JPH04357444A - プリント基板の検査装置 - Google Patents
プリント基板の検査装置Info
- Publication number
- JPH04357444A JPH04357444A JP3160101A JP16010191A JPH04357444A JP H04357444 A JPH04357444 A JP H04357444A JP 3160101 A JP3160101 A JP 3160101A JP 16010191 A JP16010191 A JP 16010191A JP H04357444 A JPH04357444 A JP H04357444A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- image
- printed circuit
- circuit board
- inspection
- board
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Closed-Circuit Television Systems (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、プリント基板の検査
装置に係り、特にプリント基板の導体の配線状況を検査
するための検査装置に関する。
装置に係り、特にプリント基板の導体の配線状況を検査
するための検査装置に関する。
【０００２】
【従来技術】従来、プリント基板の導体の配線状態の検
査は、目視検査あるいは電気的な検査によって行ってい
た。前者においては作業者の養成、確保が容易でなく、
また検査精度の安定性、速度に欠けるという問題があっ
た。また後者においては、半製品状態で検査を行うため
には、治具、検査プログラムの作成等の作業が必要であ
り、製品に近い状態での検査は、不良品の補修作業のコ
ストが大となる。
査は、目視検査あるいは電気的な検査によって行ってい
た。前者においては作業者の養成、確保が容易でなく、
また検査精度の安定性、速度に欠けるという問題があっ
た。また後者においては、半製品状態で検査を行うため
には、治具、検査プログラムの作成等の作業が必要であ
り、製品に近い状態での検査は、不良品の補修作業のコ
ストが大となる。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】この発明はこのような
従来の問題点を解消すべく創案されたもので、省力化、
検査制度の向上、および補修作業の容易化を可能にする
、プリント基板の検査装置を提供することを目的とする
。
従来の問題点を解消すべく創案されたもので、省力化、
検査制度の向上、および補修作業の容易化を可能にする
、プリント基板の検査装置を提供することを目的とする
。
【０００４】
【課題を解決する手段】この発明に係るプリント基板の
検査装置は、適正に導体の配線が行われた基板と、被検
査基板とを画像として比較し、両者の一致度に基づいて
被検査基板の良否を判定するものである。この発明に係
る検査装置によれば、目視検査や電気的な検査は一切不
要となる。
検査装置は、適正に導体の配線が行われた基板と、被検
査基板とを画像として比較し、両者の一致度に基づいて
被検査基板の良否を判定するものである。この発明に係
る検査装置によれば、目視検査や電気的な検査は一切不
要となる。
【０００５】
【実施例】次に、この発明に係る検査装置の１実施例を
図１及び図２に基づいて説明する。図１において、検査
装置は入力系であるビデオカメラ１、画像処理部２、端
末装置３及び出力系である表示装置４から構成されてい
る。画像処理部２は、さらに、制御回路２０１、中央処
理装置２０２、前処理回路２０３、メモリ２０４及び基
準値メモリ２０５から成る。
図１及び図２に基づいて説明する。図１において、検査
装置は入力系であるビデオカメラ１、画像処理部２、端
末装置３及び出力系である表示装置４から構成されてい
る。画像処理部２は、さらに、制御回路２０１、中央処
理装置２０２、前処理回路２０３、メモリ２０４及び基
準値メモリ２０５から成る。
【０００６】まず、適正に導体の配線が行われた基準プ
リント基板の画像をカメラ１を通じて取り込み、前処理
回路でノイズ処理を行う。ノイズ処理された画像に、中
央処理装置で２値化および細線化処理を施す。そして、
その細線化画像を基準値メモリに格納する。次に、被検
査プリント基板の画像に対しても同様に、ノイズ処理、
２値化、細線化を施し、細線化画像をメモリに格納する
。そして、被検査プリント基板の細線化画像と、既に基
準値メモリに格納されている基準プリント基板の細線化
画像とのパターンマッチングを中央処理装置で行う。 即ち、中央処理装置は比較回路としての機能を有する。
リント基板の画像をカメラ１を通じて取り込み、前処理
回路でノイズ処理を行う。ノイズ処理された画像に、中
央処理装置で２値化および細線化処理を施す。そして、
その細線化画像を基準値メモリに格納する。次に、被検
査プリント基板の画像に対しても同様に、ノイズ処理、
２値化、細線化を施し、細線化画像をメモリに格納する
。そして、被検査プリント基板の細線化画像と、既に基
準値メモリに格納されている基準プリント基板の細線化
画像とのパターンマッチングを中央処理装置で行う。 即ち、中央処理装置は比較回路としての機能を有する。
【０００７】細線化画像は、各図形が１画素幅に狭めら
れるため、導体パターンのように細長い形状の図形は、
その延在方向の特徴が強調される。すなわち、切れのあ
る導体パターンは、単なる２値画像ではわずかな面積変
化が生じるだけであるが、細線化画像ではその切れの部
分が拡大された上で、長さの変化として現われる。した
がって、導体パターンの欠陥の検出が容易となる。これ
はパターンの不適正な接合についても同様であり、分離
すべき正規のパターンは、細線化によって間隔が拡大さ
れ、不良パターンとの差が顕著になる。なお、比較的顕
著な不良については、必ずしも細線化を行う必要はなく
、多値画像あるいは２値画像のパターンマッチングによ
る一致度算出によって充分な不良判定を行い得る。
れるため、導体パターンのように細長い形状の図形は、
その延在方向の特徴が強調される。すなわち、切れのあ
る導体パターンは、単なる２値画像ではわずかな面積変
化が生じるだけであるが、細線化画像ではその切れの部
分が拡大された上で、長さの変化として現われる。した
がって、導体パターンの欠陥の検出が容易となる。これ
はパターンの不適正な接合についても同様であり、分離
すべき正規のパターンは、細線化によって間隔が拡大さ
れ、不良パターンとの差が顕著になる。なお、比較的顕
著な不良については、必ずしも細線化を行う必要はなく
、多値画像あるいは２値画像のパターンマッチングによ
る一致度算出によって充分な不良判定を行い得る。
【０００８】これにより、図２に示すように、導体の配
線間違い（ａ）、不適正な配線接合（ｂ）および配線切
れ（ｃ）等の部分は、基準プリント基板の細線化画像と
マッチングせず、不良プリント基板として判断されるこ
とになる。これら画像処理部２で行われる処理は、コン
ピュータ等の端末装置を通じて指示され、算出した結果
はインターフェイスを介して表示部４に出力され、被検
査プリント基板の良否を判定する。このように画像デー
タの処理による導体配線の適否判定を行えば、高速の検
査が可能であり、省力化も実現し得る。
線間違い（ａ）、不適正な配線接合（ｂ）および配線切
れ（ｃ）等の部分は、基準プリント基板の細線化画像と
マッチングせず、不良プリント基板として判断されるこ
とになる。これら画像処理部２で行われる処理は、コン
ピュータ等の端末装置を通じて指示され、算出した結果
はインターフェイスを介して表示部４に出力され、被検
査プリント基板の良否を判定する。このように画像デー
タの処理による導体配線の適否判定を行えば、高速の検
査が可能であり、省力化も実現し得る。
【０００９】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、プリント
基板の良否検査において、省力化、検査精度の向上、お
よび補修作業を容易化し得る装置を提供するという効果
を得られる。
基板の良否検査において、省力化、検査精度の向上、お
よび補修作業を容易化し得る装置を提供するという効果
を得られる。
【図１】本発明の構成を示すブロック図である。
【図２】基準プリント基板と不良品である被検査プリン
ト基板の細線化画像を説明するための図である。
ト基板の細線化画像を説明するための図である。
Claims (2)
- 【請求項１】 適正に導体の配線がなされたプリント
基板の画像を基準基板として登録する第１のメモリと、
検査対象となるプリント基板の画像を取込む入力装置と
、この入力装置で取込まれた画像を前処理する前処理回
路と、この前処理回路で処理された画像を保持する第２
のメモリと、第１、第２のメモリの画像を比較し両者の
一致度を求める比較回路と、この比較回路の出力に基づ
いて検査結果を表示する表示装置とを備えているプリン
ト基板の検査装置。 - 【請求項２】 画像を細線化し、細線化画像の一致度
を求めることを特徴とする請求項１記載のプリント基板
の検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3160101A JPH04357444A (ja) | 1991-06-03 | 1991-06-03 | プリント基板の検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3160101A JPH04357444A (ja) | 1991-06-03 | 1991-06-03 | プリント基板の検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04357444A true JPH04357444A (ja) | 1992-12-10 |
Family
ID=15707876
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3160101A Pending JPH04357444A (ja) | 1991-06-03 | 1991-06-03 | プリント基板の検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04357444A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1999059104A1 (en) * | 1998-05-12 | 1999-11-18 | Omron Corporation | Model registration assisting method, model registration assisting device using the method, and image processor |
| CN106140650A (zh) * | 2015-04-21 | 2016-11-23 | 凯吉凯精密电子技术开发（苏州）有限公司 | 电路板检测预处理方法及其装置 |
| CN106153639A (zh) * | 2015-04-21 | 2016-11-23 | 凯吉凯精密电子技术开发（苏州）有限公司 | 基于人工智能的电路板检测方法及其检测装置 |
-
1991
- 1991-06-03 JP JP3160101A patent/JPH04357444A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1999059104A1 (en) * | 1998-05-12 | 1999-11-18 | Omron Corporation | Model registration assisting method, model registration assisting device using the method, and image processor |
| US6763131B1 (en) | 1998-05-12 | 2004-07-13 | Omron Corporation | Model registration method and image processing apparatus |
| CN106140650A (zh) * | 2015-04-21 | 2016-11-23 | 凯吉凯精密电子技术开发（苏州）有限公司 | 电路板检测预处理方法及其装置 |
| CN106153639A (zh) * | 2015-04-21 | 2016-11-23 | 凯吉凯精密电子技术开发（苏州）有限公司 | 基于人工智能的电路板检测方法及其检测装置 |
| CN106140650B (zh) * | 2015-04-21 | 2018-07-20 | 国际技术开发株式会社 | 电路板检测预处理方法及其装置 |
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