JPH04332883A - Ｉｃ試験装置 - Google Patents
Ｉｃ試験装置Info
- Publication number
- JPH04332883A JPH04332883A JP3101699A JP10169991A JPH04332883A JP H04332883 A JPH04332883 A JP H04332883A JP 3101699 A JP3101699 A JP 3101699A JP 10169991 A JP10169991 A JP 10169991A JP H04332883 A JPH04332883 A JP H04332883A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test head
- driver
- test
- testing device
- present
- Prior art date
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- Pending
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- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はＩＣ試験装置にかかり、
さらに詳しくはＩＣの同時測定個数を増大するにもかか
わらず、ＩＣ試験装置のテストヘッドを小型化するのに
好適なＩＣ試験装置に関する。
さらに詳しくはＩＣの同時測定個数を増大するにもかか
わらず、ＩＣ試験装置のテストヘッドを小型化するのに
好適なＩＣ試験装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】ＩＣの同時測定個数を増やして測定効率
の向上を図る場合、ＩＣ試験装置のテストヘッドにおい
て測定に必要なピン数を増加しなければならない。この
ため、ＩＣ試験装置のテストヘッドに搭載する電子部品
の数が多くなり、従来技術では、テストヘッドのピンカ
ード（ピン基板）を大きくして対応してきた。
の向上を図る場合、ＩＣ試験装置のテストヘッドにおい
て測定に必要なピン数を増加しなければならない。この
ため、ＩＣ試験装置のテストヘッドに搭載する電子部品
の数が多くなり、従来技術では、テストヘッドのピンカ
ード（ピン基板）を大きくして対応してきた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上記従来技術によれば
、テストヘッドのピンカードを大型化するため、テスト
ヘッド自体が大型化して重くなり、テストヘッドの占有
面積が大きくなり、操作性の悪いＩＣ試験装置になると
いう問題点があった。
、テストヘッドのピンカードを大型化するため、テスト
ヘッド自体が大型化して重くなり、テストヘッドの占有
面積が大きくなり、操作性の悪いＩＣ試験装置になると
いう問題点があった。
【０００４】また、テストヘッドのＩＣ測定部にテスト
信号を集める場合、テストヘッドが大きいため、広範囲
からテスト信号を集めなければならず、配線が長くなり
、波形品質、タイミング精度を悪化させる原因となって
いた。
信号を集める場合、テストヘッドが大きいため、広範囲
からテスト信号を集めなければならず、配線が長くなり
、波形品質、タイミング精度を悪化させる原因となって
いた。
【０００５】また、テストヘッドの大型化により、コス
トアップの原因になっていた。
トアップの原因になっていた。
【０００６】本発明は、上記した従来技術の問題点に鑑
み成されたもので、ＩＣの多数個同時測定に対応した小
型・軽量のテストヘッドを備え、テスト信号の波形品質
・タイミング精度を維持できるＩＣ試験装置を提供する
ことを目的としている。
み成されたもので、ＩＣの多数個同時測定に対応した小
型・軽量のテストヘッドを備え、テスト信号の波形品質
・タイミング精度を維持できるＩＣ試験装置を提供する
ことを目的としている。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明の第１のＩＣ試験
装置は、Ｉ／Ｏドライバ及びデスキュー部のみから構成
されたテストヘッドを備えたことを特徴としている。
装置は、Ｉ／Ｏドライバ及びデスキュー部のみから構成
されたテストヘッドを備えたことを特徴としている。
【０００８】また、本発明の第２のＩＣ試験装置は、Ｉ
／ＯドライバのＩ／Ｏ切替スイッチ及びデスキュー部の
みから構成されたテストヘッドを備えたことを特徴とし
ている。
／ＯドライバのＩ／Ｏ切替スイッチ及びデスキュー部の
みから構成されたテストヘッドを備えたことを特徴とし
ている。
【０００９】
【作用】本発明によれば、テストヘッドがＩ／Ｏドライ
バとデスキュー部、またはＩ／ＯドライバのＩ／Ｏ切替
スイッチとデスキュー部のみから構成されるので、ＩＣ
の多数個同時測定に対応した小型・軽量のテストヘッド
であって、テスト信号の波形品質・タイミング精度を維
持できるＩＣ試験装置を提供することができる。
バとデスキュー部、またはＩ／ＯドライバのＩ／Ｏ切替
スイッチとデスキュー部のみから構成されるので、ＩＣ
の多数個同時測定に対応した小型・軽量のテストヘッド
であって、テスト信号の波形品質・タイミング精度を維
持できるＩＣ試験装置を提供することができる。
【００１０】
【実施例】以下、添付の図面に示す実施例により、更に
詳細に本発明について説明する。ＩＣ試験装置は、メイ
ンコントロールとテストヘッドから構成され、メインコ
ントロールには、ＣＰＵやＴＧ（タイミングジェネレー
タ）やＰＧ（パターンジェネレータ）やＰＣ（ピンコン
トロール）等が内蔵されている。また、テストヘッドは
、メインコントロールから送られた各種の信号をＤＵＴ
（デバイスアンダー テスト）に印加して試験を行う
ものである。
詳細に本発明について説明する。ＩＣ試験装置は、メイ
ンコントロールとテストヘッドから構成され、メインコ
ントロールには、ＣＰＵやＴＧ（タイミングジェネレー
タ）やＰＧ（パターンジェネレータ）やＰＣ（ピンコン
トロール）等が内蔵されている。また、テストヘッドは
、メインコントロールから送られた各種の信号をＤＵＴ
（デバイスアンダー テスト）に印加して試験を行う
ものである。
【００１１】図１は本発明の一実施例を示すブロック図
であり、従来のテストヘッドは、点線で示すように、ド
ライバ１１、テスタバス１２、デバイスパワーサプライ
１３、Ｉ／Ｏドライバ２１、デスキュー部２２をそれぞ
れ含んで構成されていた。
であり、従来のテストヘッドは、点線で示すように、ド
ライバ１１、テスタバス１２、デバイスパワーサプライ
１３、Ｉ／Ｏドライバ２１、デスキュー部２２をそれぞ
れ含んで構成されていた。
【００１２】これに対して、本実施例のテストヘッド２
０は、実線で示すように、上記従来の構成から、ドライ
バ１１とテスタバス１２とデバイスパワーサプライ１３
を除去した構成を有し、小型化されている。除去された
ドライバ１１とテスタバス１２とデバイスパワーサプラ
イ１３は、メインコントロール１０の側に設けられる。
０は、実線で示すように、上記従来の構成から、ドライ
バ１１とテスタバス１２とデバイスパワーサプライ１３
を除去した構成を有し、小型化されている。除去された
ドライバ１１とテスタバス１２とデバイスパワーサプラ
イ１３は、メインコントロール１０の側に設けられる。
【００１３】ここで、ドライバ１１は、高速・低損失の
同軸ケーブルを用いてテストヘッド２０に接続されてい
る。この構成により、Ｉ／Ｏドライバ２１とデスキュー
部２２のサイズでテストヘッド２０を実現することがで
きる。この実施例のテストヘッドは、従来技術によるテ
ストヘッドと比較して、１／３の大きさにすることがで
きた。
同軸ケーブルを用いてテストヘッド２０に接続されてい
る。この構成により、Ｉ／Ｏドライバ２１とデスキュー
部２２のサイズでテストヘッド２０を実現することがで
きる。この実施例のテストヘッドは、従来技術によるテ
ストヘッドと比較して、１／３の大きさにすることがで
きた。
【００１４】なお、上記実施例においては、テストヘッ
ド２０がＩ／Ｏドライバ２１とデスキュー部２２のサイ
ズで構成されているが、本発明はこれに限定されるもの
ではなく、例えばＩ／Ｏドライブピン２１の先頭に設け
られているＩ／Ｏ切替スイッチ（図示せず）だけをテス
トヘッド２０に設けるようにしても良く、種々の組み合
わせが可能である。但し、波形品質とタイミング精度を
考慮した距離及び組合が必要である。
ド２０がＩ／Ｏドライバ２１とデスキュー部２２のサイ
ズで構成されているが、本発明はこれに限定されるもの
ではなく、例えばＩ／Ｏドライブピン２１の先頭に設け
られているＩ／Ｏ切替スイッチ（図示せず）だけをテス
トヘッド２０に設けるようにしても良く、種々の組み合
わせが可能である。但し、波形品質とタイミング精度を
考慮した距離及び組合が必要である。
【００１５】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
によれば、ＩＣの多数個同時測定に対応した小型・軽量
のテストヘッドを備え、テスト信号の波形品質・タイミ
ング精度を維持できるＩＣ試験装置を提供することがで
きる。
によれば、ＩＣの多数個同時測定に対応した小型・軽量
のテストヘッドを備え、テスト信号の波形品質・タイミ
ング精度を維持できるＩＣ試験装置を提供することがで
きる。
【図１】本発明の一実施例を示すブロック図。
１０ メインコントロール、
１１ ドライバ
１２ テスタバス、
１３ デバイスパワーサプライ、
２０ テストヘッド、
２１ Ｉ／Ｏドライバ、
２２ デスキュー部、
Claims (2)
- 【請求項１】Ｉ／Ｏドライバ及びデスキュー部のみから
構成されたテストヘッドを備えたＩＣ試験装置。 - 【請求項２】Ｉ／ＯドライバのＩ／Ｏ切替スイッチ及び
デスキュー部のみから構成されたテストヘッドを備えた
ＩＣ試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3101699A JPH04332883A (ja) | 1991-05-08 | 1991-05-08 | Ｉｃ試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3101699A JPH04332883A (ja) | 1991-05-08 | 1991-05-08 | Ｉｃ試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04332883A true JPH04332883A (ja) | 1992-11-19 |
Family
ID=14307571
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3101699A Pending JPH04332883A (ja) | 1991-05-08 | 1991-05-08 | Ｉｃ試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04332883A (ja) |
-
1991
- 1991-05-08 JP JP3101699A patent/JPH04332883A/ja active Pending
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