JPH04323714A - 入力装置 - Google Patents
入力装置Info
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- JPH04323714A JPH04323714A JP3122334A JP12233491A JPH04323714A JP H04323714 A JPH04323714 A JP H04323714A JP 3122334 A JP3122334 A JP 3122334A JP 12233491 A JP12233491 A JP 12233491A JP H04323714 A JPH04323714 A JP H04323714A
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- JP
- Japan
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- conductive films
- strip
- input device
- terminals
- conductive film
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、アナログ式タッチパネ
ルや透明図形入力タブレットなどに好適な、検出位置精
度に優れる入力装置に関する。
ルや透明図形入力タブレットなどに好適な、検出位置精
度に優れる入力装置に関する。
【0002】
【従来の技術】絶縁性基材の上に透明導電膜を設けたパ
ネル基板を対向配置し、その透明導電膜を押圧下に部分
的に接触させて入力位置を検出するようにした導電膜接
触型の入力装置において、検出位置精度の向上が求めら
れている。
ネル基板を対向配置し、その透明導電膜を押圧下に部分
的に接触させて入力位置を検出するようにした導電膜接
触型の入力装置において、検出位置精度の向上が求めら
れている。
【0003】従来、かかる検出位置精度の向上を目的と
した入力装置としては、導電膜の端子付設辺に平行に設
けた帯状端子に切れ目を入れて電極間の抵抗値を制御し
たものが知られていた(特開昭62−31915号公報
)。しかしながら、所定のブロックごとに抵抗値を測定
し、それに応じて所定のピッチごとに種々変化する切れ
目を入れて抵抗値を制御する必要があり、製造効率に乏
しい問題点があった。
した入力装置としては、導電膜の端子付設辺に平行に設
けた帯状端子に切れ目を入れて電極間の抵抗値を制御し
たものが知られていた(特開昭62−31915号公報
)。しかしながら、所定のブロックごとに抵抗値を測定
し、それに応じて所定のピッチごとに種々変化する切れ
目を入れて抵抗値を制御する必要があり、製造効率に乏
しい問題点があった。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】本発明者らは、検出位
置精度に優れて製造が容易であり、量産性に優れる入力
装置の開発を課題とする。
置精度に優れて製造が容易であり、量産性に優れる入力
装置の開発を課題とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明は、対向辺の縁部
に帯状端子を有する導電膜を対向配置してなる入力装置
において、前記の帯状端子が導電膜の端子付設辺に対し
て傾斜状態に形成されており、かつ対向辺における帯状
端子の外部回路との接続用部分が導電膜の対角位置に形
成されていることを特徴とする入力装置を提供するもの
である。
に帯状端子を有する導電膜を対向配置してなる入力装置
において、前記の帯状端子が導電膜の端子付設辺に対し
て傾斜状態に形成されており、かつ対向辺における帯状
端子の外部回路との接続用部分が導電膜の対角位置に形
成されていることを特徴とする入力装置を提供するもの
である。
【0006】また本発明は前記の入力装置において、前
記の対向辺における帯状端子の外部回路との接続用部分
が導電膜の対角位置に形成されており、かつ導電膜の対
向配置が平面回転方向にスライドさせた状態に配置され
ていることを特徴とする入力装置も提供するものである
。
記の対向辺における帯状端子の外部回路との接続用部分
が導電膜の対角位置に形成されており、かつ導電膜の対
向配置が平面回転方向にスライドさせた状態に配置され
ていることを特徴とする入力装置も提供するものである
。
【0007】
【作用】本発明者等は鋭意研究の結果、導電膜と帯状端
子の抵抗やその間の界面抵抗などの作用によるものか、
導電膜の電位分布と印加電圧との差が帯状端子の末端ほ
ど大きくなり、これが押圧(入力)位置と検出位置の誤
差の原因であることを究明し、対向辺における帯状端子
の外部回路との接続用部分を導電膜の対角位置に形成し
、かつ帯状端子を導電膜の端子付設辺に対し傾斜させて
設けるか、あるいは対向する導電膜を平面回転方向にス
ライドさせた状態に配置して傾斜させるかすることによ
り、前記誤差を補正できることを究明した。
子の抵抗やその間の界面抵抗などの作用によるものか、
導電膜の電位分布と印加電圧との差が帯状端子の末端ほ
ど大きくなり、これが押圧(入力)位置と検出位置の誤
差の原因であることを究明し、対向辺における帯状端子
の外部回路との接続用部分を導電膜の対角位置に形成し
、かつ帯状端子を導電膜の端子付設辺に対し傾斜させて
設けるか、あるいは対向する導電膜を平面回転方向にス
ライドさせた状態に配置して傾斜させるかすることによ
り、前記誤差を補正できることを究明した。
【0008】前記の構成による誤差の補正は、対向する
導電膜間において帯状端子を平行四辺形状に配置でき、
帯状端子の外部回路との接続用部分を基点とした場合に
、導電膜の端子付設辺に沿った押圧位置と最寄りの帯状
端子との距離を帯状端子の末端に行くほど小さくするこ
とができることによるものと考えられる。
導電膜間において帯状端子を平行四辺形状に配置でき、
帯状端子の外部回路との接続用部分を基点とした場合に
、導電膜の端子付設辺に沿った押圧位置と最寄りの帯状
端子との距離を帯状端子の末端に行くほど小さくするこ
とができることによるものと考えられる。
【0009】
【実施例】本発明の入力装置を図1、図2に例示した。
12,22,42,52が導電膜、13,15,23,
25,43,45,53,55が帯状端子、14,16
,24,44,46,54が帯状端子の外部回路との接
続用部分である。なお、1,2,4,5はパネル基板、
3は補強用ガラス板、11,21,41,51は絶縁性
基材であり、各導電膜は透明に形成されている。
25,43,45,53,55が帯状端子、14,16
,24,44,46,54が帯状端子の外部回路との接
続用部分である。なお、1,2,4,5はパネル基板、
3は補強用ガラス板、11,21,41,51は絶縁性
基材であり、各導電膜は透明に形成されている。
【0010】図1、図2において、導電膜12,22,
42,52は、それぞれ絶縁性基材11,21,41,
51に付設されてパネル基板1,2,4,5を形成して
いる。また、導電膜12,22,42,52の対向する
二辺の縁部には、それぞれ帯状端子13,15,23,
25,43,45,53,55が設けられている。
42,52は、それぞれ絶縁性基材11,21,41,
51に付設されてパネル基板1,2,4,5を形成して
いる。また、導電膜12,22,42,52の対向する
二辺の縁部には、それぞれ帯状端子13,15,23,
25,43,45,53,55が設けられている。
【0011】さらに、帯状端子13,15,23,25
,43,45,53,55のそれぞれには、導電膜にお
ける対角位置に、外部回路との接続用部分14,16,
24,44,46,54が形成されている。なお、帯状
端子25及び55における外部回路との接続用部分はパ
ネル基板1又は4の背後に位置する。
,43,45,53,55のそれぞれには、導電膜にお
ける対角位置に、外部回路との接続用部分14,16,
24,44,46,54が形成されている。なお、帯状
端子25及び55における外部回路との接続用部分はパ
ネル基板1又は4の背後に位置する。
【0012】図1に例示の実施例では、前記した如く対
向辺における帯状端子の外部回路との接続用部分14,
16等が導電膜の対角位置に形成されていると共に、パ
ネル基板2上にθとして示した如く、帯状端子13,1
5,23,25がそれを付設する導電膜12,22の辺
に対して内側に傾斜する状態に形成されている。
向辺における帯状端子の外部回路との接続用部分14,
16等が導電膜の対角位置に形成されていると共に、パ
ネル基板2上にθとして示した如く、帯状端子13,1
5,23,25がそれを付設する導電膜12,22の辺
に対して内側に傾斜する状態に形成されている。
【0013】本発明における押圧位置と検出位置との誤
差の補正方式の一は、前記した帯状端子の傾斜配置方式
である。その傾斜角は、押圧位置と検出位置との誤差の
程度に応じて適宜に決定される。一般には、0.1〜5
度程度の傾斜角とされる。
差の補正方式の一は、前記した帯状端子の傾斜配置方式
である。その傾斜角は、押圧位置と検出位置との誤差の
程度に応じて適宜に決定される。一般には、0.1〜5
度程度の傾斜角とされる。
【0014】一方、図2に例示の実施例では、帯状端子
43,45,53,55を導電膜42,52の端子付設
辺に平行に設け、その外部回路との接続用部分44,4
6等を導電膜の対角位置に形成することに加えて、パネ
ル基板4上にδとして示した如く、対向配置した導電膜
42と52の間に傾斜をもたせるべく、平面回転方向に
スライドさせた状態に配置されている。
43,45,53,55を導電膜42,52の端子付設
辺に平行に設け、その外部回路との接続用部分44,4
6等を導電膜の対角位置に形成することに加えて、パネ
ル基板4上にδとして示した如く、対向配置した導電膜
42と52の間に傾斜をもたせるべく、平面回転方向に
スライドさせた状態に配置されている。
【0015】本発明における押圧位置と検出位置との誤
差の他の補正方式は、前記した導電膜の傾斜対向方式で
ある。その傾斜角は、押圧位置と検出位置との誤差の程
度に応じて適宜に決定される。一般には、0.1〜5度
程度の傾斜角とされる。
差の他の補正方式は、前記した導電膜の傾斜対向方式で
ある。その傾斜角は、押圧位置と検出位置との誤差の程
度に応じて適宜に決定される。一般には、0.1〜5度
程度の傾斜角とされる。
【0016】上記パネル基板の形成は例えば、絶縁性基
材の上に導電膜を形成し、それに帯状端子とその外部回
路との接続用部分を付設することにより行うことができ
る。また導電膜の傾斜対向方式に用いる、すなわち対向
する導電膜を平面回転方向にスライドさせた状態に配置
するためのパネル基板の形成は例えば、前記において正
方形ないし長方形の絶縁性基材に対して、平行四辺形の
導電膜を設ける方式などにより行うことができる。
材の上に導電膜を形成し、それに帯状端子とその外部回
路との接続用部分を付設することにより行うことができ
る。また導電膜の傾斜対向方式に用いる、すなわち対向
する導電膜を平面回転方向にスライドさせた状態に配置
するためのパネル基板の形成は例えば、前記において正
方形ないし長方形の絶縁性基材に対して、平行四辺形の
導電膜を設ける方式などにより行うことができる。
【0017】なお、導電膜の傾斜対向方式の入力装置の
形成は、対向配置するパネル基板をそれらの中心を基準
に相対的に平面回転方向にスライドさせる方式によって
も行うことができる。パネル基板としては、帯状端子を
導電膜の対向辺に傾斜させて又は平行に設けたもののい
ずれも用いうる。
形成は、対向配置するパネル基板をそれらの中心を基準
に相対的に平面回転方向にスライドさせる方式によって
も行うことができる。パネル基板としては、帯状端子を
導電膜の対向辺に傾斜させて又は平行に設けたもののい
ずれも用いうる。
【0018】パネル基板を得るための絶縁性基材として
は、例えばポリエステル、ポリエーテルサルホン、ポリ
エーテルエーテルケトン、ポリエーテルイミドの如きプ
ラスチックからなるフィルムやガラス板、あるいはそれ
らの積層体など、適宜なものを用いてよい。なお、プラ
スチックフィルムをタッチ側の絶縁性基材として用いる
場合には、そのタッチ面にアクリル系やシリコーン系、
エポキシ系等の樹脂からなるハードコート層が必要に応
じて付与される。
は、例えばポリエステル、ポリエーテルサルホン、ポリ
エーテルエーテルケトン、ポリエーテルイミドの如きプ
ラスチックからなるフィルムやガラス板、あるいはそれ
らの積層体など、適宜なものを用いてよい。なお、プラ
スチックフィルムをタッチ側の絶縁性基材として用いる
場合には、そのタッチ面にアクリル系やシリコーン系、
エポキシ系等の樹脂からなるハードコート層が必要に応
じて付与される。
【0019】絶縁性基材上への透明な導電膜の形成は、
例えばスパッタリング方式や蒸着方式などにより行うこ
とができる。透明導電膜の形成材としては、例えばイン
ジウム・スズ複合酸化物、インジウム酸化物、スズ酸化
物、金、パラジウムなどがあげられる。形成した透明導
電膜は一般に、1〜2000Ω/□程度のシート抵抗を
示すが、これに限定されない。なお対向配置する導電膜
は、同種のものであってもよいし、異種のものであって
もよい。
例えばスパッタリング方式や蒸着方式などにより行うこ
とができる。透明導電膜の形成材としては、例えばイン
ジウム・スズ複合酸化物、インジウム酸化物、スズ酸化
物、金、パラジウムなどがあげられる。形成した透明導
電膜は一般に、1〜2000Ω/□程度のシート抵抗を
示すが、これに限定されない。なお対向配置する導電膜
は、同種のものであってもよいし、異種のものであって
もよい。
【0020】導電膜の対向辺に傾斜させて又は平行に設
けられる帯状端子の形成は、その外部回路との接続用部
分も含め、例えば銀ペーストやカーボンペースト等を用
いた印刷方式やディスペンサー方式などにより行うこと
ができる。なお、外部回路との接続用部分は、帯状端子
とは別工程で形成してもよい
けられる帯状端子の形成は、その外部回路との接続用部
分も含め、例えば銀ペーストやカーボンペースト等を用
いた印刷方式やディスペンサー方式などにより行うこと
ができる。なお、外部回路との接続用部分は、帯状端子
とは別工程で形成してもよい
【0021】入力装置の形成は例えば、一対のパネル基
板を導電膜側を内側にして対向配置し、周縁部を固定す
る方法などにより行うことができる。その際、必要に応
じて導電膜や帯状端子の対向間で接触が起こらないよう
絶縁スペーサが設けられる。用いるパネル基板は、図1
と図2に例示の如く、対向配置する基板間において帯状
端子が平行四辺形状となる組合せである。
板を導電膜側を内側にして対向配置し、周縁部を固定す
る方法などにより行うことができる。その際、必要に応
じて導電膜や帯状端子の対向間で接触が起こらないよう
絶縁スペーサが設けられる。用いるパネル基板は、図1
と図2に例示の如く、対向配置する基板間において帯状
端子が平行四辺形状となる組合せである。
【0022】前記の導電膜間の接触防止には、押圧した
場合にその部分が接触するよう例えば導電膜22,52
の上に粒子スペーサやドットスペーサ等(図中の点々)
を分散させる方式などが採られる。帯状端子間(外部回
路との接続用部分を含む)の接触防止には、例えば絶縁
樹脂の塗布方式や枠形態の絶縁フィルムを介在させる方
式(図示せず)などが採られる。
場合にその部分が接触するよう例えば導電膜22,52
の上に粒子スペーサやドットスペーサ等(図中の点々)
を分散させる方式などが採られる。帯状端子間(外部回
路との接続用部分を含む)の接触防止には、例えば絶縁
樹脂の塗布方式や枠形態の絶縁フィルムを介在させる方
式(図示せず)などが採られる。
【0023】実施例1
厚さ150μmのポリエチレンテレフタレートフィルム
の片面にスパッタリング方式でインジウム・スズ複合酸
化物からなる10cm×8cmの透明導電膜を形成し(
シート抵抗300Ω/□)、カーボンペースト(シート
抵抗1Ω/□)を用いて透明導電膜の長手方向の対向辺
の縁部に、約0.5度の傾斜角で幅5mmの帯状電極と
その外部回路との接続用部分を印刷形成してパネル基板
を得た。
の片面にスパッタリング方式でインジウム・スズ複合酸
化物からなる10cm×8cmの透明導電膜を形成し(
シート抵抗300Ω/□)、カーボンペースト(シート
抵抗1Ω/□)を用いて透明導電膜の長手方向の対向辺
の縁部に、約0.5度の傾斜角で幅5mmの帯状電極と
その外部回路との接続用部分を印刷形成してパネル基板
を得た。
【0024】前記で得たパネル基板の一対を、その帯状
端子部にエポキシ系樹脂からなる絶縁スペーサを印刷し
、かつ透明導電膜上に粒径数十μmの粒子スペーサを分
散させたのち、透明導電膜側を内側にして対向配置し、
周縁部を固定すると共に、それを厚さ1mmの補強用ガ
ラス板に接着して、図1に例示のものに準じた入力装置
を形成した。
端子部にエポキシ系樹脂からなる絶縁スペーサを印刷し
、かつ透明導電膜上に粒径数十μmの粒子スペーサを分
散させたのち、透明導電膜側を内側にして対向配置し、
周縁部を固定すると共に、それを厚さ1mmの補強用ガ
ラス板に接着して、図1に例示のものに準じた入力装置
を形成した。
【0025】実施例2
実施例1に準じて、帯状電極を透明導電膜の長手方向と
平行に(傾斜角0度)設けたパネル基板を形成し、その
一対を用いて図2に例示のものに準じた入力装置を得た
。なお、対向する導電膜の傾斜角はその中心線に基づき
約0.5度(図2のδに基づいて約89.5度)とし、
かつ中央点で中心線がクロスする状態とした。
平行に(傾斜角0度)設けたパネル基板を形成し、その
一対を用いて図2に例示のものに準じた入力装置を得た
。なお、対向する導電膜の傾斜角はその中心線に基づき
約0.5度(図2のδに基づいて約89.5度)とし、
かつ中央点で中心線がクロスする状態とした。
【0026】比較例
帯状電極を透明導電膜の長手方向と平行に設けたパネル
基板を用いたほかは実施例1に準じて入力装置を得た。
基板を用いたほかは実施例1に準じて入力装置を得た。
【0027】評価試験
実施例、比較例で得た入力装置について、図3(a),
(b)に示した如く、試験回路を形成してタッチ側に一
定電圧Eoを印加し、入力装置の各点Xを押圧した場合
の出力電位Exを測定し、その測定電位を用いて下式に
より直線性誤差を算出した。なお式中のErは、各入力
点Xにおける理論電位である。 直線性誤差(%)=|(Ex−Er)/Eo|×100
前記の入力点Xのそれぞれについて算出した直線性誤差
において、その最大値は、実施例1で5%、実施例2で
4%、比較例で8%であった。
(b)に示した如く、試験回路を形成してタッチ側に一
定電圧Eoを印加し、入力装置の各点Xを押圧した場合
の出力電位Exを測定し、その測定電位を用いて下式に
より直線性誤差を算出した。なお式中のErは、各入力
点Xにおける理論電位である。 直線性誤差(%)=|(Ex−Er)/Eo|×100
前記の入力点Xのそれぞれについて算出した直線性誤差
において、その最大値は、実施例1で5%、実施例2で
4%、比較例で8%であった。
【0028】
【発明の効果】本発明によれば、入力精度、ないし検出
位置精度に優れる入力装置を容易に製造することができ
る。従って、入力装置の量産性に優れている。
位置精度に優れる入力装置を容易に製造することができ
る。従って、入力装置の量産性に優れている。
【図1】実施例の斜視図。
【図2】他の実施例の斜視図。
【図3】(a),(b)は評価方法の説明図。
1,2,4,5:パネル基板
3:補強用ガラス板
12,22,42,52:導電膜
13,15,23,25,43,45,53,55:帯
状端子 14,16,24,44,46,54:帯状端子の外部
回路との接続用部分
状端子 14,16,24,44,46,54:帯状端子の外部
回路との接続用部分
Claims (2)
- 【請求項1】 対向辺の縁部に帯状端子を有する導電
膜を対向配置してなる入力装置において、前記の帯状端
子が導電膜の端子付設辺に対して傾斜状態に形成されて
おり、かつ対向辺における帯状端子の外部回路との接続
用部分が導電膜の対角位置に形成されていることを特徴
とする入力装置。 - 【請求項2】 対向辺の縁部に帯状端子を有する導電
膜を対向配置してなる入力装置において、前記の対向辺
における帯状端子の外部回路との接続用部分が導電膜の
対角位置に形成されており、かつ導電膜の対向配置が平
面回転方向にスライドさせた状態に配置されていること
を特徴とする入力装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3122334A JPH04323714A (ja) | 1991-04-23 | 1991-04-23 | 入力装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3122334A JPH04323714A (ja) | 1991-04-23 | 1991-04-23 | 入力装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04323714A true JPH04323714A (ja) | 1992-11-12 |
Family
ID=14833402
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3122334A Pending JPH04323714A (ja) | 1991-04-23 | 1991-04-23 | 入力装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04323714A (ja) |
-
1991
- 1991-04-23 JP JP3122334A patent/JPH04323714A/ja active Pending
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