JPH04341008A - 半導体スイッチング素子 - Google Patents

半導体スイッチング素子

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JPH04341008A
JPH04341008A JP11353991A JP11353991A JPH04341008A JP H04341008 A JPH04341008 A JP H04341008A JP 11353991 A JP11353991 A JP 11353991A JP 11353991 A JP11353991 A JP 11353991A JP H04341008 A JPH04341008 A JP H04341008A
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switching element
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semiconductor switching
emitter
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Takashi Nakajima
孝 中島
Sumio Koide
小出 澄男
Fujio Seki
藤男 関
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Shinano Fujitsu Ltd
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Shinano Fujitsu Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】〔目次〕 産業上の利用分野 従来の技術(図7) 発明が解決しようとする課題(図8) 課題を解決するための手段(図1〜3)作用 実施例 (1)第1の実施例の説明(図4) (2)第2の実施例の説明(図5) (3)第3の実施例の説明(図6) 発明の効果
【0002】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体スイッチング素
子に関するものであり、更に詳しく言えば、制御信号に
基づいて電気回路を開閉する双方向性の半導体スイッチ
に関するものである。
【0003】近年、データ伝送線の配線スペースの省略
化とその簡素化を図るため一つのマスタ装置と複数のス
レーブ装置との間を1本のインタフェースケーブルによ
り接続する単線式データ転送システムが確立しつつある
【0004】これによれば、情報記憶装置や印刷処理装
置等のスレーブ装置に、例えば、電磁リレー等のスイッ
チング素子が設けられている。しかし、電磁リレーが電
磁コイル部と二接点一回路選択スイッチ部から成るため
、リレー接点による接点バウンスや電磁ノイズによるチ
ャタリングが生じ、転送データや出力データの反転(デ
ータ化け)等が起こることがある。
【0005】そこで、電気回路の開閉を電磁リレー等に
依存することなく、スイッチング素子の工夫をし、双方
向性のデータや信号を取り扱うこと,及び該スイッチン
グ素子の軽量化及び小型化を図ることができる素子が望
まれている。
【0006】
【従来の技術】図7,8は、従来例に係る説明図である
。図7は、従来例に係るスイッチング素子の構成図を示
している。
【0007】例えば、マスタ装置と複数のスレーブ装置
とを接続する単線式データ転送システムにおいて、該ス
レーブ装置側にスイッチング素子1が設けられている。
【0008】該スイッチング素子1は、情報処理装置A
から転送される転送データやそれに対する出力データを
伝送するインタフェースケーブル(データ転送線)2と
当該情報記憶装置Bや印刷処理装置C等の入出力バッフ
ァ回路3との間を電気的に接続したり、その間を切り離
したりするものである。
【0009】また、転送データや出力データが該スイッ
チング素子1を基準にして、双方向性を有することから
スイッチング素子1には、取扱が便利な電磁リレー4が
用いられている。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】ところで従来例によれ
ば、電磁リレー4は図7の破線円内図に示すように、リ
レー接点4Aを可動する電磁コイル部Lと、該リレー接
点4Aによりメイク接点M又はブレーク接点Bを選択す
る二接点一回路選択スイッチ部4Bから成っている。
【0011】このため、図8(a)に示すように、リレ
ー接点4Aによる接点バウンスや電磁ノイズによるチャ
タリングが生じ、転送データや出力データの反転(デー
タ化け)等が起こることがある。
【0012】すなわち、図8(a)の電磁リレーの動作
特性図に示すように、接点バウンスやチャタリングは、
電磁コイル部Lに駆動電圧が印加されると、リレー接点
4Aがブレーク接点B側からメイク接点Mに移行する際
に発生するものである。例えば、接点バウンスは、図8
(a)において、縦軸を電圧V,横軸を時間tとすると
、当該二接点一回路選択スイッチ部4BのON動作の立
ち上がりからその動作安定に至るまでの期間に生ずる。
【0013】これは、電磁コイル部Lの駆動電圧が遮断
され、メイク接点Mからブレーク接点Bにリレー接点4
Aを復帰させるための該リレー接点材料(リン青銅等)
のバネ係数やブレーク接点Bからメイク接点Mにリレー
接点4Aが移行した際の該接点4Aの接触振動等により
生ずるものと考えられている。
【0014】なお、電圧Vは当該電磁リレーの二接点一
回路選択スイッチ部4Bに他の電気回路が接続され、該
他の電気回路にデータや信号等のハイレベル(直流電圧
等)が供給された場合に該当する。
【0015】また、電磁リレーは接点容量にもよるが、
電磁コイル部Lを駆動するために他の電気回路に供給す
る電力の一部を消費することとなる。また、磁束密度を
大きくするため磁気回路に鉄や珪素綱板等の磁気材料が
使用されている。このことは、バッテリー駆動方式の携
帯用の小型電子機器に、当該電磁リレーが使用されるよ
うな場合に、携帯用機器の第1条件でもある消費電力の
低減化に反することとなる。また、複数の電磁リレーが
使用されるような場合には、特に、その軽量化の妨げに
もなる。
【0016】なお、電磁リレーの代わりに図8(b)に
示すような、制御信号に基づいて電気回路を開閉する双
方向性の半導体スイッチを構成するトランスファーゲー
トを用いる方法も考えられる。しかし、トランスファー
ゲートの場合には、インタフェースケーブルや他の電気
回路に供給される電流容量によって、該トランスファー
ゲートを構成するp型の電界効果トランジスタやn型の
電界効果トランジスタのゲート長を大きく設計しなくて
はならない。
【0017】このことは、該トランスファーゲートをロ
ジック回路内で使用している場合に比べて、そのスイッ
チング制御電圧が相当大きな値となり、他の電気回路の
電源電圧,例えば、5〔V〕の電源電圧に対して該制御
電圧が数十倍と不均等なものとなって、該ゲート制御用
の補助電源が必要となる。
【0018】これにより、制御信号に基づいて電気回路
を開閉する電磁リレーを除いては双方向性のデータや信
号を取り扱う簡易軽量なスイッチング素子がなく、また
、小容量の電流を遮断する簡易軽量なスイッチング素子
がない。このことで、電子機器の軽量化及び小型化の妨
げとなるという問題がある。
【0019】本発明は、かかる従来例の問題点に鑑み創
作されたものであり、電気回路の開閉を電磁リレー等に
依存することなく、スイッチング素子の工夫をし、双方
向性のデータや信号を取り扱うこと,及び該スイッチン
グ素子の軽量化及び小型化を図ることが可能となる半導
体スイッチング素子の提供を目的とする。
【0020】
【課題を解決するための手段】図1〜3は、本発明に係
る半導体スイッチング素子の原理図(その1〜3)をそ
れぞれ示している。
【0021】本発明の第1の半導体スイッチング素子は
、図1(a)に示すように、第1,第2のトランジスタ
Q1,Q2が具備され、前記第1のトランジスタQ1の
コレクタCが第2のトランジスタQ2のエミッタEに接
続されて第1の端子11Aに接続され、前記第1のトラ
ンジスタQ1のエミッタEが第2のトランジスタQ2の
コレクタCに接続されて第2の端子11Bに接続され、
前記第1のトランジスタQ1のベースBと第2のトラン
ジスタQ2のベースBとが接続されて第3の端子12に
接続されていることを特徴とする。
【0022】なお、第1の半導体スイッチング素子にお
いて、図1(b)に示すように、前記第1のトランジス
タQ1のエミッタEと第2の端子11Bとの間に第1の
保護素子D1が接続され、前記第2のトランジスタQ2
のエミッタEと第1の端子11Aとの間に第2の保護素
子D2が接続されることを特徴とする。
【0023】また、本発明の第2の半導体スイッチング
素子は、図2(a)に示すように第1の半導体スイッチ
ング素子において、前記第1のトランジスタQ1のエミ
ッタEとベースBとの間に第1のバイアス素子R1が接
続され、かつ、該第1のトランジスタQ1のベースBと
第3の端子12との間に第2のバイアス素子R2が接続
され、前記第2のトランジスタQ2のエミッタEとベー
スBとの間に第3のバイアス素子R3が接続され、かつ
、該第2のトランジスタQ2のベースBと第3の端子1
2との間に第4のバイアス素子R4が接続されることを
特徴とする。
【0024】なお、前記第1,第2の半導体スイッチン
グ素子は前記第1,第2のトランジスタQ1,Q2がn
pn型又は図2(b)に示すようにpnp型のバイポー
ラトランジスタから成ることを特徴とする。
【0025】また、本発明の第3の半導体スイッチング
素子は、図3に示すように一以上の第1の外部端子A1
〜An,第2の外部端子B1〜Bn及び制御端子C1〜
Cnが設けられた同一格納手段13と、前記第1の外部
端子A1〜Anと第2の外部端子B1〜Bnとに接続さ
れた電気回路14の開閉をする単位スイッチング手段S
W1〜SWnとが具備され、前記単位スイッチング手段
SW1〜SWnが上記第1,第2の半導体スイッチング
素子から成ることを特徴とし、上記目的を達成する。
【0026】
【作  用】本発明の第1の半導体スイッチング素子に
よれば、図1(a)に示すように、npn型のバイポー
ラトランジスタから成る第1,第2のトランジスタQ1
,Q2が具備されている。
【0027】例えば、第1のトランジスタQ1ベースB
と第2のトランジスタQ2のベースBとが接続された第
3の端子12に該トランジスタQ1,Q2のベース・エ
ミッタ電圧VBEを越えるスイッチング制御信号=「H
」(ハイ)レベルが入力されると、第1,第2のトラン
ジスタQ1,Q2がON動作をする。これにより、第1
の端子11Aと第2の端子11Bとの間に接続された電
気回路が閉回路状態となる。
【0028】また、第3の端子12に該トランジスタQ
1,Q2のベース・エミッタ電圧VBE以下のスイッチ
ング制御信号=「L」(ロー)レベルが入力されると、
第1,第2のトランジスタQ1,Q2がOFF動作をす
る。 これにより、第1の端子11Aと第2の端子11Bとの
間に接続された電気回路が開回路状態となる。
【0029】なお、第1のトランジスタQ1のエミッタ
Eと第2の端子11Bとの間に接続された第1の保護素
子D1や該第2のトランジスタQ2のエミッタEと第1
の端子11Aとの間に接続された第2の保護素子D2に
より、第1の端子11Aと第2の端子11Bとの間に、
該電気回路に生じる逆耐電圧から第1,第2のトランジ
スタQ1,Q2が保護される。
【0030】このため、トランスファゲートのようにロ
ジックレベルの制御信号に基づいて電気回路の開閉制御
,例えば、双方向性のデータや信号の通電制御を取り扱
うことが可能となる。このことで、従来例のような電磁
コイル部や二接点一回路選択スイッチ部から成る電磁リ
レーに比べて、リレー接点による接点バウンスや電磁ノ
イズによるチャタリングが回避され、転送データや出力
データの反転(データ化け)等の発生が極力抑制される
【0031】また、第1,第2のトランジスタQ1,Q
2がバイポーラトランジスタからなり、それを電流駆動
させるため、トランスファゲートのようなゲート電圧を
発生する補助電源が不要であり、他の電気回路を駆動す
る電源電圧と均等化が図れる。
【0032】これにより、電気回路の開閉制御を電磁リ
レー等に依存することなく、当該半導体スイッチング素
子を電子機器に組み入れた場合に、その軽量化及び小型
化を図ることが可能となる。
【0033】また、本発明の第2の半導体スイッチング
素子によれば、第1のトランジスタQ1に第1,第2の
バイアス素子R1,R2が接続され、かつ、第2のトラ
ンジスタQ2に第3,第4のバイアス素子R3,R4が
接続されている。
【0034】例えば、第3の端子12に該トランジスタ
Q1,Q2にベースBに、ベース・エミッタ電圧VBE
を越えるスイッチング制御信号=「H」レベルが入力さ
れると、第1のバイアス素子R1と第2のバイアス素子
R2との分圧比により定まるバイアス電圧により、該電
気回路に生じる逆耐電圧から第1のトランジスタQ1の
ON動作時のベース・エミッタE間が保護される。また
、第3のバイアス素子R3と第4のバイアス素子R4と
の分圧比により定まるバイアス電圧により、同様に、逆
耐電圧から第2のトランジスタQ2のON動作時のベー
ス・エミッタE間が保護される。
【0035】なお、第1,第2のトランジスタQ1,Q
2がON動作をすることにより、第1の半導体スイッチ
ング素子と同様に、第1の端子11Aと第2の端子11
Bとの間に接続された電気回路が閉回路状態となる。ま
た、第3の端子12を介して該トランジスタQ1,Q2
のベースBに、ベース・エミッタ電圧VBE以下のスイ
ッチング制御信号=「L」レベルが入力されると、第1
,第2のトランジスタQ1,Q2がOFF動作をする。 これにより、第1の半導体スイッチング素子と同様に、
第1の端子11Aと第2の端子11Bとの間に接続され
た電気回路が開回路状態となる。
【0036】このため、第1の半導体スイッチング素子
と同様に、ロジックレベルの制御信号に基づいて電気回
路の開閉制御をすることが可能となる。このことで、従
来例のような電磁リレーに比べて、接点バウンスやチャ
タリングが回避され、転送データや出力データの反転等
の発生が極力抑制される。
【0037】これにより、当該半導体スイッチング素子
をバッテリー駆動方式の携帯用の小型電子機器に使用し
た場合であっても、電磁リレーのように制御信号に基づ
いて開閉することが可能となる。
【0038】また、本発明の第3の半導体スイッチング
素子によれば、図3に示すように同一格納手段13に、
複数の単位スイッチング手段SW1〜SWnが具備され
、該単位スイッチング手段SW1〜SWnが本発明に係
る第1,第2の半導体スイッチング素子から成っている
【0039】例えば、同一格納手段13に設けられた第
1の外部端子A1と第2の外部端子B1との間に電気回
路14が接続され、第1の外部端子A2と第2の外部端
子B2との間に電気回路14が接続され、第1の外部端
子Anと第2の外部端子Bnとの間に電気回路14が接
続された場合、それぞれの制御端子C1〜Cnに、スイ
ッチング制御信号=「H」又は「L」レベルを入力する
ことにより、単位スイッチング手段SW1〜SWnを構
成する第1又は第2の半導体スイッチング素子が個々に
ON/OFF動作をする。
【0040】このため、複数の電気回路14を複数の電
磁リレーにより制御する場合と同様に個々に制御信号に
基づいてそれを個別に開閉制御することが可能となる。
【0041】これにより、当該半導体スイッチング素子
をバッテリー駆動方式の携帯用の小型電子機器に複数使
用した場合であっても、複数の電気回路を電磁リレーに
より個々に制御する場合に比べて、その消費電力の低減
化の向上を図ること,及び、その軽量化を図ることが可
能となる。
【0042】なお、図2(b)に示すように第1〜第3
の半導体スイッチング素子の第1,第2のトランジスタ
Q1,Q2をpnp型のバイポーラトランジスタから構
成した場合にも、同様に、電磁リレーに依存することな
く、電気回路の双方向性のデータや信号の開閉制御を行
うことが可能となる。
【0043】
【実施例】次に図を参照しながら本発明の実施例につい
て説明をする。図4〜6は、本発明の実施例に係る半導
体スイッチング素子を説明する図である。
【0044】(1)第1の実施例の説明図4(a)〜(
c)は、本発明の第1の実施例に係る半導体スイッチン
グ素子の構成図であり、図4(a)はその等価回路図を
示している。
【0045】図4(a)において、SWは単極性スイッ
チであり、本発明に係る半導体スイッチング素子の等価
回路図である。なお、A,Bは第1,第2の外部端子で
あり、インタフェースケーブルや電子機器等の電気回路
を接続するものである。Cは制御端子であり、当該単極
性スイッチSWのスイッチング制御信号を入力する端子
である。
【0046】また、図4(b)は本発明に係る半導体ス
イッチング素子の外観図である。図4(b)において、
本発明の第1,第2の実施例に係る半導体スイッチング
素子は、一般のトランジスタ素子と同様に、第1,第2
の外部端子A,B及び制御端子Cが外部に引き出され、
単極性スイッチSW部が樹脂等により封止されるモジュ
ール構造を有している。
【0047】さらに、図4(c)は本発明に係る半導体
スイッチング素子の内部構成図を示している。図4(c
)において、ロジックレベルの制御信号に基づいて双方
向性のデータや信号の通電制御を取り扱う半導体スイッ
チング素子は、第1,第2のトランジスタQ1,Q2及
び第1,第2のダイオードD1,D2から成る。
【0048】すなわち、第1のトランジスタQ1は,例
えば、npn型のバイポーラトランジスタから成り、そ
のコレクタCが第2のダイオードD2のカソードKに接
続される。また、その接続点が第1の端子11Aの一例
となる第1の外部端子Aに接続される。さらに、第1の
トランジスタQ1のエミッタEは第1のダイオードD1
のアノードAに接続され、そのベースBが第2のトラン
ジスタQ2のベースBに接続され、それが第3の端子1
2の一例となる制御端子Cに接続される。
【0049】第1のダイオードD1は第1の保護素子D
1の一実施例であり、例えば、第2の外部端子Bに接続
された電気回路により不本意に波及する逆耐電圧から第
1のトランジスタQ1を保護するものである。該ダイオ
ードD1のカソードKは第2の端子11Bの一例となる
第2の外部端子Bに接続される。
【0050】また、第2のトランジスタQ2は,例えば
、npn型のバイポーラトランジスタから成り、そのコ
レクタCが第2の外部端子Bに接続される。さらに、第
2のトランジスタQ2のエミッタEは第2のダイオード
D2のアノードAに接続される。
【0051】第2のダイオードD2は第2の保護素子D
2の一実施例であり、例えば、第1の外部端子Aに接続
された電気回路により不本意に波及する逆耐電圧から第
2のトランジスタQ2を保護するものである。該ダイオ
ードD2のカソードKが第1の端子11Aの一例となる
第1の外部端子Aに接続される。
【0052】このようにして、本発明の第1の実施例に
係る半導体スイッチング素子によれば、図4(a)〜(
c)に示すように、第1,第2のトランジスタQ1,Q
2及び第1,第2のダイオードD1,D2から成ってい
る。
【0053】このため、第1のトランジスタQ1のベー
スBと第2のトランジスタQ2のベースBとが接続され
た制御端子Cに該トランジスタQ1,Q2のベース・エ
ミッタ電圧VBEを越えるスイッチング制御信号=「H
」レベルが入力されると、第1,第2のトランジスタQ
1,Q2がON動作をする。これにより、第1の外部端
子Aと第2の外部端子Bとの間に接続された電気回路が
閉回路状態となる。
【0054】また、制御端子Cに該トランジスタQ1,
Q2のベース・エミッタ電圧VBE以下のスイッチング
制御信号=「L」レベルが入力されると、第1,第2の
トランジスタQ1,Q2がOFF動作をする。これによ
り、第1の外部端子Aと第2の外部端子Bとの間に接続
された電気回路が開回路状態となる。
【0055】なお、第1のトランジスタQ1のエミッタ
Eと第2の外部端子Bとの間に接続された第1のダイオ
ードD1により、第2の外部端子Bと第1の外部端子A
との間に、該電気回路に生じる逆耐電圧から第1のトラ
ンジスタQ1が保護される。また、第2のトランジスタ
Q2のエミッタEと第1の外部端子Aとの間に接続され
た第2のダイオードD2により、第1の外部端子Aと第
2の外部端子Bとの間に、該電気回路に生じる逆耐電圧
から第2のトランジスタQ2が保護される。
【0056】このことで、トランスファゲートのように
ロジックレベルの制御信号に基づいて電気回路の開閉制
御,例えば、双方向性のデータや信号の通電制御を取り
扱うことが可能となる。このことから従来例のような電
磁コイル部や二接点一回路選択スイッチ部から成る電磁
リレーに比べて、リレー接点による接点バウンスや電磁
ノイズによるチャタリングが回避され、転送データや出
力データの反転(データ化け)等の発生が極力抑制され
る。
【0057】また、第1,第2のトランジスタQ1,Q
2がnpn型のバイポーラトランジスタから成り、それ
が電流駆動されるため、トランスファゲートのようなゲ
ート電圧を発生する補助電源が不要となり、他の電気回
路を駆動する電源電圧と均等化が図れる。
【0058】これにより、電気回路の開閉制御を電磁リ
レー等に依存することなく、当該半導体スイッチング素
子を電子機器に組み入れた場合に、その軽量化及び小型
化を図ることが可能となる。
【0059】(2)第2の実施例の説明図5は、本発明
の第2の実施例に係る半導体スイッチング素子の構成図
を示している。
【0060】図5において、第1の実施例と異なるのは
第2の実施例では第1のトランジスタQ1に第1,第2
のバイアス抵抗R1,R2が接続され、かつ、第2のト
ランジスタQ2に第3,第4のバイアス抵抗R3,R4
が接続されるものである。
【0061】すなわち、第1のトランジスタQ1のエミ
ッタEとベースBとの間に第1のバイアス素子R1の一
例となる第1のバイアス抵抗R1が接続され、かつ、該
第1のトランジスタQ1のベースBと制御端子Cとの間
に第2のバイアス素子R2の一例となる第2のバイアス
抵抗R2が接続される。
【0062】また、第2のトランジスタQ2のエミッタ
EとベースBとの間に第3のバイアス素子R3の一例と
なる第3のバイアス抵抗R3が接続され、かつ、該第2
のトランジスタQ2のベースBと制御端子Cとの間に第
4のバイアス素子R4の一例となる第4のバイアス抵抗
R4が接続される。
【0063】なお、第1,第2のトランジスタQ1,Q
2はnpn型のバイポーラトランジスタから成り、第1
〜第4のバイアス抵抗R1〜R4は、第1,第2のトラ
ンジスタQ1,Q2のバイアス電圧を発生するものであ
る。ここで、第1〜第4のバイアス抵抗R1〜R4はR
2>R1,R4>R3の関係となるように抵抗比を設定
する。
【0064】また、第1のトランジスタQ1のコレクタ
Cは、第2のトランジスタQ2のエミッタEに接続され
て第1の外部端子Aに接続される。さらに、第1のトラ
ンジスタQ1のエミッタEが第2のトランジスタQ2の
コレクタCに接続されて第2の外部端子Bに接続される
。また、第1のトランジスタQ1のベースBと第2のト
ランジスタQ2のベースBとが接続されて制御端子Cに
接続される。
【0065】このようにして、本発明の第2の実施例に
係る第2の半導体スイッチング素子によれば、第1のト
ランジスタQ1に第1,第2のバイアス抵抗R1,R2
が接続され、かつ、第2のトランジスタQ2に第3,第
4のバイアス抵抗R3,R4が接続されている。
【0066】このため、制御端子Cを介して該トランジ
スタQ1,Q2のベースBに、ベース・エミッタ電圧V
BEを越えるスイッチング制御信号=「H」レベルが入
力されると、第1のバイアス抵抗R1と第2のバイアス
抵抗R2との分圧比により定まるバイアス電圧により、
該電気回路に生じる逆耐電圧から第1のトランジスタQ
1のON動作時のベース・エミッタE間が保護される。 また、第3のバイアス抵抗R3と第4のバイアス抵抗R
4との分圧比により定まるバイアス電圧により、同様に
、逆耐電圧から第2のトランジスタQ2のON動作時の
ベース・エミッタE間が保護される。
【0067】なお、第1,第2のトランジスタQ1,Q
2がON動作することにより、第1の半導体スイッチン
グ素子と同様に、第1の外部端子Aと第2の外部端子B
との間に接続された電気回路が閉回路状態となる。また
、制御端子Cを介して該トランジスタQ1,Q2のベー
スBに、ベース・エミッタ電圧VBE以下のスイッチン
グ制御信号=「L」レベルが入力されると、第1,第2
のトランジスタQ1,Q2がOFF動作をする。これに
より、第1の半導体スイッチング素子と同様に、第1の
外部端子Aと第2の外部端子Bとの間に接続された電気
回路が開回路状態となる。
【0068】このことで、第1の半導体スイッチング素
子と同様に、ロジックレベルの制御信号に基づいて電気
回路の開閉制御をすることが可能となる。このことから
従来例のような電磁リレーに比べて、接点バウンスやチ
ャタリングが回避され、転送データや出力データの反転
等の発生が極力抑制される。
【0069】これにより、当該半導体スイッチング素子
をバッテリー駆動方式の携帯用の小型電子機器に使用し
た場合であっても、電磁リレーのように制御信号に基づ
いて開閉することが可能となる。
【0070】(3)第3の実施例の説明図6(a),(
b)は、本発明の第3の実施例に係る半導体スイッチン
グ素子の構成図であり、図6(a)は、その内部等価回
路図を示している。
【0071】図6(a)において、第1,第2の実施例
と異なるのは第3の実施例ではパッケージ23に、例え
ば、10個の単極性スイッチSW1〜SW10 が具備
されるものである。
【0072】すなわち、10個の単極性スイッチSW1
〜SW10 は複数の単位スイッチング手段SW1〜S
Wnの一実施例であり、10組の電気回路の開閉制御を
するものである。なお、単極性スイッチSW1〜SW1
0 が本発明に係る第1,第2の半導体スイッチング素
子から成るものである。
【0073】また、第1の単極性スイッチSW1は一組
の第1の外部端子A1,B1及び第1の制御端子C1に
接続される。第2の単極性スイッチSW2は第2の外部
端子A2,B2及び第2の制御端子C2に接続され、以
下同様に、第10の単極性スイッチSW10 は第10
の外部端子A10,B10及び第10の制御端子C10
に接続される。
【0074】図6(b)は、本発明の第3の実施例に係
る半導体スイッチング素子の外観図である。
【0075】図6(b)において、パッケージ23は同
一格納手段13の一実施例であり、10個の外部端子A
1〜An, 10個の外部端子B1〜Bn及び10個の
制御端子C1〜C10が設けられている。パッケージ2
3は、10個の単極性スイッチSW1〜SW10 が樹
脂等により封止されるモジュール構造を有している。
【0076】なお、パッケージ23に放熱手段を設けて
も良い。これは、開閉制御をする電気回路に小電力,す
なわち、通電電流が多くなる場合に、該半導体スイッチ
ング素子が発熱するため、これを外部に逃がすためであ
る。
【0077】このようにして、本発明の第3の実施例に
係る半導体スイッチング素子によれば、図6に示すよう
にパッケージ23に、10個の単極性スイッチSW1〜
SW10 が具備され、該単極性スイッチSW1〜SW
10 が本発明の実施例に係る第1,第2の半導体スイ
ッチング素子から成っている。
【0078】このため、パッケージ23に設けられた第
1の外部端子A1,B1との間に第1の電気回路が接続
され、第2の外部端子A2,B2との間に第2の電気回
路が接続され、第10の外部端子A10,B10との間
に第10の電気回路が接続された場合に、それぞれの制
御端子C1〜C10に、第1〜第10のスイッチング制
御信号=「H」又は「L」レベルを入力することにより
、10個の単極性スイッチSW1〜SW10 を構成す
る第1又は第2の半導体スイッチング素子が個々にON
/OFF動作をする。
【0079】このことで、10組の電気回路を10個の
電磁リレーにより制御する場合と同様に個々に制御信号
に基づいてそれを個別に開閉制御することが可能となる
【0080】これにより、当該半導体スイッチング素子
をバッテリー駆動方式の携帯用の小型電子機器に使用し
た場合であっても、10個の電気回路を電磁リレーによ
り個々に制御する場合に比べて、その消費電力の低減化
の向上を図ること,及び、その軽量化を図ることが可能
となる。
【0081】なお、本発明の第1〜3の実施例では、第
1,第2のトランジスタQ1,Q2がnpn型のバイポ
ーラトランジスタの場合について説明をしたが、それが
pnp型のバイポーラトランジスタの場合についても同
様な効果が得られる。
【0082】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の第1の半
導体スイッチング素子によれば第1,第2の保護素子が
接続された第1,第2のトランジスタが具備されている
【0083】このため、第1,第2のトランジスタによ
りロジックレベルの制御信号に基づいて第1,第2の外
部端子に接続された電気回路の開閉制御,例えば、双方
向性のデータや信号の通電制御を取り扱うことが可能と
なる。このことで、従来例のような電磁リレーに比べて
、接点バウンスやチャタリングが回避され、精度良い開
閉制御を行うことが可能となる。
【0084】また、本発明の第2の半導体スイッチング
素子によれば、第1のトランジスタに第1,第2のバイ
アス素子が接続され、かつ、第2のトランジスタに第3
,第4のバイアス素子が接続されている。
【0085】このため、第1,第2のバイアス素子の分
圧比により定まるバイアス電圧により、第1,第2の外
部端子に接続された電気回路に生じる逆耐電圧から第1
,第2のトランジスタのON/OFF動作時のベース・
エミッタE間が保護される。このことで、第1の半導体
スイッチング素子と同様に、双方向性のデータや信号の
通電制御を信頼性良く取り扱うことが可能となる。
【0086】また、第1,第2のトランジスタがバイポ
ーラトランジスタから成り、それが電流駆動されるため
、トランスファゲートのようなゲート電圧を発生する補
助電源が不要となり、他の電気回路を駆動する電源電圧
と均等化が図れる。
【0087】また、本発明の第3の半導体スイッチング
素子によれば、同一格納手段に複数の単位スイッチング
手段が具備され、該単位スイッチング手段が本発明に係
る第1,第2の半導体スイッチング素子から成っている
【0088】このため、複数の外部端子間に接続された
複数の電気回路がそれぞれの制御端子に入力されたスイ
ッチング制御信号により、個々にON/OFF動作され
る。このことで、複数の電気回路を複数の電磁リレーに
より制御する場合と同様に個々に制御信号に基づいてそ
れを個別に開閉制御することが可能となる。
【0089】これにより、低消費電力,軽量及び小型の
半導体スイッチング素子が得られることからバッテリー
駆動方式の携帯用の小型電子機器のスイッチング素子や
小電力を供給する電気回路のスイッチング素子として幅
広く適用可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る半導体スイッチング素子の原理図
(その1)である。
【図2】本発明に係る半導体スイッチング素子の原理図
(その2)である。
【図3】本発明に係る半導体スイッチング素子の原理図
(その3)である。
【図4】本発明の第1の実施例に係る半導体スイッチン
グ素子の構成図である。
【図5】本発明の第2の実施例に係る半導体スイッチン
グ素子の構成図である。
【図6】本発明の第3の実施例に係る半導体スイッチン
グ素子の構成図である。
【図7】従来例に係るスイッチング素子の説明図である
【図8】従来例に係る問題点を説明する特性図及び構成
図である。
【符号の説明】
Q1,Q2…第1,第2のトランジスタ(npn型又は
pnp型のバイポーラトランジスタ)、11A,11B
…第1,第2の端子、 12…第3の端子、 D1,D2…第1,第2の保護素子、 R1〜R4…第1〜第4のバイアス素子、13…同一格
納手段、 SW1〜SWn…第1〜第nの単位スイッチング手段、
A1〜An,B1〜Bn…第1〜第nの外部端子、C1
〜Cn…第1〜第nの制御端子。

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  第1,第2のトランジスタ(Q1,Q
    2)が具備され、前記第1のトランジスタ(Q1)のコ
    レクタ(C)が第2のトランジスタ(Q2)のエミッタ
    (E)に接続されて第1の端子(11A)に接続され、
    前記第1のトランジスタ(Q1)のエミッタ(E)が第
    2のトランジスタ(Q2)のコレクタ(C)に接続され
    て第2の端子(11B)に接続され、前記第1のトラン
    ジスタ(Q1)のベース(B)と第2のトランジスタ(
    Q2)のベース(B)とが接続されて第3の端子(12
    )に接続されていることを特徴とする半導体スイッチン
    グ素子。
  2. 【請求項2】  請求項1記載の半導体スイッチング素
    子において、前記第1のトランジスタ(Q1)のエミッ
    タ(E)と第2の端子(11B)との間に第1の保護素
    子(D1)が接続され、前記第2のトランジスタ(Q2
    )のエミッタ(E)と第1の端子(11A)との間に第
    2の保護素子(D2)が接続されることを特徴とする半
    導体スイッチング素子。
  3. 【請求項3】  請求項1記載の半導体スイッチング素
    子において、前記第1のトランジスタ(Q1)のエミッ
    タ(E)とベース(B)との間に第1のバイアス素子(
    R1)が接続され、かつ、該第1のトランジスタ(Q1
    )のベース(B)と第3の端子(12)との間に第2の
    バイアス素子(R2)が接続され、前記第2のトランジ
    スタ(Q2)のエミッタ(E)とベース(B)との間に
    第3のバイアス素子(R3)が接続され、かつ、該第2
    のトランジスタ(Q2)のベース(B)と第3の端子(
    12)との間に第4のバイアス素子(R4)が接続され
    ることを特徴とする半導体スイッチング素子。
  4. 【請求項4】  請求項1記載の半導体スイッチング素
    子において、前記第1,第2のトランジスタ(Q1,Q
    2)がnpn型又はpnp型のバイポーラトランジスタ
    から成ることを特徴とする半導体スイッチング素子。
  5. 【請求項5】  一以上の第1の外部端子(A1〜An
    ),第2の外部端子(B1〜Bn)及び制御端子(C1
    〜Cn)が設けられた同一格納手段(13)と、前記第
    1の外部端子(A1〜An)と第2の外部端子(B1〜
    Bn)とに接続された電気回路(14)の開閉をする単
    位スイッチング手段(SW1〜SWn)とが具備され、
    前記単位スイッチング手段(SW1〜SWn)が請求項
    1記載の半導体スイッチング素子から成ることを特徴と
    する半導体スイッチング素子。
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