JPH04324612A - 有機半導体固体電解コンデンサの製造方法 - Google Patents
有機半導体固体電解コンデンサの製造方法Info
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- JPH04324612A JPH04324612A JP3094274A JP9427491A JPH04324612A JP H04324612 A JPH04324612 A JP H04324612A JP 3094274 A JP3094274 A JP 3094274A JP 9427491 A JP9427491 A JP 9427491A JP H04324612 A JPH04324612 A JP H04324612A
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Landscapes
- Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は有機半導体固体電解コン
デサに関するものである。更に詳説すると、本発明は電
解質として7・7・8・8−テトラシアノキノジメタン
の錯塩(以下TCNQ錯塩と略す)を使用する有機半導
体固体電解コンデンサに関するものである。
デサに関するものである。更に詳説すると、本発明は電
解質として7・7・8・8−テトラシアノキノジメタン
の錯塩(以下TCNQ錯塩と略す)を使用する有機半導
体固体電解コンデンサに関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、固体電解コンデンサも固体電解質
として有機半導体、特にTCNQ錯塩を用いることが提
案されている(例えば特公昭62−52939号公報(
H01G 9/02)参照)。
として有機半導体、特にTCNQ錯塩を用いることが提
案されている(例えば特公昭62−52939号公報(
H01G 9/02)参照)。
【0003】これは、エッチング処理、化成処理を施し
たアルミニウム箔と陰極箔とをセパレータ紙を介して捲
回した後、箔の切り口部分の化成及び化成被膜欠損部修
復のために、化成液を含浸させて再化成を行う。さらに
、セパレータ紙を微細化し、TCNQ錯塩の含浸を容易
にするために、加熱によるセパレータ紙の炭化処理を行
う。この再化成及び炭化処理は交互に数回行う。その後
、TCNQ錯塩を溶融して、上述の如く処理されたコン
デンサ素子を含浸させ、固体電解コンデンサを形成して
いる。
たアルミニウム箔と陰極箔とをセパレータ紙を介して捲
回した後、箔の切り口部分の化成及び化成被膜欠損部修
復のために、化成液を含浸させて再化成を行う。さらに
、セパレータ紙を微細化し、TCNQ錯塩の含浸を容易
にするために、加熱によるセパレータ紙の炭化処理を行
う。この再化成及び炭化処理は交互に数回行う。その後
、TCNQ錯塩を溶融して、上述の如く処理されたコン
デンサ素子を含浸させ、固体電解コンデンサを形成して
いる。
【0004】近年、電気機器の小形化に伴い、TCNQ
錯塩を用いたコンデンサにおいても表面実装用のものが
強く要求されている。しかしながら、この種のコンデン
サは、表面実装用部品として必須の半田付け時の熱スト
レス(通常230℃)に耐えられず、漏れ電流の増大を
招く欠点があり、耐熱性の向上が強く望まれている。
錯塩を用いたコンデンサにおいても表面実装用のものが
強く要求されている。しかしながら、この種のコンデン
サは、表面実装用部品として必須の半田付け時の熱スト
レス(通常230℃)に耐えられず、漏れ電流の増大を
招く欠点があり、耐熱性の向上が強く望まれている。
【0005】そこで、本件出願人は先に特願平3−76
301号(出願日 平成3年4月9日)において、次
のような技術を開示している。
301号(出願日 平成3年4月9日)において、次
のような技術を開示している。
【0006】即ち、コンデンサ素子を融点200℃以上
の有機ヒドロキシ化合物が溶解した液中に浸漬し、その
後加熱により溶媒を揮散させ、コンデンサ素子の酸化皮
膜上に有機ヒドロキシ化合物の皮膜を形成させた後、コ
ンデンサ素子に加熱融解したTCNQ錯塩を含浸させて
固体電解コンデンサを作製する。
の有機ヒドロキシ化合物が溶解した液中に浸漬し、その
後加熱により溶媒を揮散させ、コンデンサ素子の酸化皮
膜上に有機ヒドロキシ化合物の皮膜を形成させた後、コ
ンデンサ素子に加熱融解したTCNQ錯塩を含浸させて
固体電解コンデンサを作製する。
【0007】上述の先願に開示の固体電解コンデンサに
おいては、特に高温下でTCNQ錯塩は有機ヒドロキシ
化合物の影響を受けて分解すると考えられ、この分解反
応により錯体は絶縁化する。そのため酸化皮膜欠損部に
おける漏れ電流の発生が阻止されると推測される。
おいては、特に高温下でTCNQ錯塩は有機ヒドロキシ
化合物の影響を受けて分解すると考えられ、この分解反
応により錯体は絶縁化する。そのため酸化皮膜欠損部に
おける漏れ電流の発生が阻止されると推測される。
【0008】また、TCNQ錯体に有機ヒドロキシ化合
物を作用させる方法としては、含浸前にTCNQ錯体に
有機ヒドロキシ化合物を添加物として混入しておくとい
う方法も考えられる。しかしながらこの方法では、TC
NQ錯塩溶融時に急激に反応し、中には発泡する場合が
あるため実用上問題がある。
物を作用させる方法としては、含浸前にTCNQ錯体に
有機ヒドロキシ化合物を添加物として混入しておくとい
う方法も考えられる。しかしながらこの方法では、TC
NQ錯塩溶融時に急激に反応し、中には発泡する場合が
あるため実用上問題がある。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】本発明は上述の如き、
TCNQ錯塩含浸時或は半田付け時の機械的、熱的スト
レスに対する化成被膜の損傷及びこれに起因する化成被
膜の修復力の低下を改善して漏れ電流が殆んど変わるこ
とのない耐熱性の優れた固体電解コンデンサの製造方法
を提供するものであり、製造工程の簡略化を実現するも
のである。
TCNQ錯塩含浸時或は半田付け時の機械的、熱的スト
レスに対する化成被膜の損傷及びこれに起因する化成被
膜の修復力の低下を改善して漏れ電流が殆んど変わるこ
とのない耐熱性の優れた固体電解コンデンサの製造方法
を提供するものであり、製造工程の簡略化を実現するも
のである。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明は陽極酸化或は陽
極化成により表面に酸化被膜を設けたアルミニウム、タ
ンタル、ニオブ等の弁作用を有する金属を糖類が含有さ
れている化成液にて再化成を行い、TCNQ錯塩を加熱
融解の後冷却固化させて固体電解質層を形成することを
特徴とする有機半導体固体電解コンデンサの製造方法で
ある。
極化成により表面に酸化被膜を設けたアルミニウム、タ
ンタル、ニオブ等の弁作用を有する金属を糖類が含有さ
れている化成液にて再化成を行い、TCNQ錯塩を加熱
融解の後冷却固化させて固体電解質層を形成することを
特徴とする有機半導体固体電解コンデンサの製造方法で
ある。
【0011】また、前記糖類はグルコースもしくはグル
コース重合体の内の少なくとも一種を含むことが好まし
い。
コース重合体の内の少なくとも一種を含むことが好まし
い。
【0012】
【作用】本発明は上述のような製造方法であるため、従
来のように別工程にてヒドロキシ化合物の被膜を形成す
ることなく、化成被膜上或は化成被膜欠損部に糖類(有
機ヒドロキシ化合物の一種)の被膜が形成され、半田付
等の熱ストレス後においても漏れ電流の極めて少ないコ
ンデンサが得られる。
来のように別工程にてヒドロキシ化合物の被膜を形成す
ることなく、化成被膜上或は化成被膜欠損部に糖類(有
機ヒドロキシ化合物の一種)の被膜が形成され、半田付
等の熱ストレス後においても漏れ電流の極めて少ないコ
ンデンサが得られる。
【0013】
【実施例】次に本発明の実施例について説明する。図1
に示す如く、アルミニウムの陽極箔(1)とその対向陰
極箔(2)との間にセパレータ紙(3)を挟み、円筒状
に捲回してコンデンサ素子(6)を作製する。このコン
デンサ素子(6)を化成液に浸積して熱処理(炭化処理
)する再化成工程を数回行った。
に示す如く、アルミニウムの陽極箔(1)とその対向陰
極箔(2)との間にセパレータ紙(3)を挟み、円筒状
に捲回してコンデンサ素子(6)を作製する。このコン
デンサ素子(6)を化成液に浸積して熱処理(炭化処理
)する再化成工程を数回行った。
【0014】この化成液には溶媒(水)と電解質(例え
ばアジピン酸アンモニウム、リン酸アンモニウム)以外
に、少量の糖類(例えば単糖類のグルコース、或はグル
コース重合体(多糖類)のであるデンプン)が含まれて
いる。その組成を表1に示す。
ばアジピン酸アンモニウム、リン酸アンモニウム)以外
に、少量の糖類(例えば単糖類のグルコース、或はグル
コース重合体(多糖類)のであるデンプン)が含まれて
いる。その組成を表1に示す。
【0015】
【表1】
【0016】なお、表1において、(C)は糖類を含有
せず、従来使用されている化成液を用いている。
せず、従来使用されている化成液を用いている。
【0017】その後、TCNQ錯塩(例えば、N,N,
−ペンタメチレンルチジニウム2・TCNQ4とN−フ
ェネチルルチジニウム・TCNQ2 の等量混合物)を
320℃で加熱融解し、あらかじめ予熱してあるコンデ
ンサ素子(6)を含浸し、急冷する。その後、コンデン
サ素子(6)をケース(7)に挿入して樹脂(9)にて
外装し、電圧処理(エージング)を行ない、図2に示す
ような目的とするコンデンサを完成させる。
−ペンタメチレンルチジニウム2・TCNQ4とN−フ
ェネチルルチジニウム・TCNQ2 の等量混合物)を
320℃で加熱融解し、あらかじめ予熱してあるコンデ
ンサ素子(6)を含浸し、急冷する。その後、コンデン
サ素子(6)をケース(7)に挿入して樹脂(9)にて
外装し、電圧処理(エージング)を行ない、図2に示す
ような目的とするコンデンサを完成させる。
【0018】表2は本発明により作られたコンデンサと
糖類を使用しない他は本発明品と同様に作成した従来の
コンデンサの半田付け時の熱を想定したリフロー試験(
160℃×2分+230℃×30秒のリフロー炉)前後
の漏れ電流値の特性を示している。
糖類を使用しない他は本発明品と同様に作成した従来の
コンデンサの半田付け時の熱を想定したリフロー試験(
160℃×2分+230℃×30秒のリフロー炉)前後
の漏れ電流値の特性を示している。
【0019】
【表2】
【0020】表2の(A)(B)(C)は表1の(A)
(B)(C)に示す組成の化成液にて再化成処理を行っ
たものであり、定格16[V]、容量6.8[μF]の
コンデンサである。
(B)(C)に示す組成の化成液にて再化成処理を行っ
たものであり、定格16[V]、容量6.8[μF]の
コンデンサである。
【0021】(A)(B)は本発明品であり、(C)は
従来品である。尚、漏れ電流値は16[V]印加1分後
の値で、試料各10個の平均値を示している。
従来品である。尚、漏れ電流値は16[V]印加1分後
の値で、試料各10個の平均値を示している。
【0022】表2から本発明品は従来品に比ベリフロー
試験後においても良好な漏れ電流特性を有していること
が判かる。このようにして半田付け等の熱ストレス後に
おいても漏れ電流の極めて少ないコンデンサが得られる
。
試験後においても良好な漏れ電流特性を有していること
が判かる。このようにして半田付け等の熱ストレス後に
おいても漏れ電流の極めて少ないコンデンサが得られる
。
【0023】尚、本発明はコンデンサ素子として陽極箔
と陰極箔とをセパレータ紙を介して捲回した巻取り素子
を使用した場合に限られるものではなく、コンデンサ素
子として弁作用を有する金属粉末を加圧成形し焼結した
焼結素子を使用した場合にも適用されるものである。
と陰極箔とをセパレータ紙を介して捲回した巻取り素子
を使用した場合に限られるものではなく、コンデンサ素
子として弁作用を有する金属粉末を加圧成形し焼結した
焼結素子を使用した場合にも適用されるものである。
【0024】
【発明の効果】このように本発明によれば、糖類の影響
を受けて高温においてTCNQ錯塩が分解反応を起こし
て絶縁化し、アルミ箔上の酸化皮膜欠損部における漏れ
電流の発生が阻止され、半田付け後においても漏れ電流
特性の極めて優れた固体電解コンデンサが得られる。
を受けて高温においてTCNQ錯塩が分解反応を起こし
て絶縁化し、アルミ箔上の酸化皮膜欠損部における漏れ
電流の発生が阻止され、半田付け後においても漏れ電流
特性の極めて優れた固体電解コンデンサが得られる。
【0025】また、糖類は化学的に反応性の低い数少な
い水溶性の有機物質であり、このため化成液中の電解質
に悪影響を及ぼしたりすることは考えられず、化成液中
に添加利用することに適している。そのため、再化成と
糖類の被膜の形成とを同時に行うことができ、製造工程
を簡略化することができる。
い水溶性の有機物質であり、このため化成液中の電解質
に悪影響を及ぼしたりすることは考えられず、化成液中
に添加利用することに適している。そのため、再化成と
糖類の被膜の形成とを同時に行うことができ、製造工程
を簡略化することができる。
【図1】コンデンサ素子の実施例を示す図面である。
【図2】電解質としてTCNQ錯塩を使用した有機半導
体固体電解コンデンサの実施例を示す図面である。
体固体電解コンデンサの実施例を示す図面である。
1 陽極箔
2 陰極箔
3 セパレータ
4,4’ アルミリード
5,5’ リード線
6 コンデンサ素子
7 アルミケース
8 TCNQ錯塩
9 樹脂
Claims (2)
- 【請求項1】 陽極酸化或は陽極化成により表面に酸
化被膜を設けたアルミニウム、タンタル、ニオブ等の弁
作用を有する金属を再化成するための化成液中に糖類を
添加し、該化成液にて前記金属の再化成を行うとともに
、TCNQ錯塩を加熱融解の後冷却固化させて固体電解
質層を形成することを特徴とする有機半導体固体電解コ
ンデンサの製造方法。 - 【請求項2】 前記糖類はグルコースもしくはグルコ
ース重合体の内の少なくとも一種を含むことを特徴とす
る請求項1記載の有機半導体固体電解コンデンサの製造
方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3094274A JPH04324612A (ja) | 1991-04-24 | 1991-04-24 | 有機半導体固体電解コンデンサの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3094274A JPH04324612A (ja) | 1991-04-24 | 1991-04-24 | 有機半導体固体電解コンデンサの製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04324612A true JPH04324612A (ja) | 1992-11-13 |
Family
ID=14105687
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3094274A Pending JPH04324612A (ja) | 1991-04-24 | 1991-04-24 | 有機半導体固体電解コンデンサの製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04324612A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000138133A (ja) * | 1998-10-30 | 2000-05-16 | Nippon Chemicon Corp | 固体電解コンデンサとその製造方法 |
| JP2000195758A (ja) * | 1998-12-25 | 2000-07-14 | Nippon Chemicon Corp | 固体電解コンデンサとその製造方法 |
| JP2002198265A (ja) * | 2000-12-26 | 2002-07-12 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 電解コンデンサ用電極箔の製造方法およびこれを用いた電解コンデンサ |
| JP2008172277A (ja) * | 2008-03-31 | 2008-07-24 | Nippon Chemicon Corp | 固体電解コンデンサ |
| WO2025052748A1 (ja) * | 2023-09-04 | 2025-03-13 | 株式会社カーリット | 固体電解コンデンサの製造方法 |
-
1991
- 1991-04-24 JP JP3094274A patent/JPH04324612A/ja active Pending
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| WO2025052748A1 (ja) * | 2023-09-04 | 2025-03-13 | 株式会社カーリット | 固体電解コンデンサの製造方法 |
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