JPS5817595A - Ram二重ワ−ド線回復回路 - Google Patents

Ram二重ワ−ド線回復回路

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JPS5817595A
JPS5817595A JP57118706A JP11870682A JPS5817595A JP S5817595 A JPS5817595 A JP S5817595A JP 57118706 A JP57118706 A JP 57118706A JP 11870682 A JP11870682 A JP 11870682A JP S5817595 A JPS5817595 A JP S5817595A
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transistor
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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Static Random-Access Memory (AREA)
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はデジタル計算機等に使用するランダム・アクセ
ス・メモリ(RAM)に関する物であって、更に詳細に
は、メモリセル内への偶発的な再書込みを防止し且うメ
モリの高速動作を可能とする為に非選択ワード線を迅速
に放電させる為のワード纏gnc+路に関するものであ
る。
ランダム・アクセス・メモリは、通常RAM乃!は直接
アクセスメモリと呼称され、2進情報の一時的記憶を行
なう為にほとんど全てのデジタル計算Il装置に広く使
用されているものであって、多量の無関係なデータを検
索する事無しに迅速に且つ直接的に検索を行なう事が可
能なものである。
RAMには幾つかのタイプがあり、最も広く使用されて
いるものはバイポーラメモリであって、それは現在゛入
手可能なものの中で最も高速のメモリの一つである。バ
イポーラRAMに於いては、多数の個別的なトランジス
タメモリセルをマトリクス上に配設し、縦列のセルをピ
ット線で相互接続させ、且つ横列のセルを上部ワード繍
と下部ワード纏との間に接続してあり、高選択電圧を上
部ワード纏に印加する事によって1列のメモリセル内を
動作可能とさせ、且つ下部ワード線を介して適宜の電流
源又はシンクへ至る電流路1形成する。従って、メモリ
マトリクス内に於ける何れのセルも特定のピット線対と
特定のワード一対との交点として識別しうるものである
。
通常、選択したセルから読出しを行なう場合には、上部
ワード線を選択すると共にその電圧を上昇させ、且つピ
ット線対上の電圧を一定レベルに繍持する。次いで、そ
の特定のピット一対に接続されているメモリセルトラン
ジスタのオン・オフ状態によってビット線対の一方に於
ける電流の有無を検知する事によってそのセルから読取
りを行なう。
特定のセルに書込みを行なう場合には、同様に、その選
択されたセルが接続されている上部ワード線上の電圧を
上昇させ、且つ一方のピット線上の電圧を下降させてそ
のピット線に接続されて6%るトランジスタをオンさせ
る事によって行なう。高品質で高速のRAMは迅速にス
イッチ動作されるものでなければならないので、読取り
乃至は−込みを行なうために選択されたセルに関連した
特定の上部ワード纏は極めて迅速に高状態にスイッチ動
作されねばならず、且つその時間はピット線に接続され
ているセンス増幅器がそのピット線とワード纏との交点
に於ける選択されたセルカーらデータを迅速に・取り出
す極めて短時間の間に成されねばならない。
選択されているワード軸が急に非選択状態とされた場合
に、上部ワード線上の電圧は迅速に低状態に下降されね
ばならない。この電圧がゆっくりと下降する場合には、
次ぎのサイクルに於ける全(別のセルの読取り又は書込
み動作によってそのワード線に関連したメモリセルに対
し偶発的な読取り又は・書込みを行なう場合がある。即
ち、上部ワード線上に高イネーブル電圧が印加されて選
択状態にあるセルが非選択状態とされて中間状態を遷移
中に、同時に別のワード軸がスイッチ動作されて高選択
状態とされ別のセルからの読取り又は書込みを行なう場
合がある。この様な状態に於いては、多くの場合に、中
間状態にあるセルに関して意図しない読取り又は書込み
が行なわれてしまう、この様なエラーの発生を1避する
為には、メモリを低速で動作させて非選択状態とされた
ワード線を低状態へ回復する為の余裕を与える必要があ
る。
本発明は、以上の点に鑑み成されたものであって、非選
択状態とされたワード軸を放電させる改良型回路を提供
する事を目的とする。
本発明の1特徴によれば、複数個の電気的導体の各々に
於ける電圧が第1選択電圧から中間状態遷移を経て第2
電圧レベルへ降下する場合に前記導体の各々を迅速に放
電させる放電回路を提供するものであって、前記回路に
は、複数個の第1トランジスタが設けられておりその各
々のトランジスタが前記複数個の導体の一つと前記第1
トランジスタの全てのエミッタに共通接続されている第
1電流源導体との間に於いて抵抗要素と直列接続されて
おり、前記複数個の第1トランジスタの各々のベースに
接続されると共に夫々の電気的導体に接続されて制御回
路が設けられており、前記制御回路は前記夫々の導体上
の電圧よりもVBE分だけ低い電圧を前記ベースに印加
し、前記複数個の第1トランジスタの内そ功制−回路か
ら最も高いベース電圧を受ける特定の第1トランジスタ
が前記第1電*igi導体及び前記複数個の第1トラン
ジスタの各々のエミッタ上に前記電圧レベルを確立し、
複数個の第2トランジスタが設けられておりその各々は
前記複数個の導体の一つと前記第2トランジスタの全て
のエミッタに共通接続されている第2電流源導体との間
に接続されており、前記第2トランジスタの各々のベー
スが前記第1トランジスタの対応するもののコレクタに
接続されており、前記複数個の第2トランジスタの内置
も高いベース、電圧を受ける特定の第2トランジスタが
前記第2電8111I春休及び前記複数個の第2トラン
ジスタの各々のエミッタ上に前記電圧レベルを確立する
ものである。
以下、添付の図面を参考に本発明の具体的実施の態様に
付いて詳細に説明する。第111は理想的なランダムア
クセスメモリのワード軸を選択又は非選択状層とした場
合の電圧と時間に関する遭容状−を示した説明図である
。メモリに対して読取り又は書込みを行なう場合に、適
宜のワード線駆動IIIIによつて上部ワード軸に高電
圧のセレクト電圧10を印加する事によって1列分のセ
ルがイネーブルされる。参照番号12によって示した如
く、そのワード線が非選択状層とされ、且つ、参照番号
14で示した如く、別の上部ワード線が選択状態とされ
た場合に、非選択状態とされた上部ワード線上の電圧が
低電圧の非選択レベル16へ迅速に降下し、選択状態と
されたワード線上の電圧が高電圧の選択レベル18へ迅
速に上昇する事が最も望ましい。
しかしながら、従来の回路に於いては、111図に示し
た様な理想的なスイッチング特性を憚る事は出来ず、上
部ワード軸及び下部ワード線とそれらに関連する回路を
迅速に放電させる事が出来ないので、現実的なスイッチ
ング特性は第2WJに示した欅になる。第2図に於いて
、非選択状層にされると、選択されているワード軸はそ
の高選択状態20から急激に電圧を降下しはじめる。し
かしながら、中閤状@領域、叩ち第211に於いて点線
22と点線24とで示した閣の領域を遷移する−は、参
照番号26で示した様に、電圧降下は次第に緩かとなり
、又参照番号28で示した様に、多くのl1lI&:M
いては一時的に中間部分に於いて平衡状態を示す事があ
る。減少しながら上昇する時間32の間にその様な電圧
特性を示すワード線内の選択したセル内に書込みを行な
うためにビット線電圧を降下させた場合には、その様な
ビット線に接続されている非選択セルであって中間電圧
状lを遷移下降中であり且つ点線の垂直−34で示した
近似位置28上の曲線に沿うて変化中である場合には、
電圧が十分に高いのでそのセルに誤って再書込みを行な
う可能性がある。この様なエラーを避ける為に、従来、
読取り及び書込みのサイクルを遍くしてワード線電圧レ
ベルを十分に降下させる事を必要としていた。
第3図に示した回路は上−ワード線と下部ワード線及び
それらに関連した回路を急速に放電させる事が可能な回
路であって、ワード線が非選択状層とされた場合には、
迅速に中間状態遷移を通過させて、ワード纏回復時園を
短縮すると共にメモリの安定性を増加させる事を可能と
するものである。
第3図は、メモリマトリクスの1部を示すと共に、本発
明のワード線回復回路の概略を示している。メモリマト
リクスは複数個のメモリセル36を有しており、これら
のセルはピット線対38゜40及び42.44の間に縦
列状に配列されると共に、上部ワード線及び下部ワード
線46,48:50.52:54.56の闇に横列状に
配設されている。メモリから読取りを行なったり又はメ
モリへ書込みを行なう場合には、選択回路(不図示)に
よって上部ワード線の一つを選択し、且つ選択された上
部ワード線上の電圧を通常のアドレスされていない電圧
レベルよりも高いレベルに上昇させる。
便宜上、ベース−エミッタ電圧V@fを本明細書及び添
付図面に於いてはφで表し、それはバイポーラトランジ
スタ及びダイオードの順方向電圧に対しては約0.15
ボルトの値を有するものである。
本明細書及び第□ゴ図中に示した電圧は任意の便宜的な
基準レベルに関連するものであうで、ここに於ける好適
実施例に於いては、全ての電圧レベルは回路システムの
電圧レベルである■α以下の電圧を示している。上部ワ
ード線46が選択され、且つそれに印加される電圧がv
a:基準電圧よりも−1,3φ小さいものである場合に
は、下部ワード線48はメモリセル内のトランジスタの
VIIEによってvcc基準電圧よりも−2,3φ低い
電圧レベルに降下される。
更に、第3図に於けるワード線対54.56が非選択状
lにあるものと仮定し、且つワードll54.56に関
連した全てのセルに対して非選択状態特機電力を維持す
る為に、上部ワード線は−2,8φの非選択電圧レベル
に維持し、従って下部ワード線56は基準電圧レベルよ
りも−3,8φ下の電圧レベルとなる。
ワード線50.52は、選択状態とされたか又は非選択
状層とされる蓼によって中間状態遷移しているものと仮
定する。従って、上部ワード線50はこの様な時点に於
いて−2,0φの電圧を担持しており、従って下部ワー
ド線52は−3,0φの電圧を担持する。
本ワード線回復回路はメモリの各ワード線に接続される
と共に二つの電流1[58,60に接続されている二重
比較・禁止回路を有している。これら全ての比較・禁止
回路は同一の構成を有している。ワード線46.48に
関連した比較・禁止回路は、NPNトランジスタ62を
有しており、そのベースは電圧回路に接続されており、
前記電圧回路は、好適には、接地基準電圧とダイオード
66のカソードとの間に接・統されている電流lll6
4を有するものである。尚、ダイオード66の7ノード
は下部ワード線48等の様な下部ワード線に接続されて
いる。トランジスタ62のエミッタは導体68に接続さ
れており、該導体68は電流源58を介して接地基準電
圧に接続されている。トランジスタ62のコレクタは、
抵抗70を介してワード線48に接続されると共に、二
重コレクタトランジスタ72のベースに接続されている
。トランジスタ72は同一の構成を有しベースを相互接
続させ且つエミッタを相互接続させた一対のNPNトラ
ンジスタで構成することが可能であって、相互接読させ
たエミッタを導体74に接続させ、且つ該導体74は電
81m160を介して接地接続されている。トランジス
タ72の一方のコレクタ、又は一対のトランジスタ72
の一方のコレクタは、下部ワード線48に接続されてお
り、他方のコレクタは上部ワード線46に接続されてい
る。
中−状■を遷移中であるワード線50.52に関連して
いる本ワード纏回復回路は、NPNトランジスタ76を
有しており、該トランジスタ76のベースは電11[7
8を介して接地接続されると共に、ダイオード80のカ
ソードに接続されている。尚、ダイオード80のアノー
ドは下部ワード線52に接続されている。トランジスタ
76のエミッタは導体68に接続されており、そのコレ
クタは抵抗82を介して下部ワード線52に接続される
と共に、二重コレクタトランジスタ84のベースに接続
されている。トランジスタ84のエミッタは導体74に
接続されており、一方トランジスタ84の二つのコレク
タは、夫々、上部ワード線50及び下部ワード線52へ
接続されている。
非選択状態とされているワード線54.56に関連した
本ワード線回復回路は、NPNトランジスタ86を有し
ており、該トランジスタ86のベースは電流1[88を
介して接地接続されると共に、ダイオード90のカソー
ドに接続されている。尚、ダイオード90の7ノードは
下部ワード線56に接続されている。トランジスタ86
のコレクタは抵抗92を介して下部ワード線56に接続
されると共に、二重コレクタトランジスタ94のベース
に接続されている。トランジスタ86のエミッタは導体
68に接続されており、トランジスタ94のエミッタは
導体74に接続されている。トランジスタ94の二つの
コレクタは、夫々、上部ワード線54及び下部ワード線
56に接続されている。
電流1i60へ電流を供給する為にNPNトランジスタ
96が設けられているが、このトランジスタが電流を供
給する場合&tS体74を介してその他の電流が流れて
いない場合であって、これはどのワード線も中閤状憇に
無い場合に発生する。トランジスタ96のコレクタはV
cr:IIII&:I統されており、そのエミッタは導
体74に接続されてをする。基準電圧がトランジスタ9
6のベースに供給されており、第2図に示した点線25
及び非選択レベル30の閣の電圧範囲に於ける導通状態
を維持している。
本回復1路の動作を説明すると、二つの比較が本1II
Iによって行なわれる。第1の比較は、′単一フレフタ
”トランジスタ、例えばトランジスタ62.7・6.8
6、によって行なわれ、メモリー内のどのワード線が高
レベルの選択状態にある力1を決定する。ダイオード6
6.80.90は、下部ワード總電圧を夫々のトランジ
スタのベース電圧レベルよりも1φだけ電圧を降下させ
る。この様にして高電圧状態に選択されたワード線に接
続された特定のトランジスタ(図示の実施例に於し)て
は、トランジスタ62が選択されたり−ド纏対の下部ワ
ード線48に接続される)が、最も′14&1ベース電
圧を受け、そのトランジスタが電流を導通させてそのエ
ミッタ電圧レベルを更に1φ降下させる。このトランジ
スタ62のエミッタ上の電圧レベルは、導体68上の電
圧レベル及びその信金てのトランジスタ76.86のエ
ミッタ上の電圧レベルを確定する。これらその他のトラ
ンジスタ76.86のベース・エミッタ電圧はそれらの
スレッシュホールドレベル以下であ−るので、これらの
トランジスタはオフ状態にある。従って、第1比較回路
は、第2図に示した点線20と23との閣の電圧範囲に
於いて動作する。
2番目の比較は二重コレクタトランジスタ72゜84.
94によって行なわれるものであって、これらのトラン
ジスタは、第2図に示した点線23と24との闇の電圧
範囲に於いて動作する。最も高いベース電圧を受けるト
ランジスタがオンであり、この導通状態にあるトランジ
スタを介しての1φの電圧降下によってその他のトラン
ジスタが非導通状態となる様にそれらのエミッタ電圧レ
ベルを確立する。
次いで、本発明の動作を詳細に説明する1選択された上
部ワード線46に関連した下部ワード線48は−2,3
φの電圧レベルにある。電流がダイオード66を介して
流れ、且つ電流1[64を介して接地へ流れる。ダイオ
ード66は選択されたワード線電圧から1φだけ電圧レ
ベルを降下させ、従うてトランジスタ62のベースは−
3,3φにあり、抵抗70を介して導体68へ電流を導
通させる。トランジスタ62はベース及びエミッタ間の
電圧を1φだけ降下させるので、導体68上の電圧レベ
ルはトランジスタ62によって−4,3φに設定さ、れ
、この電圧レベルはトランジスタ76゜86のエミッタ
に印加される。抵抗70の抵抗値及びその他のワード總
回路に於ける対応する抵抗82及び92の抵抗値は注意
深く選択されており、導通用トランジスタ62がオンの
場合に、抵抗70を介しての電圧降下がそれに対応する
トランジスタのコレクタ上に−3,8φの電圧を与える
ものであり、その電圧は非選択状態とされた下部ワード
纏56上の電圧と同じである。
ワード線50.52は牛腸状態遷移にあり、上部ワード
纏50上の電圧が−2,0φであり、下部ワード纏52
上の電圧が−3,0φであるとする。ダイオード80を
介して更に電圧降下が生じ、トランジスタ76のベース
上の電圧は−4,0φとなる。上述した如く、選択され
たり−ド纏46゜48に関連するトランジスタ62は導
通状態にあり導体68及びそれに接続されている全ての
エミッタを−4,3φの電圧レベルに設定している。
従って、ベース電圧が−4,0φでありエミッタ電圧が
−4,3φであるトランジスタ76は、スレッシュホー
ルド以下であり、従ってオフ状態となっている。−3,
0φのレベルにあるベース電流が下部ワード線52から
抵抗82を介してトランジスタ84へ導通され、そのト
ランジスタをオンさせて、降下中の中間状態にあるワー
ド線50゜52を導体74及び電流I!60を介して急
速に放電させる。導体74上の瞬間的な電圧レベルは−
4,0φに降下され、この電圧が該導体に接続されてい
る全ての複数コレクタトランジ゛スタのエミッタ上の電
圧レベルを確立する。
尚、選択されたワード$146.48に関し、トランジ
スタ62のコレクタ上の電圧、すなわち複数コレクタト
ランジスタ72のベース上の電圧は−3,8φである。
考慮中の時点に於いては、導体74上の電圧レベル、従
ってトランジスタ72のエミッタ電圧は−4,0φに設
定されているので、ベース・エミッタ電圧はスレッシュ
ホールド以下であり、従ってトランジスタ72はオフさ
れて選択されたワード線46.48を放電する事は無い
。
非選択・状態とされたワード線54.56は、−電圧レ
ペルー2.8  φ及び−3,8φを夫々担持している
。ダイオード90は下部ワード線56の電圧を−4,8
φへ降下させ、その降下された電圧がトランジスタ86
のベースに印加される。エミッタの電圧レベルは導通状
態にあるトランジスタ62によって−4,3φに設定さ
れているのでトランジスタ86はオフ状層にバイアスさ
れている。
従って、下部ワード−56からの−3,8φの電圧がそ
のまま゛トランジスタ94のベースに印加される。トラ
ンジスタ94のエミッタは導通状態にあるトランジスタ
84によって−4,0φの電圧に設定されている。従う
て、トランジスタ94はオフであり、ワード線54及び
56上の電圧レベルは何等彰響を受ける事がない。
以上、本発明の具体的構成に付いて詳細に説明したが、
本発明はこれら具体例に限定されるべきものではなく、
本発明の技術的eisを逸脱する事無しに種々の変形が
可能である事は勿論である。
例えば、上述の説明に於いては、本回復amがバイポー
ラRAMに接続された場合に付いて説明したが、本発明
はアレイ上の線に於いて1本の線が常に高状態にある場
合にその高状態にある纏を回復する場合の任意の回路に
適用可能なものである。
【図面の簡単な説明】
第1図はメモリワード線を選択状態及び非選択状態とし
た場合の理想的な電圧一時間変化を示した説明図、第2
図は従来技術によプてワード線を選択状態及び非選択状
層とした棚台の電圧一時開変化を示した説明図、第3図
は本発明のawgi+路を使用したメモリマトリクスの
1部を示した回路図、である。 (符号の説明) 36: メモリセル 38.40,42.44 :  ビット線46.50.
54 :  上部ワード纏4g、52.58 :  下
部ワード線68.74:  導体 特許出願人   フェアチアイルド カメラアンド イ
ンストルメント コーポレーション 手続補正書 昭和57年 8月11日 特許庁長官  若 杉 和 夫  殿 1、事件の表示   昭和57年 特 許 原 第 1
18706  号2、発明の名称   RAM二重ワー
ド線口復回路3、補正をする者 事件との関係   特許出願人 4、代理人 5、補正命令の日付  自  発 6、補正により増加する発明の数  な  し7、補正
の対象    委 任 状、 図 面8、補正の内容 
   別紙の通り

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、讃歌−の電気的導体の各々に於番する電圧が第1選
    択電圧レベルから中間状態遷移を経て第2電圧レベルへ
    降下する場合に前記各導体を迅速に放電する放電回路に
    於いて、複数−の第1トランジスタが設けられておりそ
    の各々が前記複数−個の導体の一つと前記第1トランジ
    スタの全てのエミッタに共通!!@された第1電Il!
    ■導体との間に於いて抵抗IIIと腹殉m統されており
    、前記複数個の第1トランジスタの各々のベースに接続
    されると共に夫々の電気的導体に接続された制−回路が
    設けられており、前記制−m1mlは前記夫々の導体上
    の電圧よりもvIIだけ低い電圧を前記トランジスタの
    ベースに印加し、前記複数個のトランジスタの内で鯛−
    回路から最も高いベース電圧を受ける特定の第1トラン
    ジスタが前記第1電流源導体及び前記複数−の第1トラ
    ンジスタの各々のエミッタに電圧レベルを確立し、複数
    個の第2トランジスタを設けてありその各々が前記複数
    個の導体の一つと前記第2トランジスタの全てのエミッ
    タに共通接続された第2電流源導体との閤に接続されて
    おり、前記第2トランジスタの各々のベースが前記第1
    トランジスタの対応するもののコレクタに接続されてお
    り、前記複数個の第2トランジスタの内で最も高いベー
    ス電圧を受ける特定の第2トランジスタが前記第2電流
    源導体及び前記複数個の第2トランジスタの各々のエミ
    ッタに電圧レベルを確立する事を特徴とする回路。 2、上記第1項に於いて、前記制御回路が第3電81m
    1に直列接続されたダイオードを有し、前記ダイオード
    のアノードが前記導体に接続されている事を特徴とする
    回路。 3、上記第1項又は第2項に於いて、電圧源と前記第2
    電II源導体との間に第3トランジスタが接続されてお
    り、前記第2トランジスタが非導通状態にある期間の間
    前記第3トランジスタが連続的に導通状態となって前記
    第2電流源へ電流を供給する事を特徴とする回路。 4.上記第1項乃至第3項の内の何れか1項に於いて、
    前記第2トランジスタの各々が夫々のベースを相互接続
    し且つ夫々のエミッタを相互接続した実質的に同一の複
    数個のトランジスタを有し、前記複数−のトランジスタ
    の各々のコレクタが別の導体に接続されており、前記第
    1導体上の電圧レベルが前記第1選択電圧レベル以下に
    降下した場合に前記導体を放電する事を特徴とする゛回
    路。 5、上記第1項乃至第3項の内の何れか1項に於いて、
    前記第2トランジスタの各々がベースと、エミッタと、
    複数−のコレクタとを有し、前記コレクタの各々が別々
    の導体に接続されており、前記第1春体上の電圧レベル
    が前記第1選択電圧レベル以下に降下した場合に前記導
    体を放電させる事を特徴とする回路。 6、上記第1項7BB!第3項の内の何れか1項に於い
    て、前記第1導体の各々が、上部ワード纏と下部ワード
    纏からなる複数−の対を有すると共に列状に配設され且
    つ前記対の各々の闇に接続された複数個のメモリセルを
    有するRAMの下部ワード線の一つである事を特徴とす
    る回路。 7、上記第4111又は第5項に於いて、前記第11体
    の各々が、上部ワード線と下部ワード線とからなる複数
    個の対を有すると共に列状に配設され前記対の各々の闇
    に接続された複数個のメモリセルを有するRAMの下部
    ワード線の一つであり、前記複数個の第2トランジスタ
    の1トランジスタに於けるコレクタがワード線対に於け
    る各ワード纏に接続されていて前記下部ワード練上の電
    圧が前記第1選択レベル以下に降下した場合に前記ワー
    ド線対を迅速に放電させる事を特徴とする回路。
JP57118706A 1981-07-13 1982-07-09 Ram二重ワ−ド線回復回路 Granted JPS5817595A (ja)

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JPH0217876B2 JPH0217876B2 (ja) 1990-04-23

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US4393476A (en) 1983-07-12
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JPH0217876B2 (ja) 1990-04-23
DE3280044D1 (de) 1990-01-04

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