JPH04310071A - 画像読取装置 - Google Patents

画像読取装置

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JPH04310071A
JPH04310071A JP3076191A JP7619191A JPH04310071A JP H04310071 A JPH04310071 A JP H04310071A JP 3076191 A JP3076191 A JP 3076191A JP 7619191 A JP7619191 A JP 7619191A JP H04310071 A JPH04310071 A JP H04310071A
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JP
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image
signal
frame
light amount
scan
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JP3076191A
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English (en)
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Makoto Endo
誠 遠藤
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Canon Inc
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Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
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  • Facsimiles In General (AREA)
  • Facsimile Scanning Arrangements (AREA)
  • Facsimile Image Signal Circuits (AREA)
  • Exposure Or Original Feeding In Electrophotography (AREA)
  • Control Of Exposure In Printing And Copying (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、画像読取装置、特に画
像の周辺部に枠のある画像を読み取り処理する画像処理
装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、ネガ画像を有するマイクロフィル
ムは、図19(A)のように、マイクロフィルムFのコ
マf内にネガ画像が記録されており、各コマfの周辺が
透明になっている。このマイクロフィルムFをネガポジ
反転の情報記録装置でプリントアウトすると、コマfの
周辺の透明部分が現像される。その結果、転写材Pには
図19(B)に示すように、画像領域Gの周囲にベタ黒
状の枠Bがプリントされ、プリント画像の美観を損ねる
だけでなく、トナー消費量を増大させるという問題があ
った。
【0003】そこで上記の問題を解決するため、マイク
ロフィルムFの画像コマfの領域を検知し、該画像領域
に基づいて決定される領域を基準として、転写材Pに記
録する領域を制御することにより、図19(C)の様に
枠部のないプリントを得るようにした情報記録装置が提
案されている。
【0004】この装置では、画像走査時の画像読取情報
を所定の閾値にて2値化し、RAMに記憶する。この情
報は例えば図20のようになっており、ここで図中のL
x、Lyはそれぞれ転写紙Pの横、縦の長さに対応して
いる。そして、CPUはRAM内のデータのl1のビッ
ト列から順に、その1列が全て0か、或は1を含んでい
るかの判断を行ない、1列が全て0の場合は、この判断
をl1,l2,l3,…と順次繰返す。そして、最初に
1を含む列lnを発見した時点で(図示例ではl6)、
CPUは、画像記録領域の値LFをnとする。更に、上
記の動作を画像領域Gの左端及び上下両端において同様
に行ない、画像記録領域をlx1,ly1,ly2を決
定する。
【0005】
【発明が解決しようとしている課題】しかしながら、上
記従来例では、一旦RAMに原稿画像の全エリア画像サ
ンプリングデータを記憶し、その後そのデータの演算処
理を行ない、枠消を行なうため、高速化が困難であり、
またRAM容量が大きいとコストアップとなってしまう
欠点があった。
【0006】そこで、画像走査により読み取った画像信
号をパイプライン処理にて画像処理を行ないながら、同
時に原稿画像の部分エリア画像サンプリングデータによ
り遂次自動枠消処理を行なう、リアルタイム処理が要望
されていた。
【0007】ところが、この自動枠消を行なう場合に2
値化スライスレベルを固定値にしてしまうと、自動濃度
調整(AE)が利いていれば比較的良いが、ユーザーの
好みによりAEで濃度微調整を行なったり、AEを解除
してマニュアル濃度調整を行なった場合には、誤動作を
生じる可能性が高い。
【0008】また、この自動枠消を行なう場合に、AE
と同時に行なわれた場合には、例えば自動枠消のスライ
スレベルを決定する際に、露光時の光量で測光を行なっ
たとすると、容易にスライスレベルは決定できるものの
、AEはいかなる場合でも常に一定光量で測光を行なわ
なければならないため、AEと自動枠消で別々の(2回
の)前スキャンを行なわなければならない。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明は以上の点に鑑み
てなされたもので、原稿を露光する光源と、露光された
原稿画像を読取る読取手段と、前記読取手段からの画像
信号を量子化する量子化手段と、原稿画像の枠部を検出
する枠検出手段と、前記光源の光量を制御する光量制御
手段とを有し、原稿画像の読取用の本走査の前の前走査
により得た測光値と、本走査における光量を示す値とに
基づいて、前記量子化手段の量子化パラメータを決定す
る画像読取装置を提供するものであり、また原稿画像の
読取用の本走査の前の前走査により得た測光値に基づい
て、本走査における光量を制御するとともに、前記量子
化手段の量子化パラメータを決定する画像読取装置を提
供するものである。
【0010】
【実施例】図3は本発明をマイクロフィルム用ディジタ
ルリーダープリンターに適用した場合の外観図、図4は
その概略機構図を示す。
【0011】図3及び図4において、1はマイクロフィ
ルムをスクリーンに投影あるいは読取って画像処理等を
行なうスキャナー、2はスキャナー1で読み取った画像
情報を画像処理した後、普通紙にプリントアウトするた
めのレーザービームプリンター、3は各種設定及び表示
を行なうための操作部、4はロールフィルムの撮影画像
を操作部3上のツマミにて、投影位置に送ったり、巻き
戻したりする機構を持つロールキャリア、5はズーム機
構を持つ投影用ズームレンズ、6はマイクロフィルム画
像を投影するためのスクリーン、7はマイクロフイルム
を照射するためのハロゲンランプ、8はハロゲンランプ
の拡散光を集光するための集光レンズ、9はロールキャ
リア内にある圧板ガラス(不図示)に挟持されたマイク
ロフィルム、10は投影光を反射するための反射ミラー
、11はスクリーン投影か、投影画像読取かを選択する
ための摺動ミラー、12は摺動ミラー11を回転させる
ための軸、13は投影画像を読み取るためのラインセン
サー、14、15はラインセンサーの位置を検出するた
めのセンサーである。
【0012】以上の構成において画像読取の動きについ
て説明する。
【0013】まず、通常は摺動ミラー11は破線の様な
位置にある。この時、ハロゲンランプ7、集光レンズ8
でマイクロフィルム9に照射した光は、反射ミラー10
、摺動ミラー11を通ってスクリーン6に投影される(
破線の光路)。
【0014】操作部3上に設けられたコピーボタンを押
すと、まず摺動ミラー11は軸12を中心に実線の位置
に移動し、マイクロフィルム投影光は、実線の光路をた
どる。この時、ラインセンサー13はホームポジション
センサー14をはずれ、A方向へ移動を始める。(この
方向を以後、前スキャンとする)。画像光終端位置まで
移動すると、ラインセンサー13は、スタートポジショ
ンセンサー15にかかり、B方向へ反転移動を始める。 (以後、この方向を本スキャンとする)。ラインセンサ
ー13がホームポジションセンサー14にかかると、ラ
インセンサー13の移動は停止し、摺動ミラー11は破
線位置へ戻る。
【0015】図1は、本発明の一実施例における、概略
ブロック図、図2は、画像処理回路26の詳細ブロック
図を示す。以下の説明において、信号の反転を※によっ
て表わす(例えば、信号Aの反転を信号A※と表わす)
【0016】図1において、21は、ラインセンサー1
3の画像信号出力を増幅するためのアンプ、22はアン
プの出力信号をディジタル8ビット信号に直すためのA
/Dコンバータ、23はディジタル化した画像信号をシ
ェーディング補正するためのシェーディング補正回路、
24はそのシェーディング補正された画像信号から測光
値を取得するためのサンプリング回路、27はハロゲン
ランプを駆動するランプ駆動回路である。
【0017】25は、そのサンプリング回路24からの
割込信号(INT※)に応じて、サンプリングデータを
取り込む制御ハロゲンランプ7の光量制御及び操作部3
の設定を読み込み、あるいは表示等を行なうCPU、2
6はシェーディング補正された画像信号に各種画像処理
を行なう画像処理回路である。
【0018】次に画像処理回路26の詳細ブロックとし
て図2において、31は8ビットの階調を持つ画像信号
VMをスライスレベルSLで2値化するための2値化回
路、32は2値化された画像信号VMBをブロック的に
ビット加算するブロックビット加算回路、33はブロッ
クビット加算された値を判定するための2値化回路(比
較値ref)、34は2値化回路33で2値化された信
号SIGにより画像部と枠部の境界点を検出するための
検出信号MBI、MBITを発生するための検出信号発
生回路である。
【0019】35は主走査方向同期信号に同期して画像
ブロックGCLKによりカウントする13ビットのカウ
ンタ、36はブロック化の際に生じる主走査方向の遅延
(k)を補正するためのアドレス補正回路であるところ
の13ビットアダー、37は検出信号MBITの立上が
りで主走査方向のアドレスをラッチする画像部立下がり
アドレスラッチ回路、39はTライン毎に生じる同期信
号HSYNT信号により、37の出力アドレス信号NB
ラッチを行ない遅延するTラインラッチ回路、40は同
じくHSYNT信号により38の出力アドレス信号NA
をラッチするTラインラッチ回路である。
【0020】41はNB、NAのアドレス信号よりタイ
ミングを発生するアドレスタイミング変換回路A、42
は同じく39、40の出力信号PB、PAのアドレス信
号よりタイミングを発生するアドレスタイミング変換回
路Bである。
【0021】43〜47はゲート回路である。
【0022】48は画像信号VMをエッジ強調するため
のエッジ強調回路、49は更にエッジ強調化された8ビ
ット階調の画像信号を誤差拡散法により擬似中間調処理
するための誤差拡散回路、50はブロック化の際に生じ
る副走査方向の遅延を補正するための画像遅延回路であ
る。
【0023】図1を基に画像信号の流れを説明する。
【0024】先の図4において、ホームポジションセン
サー14からラインセンサー13が移動し、スタートポ
ジションセンサー15へ移動する区間、すなわち前スキ
ャン動作の時は、ラインセンサー13より出力された信
号は、アンプ21で増幅し、A/Dコンバータ22でデ
ィジタル化し、更にシェーディング補正回路23でシェ
ーディング補正が行なわれ、サンプリング回路24へと
その画像信号は送られる。
【0025】図5はそのサンプリング方式を示した図で
、斜線部が1ブロックで、主走査方向64画素、副走査
方向3画素の長方形より成っている。
【0026】この時、測光エリアは紙サイズの内側に設
定されており、測光エリアのタイミングで副走査方向3
ラインおきに割込信号(INT※)は出力され、サンプ
リング回路24の内部の演算処理回路(不図示)では6
4×3のエリア内の画像信号レベルの平均値が、CPU
25のデータバスへ出力される。
【0027】割り込み信号(INT※)と測光データレ
ジスタ(AED7〜AED0)の出力タイミングは図6
の様になっている。即ちCPU25にINT※立下り信
号が入力されると、CPU25は割込処理ルーチンに入
り、測光データレジスタ(AED7〜AED0)からデ
ータを読み込む。
【0028】このようにして、測光データを3ライン毎
に遂次入力し、CPU25の内部RAMに記憶していく
。以後図7のフローチャートに添ってCPU25の動作
説明を行なう。
【0029】この時、ハロゲンランプ7は測光用光量に
なるように制御され、その時の光量データをL0とする
【0030】このように画像データのサンプリングを局
所的に行ない、そのサンプリングデータの最小値MIN
を取得する(ステップ■)。
【0031】次にMIN′=255×log(MIN)
/log(255)の式により対数変換を行なう。これ
は以後の演算処理を加減式のみで容易に行なうためであ
る。
【0032】そして、ステップ■で露光モードをチェッ
クし、露光モードがマニュアルの時はステップ■、AE
の時はステップ■へと分岐する。
【0033】マニュアル時には、操作部3上で設定した
コピー濃度F値より、実際の本スキャン時に露光する時
の露光データL値を算出する(ステップ■)。
【0034】一方AE時には、先ほど決定したMIN′
と操作部3上で設定したAE微調値より、あらかじめ設
定してあるAEテーブルよりL値を算出する(ステップ
■)。
【0035】AEテーブルは、サンプリングデータ最小
値(対数化)MIN′と露光データ(対数化)L′との
関係を示したテーブルで、例えば図8の様になっている
。(ここでL′=255×log(L)/log(25
5))。
【0036】このテーブルにより、濃度の異なる各種フ
ィルムにおいて、あるいはレンズ倍率が異なる場合にお
いても、常に適正な濃度のコピーが得られるような露光
データLを選択する。
【0037】次に上記の様に、算出したMIN′とL′
に基づき、スライスレベルSLを算出する(ステップ■
)。
【0038】具体的には、まず図9の様な特性パラメー
タに基づき作成されたテーブルによりSA′と、図10
の様な特性パラメータに基づき作成されたテーブルによ
りSB′を求める。
【0039】そして、SL′=MIN′+SA′+SB
′でSL′を求める。
【0040】次に逆対数変換して、
【0041】
【外1】 SLを求める。
【0042】ここで、図9は各種フィルムより経験則的
に求めたものであり、図10は測光用光量データLoの
時0とする露光量補正グラフである。
【0043】そして、本スキャン時には、先に決定した
L値で露光制御するとともに、先に算出したスライスレ
ベルSLにて自動枠消を行なう(ステップ■)。
【0044】図1、図4において、スタートポジション
センサー15からラインセンサー13が移動し、ホーム
ポジションセンサー14へ移動する区間、すなわち本ス
キャン動作の時は、ラインセンサー13より出力された
信号はアンプ21で増幅し、A/Dコンバータ22でデ
ィジタル化し、更にシェーディング補正回路23でシェ
ーディング補正が行なわれた後、画像処理回路26へと
その画像信号(VM)は送られる。
【0045】図2において、画像信号VMは、先の演算
により算出したスライスレベルSLと比較して、2値化
回路31により1か0の2値信号に変換する。画像上の
1点Xに対するブロックは図14のように9×9のサン
プル点を持っており、各サンプル点は主走査方向に8画
素、副走査方向に8画素の間隔になっている。従ってブ
ロックの大きさは64×64画素となり、センサー13
として400dpiの解像力のものを使用しているので
約4mm口のブロックとなる。このため、約2mm幅の
拡大されたゴミ、ホコリまでは誤動作を生じないことに
なる。
【0046】ところで、ブロックビット加算回路32で
は、9×9のブロック内のサンプル点が1の個数(総和
)を求め、SUM信号として取り出す。
【0047】このSUM信号は2値化回路33により、
あらかじめ設定した個数レベルrefと比較してSUM
≧refの時を1、SUM<refの時を0として2値
信号SIGに変換する。
【0048】この信号SIGを基に検出信号発生回路3
4により画像立下がり検出信号MBIと画像立上り検出
信号MBITを作る。この2つの信号は主走査方向前後
の枠位置を検出した信号である。
【0049】13ビットカウンタ35は同期式カウンタ
で図11図示の如くHSYNC※信号でクリアされ、G
CLKの立上りでカウントアップする。
【0050】13ビットはラインセンサー13が400
dpiA3サイズ幅の主走査を想定したビット数である
ので、ラインセンサーの解像力、画像読取幅により異な
る。ブロック化することにより、主走査方向、副走査方
向とも遅延を生じるが、主走査方向に関しては、13ビ
ットアダー36によりアドレス補正することで対処する
。補正値はKであるが、以下のタイミングは便宜上K=
0としている。こうして補正された主走査方向カウンタ
のアドレス値をHADとする。
【0051】図12、図13は画像上の枠部をマスクし
、画像と枠の境界位置に黒縁を形成する過程を示したタ
イミングチャートである。(以下HSYNTをHSYN
C(1ライン)としている)。
【0052】図12の1番上の信号はHSYNC※で、
1ラインに1パルス(GCLK2周期分)の間隔で立下
がるパルスが出力される。画像エリアは、このHSYN
C※信号のパルス間に存在するが、プリンターとの関係
で、通常の1ラインは画像読取幅以上のクロックタイミ
ングを有しており、画像エリアの前後には非画像エリア
も存在する。この図12は副走査方向に画像がない状態
から画像が現れた時のタイミングで、画像がある時は、
SIG信号が1となる。
【0053】ただし、画像部の中でも文字部は枠部の濃
度に近いため、SIG信号が0になる場合もある。この
時、アドレス信号NBはSIG信号の最初の立上り点を
示しており、アドレス信号NAは1ライン中のSIG信
号の最後の立下がり点を示している。
【0054】これはMBIT信号は、SIG信号の最初
の立上りで1になり、次のHSYNC※信号で立下がり
で0になるため、MBIT信号の立上りでNBアドレス
はラッチされる。そして、MBI信号は画像部中に数回
立上がるため、数回ラッチされるが、1ライン中では、
最後の立上りアドレスNAがラッチされるので、次のH
SYNC※信号立上りでラッチした時は、NB、NAア
ドレスがラッチされている。従って、これにより新たに
作成したタイミングNL、NLMは図の様になり、更に
再度HSYNC※でラッチしたPB、PAアドレスによ
り作成したタイミングPL、PLMも図に示した様にな
る。
【0055】そして、図2に示すように、EXORゲー
ト43、44の出力を
【0056】
【外2】 とし、更にそのOR出力を
【0057】
【外3】 そしてエッジ強調、誤差拡散更には遅延回路を通した画
像信号VDとNLMのアンド出力を
【0058】
【外4】 とした時の各点波形は図12の様になる。画像信号VD
は斜線で示している。
【0059】これにより最初に画像が出現したラインに
おいては、画像域全体を黒線とし、次のライン以降(H
SYNTがHSYNCでなくnライン置きの時は次のn
ライン目以降)は主走査方向の画像部の縁がDでセット
した値の幅で黒帯となる(図12のVDO信号参照)。
【0060】また図13の様にSIGが変化した場合に
はVDO信号のように黒幕の幅が変化する。この黒幕の
幅の変化により、結果的に図15(A)の様な画像は図
15(B)の様な画像に変換される。
【0061】エッジ強調回路48にはラプラシアの3×
3の畳み込みマスクを使用している。マスク係数は図1
6に示す。
【0062】また誤差拡散法(ED法)は周知のように
、ある注目画素を一定の閾値と比較し、生じた誤差(注
目画素の濃度と閾値との差分値)を次の複数画素の濃度
に拡散していく方法であり、代表的な擬似中間調処理の
一つである。
【0063】遅延回路50は誤差拡散回路49の出力V
DIを設定したライン数だけ副走査方向に遅延したシリ
アル画像信号VDとして出力する。
【0064】この様に、画像走査により読み取った画像
信号をパイプライン処理にて画像処理を行なうことによ
り画像記録するような情報記録装置において、リアルタ
イム的に自動枠消処理を行なう場合に、原稿画像上の枠
部の検出の際に用いる2値化信号のスライスレベルの決
定を、前スキャン時の測光データと、本スキャン時の露
光量データにより決定することで、露光モードがAEで
もマニュアルでも、正確に、しかも精度良く枠消を行な
うことができる。
【0065】また、画像走査により読み取った画像信号
をパイプライン処理にて画像処理を行なうことにより画
像記録するような情報記録装置において、リアルタイム
的に自動枠消処理を行なう場合に、原稿画像上の枠部の
検出の際に用いる2値化信号のスライスレベルの決定を
、前スキャン時に取得したAEでも使用する測光データ
に基づき行なうことで、露光モードがAEでもマニュア
ルでも1回の前スキャンを行なうのみで、高速に枠消を
行なうことができる。
【0066】(他の実施例)前記実施例では、画像サン
プリングデータの最小値MINを測光値として用いSA
′を求め用いたが、例えば図17の様にヒストグラム上
の左山ピークとなるセンサー出力レベルPK1を測光値
としても良く、また、画像サンプリングデータの最大値
MAXを測光値としても良く、図17のヒストグラムの
右山ピークとなるセンサー出力レベルPK2を測光値と
しても良い。
【0067】更には、これら特徴点、MIN,MAX、
PK1、PK2を組合わせて演算処理することで、SA
を求めても良く、例えばSA′=(MAX′+MIN′
)×K(Kは定数、0<k<1)としてSA′を算出し
ても良い。
【0068】また、最小値MINを求める際に、図18
のヒストグラムの破線の様にある規定レベル(Kcut
)を設け、それ以下の頒度データは無視する等のフィル
タリング処理を行なっても良い。
【0069】また、前記実施例においては、マイクロフ
ィルム用ディジタルリーダープリンターに適用したが、
ペーパースキャナー、ディジタル複写機への適用は容易
であり、その他原稿を走査する方式(ラインセンサー固
定、移動は問わない)であれば応用可能である。
【0070】また、前記実施例では、記録は紙へ行なっ
たが、例えば光磁気ディスク(OMD)等の媒体や、メ
モリ上でも良く、特にその種類は問わない。
【0071】以上説明したように、画像走査により読み
取った画素信号をパイプライン処理にて画像処理を行な
うことにより画像記録するような情報記録装置において
、リアルタイム的に自動枠消を行なう場合に、原稿画像
上の枠部の検出の際に用いる2値化信号のスライスレベ
ルの決定を、前スキャン時の測光データと本スキャン時
の露光量データにより決定することで、露光モードがA
E、マニュアルいずれでも正確にしかも精度の良い自動
枠消を行なうことができる。
【0072】また、原稿画像上の枠部の検出の際に用い
る2値化信号のスライスレベル決定を、前スキャン時に
取得したAEでも使用する測光データに基づき行なうこ
とで、露光モードがAE、マニュアルいずれでも1回の
前スキャンで高速に自動枠消を行なうことができる。
【0073】また、往動時前スキャン(測光)、復動時
本スキャン(露光)とすることで一往復のみの走査でリ
アルタイム自動枠消が行なえる。
【0074】
【発明の効果】以上説明した様に、本発明によると、原
稿を露光する光源と、露光された原稿画像を読取る読取
手段と、前記読取手段からの画像信号を量子化する量子
化手段と、原稿画像の枠部を検出する枠検出手段と、前
記光源の光量を制御する光量制御手段とを有した画像読
取装置であって、原稿画像の読取用の本走査の前の前走
査により得た測光値と、本走査における光量を示す値と
に基づいて、前記量子化手段の量子化パラメータを決定
するので、リアルタイム的に自動枠消を行なう場合に原
稿画像上の枠部の検出の際に用いる量子化パラメータの
決定を前走査時の測光データと本走査時の露光量データ
より決定することで、露光モードがAE、マニュアルい
ずれでも正確にしかも精度の良い自動枠消を行なうこと
ができまた、原稿画像の読取用の本走査の前の前走査に
より得た測光値に基づいて本走査における光量を制御す
るとともに前記量子化手段の量子化パラメータを決定す
るので、原稿画像上の枠部の検出の際に用いる量子化パ
ラメータの決定を、前走査時に取得したAEでも使用す
る測光データに基づき行なうことで、露光モードがAE
、マニュアルいずれでも1回の前スキャンで高速に自動
枠消を行なうことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】全体構成を示すブロック図。
【図2】画像処理回路のブロック図。
【図3】ディジタルリーダープリンターの外観図。
【図4】ディジタルリーダープリンターの機構図。
【図5】サンプリング位置を示す図。
【図6】タイミングチャート図。
【図7】フローチャート図。
【図8】MIN′とL′の関係を示す図。
【図9】MIN′とSA′の関係を示す図。
【図10】L′とSB′の関係を示す図。
【図11】タイミングチャート図。
【図12】タイミングチャート図。
【図13】タイミングチャート図。
【図14】サンプリング位置を示す図。
【図15】出力画像例を示す図。
【図16】フィルタ係数を示す図。
【図17】ヒストグラムの例を示す図。
【図18】ヒストグラムの例を示す図。
【図19】従来の画像出力例を示す図。
【図20】メモリRAMを示す図。
【符号の説明】
13  ラインセンサー 24  サンプリング回路 26  画像処理回路 25  CPU

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  原稿を露光する光源と、露光された原
    稿画像を読取る読取手段と、前記読取手段からの画像信
    号を量子化する量子化手段と、原稿画像の枠部を検出す
    る枠検出手段と、前記光源の光量を制御する光量制御手
    段とを有し、原稿画像の読取用の本走査の前の前走査に
    より得た測光値と、本走査における光量を示す値とに基
    づいて、前記量子化手段の量子化パラメータを決定する
    ことを特徴とする画像読取装置。
  2. 【請求項2】  原稿を露光する光源と、露光された原
    稿画像を読取る読取手段と、前記読取手段からの画像信
    号を量子化する量子化手段と、原稿画像の枠部を検出す
    る枠検出手段と、前記光源の光量を制御する光量制御手
    段とを有し、原稿画像の読取用の本走査の前の前走査に
    より得た測光値に基づいて、本走査における光量を制御
    するとともに、前記量子化手段の量子化パラメータを決
    定することを特徴とする画像読取装置。
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