JPH0433368B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0433368B2 JPH0433368B2 JP60233069A JP23306985A JPH0433368B2 JP H0433368 B2 JPH0433368 B2 JP H0433368B2 JP 60233069 A JP60233069 A JP 60233069A JP 23306985 A JP23306985 A JP 23306985A JP H0433368 B2 JPH0433368 B2 JP H0433368B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- cladding
- thickness
- reflected
- base material
- echo
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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- Length Measuring Devices Characterised By Use Of Acoustic Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、例えば圧力容器やパイプ等の本体と
なる母材に接合するクラツドの厚さを測定するク
ラツド厚さ測定方法の改良に関する。
なる母材に接合するクラツドの厚さを測定するク
ラツド厚さ測定方法の改良に関する。
この種のクラツド厚さの測定には幾つかの測定
方法があり、以下、それらの測定方法について説
明する。
方法があり、以下、それらの測定方法について説
明する。
その１つは、現在でも基本的な測定法として
使用されているものであり、具体的にはクラツ
ドとして使用される例えば鋼板の端部を複数箇
所にわたつてノギスを用いて測定することによ
りクラツド厚さを測定する方法である。
使用されているものであり、具体的にはクラツ
ドとして使用される例えば鋼板の端部を複数箇
所にわたつてノギスを用いて測定することによ
りクラツド厚さを測定する方法である。
他のもう１つは、第４図に示すように母材１
の面部２に超音波探触子３を設置し、この超音
波探触子３から超音波を送波し、クラツド４の
境界部５で反射されて得られる境界エコーとク
ラツド底面部６で反射されて得られる底面エコ
ーとの差からクラツド４の厚さを測定するので
ある。
の面部２に超音波探触子３を設置し、この超音
波探触子３から超音波を送波し、クラツド４の
境界部５で反射されて得られる境界エコーとク
ラツド底面部６で反射されて得られる底面エコ
ーとの差からクラツド４の厚さを測定するので
ある。
しかし、以上のような測定方法のうち、前者の
ノギスを用いてクラツド厚さを測定するものは、
クラツド４中央部分の厚さを測定することが難し
く、高精度に厚さ管理できないので長期間の使用
によりクラツド４の腐蝕等により例えば圧力容器
がパイプが破損し、予測しにくい事故を発生させ
る危険がある。
ノギスを用いてクラツド厚さを測定するものは、
クラツド４中央部分の厚さを測定することが難し
く、高精度に厚さ管理できないので長期間の使用
によりクラツド４の腐蝕等により例えば圧力容器
がパイプが破損し、予測しにくい事故を発生させ
る危険がある。
また、後者の母材側より超音波でクラツド厚さ
を測定する方法においては、クラツド側より測定
箇所を指定したい場合（例えば、クラツド側より
クラツド厚さの減少が認められ、の箇所を測定し
たい場合）、その箇所に対する母材側の測定箇所
を見つけなくてはならず、位置の同定が難しい。
を測定する方法においては、クラツド側より測定
箇所を指定したい場合（例えば、クラツド側より
クラツド厚さの減少が認められ、の箇所を測定し
たい場合）、その箇所に対する母材側の測定箇所
を見つけなくてはならず、位置の同定が難しい。
そこで、クラツド４の面部に超音波探触子３を
設置し、超音波をクラツド側からクラツド境界部
に送波してクラツド厚さを測定することが考えら
れる。しかし、この場合、境界エコーが超音波探
触子の不感帯に入るためにクラツド４の厚さを測
定できないこともある。
設置し、超音波をクラツド側からクラツド境界部
に送波してクラツド厚さを測定することが考えら
れる。しかし、この場合、境界エコーが超音波探
触子の不感帯に入るためにクラツド４の厚さを測
定できないこともある。
本発明は以上のような点に鑑みてなされたもの
であつて、クラツドの任意の部分の厚さを測定で
き、かつ超音波探触子の不感帯から外してクラツ
ド境界部の境界エコーを検出して確実にクラツド
の厚さを測定し得るクラツド厚さ測定方法を提供
することを目的とする。
であつて、クラツドの任意の部分の厚さを測定で
き、かつ超音波探触子の不感帯から外してクラツ
ド境界部の境界エコーを検出して確実にクラツド
の厚さを測定し得るクラツド厚さ測定方法を提供
することを目的とする。
上記目的を達成するために、本発明のクラツド
厚さ測定方法は、母材に合せ材として接合される
クラツドの表面に超音波探触子を設置して超音波
をクラツド表面から入射し、入射された超音波が
クラツドを透過して母材底面で反射し、クラツド
を透過してクラツド表面で反射し、さらに母材底
面で再反射し、クラツドを透過して超音波探触子
で検出さる底面エコーと、前記入射された超音波
がクラツドを透過して母材底面で反射し、母材と
クラツドとの境界面で反射し、さらに母材底面で
再反射し、クラツドを透過して超音波探触子で検
出される境界エコーとを求め、求められた各エコ
ー相互の検出時間差から前記クラツドの厚さを算
出するものである。
厚さ測定方法は、母材に合せ材として接合される
クラツドの表面に超音波探触子を設置して超音波
をクラツド表面から入射し、入射された超音波が
クラツドを透過して母材底面で反射し、クラツド
を透過してクラツド表面で反射し、さらに母材底
面で再反射し、クラツドを透過して超音波探触子
で検出さる底面エコーと、前記入射された超音波
がクラツドを透過して母材底面で反射し、母材と
クラツドとの境界面で反射し、さらに母材底面で
再反射し、クラツドを透過して超音波探触子で検
出される境界エコーとを求め、求められた各エコ
ー相互の検出時間差から前記クラツドの厚さを算
出するものである。
すなわち、本発明における底面エコーおよび境
界エコーはともに母材底面で２回反射された超音
波のエコーであるが、底面エコーはその中間で超
音波がクラツド表面まで達してこのクラツド表面
で反射されたエコーであるのに対して、境界エコ
ーはその中間で超音波がクラツド表面に到達せず
に母材とクラツドとの境界面で反射されたエコー
である。したがつて両エコー相互間にはクラツド
を往復するに要する時間差が発生する。よつて、
この時間差からクラツド厚さが算出さる。
界エコーはともに母材底面で２回反射された超音
波のエコーであるが、底面エコーはその中間で超
音波がクラツド表面まで達してこのクラツド表面
で反射されたエコーであるのに対して、境界エコ
ーはその中間で超音波がクラツド表面に到達せず
に母材とクラツドとの境界面で反射されたエコー
である。したがつて両エコー相互間にはクラツド
を往復するに要する時間差が発生する。よつて、
この時間差からクラツド厚さが算出さる。
また、以上のような構成とすることにより、ク
ラツドの任意の部分の厚さを測定でき、さらに、
境界エコーを超音波探触子の不感帯を外して測定
することができる。
ラツドの任意の部分の厚さを測定でき、さらに、
境界エコーを超音波探触子の不感帯を外して測定
することができる。
〔実施例〕
以下、本発明の一実施例について第１図ないし
第３図を参照して説明する。これらの図において
１０は圧力容器やパイプ等の本体となるべく母材
であつて、この母材１０の一方面部に合せ材とし
て例えば鋼板等のクラツド１１が接合されてい
る。そして、このような積層構造において前記ク
ラツド１１の厚さを測定する場合、前記クラツド
１１の面部に超音波探触子１２を設置し、クラツ
ド１１側から母材１０側へ超音波を送波すると、
超音波は１３に示す経路つまり第２図ａに示すよ
うに母材底面１５−クラツド境界部１６−母材底
面１５よりなる経路で反射されて得られる境界エ
コ−Ｓ１（第３図参照）を検出し、さらに１４に
示す経路つまり第２図ｂに示すように母材底面１
５で２回反射して得られる底面エコーＳ２（第３
図参照）を検出するものである。第３図中、Ｗは
超音波のビーム経路、Ｅ／Ｈはエコー高さを表わ
す。なお、第３図は例えばCRT表示装置の表示
画面に表示された各エコーを示すものであり、
SOで示すエコーは、超音波探触子１２から送波
された超音波がクラツド１１を透過して母材底面
１５で反射してクラツド１１を逆方向に透過し
て、超音波探触子１２へ入射するエコーである。
第３図を参照して説明する。これらの図において
１０は圧力容器やパイプ等の本体となるべく母材
であつて、この母材１０の一方面部に合せ材とし
て例えば鋼板等のクラツド１１が接合されてい
る。そして、このような積層構造において前記ク
ラツド１１の厚さを測定する場合、前記クラツド
１１の面部に超音波探触子１２を設置し、クラツ
ド１１側から母材１０側へ超音波を送波すると、
超音波は１３に示す経路つまり第２図ａに示すよ
うに母材底面１５−クラツド境界部１６−母材底
面１５よりなる経路で反射されて得られる境界エ
コ−Ｓ１（第３図参照）を検出し、さらに１４に
示す経路つまり第２図ｂに示すように母材底面１
５で２回反射して得られる底面エコーＳ２（第３
図参照）を検出するものである。第３図中、Ｗは
超音波のビーム経路、Ｅ／Ｈはエコー高さを表わ
す。なお、第３図は例えばCRT表示装置の表示
画面に表示された各エコーを示すものであり、
SOで示すエコーは、超音波探触子１２から送波
された超音波がクラツド１１を透過して母材底面
１５で反射してクラツド１１を逆方向に透過し
て、超音波探触子１２へ入射するエコーである。
そして、以上のようにして境界エコーＳ１およ
び底面エコーＳ２を検出したならば、これらエコ
ーＳ１，Ｓ２の検出時間（ビーム路程）ｘ１，ｘ
２から（ｘ２−ｘ１）の演算により、前記クラツ
ド１１の厚さを求めるものである。
び底面エコーＳ２を検出したならば、これらエコ
ーＳ１，Ｓ２の検出時間（ビーム路程）ｘ１，ｘ
２から（ｘ２−ｘ１）の演算により、前記クラツ
ド１１の厚さを求めるものである。
従つて、以上のような実施例の構成によれば、
厚さの測定したい任意の位置に超音波探触子１２
を設置してクラツドの厚さを測定することがで
き、また従来の測定法の１つであるノギスを用い
たものに比べて広範囲にわたつてクラツド１１の
厚さを測定できるためにクラツドの厚さ管理ひい
ては積層構造物の寿命を伸ばすことが可能とな
り、かつクラツド１１の寿命を十分に予測するこ
とが可能となる。また、境界エコーＳ１は母材底
面１５−母材面側からのクラツド境界部１６−母
材底面１５よりなる経路により反射エコーを検出
しているために不感帯から外れ、よつてクラツド
１１の面部に超音波探触子１２を設置しても確実
に境界エコーＳ１を検出でき、クラツド１１の厚
さを高精度に測定することができる。
厚さの測定したい任意の位置に超音波探触子１２
を設置してクラツドの厚さを測定することがで
き、また従来の測定法の１つであるノギスを用い
たものに比べて広範囲にわたつてクラツド１１の
厚さを測定できるためにクラツドの厚さ管理ひい
ては積層構造物の寿命を伸ばすことが可能とな
り、かつクラツド１１の寿命を十分に予測するこ
とが可能となる。また、境界エコーＳ１は母材底
面１５−母材面側からのクラツド境界部１６−母
材底面１５よりなる経路により反射エコーを検出
しているために不感帯から外れ、よつてクラツド
１１の面部に超音波探触子１２を設置しても確実
に境界エコーＳ１を検出でき、クラツド１１の厚
さを高精度に測定することができる。
なお、本発明は上記実施例に限定されるもので
はない。例えばクラツド１１として鋼板を用い
た、これに限定されずに種々の材料例えばステン
レス材等を用いてもよいものである。その他、本
発明はその要旨を逸脱しない範囲で種々変形して
実施できる。
はない。例えばクラツド１１として鋼板を用い
た、これに限定されずに種々の材料例えばステン
レス材等を用いてもよいものである。その他、本
発明はその要旨を逸脱しない範囲で種々変形して
実施できる。
以上詳記したように本発明によれば、クラツド
の任意の部分の厚さを測定し得、かつ超音波探触
子の不感帯から外してクラツド境界部の境界エコ
ーを検出することによつて、確実にそして高精度
に測定し得るクラツド測定方法を提供できる。
の任意の部分の厚さを測定し得、かつ超音波探触
子の不感帯から外してクラツド境界部の境界エコ
ーを検出することによつて、確実にそして高精度
に測定し得るクラツド測定方法を提供できる。
第１図ないし第３図は本発明に係わるクラツド
厚さ測定方法の一実施例を説明するために示した
もので、第１図は超音波探触子の設置状態を示す
図、第２図ａ，ｂは境界エコーと底面エコーの経
路を示す説明図、第３図は境界エコーと底面エコ
ーの検出タイミングを示す図、第４図は従来の超
音波によるクラツド厚さ測定方法を説明する図で
ある。 １０……母材、１１……クラツド、Ｓ１……境
界エコー、Ｓ２……底面エコー。
厚さ測定方法の一実施例を説明するために示した
もので、第１図は超音波探触子の設置状態を示す
図、第２図ａ，ｂは境界エコーと底面エコーの経
路を示す説明図、第３図は境界エコーと底面エコ
ーの検出タイミングを示す図、第４図は従来の超
音波によるクラツド厚さ測定方法を説明する図で
ある。 １０……母材、１１……クラツド、Ｓ１……境
界エコー、Ｓ２……底面エコー。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 母材に合せ材として接合されるクラツドの厚
さを測定する方法において、 クラツド表面に超音波探触子を設置して超音波
をクラツド表面から入射し、入射された超音波が
クラツドを透過して母材底面で反射し、クラツド
を透過してクラツド表面で反射し、さらに母材底
面で再反射し、再度クラツドを透過して超音波探
触子で検出さる底面エコーと、前記入射された超
音波がクラツドを透過して母材底面で反射し、母
材とクラツドとの境界面で反射し、さらに母材底
面で再反射し、クラツドを透過して超音波探触子
で検出される境界エコーとを求め、求められた各
エコー相互の検出時間差から前記クラツドの厚さ
を算出することを特徴とするクラツド厚さ測定方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23306985A JPS6291806A (ja) | 1985-10-18 | 1985-10-18 | クラツド厚さ測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23306985A JPS6291806A (ja) | 1985-10-18 | 1985-10-18 | クラツド厚さ測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6291806A JPS6291806A (ja) | 1987-04-27 |
| JPH0433368B2 true JPH0433368B2 (ja) | 1992-06-02 |
Family
ID=16949314
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23306985A Granted JPS6291806A (ja) | 1985-10-18 | 1985-10-18 | クラツド厚さ測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6291806A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2629586B1 (fr) * | 1988-03-30 | 1992-01-03 | Cezus Co Europ Zirconium | Procede de controle ultrasonore de l'epaisseur de placage d'un tube metallique, dispositif correspondant et application a des tubes en alliage de zr plaque |
| JP2866964B2 (ja) * | 1989-04-11 | 1999-03-08 | 株式会社ニチゾウテツク | コーティング膜の膜厚測定方法 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60125513A (ja) * | 1983-12-09 | 1985-07-04 | Hitachi Ltd | 超音波による塗膜上からの板厚測定装置 |
-
1985
- 1985-10-18 JP JP23306985A patent/JPS6291806A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6291806A (ja) | 1987-04-27 |
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