JPH0430725U - - Google Patents

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JPH0430725U
JPH0430725U JP7183890U JP7183890U JPH0430725U JP H0430725 U JPH0430725 U JP H0430725U JP 7183890 U JP7183890 U JP 7183890U JP 7183890 U JP7183890 U JP 7183890U JP H0430725 U JPH0430725 U JP H0430725U
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【図面の簡単な説明】
第1図および第2図は本考案に係るアライメン
ト測定装置の一実施例を示す図であり、第1図は
アライメント測定パターンのマスクへの配置例を
示す図、第2図はアライメント測定パターンを示
す図、第3図は従来の合わせマークパターンを示
す図である。 10……マスクパターン、20……アライメン
ト測定パターン。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 各層のマスクに大きさの異なる矩形のアライメ
    ント測定用合わせパターンおよび被合わせパター
    ンを形成し、該合わせパターンと該被合わせパタ
    ーンのずれによりマスク間のアライメントずれを
    測定するアライメント測定装置において、 各層のマスクに全層の前記合わせパターンおよ
    び被合わせパターンを所定の順序により並べて形
    成して、各層間のアライメントずれを測定するよ
    うに構成されたことを特徴とするアライメント測
    定装置。
JP1990071838U 1990-07-05 1990-07-05 基板のアライメントパターン Expired - Lifetime JP2530950Y2 (ja)

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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5382173A (en) * 1976-12-27 1978-07-20 Fujitsu Ltd Positioning method

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5382173A (en) * 1976-12-27 1978-07-20 Fujitsu Ltd Positioning method

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