JPS58210577A - プリント板回路測定具 - Google Patents
プリント板回路測定具Info
- Publication number
- JPS58210577A JPS58210577A JP57093883A JP9388382A JPS58210577A JP S58210577 A JPS58210577 A JP S58210577A JP 57093883 A JP57093883 A JP 57093883A JP 9388382 A JP9388382 A JP 9388382A JP S58210577 A JPS58210577 A JP S58210577A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- printed
- circuit board
- printed board
- board
- circuit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
- G01R1/07307—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
- G01R1/07314—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support
- G01R1/07328—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support for testing printed circuit boards
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（ａ） 発明の技術分野
本発明はプリント板回路測定具に関し、特にアナログ回
路とデジタル回路が混在するプリント回路基板の自動試
験を実施する際等に使用して極めて有効な言ｔ ６１１
＋アタツチメント（治具）に関するものである。
路とデジタル回路が混在するプリント回路基板の自動試
験を実施する際等に使用して極めて有効な言ｔ ６１１
＋アタツチメント（治具）に関するものである。
（ｂ） 従来技術と問題点
磁気記憶装置の制碑部を構成するプリント回路基板ユニ
ット等、アナログ回路とデジタル回路を混在させたプリ
ント板回路は種々存在するが、このような回路ユニット
の特性・機能試験は正確さと操作の簡便さの点で注々に
して問題を生じ易く、特に自動化のために多数の測定点
から一時にデータ又は信号を取出して計測書試験を行な
おうとするとこの傾向は甚しい。即ち、従来技術におい
ては、被測定プリント板回路から目的とするデータ乃至
信号を取出す場合、プリント板上の回路導体パターン部
にプローブを尚てるか、或いはプリント板上に搭載され
るＩＣの出力端子に対し接続を取ってフレキシブルケー
ブルにて信号を送出させるようにしている０このような
方法は、多数本のプローブを順次当接する操作が必袈で
あったシ、接続端子の着脱に工数を要するなど作業性が
悪い。
ット等、アナログ回路とデジタル回路を混在させたプリ
ント板回路は種々存在するが、このような回路ユニット
の特性・機能試験は正確さと操作の簡便さの点で注々に
して問題を生じ易く、特に自動化のために多数の測定点
から一時にデータ又は信号を取出して計測書試験を行な
おうとするとこの傾向は甚しい。即ち、従来技術におい
ては、被測定プリント板回路から目的とするデータ乃至
信号を取出す場合、プリント板上の回路導体パターン部
にプローブを尚てるか、或いはプリント板上に搭載され
るＩＣの出力端子に対し接続を取ってフレキシブルケー
ブルにて信号を送出させるようにしている０このような
方法は、多数本のプローブを順次当接する操作が必袈で
あったシ、接続端子の着脱に工数を要するなど作業性が
悪い。
しかもフレキシブルケーブル等で信号を取出す際に、信
号伝送経路が長くなり損失が大きくなシ勝ちである。特
にアナレグ信号を取出す場合この損失の問題は重大であ
ｐ１正確な計測の妨げＫなる。
号伝送経路が長くなり損失が大きくなシ勝ちである。特
にアナレグ信号を取出す場合この損失の問題は重大であ
ｐ１正確な計測の妨げＫなる。
（ｃ） 発明の目的
本発明は以上の点に鑑み、被測定プリント回路基板の多
数の計測点に対して探針当接を容易になし得、しかもア
ナログ信号の伝送州失のような問題を側消し得る新規な
プリント板回路測定具を提供することを目的とする。
数の計測点に対して探針当接を容易になし得、しかもア
ナログ信号の伝送州失のような問題を側消し得る新規な
プリント板回路測定具を提供することを目的とする。
（ｄ） 発明の構成
本発明のプリント板回路測定Ａは、被測定プリント板の
回路導体部に当接させるためのピンを多数本起立させて
取付けたプリント板から成シ、該プリント板上には能動
及び／又は受動部品を搭載して前記ピンよシ採取した信
号を処理する回路を構成し、且つ該プリント板の一端よ
シ測定装置本体へ信号を送出する信号ケーブルを取付け
たことを特徴とするものであシ、以下これを実施例に基
づいて詳細に説明する。
回路導体部に当接させるためのピンを多数本起立させて
取付けたプリント板から成シ、該プリント板上には能動
及び／又は受動部品を搭載して前記ピンよシ採取した信
号を処理する回路を構成し、且つ該プリント板の一端よ
シ測定装置本体へ信号を送出する信号ケーブルを取付け
たことを特徴とするものであシ、以下これを実施例に基
づいて詳細に説明する。
（ｅ） 発明の実施例
第１図は本発明実施例の測定具ｌを用いて被測定プリン
ト板ユニット２へのピン当接を行なおうとした場合の構
成を示す側面図である。本発明実施例に係る測定具１は
、測定点への当接用のピン３がマトリックス状に配列さ
れ、起立して取伺けらｆｔたフリント板４から厄る。こ
のプリント板４上には、ピン３を介して被６１す定プリ
ント板２から得たデジタル又はアナログ信号を処理する
信号処理回路を樋底するようにＩＣ５が笑りされている
。
ト板ユニット２へのピン当接を行なおうとした場合の構
成を示す側面図である。本発明実施例に係る測定具１は
、測定点への当接用のピン３がマトリックス状に配列さ
れ、起立して取伺けらｆｔたフリント板４から厄る。こ
のプリント板４上には、ピン３を介して被６１す定プリ
ント板２から得たデジタル又はアナログ信号を処理する
信号処理回路を樋底するようにＩＣ５が笑りされている
。
ＪｕＫこのプリント板の一端には、測定装置本体へのケ
ーブル６を取付けたコネクタ７を設けである０被測定プ
リンｌユニツト２は通常の構成のもので、プリント板８
に能動及び／又は受動部品９を実装して成り、その表面
には？１１！ｊ定具１の当接ピン３を接触させ得る如く
実装部品のリード又はプリント回路導体ｌＯが表出して
いる０ 上記測定具ｌの当接ピン３は、上記の如くマトリックス
状に配列しておき、測定対象回路、機能等に応じて搭載
部品５を変更する等してプリント板４上の信号処理回路
のみを変更すれば広汎な被測定回路に刻し種々の納定を
自由に行なえる０本発明による重要な特徴は、ピン３の
当接により取出した信号をその直上の信号処理回路で計
測目的に合せて信号処理し得るため、アナログ信号の計
測等においても長尺のケーブルでの損失による問題を回
避し倚ることである。上記（Ｍ号処理回路としては、単
なるパ、７アであってもよいし、ＡＤ災 変俟器や座にａ雑な機能を鳴する回路であってもよい。
ーブル６を取付けたコネクタ７を設けである０被測定プ
リンｌユニツト２は通常の構成のもので、プリント板８
に能動及び／又は受動部品９を実装して成り、その表面
には？１１！ｊ定具１の当接ピン３を接触させ得る如く
実装部品のリード又はプリント回路導体ｌＯが表出して
いる０ 上記測定具ｌの当接ピン３は、上記の如くマトリックス
状に配列しておき、測定対象回路、機能等に応じて搭載
部品５を変更する等してプリント板４上の信号処理回路
のみを変更すれば広汎な被測定回路に刻し種々の納定を
自由に行なえる０本発明による重要な特徴は、ピン３の
当接により取出した信号をその直上の信号処理回路で計
測目的に合せて信号処理し得るため、アナログ信号の計
測等においても長尺のケーブルでの損失による問題を回
避し倚ることである。上記（Ｍ号処理回路としては、単
なるパ、７アであってもよいし、ＡＤ災 変俟器や座にａ雑な機能を鳴する回路であってもよい。
第２図には本発明実施例の測定具を用いて計測を行なう
場合の測定系のブロック櫛成図を示す。
場合の測定系のブロック櫛成図を示す。
同図にて１は木兄ＥＩＥＩＫよる測定具で第一図に示し
たのと同様のもの、６は信号ケーブル、１１は計測器本
体、１２は１測制御のための中央処理装置（ｃｐｕ）で
ある。被測定７リント板ユニツトが一例として、磁気デ
ィスク装置のサーボ制御回路用プリント板ユニットであ
る場合、アナログ回路とデジタル１ｇＩ鮎が混在してお
シ、それらの波形確認、１整、板能試駁、電圧、周波数
曲」足等を４測ブロク２ム［％ってＣＰＵか笑イｊ制御
する。これらの測定結果は、１示し４いが適宜の衣示装
飯又は記録装置にて表示又は記録するようＣＰＵ１２で
制御するシステムとしてよいことは勿論である。本発明
の測定具１によれは、尚接ヒン３を被測２！ノリント板
の単位座樵点全部に肖るよう多数配列し、一時に尚接し
得るのて、任息の６；す定ホイントを選択して様々な掠
シ能試験を並夕１的に、或いは岡分割的にも実施でき、
試醜工程の自り化、省力化に有効である。
たのと同様のもの、６は信号ケーブル、１１は計測器本
体、１２は１測制御のための中央処理装置（ｃｐｕ）で
ある。被測定７リント板ユニツトが一例として、磁気デ
ィスク装置のサーボ制御回路用プリント板ユニットであ
る場合、アナログ回路とデジタル１ｇＩ鮎が混在してお
シ、それらの波形確認、１整、板能試駁、電圧、周波数
曲」足等を４測ブロク２ム［％ってＣＰＵか笑イｊ制御
する。これらの測定結果は、１示し４いが適宜の衣示装
飯又は記録装置にて表示又は記録するようＣＰＵ１２で
制御するシステムとしてよいことは勿論である。本発明
の測定具１によれは、尚接ヒン３を被測２！ノリント板
の単位座樵点全部に肖るよう多数配列し、一時に尚接し
得るのて、任息の６；す定ホイントを選択して様々な掠
シ能試験を並夕１的に、或いは岡分割的にも実施でき、
試醜工程の自り化、省力化に有効である。
（ｆ） 発明の効果
本発明によれに、被測定プリント回路基板の多数の計測
点に対しピン当接を一括して容易になし得、しかも長尺
の信号クーフルによる伝送ｔμ失による測定精度劣化の
問題も解消できるので、試敷・測定工程の自動化、省力
化或いは測定の和度向上に顕著な効果を奏するものであ
る。
点に対しピン当接を一括して容易になし得、しかも長尺
の信号クーフルによる伝送ｔμ失による測定精度劣化の
問題も解消できるので、試敷・測定工程の自動化、省力
化或いは測定の和度向上に顕著な効果を奏するものであ
る。
第１図は本発明実施例の３ｉｌｌ定具による測定操作を
示す側面図であシ、第２図は測定系のブロック栴成図で
ある。 ｌ ・・・ 測定具 ２ ・・・ 払測定プリント板 ３ ・・・ 当接ピン ４ ・・・プリント板 ５ ・・・ ＩＣ ６・・・ イｔ−＠ケープル
示す側面図であシ、第２図は測定系のブロック栴成図で
ある。 ｌ ・・・ 測定具 ２ ・・・ 払測定プリント板 ３ ・・・ 当接ピン ４ ・・・プリント板 ５ ・・・ ＩＣ ６・・・ イｔ−＠ケープル
Claims (1)
- 被測定プリント板の回路専体部に当接させるためのビン
を多数本起立させて取付けたプリント板から成り、該プ
リント板上には能動及び／又は受動部品を搭載して前記
ビンよシ採取した信号を処理する回路を構成し、且つ骸
プリント板の一端よシ到足装置本体へ（ｆｉ号を送出す
る信号ケーブルを取付けたことを特徴とするプリント板
回路測定具。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57093883A JPS58210577A (ja) | 1982-06-01 | 1982-06-01 | プリント板回路測定具 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57093883A JPS58210577A (ja) | 1982-06-01 | 1982-06-01 | プリント板回路測定具 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58210577A true JPS58210577A (ja) | 1983-12-07 |
Family
ID=14094869
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57093883A Pending JPS58210577A (ja) | 1982-06-01 | 1982-06-01 | プリント板回路測定具 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58210577A (ja) |
-
1982
- 1982-06-01 JP JP57093883A patent/JPS58210577A/ja active Pending
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