性を除去するという利点を有して
いる。 更に、本発明に基づいて各メモリセル内におけ
る一対の交叉結合した3−エミツタトランジスタ
と関連して二つのワード線を使用することにより
付加的な利点がある。これらの利点は、関連した
従来既知の先入れ先出しメモリアレイにおける単
一の制御ワード線において必要とされるゲートを
除去することが可能であるという事実から派生す
るものである。従来必要とされていたこのゲート
を除去することによつて、回路内におけるアクテ
イブなデバイスの数が減少されるばかりか、それ
らに関連する伝播遅れを除去することが可能であ
る。 以下、添付の図面を参考に本発明の具体的実施
の態様について詳細に説明する。第1図は本発明
に基づいて構成されたメモリアレイ200を示し
ており、それは複数個のメモリセル0,0乃至
4,32を有している。メモリセル0,0乃至
4,32は32個の行で、各行内に5個のメモリセ
ルを配列させて構成されている。勿論、メモリセ
ルの行及び列の数は特定の適用例は合せて変える
ことが可能である。 各行内におけるメモリセルと接続して一対のワ
ード線が設けられている。例えば、第1行内にお
けるメモリセルを互いに結合するために、一対の
ワード線1,2が設けられている。第2行内のメ
モリセルを互いに結合するために、一対のワード
線3,4が設けられており、このようにして全部
で32対のワード線が設けられている。 各列内におけるメモリセルの隣接する対を結合
するために、別の対の線が設けられている。例え
ば、第1即ち最も左端の列におけるメモリセルを
結合するために、複数個の線101及び102が
設けられている。左側から2番目の列におけるメ
モリセルを結合するために、複数個の線103及
び104が設けられており、このようにして、列
内のメモリセルの各隣接する対を結合するために
全部で5対の線が設けられている。 第2図はメモリセル0,1の概略図である。ア
レイ200内のその他の全てのメモリセルで、第
1行におけるメモリセル(即ち、セル0,0と、
1,0と、2,0と、3,0と、4,0)以外の
ものは、全てメモリセル0,1と同一であり、従
つて、セル0,1についてのみ詳細に説明する。
第1行においてて、一つのワードをセルへ転送す
ることは、第2図においては二つのワード線が示
されているが、所望により、一つのワード線によ
つて制御することが可能である。 メモリセル0,1において、一対の交叉結合さ
れたマルチエミツタシヨツトキートランジスタQ
1及びQ2が設けられている。重要な事である
が、シヨツトキートランジスタを使用することが
必ずしも必要ではないが、シヨツトキートランジ
スタを使用することにより一層高速とすることが
可能である。 トランジスタQ1内において、コレクタ201
と、ベース202と、3つのエミツタ203,2
04及び205が設けられている。トランジスタ
Q2内においては、コレクタ211と、ベース2
12と、3つのエミツタ213,214及び21
5が設けられている。トランジスタQ1のコレク
タ201をトランジスタQ2のベース212へ結
合するために、3KΩの抵抗R1が設けられてい
る。トランジスタQ2のコレクタ211とトラン
ジスタQ1のベース202を結合するために、
3KΩの抵抗R2が設けられている。抵抗R1及
びR2を使用することにより、トランジスタQ1
及びQ2の夫々のコレクタ201及び211の間
に一層大きな電圧差を与えることが可能であり、
そうすることにより一層大きな公差を与え、従つ
てデバイスの歩留まりを増加させることが可能と
なる。 トランジスタQ1及びQ2の各々のコレクタ2
01,211に接続して、夫々、横型PNPトラ
ンジスタQ3及びQ4が設けられており、その
各々は電流源を形成している。トランジスタQ3
はコレクタ220と、ベース221と、エミツタ
222とを有している。トランジスタQ4は、コ
レクタ223と、ベース224と、エミツタ22
5とを有している。トランジスタQ3のコレクタ
220はトランジスタQ1のコレクタ201へ接
続されている。トランジスタQ4のコレクタ22
3はトランジスタQ2のコレクタ211へ接続さ
れている。トランジスタQ3及びQ4のベース2
21及び224は基準電圧源VREFに共通接続さ
れている。トランジスタQ3及びQ4のエミツタ
222及び225は電圧源VCCへ共通接続され
ている。 第1図のアレイに関して上述した如く、トラン
ジスタQ1及びQ2のコレクタ201及び211
は、夫々、線101及び102によつて隣接する
下流側ワード0,2(不図示)内の対応するトラ
ンジスタQ1及びQ2の対応する第3エミツタ2
05及び215へ接続されている。メモリセル
0,1の第3エミツタ205及び215は、
夫々、一対の線101及び102によつて対応す
る上流側メモリセル0,0(不図示)のコレクタ
201及び211へ接続されている。アレイ20
0の特定の行内におけるメモリセルの各々のトラ
ンジスタQ1及びQ2のエミツタ203及び21
3の全てワード線3と共通接続されている。同様
に、行内のメモリセルの各々における第2エミツ
タ204及び214はワード線4へ共通接続され
ている。 動作について説明すると、メモリセルの各々に
おける二つのトランジスタQ1及びQ2の一方が
導通状態であると、論理1(トランジスタQ1が
オンでトランジスタQ2オフ)又は論理0(トラ
ンジスタQ1がオフでトランジスタQ2がオン)
の何れかをストアする。上流側のメモリセル0,
0における二つのトランジスタQ1及びQ2の何
れが導通状態にあるかということに依存して両方
のワード線3及び4上において低電位から高電位
への電位変化が、セル0,1内のトランジスタQ
1及びQ2を現在の導通状態を維持させるか、又
は導通状態と非導通状態との間をスイツチして下
流側のセルが上流側のセルと同じデータを有する
ものとさせる。従つて、一般的には、上流側のメ
モリセルにおけるトランジスタQ1及びQ2のコ
レクタ上の電位と、それらが接続されている下流
側のメモリセル内のトランジスタの導通状態と
が、後者のトランジスタの第1エミツタ及び第2
エミツタへ所定のワード線制御電圧を印加するこ
とにより下流側のメモリセル内のトランジスタが
導通状態と非導通状態との間でスイツチするかど
うかということを決定する。このデータ転送操作
は、ワード線の一方又は両方が低状態とされた時
に終了する。 上述した動作を一層良く理解するために、以下
の表に関して説明を行なう。その表においては、
6個の組のバイナリーデータがセル0,0及び
1,0内にストアされており、且つ下流側のメモ
リセル0,1のトランジスタQ1及びQ2の電極
へ例示的な電位が印加されている。トランジスタ
Q1及びQ2はシリコンバイポーラシヨツトキー
トランジスタであると仮定している。全ての電位
は正であり、且つシリコンバイポーラシヨツトキ
ートランジスタの動作において使用される典型的
な電位である。
【表】 上の表中における例1,2及び3において、セ
ル0,0の上流側トランジスタQ1及びQ2のコ
レクタ電位であるセル0,1の第3エミツタ20
5及び215上の電圧は、夫々、0.6V及び1.2V
である(即ち上流側セル0,0は論理0をストア
している)。第2エミツタ204及び214に接
続されているワード線4上の制御電圧は1.5V以
上であると仮定されている。 例1において、上に仮定した電圧がセル0,1
のトランジスタQ1及びQ2の電極に印加されて
おり、セル0,1のトランジスタQ1が導通状態
でセル0,1のトランジスタQ2が非導通状態
(即ち、セル0,1が論理0をストアしている)
である場合、セル0,1のトランジスタQ1及び
Q2の第1エミツタ203及び213に接続され
ているワード線3上の制御電圧0.3Vはトランジ
スタQ1及びQ2の状態に何等変化を及ぼすもの
ではない。上の表から明らかな如く、これは、エ
ミツタ203を除いて全てのエミツタのベース・
エミツタ電圧が0.8Vよりも小さいからである。
従つて、トランジスタQ1の第1エミツタ203
のみが導通状態となる。 上の表の例2において、第1エミツタ203,
213上の制御電圧が0.3Vから0.6Vへ上昇され
ると、トランジスタQ1及びQ2のコレクタ及び
ベース上の電圧が表に示し如く変化する。これら
の変化によつて、トランジスタQ1の第1エミツ
タ203は導通状態を継続し、トランジスタQ1
の第3エミツタ205は非導通状態となる。 上の表の例3において、トランジスタQ1の第
1エミツタ203上の制御電圧が更に1.1Vへ上
昇されると、表に示した如くトランジスタQ1及
びQ2のコレクタ及びベースの電圧が対応して変
化し、その結果、トランジスタQ1の第1エミツ
タ203は導通状態を止め、トランジスタQ1の
第3エミツタは導通状態を開始する。このこと
は、シリコンバイポーラトランジスタの周知の動
作原理に従い、トランジスタQ1のベース電圧及
びコレクタ電圧がトランジスタQ1の全てのエミ
ツタ上における最も低い電圧を越えて、夫々、
0.8V及び0.3Vより高い電圧に上昇することが出
来ないという事実に基づくものである。注意すべ
き事であるが、これらの条件下において、トラン
ジスタQ2の全てのエミツタは非導通状態を維持
している。 トランジスタQ1及びQ2の第1エミツタ20
3,213上における電圧を更に増加してもトラ
ンジスタQ1及びQ2の導通状態を変化する事が
ないということが分かるので、セル0,1へ転送
されるべきセル0,0内にストアされている上流
側のデータが既にセル0,1内にストアされてい
るデータと同一であるという場合について更に例
を挙げて説明をする必要はない。 上述した事から理解される如く、トランジスタ
Q1及びQ2の導通状態における変化がないとい
うことは、上流側のメモリセル0,0内にストア
されている論理値がどのようなものであつても、
それはメモリセル0,1内にストアされている論
理値と同一であるということを意味している。従
つて、上流側のセルが論理0(又は論理1)をス
トアしている場合には、メモリセル0,1も又論
理0(又は論理1)をストアする。 上の表の例4,5及び6においては、トランジ
スタQ1及びQ2の第3エミツタ205,215
上に存在すると仮定されている電圧が例1,2及
び3において仮定されたものと逆になつている。
即ち、上流側セル0,0は論理1に有しており、
1.2V及び0.6Vがその第3エミツタ205及び2
15へ夫々印加されている。 例4について説明すると、トランジスタQ1が
導通状態でトランジスタQ2が非導通状態であ
り、1.5VがトランジスタQ1及びQ2の第2エ
ミツタ204及び214に接続されているワード
線4上に印加されており、この場合、トランジス
タQ1及びQ2の第1エミツタ203及び213
に接続されているワード線3上の電圧が0Vから
0.3Vに上昇したとしても、トランジスタQ1及
びQ2の導通状態は変化しない。 同様に、例5に示した如く、第1エミツタ20
3及び213に印加されている電圧を更に0.6V
へ上昇させたとしても、トランジスタQ1及びQ
2の導通状態は変化しない。然し乍ら、この電圧
を更に増加させると変化が発生する。 例6に関して説明すると、第1エミツタ203
及び213上の電圧を更に0.6Vから1.1Vへ上昇
させると、第1エミツタ203従つてトランジス
タQ1が導通状態から非導通状態へスイツチ動作
する。同時に、トランジスタQ2の第3エミツタ
215、従つてトランジスタQ2が非導通状態か
ら導通状態へスイツチ動作する。従つて、上流側
のセル0,0内にストアされている論理1がセル
0,1内にコピーされる。 このようにトランジスタQ1及びQ2が状態を
スイツチ動作する理由としては、トランジスタQ
1のコレクタ上の電圧、従つてトランジスタQ2
のベース上の電圧がトランジスタQ2の第3エミ
ツタ215に対するベース・第3エミツタ電圧が
0.8Vであるようなレベルに上昇すると、第3エ
ミツタ215が導通状態を開始するからである。
トランジスタQ2の第3エミツタ215が導通状
態を開始すると、そのコレクタ211の電圧が
0.9Vへ降下し、即ち第3エミツタ215の電圧
である0.6Vよりも0.3V上の電圧となる。トラン
ジスタQ2のコレクタ211上の電圧が0.9Vへ
降下すると、トランジスタQ1のベース202上
の電圧がそれより0.1V低い0.8Vの電圧となり、
従つてトランジスタQ1の第1エミツタ203が
ターンオフされる。 トランジスタQ1及びQ2のスイツチ動作が行
なわれ、且つ上流側のメモリセル0,0によつて
ストアされているデータのセル0,1への転送
(即ち、コピー)が完了すると、トランジスタQ
1及びQ2の第1エミツタ及び第2エミツタに接
続されているワード線3,4上の電圧が他の回路
(不図示)によつて0.3Vへ駆動され、従つてトラ
ンジスタQ1及びQ2の夫々のコレクタ上に保持
モード電圧である1.2及び0.6Vを確立する。 セル0,1及び上流側のセル0,0の両方にス
トアされている論理1に応答するセルの動作は例
1乃至3と類似している。又、上流側のセル0,
0内にストアされており且つ以前に論理1をスト
アしていたセル0,1から転送された論理0に応
答するセルの動作は例4乃至6のものと類似して
いる。従つて、本発明によつて構成される独特の
メモリセルによれば、FIFOメモリ装置を一層簡
単に設計し且つ製造することが可能であり、且つ
従来のFIFOメモリとくらべて信頼性を向上し且
つ歩留まりを向上させることが可能となる。 以上、本発明の具体的実施の態様について詳細
に説明したが、本発明はこれら具体例にのみ限定
されるべきものではなく、本発明の技術的範囲を
逸脱することなしに、種々の変形が可能であるこ
とは勿論である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に基づいて構成されたメモリア
レイを示した概略図であり、第2図は第1図のア
レイのメモリセルを示した概略図である。 (符号の説明)、0,0乃至4,32:メモリ
セル、200:メモリアレイ。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 メモリセルの複数個の行及び列を有するメモ
    リアレイにおいて、前記各メモリセルが、各々が
    第1エミツタと第2エミツタと第3エミツタとベ
    ースとコレクタとを具備する第1トランジスタ及
    び第2トランジスタと、前記メモリセルの行内に
    おける前記第1トランジスタ及び第2トランジス
    タの各々の前記第1エミツタ及び第2エミツタへ
    夫々接続されている第1ワード線及び第2ワード
    線と、前記メモリセルの列内の隣接するメモリセ
    ル内の前記第1トランジスタ及び第2トランジス
    タの対応する一つのコレクタへ前記各第3エミツ
    タを接続する手段と、前記メモリセルの前記列内
    の隣接するメモリセル内の前記第1トランジスタ
    及び第2トランジスタの対応する一つの前記第3
    エミツタの一つへ前記各コレクタを接続する手段
    と、前記トランジスタの他方の一つのコレクタへ
    前記第1トランジスタ及び第2トランジスタの
    各々のベースを接続する手段とを有することを特
    徴とするメモリアレイ。 2 特許請求の範囲第1項に於いて、前記ベース
    を接続する手段が抵抗を提供する手段を有するこ
    とを特徴とするメモリアレイ。 3 特許請求の範囲第1項に於いて、前記第1及
    び第2トランジスタの各々のコレクタへ接続して
    電流源が設けられていることを特徴とするメモリ
    アレイ。 4 特許請求の範囲第3項に於いて、前記各電流
    源が横型PNPトランジスタを有することを特徴
    とするメモリアレイ。 5 メモリセルから成る複数個の行及び列を有す
    るメモリアレイであつて、前記各メモリセルが、
    第1の行内において各々が第1エミツタと第2エ
    ミツタと第3エミツタとベースとコレクタを包含
    する複数個の電極を具備している第1トランジス
    タ及び第2トランジスタと、前記アレイ内の前記
    メモリセルから成る隣接する行内の一対の対応す
    るトランジスタへ前記第1トランジスタ及び第2
    トランジスタの各々を接続する手段と、前記第1
    トランジスタ及び第2トランジスタと前記隣接す
    る行内に於ける前記対応するトランジスタとの間
    でビツト情報を転送するために前記電極へ所定の
    電圧を印加する手段とを有することを特徴とする
    メモリアレイ。 6 上記第5項に於いて、前記第1行が上流側の
    行を有すると共に前記隣接する行が下流側の行を
    有しており、前記電圧を印加する手段が前記第1
    エミツタ及び第2エミツタへ制御信号を印加する
    手段を有しており、且つ前記接続手段が前記上流
    側の行内に於ける前記対応するトランジスタの一
    方のコレクタへ前記各第3エミツタを接続する手
    段と前記第1及び第2トランジスタの各々のコレ
    クタを前記下流側の行内の前記対応するトランジ
    スタの一方の対応する第3エミツタへ接続する手
    段とを有することを特徴とするアレイ。 7 特許請求の範囲第6項に於いて、前記第1及
    び第2トランジスタの前記第1エミツタ及び第2
    エミツタを前記アレイ内のメモリセルから成る行
    内の複数個の対応するトランジスタの対応する第
    1エミツタ及び第2エミツタへ接続する手段を有
    することを特徴とするアレイ。 8 特許請求の範囲第6項に於いて、前記第1エ
    ミツタ及び第2エミツタへ印加される前記制御信
    号と前記各第3エミツタ上の電圧に応答して前記
    第1トランジスタと第2トランジスタの何れか一
    方が導通状態となることを制御する手段を有する
    ことを特徴とするアレイ。
JP59236003A 1983-11-10 1984-11-10 メモリセル及びアレイ Granted JPS60115093A (ja)

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US551736 1983-11-10

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EP0142266A2 (en) 1985-05-22
DE142266T1 (de) 1986-03-20
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DE3486261T2 (de) 1994-04-28
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EP0142266B1 (en) 1993-12-29

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