JPH04367079A - プリント基板の検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は、プリント基板の検査
装置に係り、特にプリント基板上にパーツが適正な方向
に取り付けられているか否かを検査するための検査装置
に関する。

【０００２】

【従来技術】従来、プリント基板にパーツが適正な方向
に取り付けられているか否かの検査は、目視検査あるい
は電気的な検査によって行っていた。前者においては作
業者の養成、確保が容易でなく、また検査精度の安定性
、速度に欠けるという問題があった。また後者において
は、半製品状態で検査を行うためには、治具、検査プロ
グラムの作成等の作業が必要であり、製品に近い状態で
の検査は、不良品の補修作業のコストが大となる。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】この発明はこのような
従来の問題点を解消すべく創案されたもので、省力化、
検査精度の向上、および補修作業の容易化を可能にする
、プリント基板の検査装置を提供することを目的とする
。

【０００４】

【課題を解決する手段】この発明に係るプリント基板の
検査装置は、パーツが適正な方向に取り付けられた基板
と、被検査基板とを画像として比較し、両者の一致度に
基づいて被検査基板の良否を判定するものである。この
発明に係る検査装置によれば、目視検査や電気的な検査
は一切不要となる。

【０００５】

【実施例】次に、この発明に係る検査装置の１実施例を
図１から図５に基づいて説明する。図１において、検査
装置は入力系であるビデオカメラ１、画像処理部２、端
末装置３及び出力系である表示装置４から構成されてい
る。画像処理部２は、さらに、制御回路２０１、中央処
理装置２０２、前処理回路２０３、メモリ２０４及び基
準値メモリ２０５から成る。

【０００６】図２はプリント基板の１例を示し、複数の
パーツＰ１〜Ｐ５が装着されるとともに基準穴Ｈ１、Ｈ
２が設けられている。検査に先立って、適正に部品が装
着されたプリント基板の画像をカメラ１から取り込み、
取り込んだ画像は一旦メモリ２０４に格納する。この画
像に対して前処理回路２０３においてノイズ処理、２値
化を行い、さらに中央処理装置２０２でラベリングを行
う。

【０００７】ラベリングの結果、各パーツが切り分けら
れ、切り分けられた２値パーツの輪郭によって原画像の
パーツを切り分け、かつ基板全体の画像を生成しておく
。これによって多値のテンプレートが作成され、最大限
の情報量を持ったテンプレートによるパターンマッチン
グが可能になる。このように生成されたテンプレートは
基準値メモリ２０５に格納される。以上の処理は図５の
フローチャートにおけるステップ５０１〜５０６である
。そして、前記基準穴Ｈ１、Ｈ２もラベリングによって
抽出され、この基準穴の座標（例えば中心の座標）を算
出し中央処理装置に登録しておく（ステップ５０７）。

【０００８】検査に際しては、被検査プリント基板の画
像をカメラ１から取り込み、取り込んだ画像は一旦メモ
リ２０４に格納する。この画像に対して前処理回路２０
３においてノイズ処理、２値化を行い、さらに中央処理
装置２０２でラベリングを行う。ここで被検査基板の基
準穴を抽出し、テンプレートの基準穴との位置合わせを
行う。ここでボード全体についてテンプレートとの一致
度を算出する。以上の処理は図５のフローチャートにお
けるステップ５０８〜５１４である。

【０００９】ここで一致度が所定値以上であるか否かの
判断を行い（ステップ５１５）、所定値未満のときには
被検査基板にマーキングを施す（ステップ５１９）。こ
の検査で合格したボードについては、さらにラベリング
結果に基づくパーツ切り分けを行い（ステップ５１６）
、パーツ毎の一致度算出（ステップ５１７）およびパー
ツごとのマーキングを行う（ステップ５１８）。

【００１０】パーツごとのマーキングにおいては、各パ
ーツの画像間演算を行い、その差を算出する。図３は、
図２のパーツＰ３が逆向きに取り付けられたプリント基
板を示すものであり、誤装着のパーツＰ３をＥＰで表示
している。このＥＰとＰ３とのＥＸ−ＯＲを算出した結
果を図４のＣＲとして示している。ここに、パーツＰ３
の方向を示す指標がＥＰでは完全に逆向きになっている
ので、ＣＲでは指標部分（斜線部Ａ、Ｃ）の論理計算値
は「１」となり、その他の部分（水平ハッチング部Ｂ）
の論理計算値は「０」となる。

【００１１】そして完全一致の場合には、論理計算値は
パーツ全体に渡って「０」となり、これを一致度１００
％とすれば、図４の場合の一致度は、 ｛Ｂ／（Ａ＋Ｂ＋Ｃ）｝Ｘ１００　　　　〔％〕Ａ、Ｂ
、Ｃ：領域Ａ、Ｂ、Ｃの面積 となる。前記パーツごとのマーキングはこのような一致
度の算出と、その一致度に基づく合否判定である。なお
、画像間演算としては減算等も採用可能である。

【００１２】

【発明の効果】以上のように本発明によれば、プリント
基板の良否検査において、省力化、検査精度の向上、お
よび補修作業を容易化し得る装置を提供するという効果
を得られる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の構成を示すブロック図である。

【図２】基準プリント基板の概念図である。

【図３】１個のパーツが誤装着されたプリント基板を示
す概念図である。

【図４】パーツの対比状況を示す概念図である。

【図５】本検査装置の１実施例における処理を示すフロ
ーチャートである。

【符号の説明】

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】　　パーツが適正な方向に取り付けられた
   プリント基板の画像を基準基板として登録する第１のメ
   モリと、検査対象となるプリント基板の画像を取込む入
   力装置と、この入力装置で取込まれた画像を前処理する
   前処理回路と、この前処理回路で処理された画像を保持
   する第２のメモリと、第１、第２のメモリの画像を比較
   し両者の一致度を求める比較回路と、この比較回路の出
   力に基づいて検査結果を表示する表示装置とを備えてい
   るプリント基板の検査装置。
2. 【請求項２】　　第１、第２のメモリの画像をラベリン
   グし、対応グループごとに一致度を算出することを特徴
   とする請求項１記載のプリント基板の検査。