JPH0435568A - 画像入力装置の読取り誤差検出方法 - Google Patents
画像入力装置の読取り誤差検出方法Info
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- JPH0435568A JPH0435568A JP2142140A JP14214090A JPH0435568A JP H0435568 A JPH0435568 A JP H0435568A JP 2142140 A JP2142140 A JP 2142140A JP 14214090 A JP14214090 A JP 14214090A JP H0435568 A JPH0435568 A JP H0435568A
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- coil
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 5
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明は、画像入力装置の読取り誤差検出方法に関する
ものである。
ものである。
［従来の技術］
従来の画像入力方法においては、表面に均一な磁束密度
の磁界を発生するタブレット盤上にラインセンサと複数
のピックアップコイルを有するハンドスキャナを載せ、
各ピックアップコイルによる磁界の変化により、上記タ
ブレット盤上の各ピックアップコイルの位置の座標を読
み取り、これらの座標をそのまま用いて上記ラインセン
サの位置を算出している。
の磁界を発生するタブレット盤上にラインセンサと複数
のピックアップコイルを有するハンドスキャナを載せ、
各ピックアップコイルによる磁界の変化により、上記タ
ブレット盤上の各ピックアップコイルの位置の座標を読
み取り、これらの座標をそのまま用いて上記ラインセン
サの位置を算出している。
［解決しようとする課題］
上記従来のハンドスキャナでは、これに内蔵されている
ラインセンサ等を構成している金属部品によってその周
辺の上記タブレット盤上の磁束が乱れてしまうことが往
々にしである。そのため、ハンドスキャナの小型化等の
ためにピックアップコイルとラインスキャナを接近させ
ると、上記磁束密度の乱れがピックアップコイルに影響
を与え、その読取り座標にずれが生じ、ピックアップコ
イルの正確な中心位置が算出されない。上記従来の画像
入力方法では、このピックアップコイルの読取り誤差を
考慮していないため、ラインセンサの正確な位置が算出
できず、入力された画像に位置ずれが生じる。
ラインセンサ等を構成している金属部品によってその周
辺の上記タブレット盤上の磁束が乱れてしまうことが往
々にしである。そのため、ハンドスキャナの小型化等の
ためにピックアップコイルとラインスキャナを接近させ
ると、上記磁束密度の乱れがピックアップコイルに影響
を与え、その読取り座標にずれが生じ、ピックアップコ
イルの正確な中心位置が算出されない。上記従来の画像
入力方法では、このピックアップコイルの読取り誤差を
考慮していないため、ラインセンサの正確な位置が算出
できず、入力された画像に位置ずれが生じる。
本発明は、正確な画像入力を行なうための画像入力装置
の読取り誤差検出方法を提供することを目的としている
。
の読取り誤差検出方法を提供することを目的としている
。
［課題を解決するための手段］
本発明は、タブレット盤と、このタブレット盤上を走査
して画像を読み取るラインセンサと、このラインセンサ
の上記タブレット盤上の位置を検出するための複数のピ
ックアップコイルと、を具備する画像入力装置を用いて
、上記タブレット盤上において、上記複数のピックアッ
プコイルによって検出された各座標に基づいて上記ライ
ンセンサの位置を検出する画像入力方法において、上記
複数のピックアップコイルのうちの１つの中心位置を上
記タブレット盤上に固定して第１の座標を検出し、つぎ
にこのピックアップコイルの中心位置を中心として上記
画像読取り装置を所定の角度回転させた後節２の座標を
検出し、上記第１の座標と第２の座標に基づいて、上記
ピックアップコイルの中心位置とこのピックアップコイ
ルによる実際の読取り座標との位置関係を算出し、他の
ピックアップフィルについても上記と同様の動作によっ
てその中心位置と実際の読取り座標との位置関係を算出
し、これらの算出値に基づいて上記ピックアップコイル
による読取り座標の誤差を検出することを特徴とする画
像入力装置の読取り誤差検出方法により、上記課題を解
決するものである。
して画像を読み取るラインセンサと、このラインセンサ
の上記タブレット盤上の位置を検出するための複数のピ
ックアップコイルと、を具備する画像入力装置を用いて
、上記タブレット盤上において、上記複数のピックアッ
プコイルによって検出された各座標に基づいて上記ライ
ンセンサの位置を検出する画像入力方法において、上記
複数のピックアップコイルのうちの１つの中心位置を上
記タブレット盤上に固定して第１の座標を検出し、つぎ
にこのピックアップコイルの中心位置を中心として上記
画像読取り装置を所定の角度回転させた後節２の座標を
検出し、上記第１の座標と第２の座標に基づいて、上記
ピックアップコイルの中心位置とこのピックアップコイ
ルによる実際の読取り座標との位置関係を算出し、他の
ピックアップフィルについても上記と同様の動作によっ
てその中心位置と実際の読取り座標との位置関係を算出
し、これらの算出値に基づいて上記ピックアップコイル
による読取り座標の誤差を検出することを特徴とする画
像入力装置の読取り誤差検出方法により、上記課題を解
決するものである。
［実施例］
以下、本発明の一実施例を図面に基づいて説明する。
第１図は、画像入力装置の構成を示したもので、同図に
おいて、１はタブレット盤であり、表面上に均一な磁束
密度の磁界を発生する。２は画像情報を読み取るライン
センサ、３はＡ／Ｄ変換回路、４ａおよび４ｂはタブレ
ット盤１上のラインセンサ２の位置を検圧するためのピ
ックアップコイルである。５ａおよび５ｂは増幅回路で
あり、２〜５ｂによってハンドスキャナ６が構成される
。７ａはタブレット盤１上をＸ方向に走査してピックア
ップコイル４ａおよび４ｂの各Ｘ座標を検知するための
Ｘ方向走査回路、７ｂはタブレット盤１上をｙ方向に走
査して各ピックアップコイル４ａおよび４ｂの各Ｘ座標
を検知するためのＸ方向走査回路、８はピックアップコ
イル４ａおよび４ｂの位置およびラインセンサ２の位置
の算出等の制御を行なう制御回路、９はラインセンサ２
て読み取った画像データおよびその座標を記憶するメモ
リ、１０はメモリ９の記憶内容に基づいて画像を表示す
る表示部である。
おいて、１はタブレット盤であり、表面上に均一な磁束
密度の磁界を発生する。２は画像情報を読み取るライン
センサ、３はＡ／Ｄ変換回路、４ａおよび４ｂはタブレ
ット盤１上のラインセンサ２の位置を検圧するためのピ
ックアップコイルである。５ａおよび５ｂは増幅回路で
あり、２〜５ｂによってハンドスキャナ６が構成される
。７ａはタブレット盤１上をＸ方向に走査してピックア
ップコイル４ａおよび４ｂの各Ｘ座標を検知するための
Ｘ方向走査回路、７ｂはタブレット盤１上をｙ方向に走
査して各ピックアップコイル４ａおよび４ｂの各Ｘ座標
を検知するためのＸ方向走査回路、８はピックアップコ
イル４ａおよび４ｂの位置およびラインセンサ２の位置
の算出等の制御を行なう制御回路、９はラインセンサ２
て読み取った画像データおよびその座標を記憶するメモ
リ、１０はメモリ９の記憶内容に基づいて画像を表示す
る表示部である。
第２図は、本例におけるハンドスキャナ６を構成してい
るピックアップコイルとラインセンサの配置を示したも
のであり、同図において、２はラインセンサ、４ａおよ
び４ｂはピックアップコイルである。
るピックアップコイルとラインセンサの配置を示したも
のであり、同図において、２はラインセンサ、４ａおよ
び４ｂはピックアップコイルである。
つぎに、第３図を参照しながら、ピックアップコイル４
ａおよび４ｂによる座標の読取り誤差検出動作について
説明する。
ａおよび４ｂによる座標の読取り誤差検出動作について
説明する。
本例において、ラインセンサ２を構成している金属部品
によってタブレット盤１上の均一磁束密度が乱れ、これ
がピックアップコイル４ａおよび４ｂに影響を与え、そ
の各中心位置からずれた座標が読み取られるものとする
。
によってタブレット盤１上の均一磁束密度が乱れ、これ
がピックアップコイル４ａおよび４ｂに影響を与え、そ
の各中心位置からずれた座標が読み取られるものとする
。
第３図において、点ａはピックアップコイル４ａの中心
位置の点であり、その座標を（ａ、ａ、）とする。点す
はピックアップコイル４ｂの中心位置の点であり、その
座標を（ｂ、ｂ）とｙ する。点ａ゛はピックアップコイル４ａによって実際に
読み取られる点であり、その座標を（ａ、ａ′ ）とす
る。点ｂ′はピックアップコイｘ ｙ ル４ｂによって実際に読み取られる点であり、その座標
を（ｂ＝ 、ｂ−） とする。ｒ は点ａｘ
ｙ ａと点ａ′
との距離、ｒｂは点すと点ｂ′との距離である。θ は
点ａと点ａ゛とを結んだ直線ａ−８′と直線ｙ−ａ−と
のなす角度、θｂは点ｂと点ｂ゛とを結んだ直線ｂ−ｂ
−と直線ｙ−ｂ −８とのなす角度である。ｒ とθ
およびｒｂとａ ａ θ を求めれば、読取り座標（ａ−、ａ−）ｂ
ｘ ｙおよび（ｂ’−、
ｂ−）から各ビックアツブコｙ イルの中心位置の座標（ａ、ａ）、（ｂ 。
位置の点であり、その座標を（ａ、ａ、）とする。点す
はピックアップコイル４ｂの中心位置の点であり、その
座標を（ｂ、ｂ）とｙ する。点ａ゛はピックアップコイル４ａによって実際に
読み取られる点であり、その座標を（ａ、ａ′ ）とす
る。点ｂ′はピックアップコイｘ ｙ ル４ｂによって実際に読み取られる点であり、その座標
を（ｂ＝ 、ｂ−） とする。ｒ は点ａｘ
ｙ ａと点ａ′
との距離、ｒｂは点すと点ｂ′との距離である。θ は
点ａと点ａ゛とを結んだ直線ａ−８′と直線ｙ−ａ−と
のなす角度、θｂは点ｂと点ｂ゛とを結んだ直線ｂ−ｂ
−と直線ｙ−ｂ −８とのなす角度である。ｒ とθ
およびｒｂとａ ａ θ を求めれば、読取り座標（ａ−、ａ−）ｂ
ｘ ｙおよび（ｂ’−、
ｂ−）から各ビックアツブコｙ イルの中心位置の座標（ａ、ａ）、（ｂ 。
ｘ ｙ ｘｂ ）を算出
することができる。
することができる。
そこでまず、点ａと点ａ′との距離ｒ の算出動作を説
明する。
明する。
まず、ハンドスキャナ６をタブレット盤１上に載置し、
Ｘ方向走査回路７ａおよびｙ方向走査回路７ｂによって
タブレット盤１を走査し、ピックアップコイル４ａの座
標を読み取る。このとき、上記磁界の乱れにより中心点
ａからずれた点ａの座標（ａ−、ａ−）が読み取られる
。つぎｙ に、ピックアップコイル４ａの中心点ａを中心としてハ
ンドスキャナ６を１８０’回転させて、上記と同様にし
てピックアップコイル４ａの座標を読み取る。このとき
、点ａ”の座標（ａ” 、 ａｘ 、）が読み取られる。すなわち、点ａ゛と点ａ°とは点
ａを中心とした点対称の位置にある。よって、点ａ′の
座標（ａ 、ａ−）と点ａｙ の座標（ａ” 、ａ’” ）がわかれば、この２点ｙ 間の距離を２分の１にすることにより、点ａと点ａ′と
の距離ｒ が算出される。
Ｘ方向走査回路７ａおよびｙ方向走査回路７ｂによって
タブレット盤１を走査し、ピックアップコイル４ａの座
標を読み取る。このとき、上記磁界の乱れにより中心点
ａからずれた点ａの座標（ａ−、ａ−）が読み取られる
。つぎｙ に、ピックアップコイル４ａの中心点ａを中心としてハ
ンドスキャナ６を１８０’回転させて、上記と同様にし
てピックアップコイル４ａの座標を読み取る。このとき
、点ａ”の座標（ａ” 、 ａｘ 、）が読み取られる。すなわち、点ａ゛と点ａ°とは点
ａを中心とした点対称の位置にある。よって、点ａ′の
座標（ａ 、ａ−）と点ａｙ の座標（ａ” 、ａ’” ）がわかれば、この２点ｙ 間の距離を２分の１にすることにより、点ａと点ａ′と
の距離ｒ が算出される。
つぎに、直線ａ−ａ−と直線ｙ−ａ とのなす角度θ
の算出動作を説明する。
の算出動作を説明する。
点ａ′と点ｂ″を結んだ直線ａ−−ｂ−と直線ａ−ａ−
とのなす角度λはハンドスキャナ６の向きに拘らず常に
一定なので、予めλを求めておけは直線ａ−−ｂ−と直
線ｙ−ａ″ とのなす角度μを求めるだけで、θ を算
出することができる。
とのなす角度λはハンドスキャナ６の向きに拘らず常に
一定なので、予めλを求めておけは直線ａ−−ｂ−と直
線ｙ−ａ″ とのなす角度μを求めるだけで、θ を算
出することができる。
λの算出方法を説明する。まず、上記のようにピックア
ップコイル４ａによって点ａ′と点ａの座標が読み取れ
るので、これに基づいて直線ａａ′の傾きに−（ａ −
ａ°’ｙ）／（ａ ｘａｏｏ ）を算出する。二〇ｋ
がわかれば、直線ａ−ａ−と直線ｙ−ａ−とのなす角度
θ は算ａ 出回能である。また、ピックアップコイル４ｂによって
点ｂ′の座標が読み取れるので、これに基づいて直線ａ
”−ｂ−の傾き１−Ｃｂ” ａ−ｙ）／（ｂ−−ａ
−）を算圧し、この１に基Ｘ Ｘ づいてμを算出する。λ−θ −μなので、λが求めら
れる。
ップコイル４ａによって点ａ′と点ａの座標が読み取れ
るので、これに基づいて直線ａａ′の傾きに−（ａ −
ａ°’ｙ）／（ａ ｘａｏｏ ）を算出する。二〇ｋ
がわかれば、直線ａ−ａ−と直線ｙ−ａ−とのなす角度
θ は算ａ 出回能である。また、ピックアップコイル４ｂによって
点ｂ′の座標が読み取れるので、これに基づいて直線ａ
”−ｂ−の傾き１−Ｃｂ” ａ−ｙ）／（ｂ−−ａ
−）を算圧し、この１に基Ｘ Ｘ づいてμを算出する。λ−θ −μなので、λが求めら
れる。
このようにしてλを求めておけば、ハンドスキャナ６の
向きを変えても、点ａ′と点ｂ′の座標を読み取って、
μを求めるだけでθ を算出することができる。
向きを変えても、点ａ′と点ｂ′の座標を読み取って、
μを求めるだけでθ を算出することができる。
以上のようにして、点ａと点ａ゛との距離ｒ１直線ａ−
ａ−と直線ｙ−ａ とのなす角度θ がｘ
ａ算出、すなわちピック
アップコイル４ａの読取り誤差が検出される。
ａ−と直線ｙ−ａ とのなす角度θ がｘ
ａ算出、すなわちピック
アップコイル４ａの読取り誤差が検出される。
つぎに、上記動作と同様にして、ピックアップコイル４
ｂによって読み取った点ｂ′と中心点すとの距Ｍｒ
％点すとｂ′とを結んだ直線ｂ−ｂ′と直線ｙ−ｂ −
とのなす角度θ、を算出、すなわちピックアップコイル
４ｂの読取り誤差を検出する。
ｂによって読み取った点ｂ′と中心点すとの距Ｍｒ
％点すとｂ′とを結んだ直線ｂ−ｂ′と直線ｙ−ｂ −
とのなす角度θ、を算出、すなわちピックアップコイル
４ｂの読取り誤差を検出する。
以上のようにして求められたピックアップコイル４ａお
よび４ｂの読取り誤差により、各読取り座標を補正し、
正しい座標を求めることができる。
よび４ｂの読取り誤差により、各読取り座標を補正し、
正しい座標を求めることができる。
すなわち点ａの座標（ａ、ａ）は、ａ −ａｘ
ｙ ｘ−ｒ ｃｏｓθ 、
−ｒ ８１ ｘ ａ ａｙ
ｙ ａｎθ となり、点すの座
標（ｂ、ｂ）は、ｂａ
ｘ ｙ＝ｂ−−ｒ
ｃｏｓθ 、ｂ −ｂ−−ｒｘ ｘ ｂ
ｂ Ｙ Ｙｂ５ｉｎθｂとなる。
ｙ ｘ−ｒ ｃｏｓθ 、
−ｒ ８１ ｘ ａ ａｙ
ｙ ａｎθ となり、点すの座
標（ｂ、ｂ）は、ｂａ
ｘ ｙ＝ｂ−−ｒ
ｃｏｓθ 、ｂ −ｂ−−ｒｘ ｘ ｂ
ｂ Ｙ Ｙｂ５ｉｎθｂとなる。
そして、この正しい座標に基づいてラインセンサ２の位
置を算出し、画像データとともにメモリ９に記憶する。
置を算出し、画像データとともにメモリ９に記憶する。
なお、上記実施例においては、点ａ′の座標を読み取っ
た後、点ａを中心にしてハンドスキャナ６を１８０’回
転させて点ａ”の座標を読み取ったが、これに限らず、
回転角度は任意に設定してよく、その場合もｒ および
ｒｂを算出することは可能である。
た後、点ａを中心にしてハンドスキャナ６を１８０’回
転させて点ａ”の座標を読み取ったが、これに限らず、
回転角度は任意に設定してよく、その場合もｒ および
ｒｂを算出することは可能である。
また、上記実施例においては、ピックアップコイルの数
を２個としたが、これに限らず、任意の数としてよい。
を２個としたが、これに限らず、任意の数としてよい。
［効果］
本発明によれば、画像人力装置のピックアップコイルの
読取り誤差を検出することができ、これによって読取り
座標を補正し、正しい画像情報を得ることができる。ま
た、ピックアップコイルとラインセンサをより接近させ
て配置できるので、装置の小型化およびコストダウンを
実現できる。
読取り誤差を検出することができ、これによって読取り
座標を補正し、正しい画像情報を得ることができる。ま
た、ピックアップコイルとラインセンサをより接近させ
て配置できるので、装置の小型化およびコストダウンを
実現できる。
【図面の簡単な説明】
第１図は画像入力装置の構成を示したブロック図、第２
図はピックアップコイル４ａおよび４ｂとラインセンサ
２の配置を示した説明図、第３図はピックアップコイル
４ａおよび４ｂによる座標の読取り誤差の検出動作を説
明するための説明図である。 １・・・タブレット盤 ２・・・ラインセンサ ４ａ、４ｂ・・・ピックアップコイル 出願人 株式会社 精 工 舎
図はピックアップコイル４ａおよび４ｂとラインセンサ
２の配置を示した説明図、第３図はピックアップコイル
４ａおよび４ｂによる座標の読取り誤差の検出動作を説
明するための説明図である。 １・・・タブレット盤 ２・・・ラインセンサ ４ａ、４ｂ・・・ピックアップコイル 出願人 株式会社 精 工 舎
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 タブレット盤と、 このタブレット盤上を走査して画像を読み取るラインセ
ンサと、 このラインセンサの上記タブレット盤上の位置を検出す
るための複数のピックアップコイルと、を具備する画像
入力装置を用いて、 上記タブレット盤上において、上記複数のピックアップ
コイルによって検出された各座標に基づいて上記ライン
センサの位置を検出する画像入力方法において、 上記複数のピックアップコイルのうちの１つの中心位置
を上記タブレット盤上に固定して第１の座標を検出し、
つぎにこのピックアップコイルの中心位置を中心として
上記画像読取り装置を所定の角度回転させた後第２の座
標を検出し、上記第１の座標と第２の座標に基づいて、
上記ピックアップコイルの中心位置とこのピックアップ
コイルによる実際の読取り座標との位置関係を算出し、
他のピックアップコイルについても上記と同様の動作に
よってその中心位置と実際の読取り座標との位置関係を
算出し、これらの算出値に基づいて上記ピックアップコ
イルによる読取り座標の誤差を検出することを特徴とす
る画像入力装置の読取り誤差検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14214090A JP2551856B2 (ja) | 1990-05-31 | 1990-05-31 | 画像入力装置の読取り誤差検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14214090A JP2551856B2 (ja) | 1990-05-31 | 1990-05-31 | 画像入力装置の読取り誤差検出方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0435568A true JPH0435568A (ja) | 1992-02-06 |
| JP2551856B2 JP2551856B2 (ja) | 1996-11-06 |
Family
ID=15308298
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14214090A Expired - Fee Related JP2551856B2 (ja) | 1990-05-31 | 1990-05-31 | 画像入力装置の読取り誤差検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2551856B2 (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63254855A (ja) * | 1987-04-10 | 1988-10-21 | Fujitsu Ltd | 走査歪補正方式 |
-
1990
- 1990-05-31 JP JP14214090A patent/JP2551856B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63254855A (ja) * | 1987-04-10 | 1988-10-21 | Fujitsu Ltd | 走査歪補正方式 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2551856B2 (ja) | 1996-11-06 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |