JPH0434770A - ディスク装置の試験方式 - Google Patents
ディスク装置の試験方式Info
- Publication number
- JPH0434770A JPH0434770A JP14188490A JP14188490A JPH0434770A JP H0434770 A JPH0434770 A JP H0434770A JP 14188490 A JP14188490 A JP 14188490A JP 14188490 A JP14188490 A JP 14188490A JP H0434770 A JPH0434770 A JP H0434770A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test
- disk
- index signal
- signal
- counter
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Indexing, Searching, Synchronizing, And The Amount Of Synchronization Travel Of Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
ディスクの各トラックにテストデータを書込んで試験を
行なうディスク装置の試験方式に関し、インデックス信
号を持つ持ち時間が生ぜず、試験時間を短縮することを
目的とし、 ディスクの各トラックのテストデータを書込んで試験を
行なうディスク装置の試験方式に１１３いて、ディスク
の１回転毎に発生するインデックス信号でリセットされ
、該インデックス信号より充分に高周波数のリファレン
スクロックをカウントするカウンタと、試験スタート信
号の入来時に該カウンタのカウント値を格納するレジス
タと、該カウンタのカウント値を該レジスタに格納され
たカウント値と比較して、一致したとき擬似インデック
ス信号を生成する比較回路とを有し、該試験スタート信
号の入来時に生成された擬似インデックス信号から該デ
ィスクの１回転後に擬似インデックス信号が生成される
までの間に該ディスクの１トラックにテストデータを書
込み試験を行なうよう構成する。
行なうディスク装置の試験方式に関し、インデックス信
号を持つ持ち時間が生ぜず、試験時間を短縮することを
目的とし、 ディスクの各トラックのテストデータを書込んで試験を
行なうディスク装置の試験方式に１１３いて、ディスク
の１回転毎に発生するインデックス信号でリセットされ
、該インデックス信号より充分に高周波数のリファレン
スクロックをカウントするカウンタと、試験スタート信
号の入来時に該カウンタのカウント値を格納するレジス
タと、該カウンタのカウント値を該レジスタに格納され
たカウント値と比較して、一致したとき擬似インデック
ス信号を生成する比較回路とを有し、該試験スタート信
号の入来時に生成された擬似インデックス信号から該デ
ィスクの１回転後に擬似インデックス信号が生成される
までの間に該ディスクの１トラックにテストデータを書
込み試験を行なうよう構成する。
本発明はディスク装置の試験方式に関し、ディスクの各
トラックにテストデータを書込んで試験を行なうディス
ク装置の試験方式に関する。
トラックにテストデータを書込んで試験を行なうディス
ク装置の試験方式に関する。
磁気ディスク装置、光デイスク装置等のディスク装置は
製造時にディスクの各トラックにテストデータを書込ん
で試験を行なっており、この試験時間を短縮することが
要望されている。
製造時にディスクの各トラックにテストデータを書込ん
で試験を行なっており、この試験時間を短縮することが
要望されている。
従来のディスク装置の試験を行なう場合、試験するトラ
ック位置までヘッドを移動させて試験スタート信号を入
力した後、ディスク１回転毎に発生するインデックスの
入来を待ち、インデックス信号の入来によりテストデー
タを書込んでいる。
ック位置までヘッドを移動させて試験スタート信号を入
力した後、ディスク１回転毎に発生するインデックスの
入来を待ち、インデックス信号の入来によりテストデー
タを書込んでいる。
〔発明が解決しようとする課題〕
従来においてはヘッドが試験トラック値まで移動を完了
した後インデック信号が入来するまでの持ち時間が生じ
、試験を行なうべきトラック数が多くなるにつれロスタ
イムが増大し、ディスク装置の試験に多大の時間を必要
とするという問題があった。
した後インデック信号が入来するまでの持ち時間が生じ
、試験を行なうべきトラック数が多くなるにつれロスタ
イムが増大し、ディスク装置の試験に多大の時間を必要
とするという問題があった。
本発明は上記の点に鑑みなされたもので、インデックス
信号を待つ持ち時間が生ぜず、試験時間を短縮するディ
スク装置の試験方式を提供することを目的とする。
信号を待つ持ち時間が生ぜず、試験時間を短縮するディ
スク装置の試験方式を提供することを目的とする。
本発明のディスク装置の試験方式は、
ディスクの各トラックのテストデータを偶込んで試験を
行なうディスク装置の試験り式において、ディスクの１
回転毎に発生するインデックス信号でリセットされ、イ
ンデックス信号より充分に高周波数のリファレンスクロ
ックをカウントするカウンタと、 試験スタート信号の入来時にカウンタのカウント値を格
納するレジスタと、カウンタのカウント値をレジスタに
格納されたカウント値と比較して、一致したとき擬似イ
ンデックス信号を生成する比較回路とを有し、 試験スタート信号の入来時に生成された擬似インデック
ス信号から該ディスクの１回転後に擬似インデックス信
号が生成されるまでの間にディスクの１トラックにテス
トデータを書込み試験を行なう。
行なうディスク装置の試験り式において、ディスクの１
回転毎に発生するインデックス信号でリセットされ、イ
ンデックス信号より充分に高周波数のリファレンスクロ
ックをカウントするカウンタと、 試験スタート信号の入来時にカウンタのカウント値を格
納するレジスタと、カウンタのカウント値をレジスタに
格納されたカウント値と比較して、一致したとき擬似イ
ンデックス信号を生成する比較回路とを有し、 試験スタート信号の入来時に生成された擬似インデック
ス信号から該ディスクの１回転後に擬似インデックス信
号が生成されるまでの間にディスクの１トラックにテス
トデータを書込み試験を行なう。
本発明においては、試験スタート信号の入来時に擬似イ
ンデックス信号を生成し、その後インデックス信号と試
験スタート信号の位相差をリファレンスクロックをカウ
ントして得て、インデックス信号に入来後上記位相差を
もって擬似インデックス信号を生成して両擬似インデッ
クス信号の間をディスク１回転としてそのトラックにテ
ストデータを書込むため、試験スタート信号が入来した
後すぐにテストデータの書込みが開始されて持ち時間が
発生せず試験時間が短かくて済む。
ンデックス信号を生成し、その後インデックス信号と試
験スタート信号の位相差をリファレンスクロックをカウ
ントして得て、インデックス信号に入来後上記位相差を
もって擬似インデックス信号を生成して両擬似インデッ
クス信号の間をディスク１回転としてそのトラックにテ
ストデータを書込むため、試験スタート信号が入来した
後すぐにテストデータの書込みが開始されて持ち時間が
発生せず試験時間が短かくて済む。
第１図は本発明方式の一実施例のブロック図を示す。
ディスク装置は回転軸に複数のディスクを固定して共に
回転させるもので、そのうちのディスク１面（サーボ面
）にはヘッドのトラッキングサーボを行なうためにトラ
ッキング信号が記録されており、このサーボ面には１回
転につき数千パルスのリファレンスクロック信号及び１
回転につき１パルスのインデックス信号が記録されてい
る。
回転させるもので、そのうちのディスク１面（サーボ面
）にはヘッドのトラッキングサーボを行なうためにトラ
ッキング信号が記録されており、このサーボ面には１回
転につき数千パルスのリファレンスクロック信号及び１
回転につき１パルスのインデックス信号が記録されてい
る。
第１図中、端子１０にはディスクのサーボ面より再生さ
れた第２図（Ａ）に示すリファレンスクロックが入来し
てカウンタ１２のクロック端子ＣＬＫに供給され、また
端子１１にはサーボ面より再生された第２図（Ｂ）に示
すインデックス信号が入来してカウンタ１２のリセット
端子Ｒに供給される。カウンタ１２はインデックス信号
の立上がりでリセットされた後リファレンス信号をカウ
ントしてそのカウント値をレジスタ１３及び比較回路１
４に供給する。
れた第２図（Ａ）に示すリファレンスクロックが入来し
てカウンタ１２のクロック端子ＣＬＫに供給され、また
端子１１にはサーボ面より再生された第２図（Ｂ）に示
すインデックス信号が入来してカウンタ１２のリセット
端子Ｒに供給される。カウンタ１２はインデックス信号
の立上がりでリセットされた後リファレンス信号をカウ
ントしてそのカウント値をレジスタ１３及び比較回路１
４に供給する。
レジスタ１３はテスト制御回路１５から第２図（Ｂ）に
示す試験スタート信号を供給されると、スタート信号の
立上がり時にカウンタ１２の出力カウント値を格納し、
格納したカウント値を比較回路１４に供給する。比較回
路１４はカウンタ１２の出力カウント値をレジスタ１３
よりのカウント値と比較して、一致したとき第２図（Ｄ
）に示す擬似インデックス信号を生成してテスト制御回
路１５に供給する。
示す試験スタート信号を供給されると、スタート信号の
立上がり時にカウンタ１２の出力カウント値を格納し、
格納したカウント値を比較回路１４に供給する。比較回
路１４はカウンタ１２の出力カウント値をレジスタ１３
よりのカウント値と比較して、一致したとき第２図（Ｄ
）に示す擬似インデックス信号を生成してテスト制御回
路１５に供給する。
第３図はテスト制御回路１５が実行する試験処理のフロ
ーチャートを示す。
ーチャートを示す。
同図中、まずヘッドを試験トラック位置まで移送しくス
テップ２０）、移送が完了すると試験スタート信号を出
力する（ステップ２１）。この試験スタート信号によっ
て擬似インデックス信号の最初のパルスが入来するのを
判別した！（ステップ２２）、次の擬似インデックス信
号のパルスが入来するまでテストデータの書込みを繰返
して行ないくステップ２３）、次の擬似インデックス信
号のパルスが入来するとくステップ２４〉、次のトラッ
クにテストデータを書込むためにステップ２０に移行す
る。
テップ２０）、移送が完了すると試験スタート信号を出
力する（ステップ２１）。この試験スタート信号によっ
て擬似インデックス信号の最初のパルスが入来するのを
判別した！（ステップ２２）、次の擬似インデックス信
号のパルスが入来するまでテストデータの書込みを繰返
して行ないくステップ２３）、次の擬似インデックス信
号のパルスが入来するとくステップ２４〉、次のトラッ
クにテストデータを書込むためにステップ２０に移行す
る。
このように、試験スタート信号の入来時に擬似インデッ
クス信号を生成し、その後インデックス信号と試験スタ
ート信号の位相差をリファレンスクロックをカウントし
て得て、インデックス信号に入来後上記位相差をもって
擬似インデックス信号を生成して両擬似インデックス信
号の間をディスク１回転としてそのトラックにテストデ
ータを書込むため、試験スタート信号が入来した後すぐ
にテストデータの書込みが開始されて持ち時間が発生せ
ず試験時間が短かくて済む。
クス信号を生成し、その後インデックス信号と試験スタ
ート信号の位相差をリファレンスクロックをカウントし
て得て、インデックス信号に入来後上記位相差をもって
擬似インデックス信号を生成して両擬似インデックス信
号の間をディスク１回転としてそのトラックにテストデ
ータを書込むため、試験スタート信号が入来した後すぐ
にテストデータの書込みが開始されて持ち時間が発生せ
ず試験時間が短かくて済む。
（発明の効果〕
上述の如く、本発明のディスク装置の試験方式によれば
、試験スタート信号の入来後インデックス信号の入来を
持つことな（、すぐにテストデータ書込みを開始でき、
持ち時間が発生せず試験時間を短縮でき、実用上きわめ
て有用である。
、試験スタート信号の入来後インデックス信号の入来を
持つことな（、すぐにテストデータ書込みを開始でき、
持ち時間が発生せず試験時間を短縮でき、実用上きわめ
て有用である。
第１図は本発明方式の一実施例のブロック図、第２図は
第１図の回路各部の信号タイミングチャート、 第３図は試験処理のフローチャートである。 図において、 １２はカウンタ、 １３はレジスタ、 １４は比較回路、 １５はテスト制御回路、 ２０〜２４はステップ をホす。 本発明方式のブロック図 第１図
第１図の回路各部の信号タイミングチャート、 第３図は試験処理のフローチャートである。 図において、 １２はカウンタ、 １３はレジスタ、 １４は比較回路、 １５はテスト制御回路、 ２０〜２４はステップ をホす。 本発明方式のブロック図 第１図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 ディスクの各トラックのテストデータを書込んで試験を
行なうディスク装置の試験方式において、ディスクの１
回転毎に発生するインデックス信号でリセットされ、該
インデックス信号より充分に高周波数のリフアレンスク
ロックをカウントするカウンタ（１２）と、 試験スタート信号の入来時に該カウンタ（１２）のカウ
ント値を格納するレジスタ（１３）と、該カウンタ（１
２）のカウント値を該レジスタ（１３）に格納されたカ
ウント値と比較して、一致したとき擬似インデックス信
号を生成する比較回路（１４）とを有し、 該試験スタート信号の入来時に生成された擬似インデッ
クス信号から該ディスクの１回転後に擬似インデックス
信号が生成されるまでの間に該ディスクの１トラックに
テストデータを書込み試験を行なうことを特徴とするデ
ィスク装置の試験方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14188490A JPH0434770A (ja) | 1990-05-31 | 1990-05-31 | ディスク装置の試験方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14188490A JPH0434770A (ja) | 1990-05-31 | 1990-05-31 | ディスク装置の試験方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0434770A true JPH0434770A (ja) | 1992-02-05 |
Family
ID=15302405
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14188490A Pending JPH0434770A (ja) | 1990-05-31 | 1990-05-31 | ディスク装置の試験方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0434770A (ja) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56159841A (en) * | 1980-05-10 | 1981-12-09 | Hitachi Electronics Eng Co Ltd | Magnetic disc medium and its defect inspection device |
| JPH01315069A (ja) * | 1988-06-15 | 1989-12-20 | Mitsubishi Electric Corp | ディスク制御装置 |
-
1990
- 1990-05-31 JP JP14188490A patent/JPH0434770A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56159841A (en) * | 1980-05-10 | 1981-12-09 | Hitachi Electronics Eng Co Ltd | Magnetic disc medium and its defect inspection device |
| JPH01315069A (ja) * | 1988-06-15 | 1989-12-20 | Mitsubishi Electric Corp | ディスク制御装置 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR0176651B1 (ko) | 서보 어드레스 마크 자동검출 및 서보타이밍 보상회로 | |
| US5519546A (en) | Apparatus for, and methods of, recording signals in tracks on a memory member without using reference indices such as clock signals | |
| US4498158A (en) | Address data searching method for data recording medium reproducing device | |
| JPH0620393A (ja) | ディスク駆動システム | |
| JP3042790B2 (ja) | 磁気ディスク装置及びそのデータ書き込み／読み出し制御方法 | |
| JP2000067537A (ja) | 磁気ディスク装置 | |
| JPH0434770A (ja) | ディスク装置の試験方式 | |
| JP2000163898A (ja) | サーボ情報書き込み装置 | |
| JPH05210914A (ja) | ディスク・ファイルのための適応クロック制御の方法及び装置 | |
| JPH031370A (ja) | 磁気デイスク装置の書込み・読出し制御回路 | |
| JP3096798B2 (ja) | ディジタル信号再生装置 | |
| JPH0224874A (ja) | 磁気記録装置 | |
| JPH05166314A (ja) | 高速サーボ信号書き込み方法 | |
| JPH0547103A (ja) | 複合回転数制御基準クロツク生成装置 | |
| JPS63108568A (ja) | 磁気記録再生装置 | |
| JP3277411B2 (ja) | タイミング信号発生装置 | |
| JP2799706B2 (ja) | 位相比較回路 | |
| JP2739760B2 (ja) | ディスク・エンクロージャ・テスト装置 | |
| JP2774278B2 (ja) | 光ディスク装置のセクタマーク検出装置 | |
| JPH04157668A (ja) | 直接アクセス装置の制御方式 | |
| JPH11353807A (ja) | 磁気ディスク装置 | |
| JPS58171768A (ja) | 試験用サ−ボ情報書き込み方法 | |
| JPS63265592A (ja) | ステツピングモ−タの駆動制御方式 | |
| JPS6058539B2 (ja) | 磁気テ−プ読取装置の初期同期デ−タ読取装置 | |
| JPH011164A (ja) | フロッピ−ディスクドライブ装置 |