JPH0433170A - Lsiレイアウト設計の配線検証方法 - Google Patents

Lsiレイアウト設計の配線検証方法

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Publication number
JPH0433170A
JPH0433170A JP2140825A JP14082590A JPH0433170A JP H0433170 A JPH0433170 A JP H0433170A JP 2140825 A JP2140825 A JP 2140825A JP 14082590 A JP14082590 A JP 14082590A JP H0433170 A JPH0433170 A JP H0433170A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wiring
net
data
equipotential
open
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2140825A
Other languages
English (en)
Inventor
Machiko Fukuda
福田 待子
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC IC Microcomputer Systems Co Ltd
Original Assignee
NEC IC Microcomputer Systems Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC IC Microcomputer Systems Co Ltd filed Critical NEC IC Microcomputer Systems Co Ltd
Priority to JP2140825A priority Critical patent/JPH0433170A/ja
Publication of JPH0433170A publication Critical patent/JPH0433170A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、LSIのレイアウト設計における配線結果を
検証する配線検証方法に関する。
〔従来の技術〕
従来の配線結果の検証方法では、配線データを配線系列
(以降ネットと呼ぶ)毎にまとめて、各ネット内にまと
められた配線群が、他のネットを構成する配線群と交差
しているか否かを2つの配線群間を網羅的に調べること
により、各配線間ショートの検証を行っていた。また、
一つのネット内で配線がオープンしているかの検証は、
ネットを構成する配線群が位置的に離れているか否かを
網羅的に調べていた。
〔発明が解決しようとする課題〕
上述した従来の配線結果の検証方法では、配線群間、又
は配線群内と網羅的に調べなければならないため、多大
の処理時間を要していた。また、オープンとショートの
検証が並列的に行えず、オープンの検証が完全に終了し
た後、ショートの検証を開始するという順次検証を行う
方法であり、これにも処理時間がかかつていた。
本発明の目的は、このような問題を解決し、処理時間を
短縮し、効率的に配線検証のできる配線検証方法を提供
することにある。
〔課題を解決するための手段〕
本発明のLSIレイアウト設計の配線検証方法の構成は
、LSIレイアウトの配線データを基にしてその配線系
列、端子、線分および等電位点のデータを作成し、前記
等電位点の配線データのグループ化を行って等電位配線
グループデータを作成し、前記配線系列のデータに着目
して前記等電位配線グループを点検してオープン配線を
検証し、前記等電位配線グループに着目して前記配線系
列データを点検してショート配線を検証することを特徴
とする。
〔実施例〕
以下、本発明について図面を参照して説明する。
第1図は、本発明の一実施例のレイアウト設計における
配線結果データの検証処理の流れ図、第2図は第1図の
オープン検証処理の流れ図、第3図は第1図のショート
検証処理の流れ図である。
第4図は、オープンネットの例(N1)とその例をもと
にしたネットデータ(Tl)、等電位グループデータ(
T2)、等電位点データ(T3゜T3′)の構成例であ
る。第5図は、ショートネットの例(N2)とその例を
もとにしたネットデータ(T4)、等電位グループデー
タ(T5)。
等電位点データ(T6.T6’ )の構成例である。
本実施例では、まずステップ1で配線データを入力し、
ステップ2で入力した配線データよりネットデータ、端
子データ、線分データ、等電位点データを作成する。次
に、ステップ3で等電位のグループ化を行い、同一の等
電位を持つネットデータに同じ等電位グループ番号を割
当てて、等電位グループデータを作成する。次にステッ
プ4で、等電位点データを基にしてオープン、ショート
の検証を行う。
この場合、オープン検証処理は、第2図に示すように、
ステップ11で、等電位点データをネット番号(ネット
データへのリンク)を基準にして昇順ソートし、次にス
テップ12において、まずステップ13で同一ネットに
ついて複数の等電位グループ番号(等電位グループデー
タへのリンク)があるか否かを判定し、オープンの検証
を行う。この際同一ネットについて複数の等電位グルー
プ番号があった場合、そのネットはオープンであると判
定できる。
第4図(a>は第2図におけるオープンネット30の一
例の平面図で、第4図(b)に示すように、ネットデー
タTIとしてネット番号1のネットAlとネット番号2
のネットA2が含まれている。これらネットの等電位グ
ループデータT2は、第4図(C)のように、3つのグ
ループがあり、ネットA、には、等電位グループ1.2
、ネットA2に等電位グループ3が含まれる。これらの
等電位点データT3が、第4図(d)のようになってい
る、すなわち、ネットA1には等電位点B、、B4の等
電位グループ2が含まれネットA2には等電位点B5.
B6の等電位点グループ3が含まれる。すなわち、デー
タT3.に示すように、ネットA1には2つの等電位点
グループが含まれ、オープンネットとなっている。
また、ショートの検証処理は、第3図に示すように、ス
テップ21で等電位点データを等電位グループ番号を基
準にして昇順ソートする。次に、ステップ22において
等電位点データ分繰返す。
このステップ22では、ステップ23で同一等電位グル
ープについて複数のネット番号があるか否かを判定し、
ショートの検証を行う。同一等電位グループについて複
数のネット番号があった場合、それらのネット同志は、
ショートしていると判定でき、そのデータをストックす
る(ステップ24)。
第5図(a)は、第3図におけるショート配線)−40
の一例の平面図で、第5図(b)に示すネットデータT
4のようにネット番号5,6.7のネットA5.A3.
A4が含まれている。これらネットの等電位グループデ
ータT5は、第5図(c)に示すように2つグループ8
,9がネット番号6 (A3)、5 (A5)に対応し
、これらの等電位点データT6が第5図(d>に示され
る6すなわち、ネットA3(6)の等電位点B7゜B8
およびネットA4(7)の等電位点B9.B10が等電
位点グループ8となっており、ネットA5 (5)の等
電位点Bll、B12が等電位点グループ9となり、デ
ータT6aに示すようにネットA3 (6)、A4 (
7)がショートネットとなっている。
最後に、第1図のステップ5で検証結果を出力する。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明は、等電位の配線データ群を
適宜グループ化することにより、オープン・ショートの
検証を並列的に行うことができ、各ネットごとに配線群
が別れていなくても検証できる。また、アートワークの
データから配線データを持って来てネット番号が配線デ
ータにないような場合でも、端子情報があれば等電位の
グループ化を行うことができ、オープン、ショートの検
証を効率的に行うことができるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の一実施例のレイアウト設計における
配線結果検証処理を示す流れ図、第2図は第1図のオー
プン検証処理を示す流れ図、第3図は第1図のショート
検証処理を示す流れ図、第4図(a)〜(d)は第2図
のオープンネットの平面図およびそのデータ構造図、第
5図(a)〜(d)は第3図のショートネットの一例の
平面図およびそのデータ構造図である。 1〜5.11〜14.21〜24・・・処理ステップ、
30・・・オープンネットの一例、40・・・ショート
ネットの一例、T1〜T3.T、□・・・オープンネッ
トのデータ、T4〜T6.T6.・・・ショートネット
のデータ。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. LSIレイアウトの配線データを基にしてその配線系列
    、端子、線分および等電位点のデータを作成し、前記等
    電位点の配線データのグループ化を行って等電位配線グ
    ループデータを作成し、前記配線系列のデータに着目し
    て前記等電位配線グループを点検してオープン配線を検
    証し、前記等電位配線グループに着目して前記配線系列
    データを点検してショート配線を検証することを特徴と
    するLSIレイアウト設計の配線検証方法。
JP2140825A 1990-05-30 1990-05-30 Lsiレイアウト設計の配線検証方法 Pending JPH0433170A (ja)

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JP2140825A JPH0433170A (ja) 1990-05-30 1990-05-30 Lsiレイアウト設計の配線検証方法

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JPH0433170A true JPH0433170A (ja) 1992-02-04

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ID=15277599

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JP2140825A Pending JPH0433170A (ja) 1990-05-30 1990-05-30 Lsiレイアウト設計の配線検証方法

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JP (1) JPH0433170A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015041251A (ja) * 2013-08-22 2015-03-02 大日本印刷株式会社 Lsiレイアウトパターンの検証支援装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2015041251A (ja) * 2013-08-22 2015-03-02 大日本印刷株式会社 Lsiレイアウトパターンの検証支援装置

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