JPH05302821A - プリント基板の検査装置 - Google Patents

プリント基板の検査装置

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Publication number
JPH05302821A
JPH05302821A JP3074088A JP7408891A JPH05302821A JP H05302821 A JPH05302821 A JP H05302821A JP 3074088 A JP3074088 A JP 3074088A JP 7408891 A JP7408891 A JP 7408891A JP H05302821 A JPH05302821 A JP H05302821A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
image
circuit board
printed circuit
inspection
memory
Prior art date
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Pending
Application number
JP3074088A
Other languages
English (en)
Inventor
Hisao Yamasato
久雄 山里
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ezel Inc
Sharp Corp
Original Assignee
Ezel Inc
Sharp Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Ezel Inc, Sharp Corp filed Critical Ezel Inc
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Publication of JPH05302821A publication Critical patent/JPH05302821A/ja
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  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
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Abstract

(57)【要約】 〔目的〕プリント基板の検査において、検査労力の省力
化、検査精度の向上、および補修作業の容易化を可能に
することを目的とする。 〔構成〕適正にパーツが装着されたプリント基板の画像
を基準基板として登録する第1のメモリと、検査対象と
なるプリント基板の画像を取り込む入力装置と、この入
力装置で取り込まれた画像を前処理する前処理回路と、
この前処理回路で処理された画像を保持する第2のメモ
リと、第1、第2のメモリの画像を比較し両者の一致度
を求める比較回路と、この比較回路の出力に基づいて検
査結果を表示する表示装置とを備えていることを特徴と
する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、プリント基板の検査
装置に係り、特にプリント基板のパーツ装着状況を検査
するための検査装置に関する。
【0002】
【従来技術】従来、プリント基板のパーツ装着状態の検
査は、目視検査あるいは電気的な検査によって行ってい
た。前者においては作業者の養成、確保が容易でなく、
また検査精度の安定性、速度に欠けるという問題があっ
た。また後者においては、半製品状態で検査を行うため
には、治具、検査プログラムの作成等の作業が必要であ
り、製品に近い状態での検査は、不良品の補修作業のコ
ストが大となる。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】この発明はこのような
従来の問題点を解消すべく創案されたもので、省力化、
検査制度の向上、および補修作業の容易化を可能にす
る、プリント基板の検査装置を提供することを目的とす
る。
【0004】
【課題を解決する手段】この発明に係るプリント基板の
検査装置は、適性にパーツ装着が行われた基板と、被検
査基板とを画像として比較し、両者の一致度に基づいて
被検査基板の良否を判定するものである。この発明に係
る検査装置によれば、目視検査や電気的な検査は一切不
要となる。
【0005】
【実施例】次に、この発明に係る検査装置の1実施例を
図1及び図2に基づいて説明する。図1において、検査
装置は入力系であるビデオカメラ1、画像処理部2、端
末装置3及び出力系である表示装置4から構成されてい
る。画像処理部2は、さらに制御回路201、中央処理
装置202、前処理回路203、メモリ204、基準値
メモリ205及びインターフェイス206から成る
【0006】まず、ステップ101で、明瞭な複数のマ
ーキングが施されたプリント基板の画像がカメラ1を通
じて取り込まれる。次に、ステップ102で、この画像
に対して前処理回路203において微分処理等がなされ
エッジが抽出される。これにより、マーキングの抽出が
確実になされる。ステップ103では、中央処理装置2
02において、抽出されたマーキングが適正位置に取り
込まれているか否かを判断する。
【0007】そして、ステップ104では、マーキング
が適正位置と判断された画像に対して、前処理回路20
3においてノイズ除去を行う。これにより、検査を行う
に適切なプリント基板の画像を得ることが可能となる。
そして、ステップ105では、前処理回路203と接続
しているメモリ204にノイズ処理結果を格納する。
【0008】逆に、マーキングが不適正位置と判断され
た画像については、カメラ1の絞りや撮影アングルを制
御回路201を通じて修正し、適正なマーキング位置が
得られるように撮影条件を設定する。この場合、カメラ
1が正しい位置に設定されるまで、ステップ101から
スッテプ103の処理が繰り返されことになる。あるい
は、そのままの画像を一旦メモリ204に格納し、その
後、マーキングの位置をメモリ204上で修正してもよ
い。
【0009】ステップ101からステップ105の処理
は、まず、適正にパーツ装着が行われたプリント基板に
ついて行われ、その結果は予め基準値メモリ205に格
納されている。
【0010】ステップ106において、既に基準値メモ
リ205に格納されている基準プリント基板の画像と被
検査プリント基板の画像とを中央処理装置202で比較
し、その一致度を算出する。即ち、中央処理装置は比較
回路としての機能を有する。
【0011】ここに一致度としては以下のようなパラメ
ータを採用し得る。 1.2値画像において、同一濃度を有する対応画素の個
数と全画素数の比率。 2.多値画像において濃度差が一定値以下の対応画素の
個数と全画素数の比率。 または、正規化したヒストグラムにおいて、分散の比較
を行ってもよい。
【0012】上記の正規化とは、基準値メモリ205に
登録された画像と被検査画像の画素数の最大値および高
度範囲が等しくなるようにヒストグラムを修正する操作
をいう。
【0013】画像処理部2で行われる処理は、コンピュ
ータ等の端末装置3から指示を受け、ステップ106で
算出した結果をインターフェイス206を介して表示部
4に出力し、ステップ107で、一致度等に基づき被検
査プリント基板の良否を判断する。このように画像デー
タの処理によるパーツ装着の適否判定を行えば、高速の
検査が可能であり、省力化も実現し得る。
【0014】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、プリント
基板の良否検査において、省力化、検査精度の向上、お
よび補修作業を容易化し得る装置を提供するという効果
を得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の構成を示すブロック図である。
【図2】本発明の実施例を説明するフローチャートであ
る。
【符号の説明】 1 カメラ 4 表示装置 202 中央処理装置 203 前処理回路 204 メモリ 205 基準値メモリ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】適正にパーツが装着されたプリント基板の
    画像を基準基板として登録する第1のメモリと、検査対象
    となるプリント基板の画像を取込む入力装置と、この入
    力装置で取込まれた画像を前処理する前処理回路と、こ
    の前処理回路で処理された画像を保持する第2のメモリ
    と、第1、第2のメモリの画像を比較し両者の一致度を
    求める比較回路と、この比較回路の出力に基づいて検査
    結果を表示する表示装置とを備えているプリント基板の
    検査装置。
JP3074088A 1991-03-13 1991-03-13 プリント基板の検査装置 Pending JPH05302821A (ja)

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JP3074088A JPH05302821A (ja) 1991-03-13 1991-03-13 プリント基板の検査装置

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