JPH04314370A - 超伝導積層素子とその製造方法 - Google Patents
超伝導積層素子とその製造方法Info
- Publication number
- JPH04314370A JPH04314370A JP3105218A JP10521891A JPH04314370A JP H04314370 A JPH04314370 A JP H04314370A JP 3105218 A JP3105218 A JP 3105218A JP 10521891 A JP10521891 A JP 10521891A JP H04314370 A JPH04314370 A JP H04314370A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- superconducting
- layer
- single crystal
- crystal
- superconductive
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 13
- 238000010030 laminating Methods 0.000 claims abstract description 6
- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims description 63
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 11
- 230000005291 magnetic effect Effects 0.000 abstract description 23
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 8
- 229910052758 niobium Inorganic materials 0.000 description 6
- 239000010955 niobium Substances 0.000 description 6
- GUCVJGMIXFAOAE-UHFFFAOYSA-N niobium atom Chemical compound [Nb] GUCVJGMIXFAOAE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 5
- 229910052594 sapphire Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000010980 sapphire Substances 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000001020 plasma etching Methods 0.000 description 2
- 101000582320 Homo sapiens Neurogenic differentiation factor 6 Proteins 0.000 description 1
- 102100030589 Neurogenic differentiation factor 6 Human genes 0.000 description 1
- 239000004793 Polystyrene Substances 0.000 description 1
- 229920002223 polystyrene Polymers 0.000 description 1
- 238000000992 sputter etching Methods 0.000 description 1
- 239000002887 superconductor Substances 0.000 description 1
- 230000003313 weakening effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Superconductor Devices And Manufacturing Methods Thereof (AREA)
- Containers, Films, And Cooling For Superconductive Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、超伝導層と絶縁層を積
層して構成される超伝導積層素子の構造とその製造方法
に関する。
層して構成される超伝導積層素子の構造とその製造方法
に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の超伝導層と絶縁層の積層構造が、
例えばアイトリプルイートランザクション オン
マグネティクス誌,21巻,第2号,1985年3月号
の102頁に述べられている。すなわち、多結晶超伝導
配線層上に多結晶絶縁層を重ねた積層構造が用いられて
いた。また、その製造方法は、多結晶超伝導配線層上に
結晶的に不連続な多結晶絶縁層を積層していた。
例えばアイトリプルイートランザクション オン
マグネティクス誌,21巻,第2号,1985年3月号
の102頁に述べられている。すなわち、多結晶超伝導
配線層上に多結晶絶縁層を重ねた積層構造が用いられて
いた。また、その製造方法は、多結晶超伝導配線層上に
結晶的に不連続な多結晶絶縁層を積層していた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】従来の超伝導配線層内
には結晶粒界が存在し、臨界温度以下の温度で結晶粒内
が超伝導層になった後も結晶粒界部に常伝導領域が残っ
た。そのため、超伝導配線層を臨界温度以下にしても結
晶粒界常伝導領域に磁束が捕束され、超伝導配線層の実
効的マイスナ効果が弱められていた。捕束磁束は、超伝
導回路の磁気雑音源になり、また、その熱的運動により
電気的雑音源になり、超伝導回路の正常動作あるいは信
頼性を損ねていた。
には結晶粒界が存在し、臨界温度以下の温度で結晶粒内
が超伝導層になった後も結晶粒界部に常伝導領域が残っ
た。そのため、超伝導配線層を臨界温度以下にしても結
晶粒界常伝導領域に磁束が捕束され、超伝導配線層の実
効的マイスナ効果が弱められていた。捕束磁束は、超伝
導回路の磁気雑音源になり、また、その熱的運動により
電気的雑音源になり、超伝導回路の正常動作あるいは信
頼性を損ねていた。
【0004】本発明の目的は、超伝導配線層の捕束磁束
を排除し、磁気雑音,電気的雑音の低減を図った超伝導
積層素子とその製造方法を提供することにある。
を排除し、磁気雑音,電気的雑音の低減を図った超伝導
積層素子とその製造方法を提供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明は、超伝導層と絶
縁層を積層して構成される超伝導積層素子において、第
1の単結晶超伝導配線層上に重ねて、単結晶超伝導コン
タクト層と、この単結晶超伝導コンタクト層と同じ厚さ
の単結晶絶縁層とが互いに隣接するように配置され、更
に単結晶超伝導コンタクト層と単結晶絶縁層の両方かま
たはいずれか一方の上に重ねて、第2の単結晶超伝導配
線層を配置したことを特徴とする。
縁層を積層して構成される超伝導積層素子において、第
1の単結晶超伝導配線層上に重ねて、単結晶超伝導コン
タクト層と、この単結晶超伝導コンタクト層と同じ厚さ
の単結晶絶縁層とが互いに隣接するように配置され、更
に単結晶超伝導コンタクト層と単結晶絶縁層の両方かま
たはいずれか一方の上に重ねて、第2の単結晶超伝導配
線層を配置したことを特徴とする。
【0006】また本発明は、超伝導層と絶縁層を積層し
て構成される超伝導積層素子の製造方法において、第1
の単結晶超伝導配線層を形成する工程と、単結晶超伝導
コンタクト層領域を残して第1の単結晶超伝導配線層の
一部を薄くする工程と、薄くなった第1の単結晶超伝導
配線層上に、単結晶超伝導コンタクト層と同じ厚さの単
結晶絶縁層をエピタキシャル成長させる工程と、単結晶
超伝導コンタクト層と単結晶絶縁層の両方かまたはいず
れか一方の上に重ねて、第2の単結晶超伝導配線層をエ
ピタキシャル成長させる工程と含むことを特徴とする。
て構成される超伝導積層素子の製造方法において、第1
の単結晶超伝導配線層を形成する工程と、単結晶超伝導
コンタクト層領域を残して第1の単結晶超伝導配線層の
一部を薄くする工程と、薄くなった第1の単結晶超伝導
配線層上に、単結晶超伝導コンタクト層と同じ厚さの単
結晶絶縁層をエピタキシャル成長させる工程と、単結晶
超伝導コンタクト層と単結晶絶縁層の両方かまたはいず
れか一方の上に重ねて、第2の単結晶超伝導配線層をエ
ピタキシャル成長させる工程と含むことを特徴とする。
【0007】
【作用】超伝導多結晶膜では、ある大きさの単結晶粒が
不規則に寄せ集まっている巨視的な膜を構成している。 互に隣接する単結晶粒の境界領域、いわゆる粒界では互
の結晶性が不連続であり、結晶表面のエネルギー準位や
、結晶転位によるポテンシャルの乱れが生じ超伝導性が
失われるか、または、結晶粒に比べて弱い超伝導性しか
発現しない。そのため、超伝導多結晶膜を臨界温度以下
の環境においた場合、結晶粒内は超伝導になっても粒界
に常伝導状態が残る。マイスナ効果によって、結晶粒内
から磁場は排除されるが粒界には磁場が残る。このいわ
ゆる磁束捕束現象を避けるためには、磁束捕束中心とな
る粒界を除くことが効果的である。磁気的雑音あるいは
電気的雑音の原因の一つである残留磁場を効果的に低減
するためには、素子に用いられる全ての超伝導体から残
留磁界を排除する必要がある。
不規則に寄せ集まっている巨視的な膜を構成している。 互に隣接する単結晶粒の境界領域、いわゆる粒界では互
の結晶性が不連続であり、結晶表面のエネルギー準位や
、結晶転位によるポテンシャルの乱れが生じ超伝導性が
失われるか、または、結晶粒に比べて弱い超伝導性しか
発現しない。そのため、超伝導多結晶膜を臨界温度以下
の環境においた場合、結晶粒内は超伝導になっても粒界
に常伝導状態が残る。マイスナ効果によって、結晶粒内
から磁場は排除されるが粒界には磁場が残る。このいわ
ゆる磁束捕束現象を避けるためには、磁束捕束中心とな
る粒界を除くことが効果的である。磁気的雑音あるいは
電気的雑音の原因の一つである残留磁場を効果的に低減
するためには、素子に用いられる全ての超伝導体から残
留磁界を排除する必要がある。
【0008】本発明の超伝導積層素子では、第1の超伝
導配線に単結晶超伝導層を用い、更に第2の超伝導配線
に、そして第1,第2の超伝導配線を連結する超伝導コ
ンタクト層にも単結晶膜を用いた。その結果、結晶粒界
が消滅し、そこでの磁束捕束、及びそれに起因する残留
磁界を除去することができた。そのため磁気的雑音,電
気的雑音が減少し、超伝導回路の正常動作性,信頼性が
向上した。
導配線に単結晶超伝導層を用い、更に第2の超伝導配線
に、そして第1,第2の超伝導配線を連結する超伝導コ
ンタクト層にも単結晶膜を用いた。その結果、結晶粒界
が消滅し、そこでの磁束捕束、及びそれに起因する残留
磁界を除去することができた。そのため磁気的雑音,電
気的雑音が減少し、超伝導回路の正常動作性,信頼性が
向上した。
【0009】本発明の超伝導積層素子の製造方法では、
第1の超伝導配線として単結晶超伝導層を形成し、更に
その上に重ねた絶縁層をエピタキシャル成長により単結
晶化し、更にその上に重ねた第2の超伝導配線層をエピ
タキシャル成長により単結晶化した。その結果、結晶粒
界が消滅し、それに起因する捕束磁束,残留磁界を除去
することができた。その結果、磁気的雑音,電気的雑音
が減少し、超伝導回路の正常動作性,信頼性が向上した
。
第1の超伝導配線として単結晶超伝導層を形成し、更に
その上に重ねた絶縁層をエピタキシャル成長により単結
晶化し、更にその上に重ねた第2の超伝導配線層をエピ
タキシャル成長により単結晶化した。その結果、結晶粒
界が消滅し、それに起因する捕束磁束,残留磁界を除去
することができた。その結果、磁気的雑音,電気的雑音
が減少し、超伝導回路の正常動作性,信頼性が向上した
。
【0010】
【実施例】図1は本発明である超伝導積層素子の一実施
例を説明するための断面図である。例えば、
例を説明するための断面図である。例えば、
【0011
】
】
【数1】
【0012】を主表面とするサファイアを基板11に用
いて、例えば厚さ200nmのニオブ単結晶膜が第1の
単結晶超伝導配線層12として配置されている。第1の
単結晶超伝導配線層上に重ねて、例えば厚さ200nm
のニオブ単結晶超伝導コンタクト層13と、例えば厚さ
200nmのサファイア単結晶絶縁層14が配置されて
いる。単結晶超伝導コンタクト層13と単結晶絶縁層1
4の両方または一方の上に重ねて、例えば厚さ200n
mのニオブ単結晶膜を用いた第2の単結晶超伝導配線層
15が配置されている。
いて、例えば厚さ200nmのニオブ単結晶膜が第1の
単結晶超伝導配線層12として配置されている。第1の
単結晶超伝導配線層上に重ねて、例えば厚さ200nm
のニオブ単結晶超伝導コンタクト層13と、例えば厚さ
200nmのサファイア単結晶絶縁層14が配置されて
いる。単結晶超伝導コンタクト層13と単結晶絶縁層1
4の両方または一方の上に重ねて、例えば厚さ200n
mのニオブ単結晶膜を用いた第2の単結晶超伝導配線層
15が配置されている。
【0013】本実施例の超伝導積層素子において、ジョ
セフソン素子が含まれてもよいし、また抵抗体を含むこ
とは可能である。また、基板には、バルクのニオブ単結
晶を用いて、基板と第1の単結晶超伝導配線層を兼ねた
素子構造にしてもよい。
セフソン素子が含まれてもよいし、また抵抗体を含むこ
とは可能である。また、基板には、バルクのニオブ単結
晶を用いて、基板と第1の単結晶超伝導配線層を兼ねた
素子構造にしてもよい。
【0014】図2は、本発明の製造方法の一実施例を説
明するための超伝導積層素子の製造工程断面図である。
明するための超伝導積層素子の製造工程断面図である。
【0015】まず、図2(a)に示すように、例えば
【
0016】
0016】
【数2】
【0017】を主表面とするサファイアを基板21に用
いて、例えば厚さ400nmのニオブ単結晶膜を第1の
単結晶超伝導配線層22として、例えば分子線エピタキ
シャル法で成長した。
いて、例えば厚さ400nmのニオブ単結晶膜を第1の
単結晶超伝導配線層22として、例えば分子線エピタキ
シャル法で成長した。
【0018】次に、図2(b)に示すように、例えばC
F4 ガスを用いた反応性イオンエッチング法で単結晶
超伝導コンタクト層23の領域を残して、第1の単結晶
超伝導配線層22を例えば深さ200nmエッチングし
た。
F4 ガスを用いた反応性イオンエッチング法で単結晶
超伝導コンタクト層23の領域を残して、第1の単結晶
超伝導配線層22を例えば深さ200nmエッチングし
た。
【0019】次に、図2(c)に示すように、例えば厚
さ200nmのサファイア単結晶膜を例えば分子線エピ
タキシャル法で成長し、単結晶絶縁層24を形成した。
さ200nmのサファイア単結晶膜を例えば分子線エピ
タキシャル法で成長し、単結晶絶縁層24を形成した。
【0020】次に、図2(d)に示すように、例えばポ
リスチレンを塗布し、例えば200℃で30分加熱して
試料表面を平坦にした後、例えば反応性イオンエッチン
グ法でエッチバックし、単結晶超伝導コンタクト層23
の表面を露出させた。
リスチレンを塗布し、例えば200℃で30分加熱して
試料表面を平坦にした後、例えば反応性イオンエッチン
グ法でエッチバックし、単結晶超伝導コンタクト層23
の表面を露出させた。
【0021】最後に、図2(e)に示すように、例えば
分子線エピタキシャル法で、例えば厚さ200nmのニ
オブ単結晶膜を第2の単結晶超伝導配線層25として成
長し、例えば反応性イオンエッチング法を用いて形状加
工を行った。
分子線エピタキシャル法で、例えば厚さ200nmのニ
オブ単結晶膜を第2の単結晶超伝導配線層25として成
長し、例えば反応性イオンエッチング法を用いて形状加
工を行った。
【0022】
【発明の効果】本発明の超伝導積層素子とその製造方法
によれば、素子内の超伝導配線内の結晶粒界を排除し、
結晶粒界に起因する捕束磁束,残留磁界が消滅し、超伝
導回路の正常動作性,信頼性の向上を可能にした。
によれば、素子内の超伝導配線内の結晶粒界を排除し、
結晶粒界に起因する捕束磁束,残留磁界が消滅し、超伝
導回路の正常動作性,信頼性の向上を可能にした。
【図1】本発明である超伝導積層素子の一実施例を示す
断面図である。
断面図である。
【図2】本発明である製造方法の一実施例を示す製造工
程断面図である。
程断面図である。
11,21 基板
12,22 第1の単結晶超伝導配線層13,23
単結晶超伝導コンタクト層14,24 単結晶絶縁
層
単結晶超伝導コンタクト層14,24 単結晶絶縁
層
Claims (2)
- 【請求項1】超伝導層と絶縁層を積層して構成される超
伝導積層素子において、第1の単結晶超伝導配線層上に
重ねて、単結晶超伝導コンタクト層と、この単結晶超伝
導コンタクト層と同じ厚さの単結晶絶縁層とが互いに隣
接するように配置され、更に単結晶超伝導コンタクト層
と単結晶絶縁層の両方かまたはいずれか一方の上に重ね
て、第2の単結晶超伝導配線層を配置したことを特徴と
する超伝導積層素子。 - 【請求項2】超伝導層と絶縁層を積層して構成される超
伝導積層素子の製造方法において、第1の単結晶超伝導
配線層を形成する工程と、単結晶超伝導コンタクト層領
域を残して第1の単結晶超伝導配線層の一部を薄くする
工程と、薄くなった第1の単結晶超伝導配線層上に、単
結晶超伝導コンタクト層と同じ厚さの単結晶絶縁層をエ
ピタキシャル成長させる工程と、単結晶超伝導コンタク
ト層と単結晶絶縁層の両方かまたはいずれか一方の上に
重ねて、第2の単結晶超伝導配線層をエピタキシャル成
長させる工程と含むことを特徴とする超伝導積層素子の
製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3105218A JPH04314370A (ja) | 1991-04-11 | 1991-04-11 | 超伝導積層素子とその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3105218A JPH04314370A (ja) | 1991-04-11 | 1991-04-11 | 超伝導積層素子とその製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04314370A true JPH04314370A (ja) | 1992-11-05 |
Family
ID=14401532
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3105218A Pending JPH04314370A (ja) | 1991-04-11 | 1991-04-11 | 超伝導積層素子とその製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04314370A (ja) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6215868A (ja) * | 1985-07-13 | 1987-01-24 | Agency Of Ind Science & Technol | 集積回路用コンタクトの製造方法 |
| JPS6341087A (ja) * | 1986-08-07 | 1988-02-22 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 超伝導薄膜の作製方法 |
-
1991
- 1991-04-11 JP JP3105218A patent/JPH04314370A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6215868A (ja) * | 1985-07-13 | 1987-01-24 | Agency Of Ind Science & Technol | 集積回路用コンタクトの製造方法 |
| JPS6341087A (ja) * | 1986-08-07 | 1988-02-22 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 超伝導薄膜の作製方法 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP2798361B2 (ja) | 結晶粒界チャンネルをもつ超伝導電界効果素子とその製造方法 | |
| KR100510112B1 (ko) | 다적층 3차원 고밀도 반도체 디바이스 및 그 제조 방법 | |
| US5750474A (en) | Method for manufacturing a superconductor-insulator-superconductor Josephson tunnel junction | |
| US5071832A (en) | Field effect type josephson transistor | |
| JP2674680B2 (ja) | 超伝導超格子結晶デバイス | |
| JPH05251776A (ja) | 超電導素子およびその作製方法 | |
| JPH04314370A (ja) | 超伝導積層素子とその製造方法 | |
| KR940003745B1 (ko) | 산화물 초전도체를 갖는 능동소자 및 그의 제조방법 | |
| JP3189403B2 (ja) | 超電導接合を有する素子およびその作製方法 | |
| US5447907A (en) | Superconducting device with c-axis channel and a-axis source and drain having a continuous crystal structure | |
| US6479139B1 (en) | Superconducting substrate structure and a method of producing such structure | |
| EP0508844B1 (en) | Superconducting thin film having at least one isolated superconducting region formed of oxide superconductor material and method for manufacturing the same | |
| US4120744A (en) | Method of fabricating a thermal display device | |
| JPH01117376A (ja) | エッジ接合型単結晶薄膜超伝導体トンネル接合素子およびその製造方法 | |
| JP2717094B2 (ja) | 超電導配線の形成方法 | |
| JP2731513B2 (ja) | 超電導素子およびその製造方法 | |
| JP2768276B2 (ja) | 酸化物超電導接合素子 | |
| JPS5868963A (ja) | 半導体装置 | |
| JP2959439B2 (ja) | 多層高温超伝導集積回路の形成方法 | |
| JP3485601B2 (ja) | 超電導複合薄膜の製造方法 | |
| JP2989943B2 (ja) | 超電導集積回路の製造方法 | |
| JP2616745B2 (ja) | 超伝導層間のコンタクト構造及びその製造方法 | |
| JPH05251773A (ja) | ジョセフソン素子とその作製方法 | |
| JPH06132577A (ja) | 酸化物超伝導ジョセフソン素子の作製方法 | |
| JPH0555648A (ja) | 超電導素子 |