JPH04357620A - 誘電体磁器組成物 - Google Patents
誘電体磁器組成物Info
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- JPH04357620A JPH04357620A JP3130999A JP13099991A JPH04357620A JP H04357620 A JPH04357620 A JP H04357620A JP 3130999 A JP3130999 A JP 3130999A JP 13099991 A JP13099991 A JP 13099991A JP H04357620 A JPH04357620 A JP H04357620A
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- Japan
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- dielectric
- composition
- point
- dielectric constant
- dielectric ceramic
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- Inorganic Insulating Materials (AREA)
- Compositions Of Oxide Ceramics (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は高い誘電率を有しかつ誘
電損失が小さく、さらに絶縁破壊電圧,絶縁抵抗が大き
く、また結晶粒径が小さい誘電体磁器組成物に関するも
のである。
電損失が小さく、さらに絶縁破壊電圧,絶縁抵抗が大き
く、また結晶粒径が小さい誘電体磁器組成物に関するも
のである。
【0002】
【従来の技術】従来から、高い誘電率を有する誘電体磁
器組成物として、BaTiO3にBaO,CaO,Ti
O2,ZrO2などを適当量添加したものが知られてい
る。
器組成物として、BaTiO3にBaO,CaO,Ti
O2,ZrO2などを適当量添加したものが知られてい
る。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかし、これらの誘電
体磁器組成物は結晶粒径が10〜20μmと大きく、気
孔率も高いため、積層セラミックコンデンサのように誘
電体厚みが薄い製品への応用は、誘電損失が大きくなる
、絶縁破壊電圧が低い、外部電極を形成するメッキ処理
時の絶縁破壊電圧および絶縁抵抗が低下するなどの課題
があった。
体磁器組成物は結晶粒径が10〜20μmと大きく、気
孔率も高いため、積層セラミックコンデンサのように誘
電体厚みが薄い製品への応用は、誘電損失が大きくなる
、絶縁破壊電圧が低い、外部電極を形成するメッキ処理
時の絶縁破壊電圧および絶縁抵抗が低下するなどの課題
があった。
【0004】
【課題を解決するための手段】これらの課題を解決する
ために本発明の誘電体磁器組成物は、一般式としてxB
aO・yTiO2・zCeO2で表され、式中のバリウ
ム酸化物(BaO)をストロンチウム酸化物(SrO)
またはカルシウム酸化物(CaO)で置換し、その置換
率mがストロンチウム酸化物(SrO)で0.005≦
m≦0.100、カルシウム酸化物(CaO)で0.0
05≦m≦0.200の範囲にある組成を有し、かつx
,yおよびzはモル比を表し、x+y+z=1でx,y
,zの値が、 aはx=0.430、y=0.525、z=0.045
、 bはx=0.475、y=0.490、z=0.035
、 cはx=0.490、y=0.505、z=0.005
、 dはx=0.450、y=0.545、z=0.005
、 で示すa,b,c,dで囲まれるモル比の範囲にある組
成を有するものである。また、上記組成を主成分とし、
副成分としてニオブがNb2O5の形に換算して0.3
〜3.0重量部添加されてなることを特徴とする誘電体
磁器組成物を提供するものである。
ために本発明の誘電体磁器組成物は、一般式としてxB
aO・yTiO2・zCeO2で表され、式中のバリウ
ム酸化物(BaO)をストロンチウム酸化物(SrO)
またはカルシウム酸化物(CaO)で置換し、その置換
率mがストロンチウム酸化物(SrO)で0.005≦
m≦0.100、カルシウム酸化物(CaO)で0.0
05≦m≦0.200の範囲にある組成を有し、かつx
,yおよびzはモル比を表し、x+y+z=1でx,y
,zの値が、 aはx=0.430、y=0.525、z=0.045
、 bはx=0.475、y=0.490、z=0.035
、 cはx=0.490、y=0.505、z=0.005
、 dはx=0.450、y=0.545、z=0.005
、 で示すa,b,c,dで囲まれるモル比の範囲にある組
成を有するものである。また、上記組成を主成分とし、
副成分としてニオブがNb2O5の形に換算して0.3
〜3.0重量部添加されてなることを特徴とする誘電体
磁器組成物を提供するものである。
【0005】
【作用】この構成により、BaOをSrOで置換するこ
とにより、誘電損失を小さくし、静電容量と絶縁抵抗の
積(CR積)を大きくすることとなる。また、BaOを
CaOで置換することにより、誘電損失を小さくするこ
ととなる。さらに、副成分としてニオブを添加すること
により、CR積と絶縁破壊強度を大きくすることとなる
。さらにまた、これらの構成により、結晶粒径を小さく
することとなる。
とにより、誘電損失を小さくし、静電容量と絶縁抵抗の
積(CR積)を大きくすることとなる。また、BaOを
CaOで置換することにより、誘電損失を小さくするこ
ととなる。さらに、副成分としてニオブを添加すること
により、CR積と絶縁破壊強度を大きくすることとなる
。さらにまた、これらの構成により、結晶粒径を小さく
することとなる。
【0006】
(実施例1)出発原料には化学的に高純度のBaCO3
,SrCO3,TiO2,CeO2および焼結助剤とし
てのMnO2粉末を下記の(表1)に示す組成比になる
ように秤量し、めのうボールを備えたゴム内張りのボー
ルミルに純水とともに入れ、湿式混合後、脱水乾燥した
。この乾燥粉末を高アルミナ質のルツボに入れ、空気中
で1100℃にて2時間仮焼した。この仮焼粉末を、め
のうボールを備えたゴム内張りのボールミルに純水とと
もに入れ、湿式粉砕後、脱水乾燥した。この粉砕粉末に
、有機バインダーを加え、均質とした後、32メッシュ
のふるいを通して整粒し、金型と油圧プレスを用いて成
形圧力1t/cm2で直径15mm,厚み0.4mmに
成形した。次いで、この得られた成形円板をジルコニア
粉末を敷いたアルミナ質のサヤに入れ、空気中にて(表
1)に示す焼成温度で2時間焼成し、(表1)に示す組
成比の誘電体磁器円板を得た。
,SrCO3,TiO2,CeO2および焼結助剤とし
てのMnO2粉末を下記の(表1)に示す組成比になる
ように秤量し、めのうボールを備えたゴム内張りのボー
ルミルに純水とともに入れ、湿式混合後、脱水乾燥した
。この乾燥粉末を高アルミナ質のルツボに入れ、空気中
で1100℃にて2時間仮焼した。この仮焼粉末を、め
のうボールを備えたゴム内張りのボールミルに純水とと
もに入れ、湿式粉砕後、脱水乾燥した。この粉砕粉末に
、有機バインダーを加え、均質とした後、32メッシュ
のふるいを通して整粒し、金型と油圧プレスを用いて成
形圧力1t/cm2で直径15mm,厚み0.4mmに
成形した。次いで、この得られた成形円板をジルコニア
粉末を敷いたアルミナ質のサヤに入れ、空気中にて(表
1)に示す焼成温度で2時間焼成し、(表1)に示す組
成比の誘電体磁器円板を得た。
【0007】
【表1】
【0008】このようにして得られた誘電体磁器円板は
、厚みと直径を測定し、誘電率,誘電損失,静電容量温
度特性測定用試料は、誘電体磁器円板の両面全体に銀電
極を焼き付け、絶縁破壊電圧および絶縁抵抗測定用試料
は、誘電体磁器円板の外周より内側に1mmの幅で銀電
圧のない部分を設け、銀電極を焼き付けた。そして、誘
電率,誘電損失,静電容量温度特性は、横河・ヒューレ
ット・パッカード(株)製デジタルLCRメータのモデ
ル4274Aを使用し、測定温度20℃,測定電圧1V
rms,測定周波数1KHzでの測定より求めた。
、厚みと直径を測定し、誘電率,誘電損失,静電容量温
度特性測定用試料は、誘電体磁器円板の両面全体に銀電
極を焼き付け、絶縁破壊電圧および絶縁抵抗測定用試料
は、誘電体磁器円板の外周より内側に1mmの幅で銀電
圧のない部分を設け、銀電極を焼き付けた。そして、誘
電率,誘電損失,静電容量温度特性は、横河・ヒューレ
ット・パッカード(株)製デジタルLCRメータのモデ
ル4274Aを使用し、測定温度20℃,測定電圧1V
rms,測定周波数1KHzでの測定より求めた。
【0009】なお、静電容量温度変化率は、20℃を基
準温度とし、−25℃〜+85℃の温度範囲内で適当に
選んだ測定温度における静電容量との変化率で表わすこ
ととし、変化率は次式より求めた。
準温度とし、−25℃〜+85℃の温度範囲内で適当に
選んだ測定温度における静電容量との変化率で表わすこ
ととし、変化率は次式より求めた。
【0010】dC=(CT−Co)/Co×100dC
:静電容量温度変化率(%) CT:T℃での静電容量(pF) Co:20℃での静電容量(pF) そして、誘電率は次式より求めた。
:静電容量温度変化率(%) CT:T℃での静電容量(pF) Co:20℃での静電容量(pF) そして、誘電率は次式より求めた。
【0011】K=143.8×Co×t/D2K:誘電
率 Co:20℃での静電容量(pF) D:誘電体磁器円板の直径(mm) t:誘電体磁器円板の厚み(mm) また、絶縁破壊電圧は菊水電子工業(株)製の高圧直流
電源PHS35K−3形を使用し、試料をシリコンオイ
ル中に入れ、昇圧速度50V/sにより測定し、次式よ
り誘電体1mm当たりの絶縁破壊強度として求めた。
率 Co:20℃での静電容量(pF) D:誘電体磁器円板の直径(mm) t:誘電体磁器円板の厚み(mm) また、絶縁破壊電圧は菊水電子工業(株)製の高圧直流
電源PHS35K−3形を使用し、試料をシリコンオイ
ル中に入れ、昇圧速度50V/sにより測定し、次式よ
り誘電体1mm当たりの絶縁破壊強度として求めた。
【0012】B1=B0/t
B1:絶縁破壊強度(kV/mm)
B0:絶縁破壊電圧(kV)
さらに、絶縁抵抗は、タケダ理研(株)製の高抵抗計を
使用し、測定電圧50V.DC、測定時間1分間による
測定より求め、CR積として次式より求めた。
使用し、測定電圧50V.DC、測定時間1分間による
測定より求め、CR積として次式より求めた。
【0013】CR=C0×R0/1012CR:CR積
(MΩ・μF) C0:20℃での静電容量(F) R0:絶縁抵抗(Ω) さらにまた、結晶粒径は、倍率400での光学顕微鏡観
察より求めた。
(MΩ・μF) C0:20℃での静電容量(F) R0:絶縁抵抗(Ω) さらにまた、結晶粒径は、倍率400での光学顕微鏡観
察より求めた。
【0014】上記測定結果を試料番号1〜10別に(表
2)に示す。
2)に示す。
【0015】
【表2】
【0016】また図1は本発明にかかる主成分の組成範
囲を示す三元図であり、主成分の組成範囲を限定した理
由を図1を参照しながら説明する。すなわち、A領域で
は誘電率が小さく、実用的でなくなる。また、B領域で
はキュリー点がマイナス側に大きくなりすぎ、温度特性
の静電容量温度変化率がプラス側に大きくはずれ実用的
でなくなる。さらに、C領域では焼結が著しく困難であ
る。さらにまた、D領域では誘電率が小さく、実用的で
なくなる。
囲を示す三元図であり、主成分の組成範囲を限定した理
由を図1を参照しながら説明する。すなわち、A領域で
は誘電率が小さく、実用的でなくなる。また、B領域で
はキュリー点がマイナス側に大きくなりすぎ、温度特性
の静電容量温度変化率がプラス側に大きくはずれ実用的
でなくなる。さらに、C領域では焼結が著しく困難であ
る。さらにまた、D領域では誘電率が小さく、実用的で
なくなる。
【0017】また、BaOをSrOで置換することによ
り、誘電率,絶縁破壊電圧を大きく変えることなしに誘
電損失を小さくし、静電容量と絶縁抵抗の積(CR積)
を大きくする効果を有しているが、その置換率mが0.
005未満では効果はなく、一方0.100を超えると
誘電率が低下し実用的でなくなる。
り、誘電率,絶縁破壊電圧を大きく変えることなしに誘
電損失を小さくし、静電容量と絶縁抵抗の積(CR積)
を大きくする効果を有しているが、その置換率mが0.
005未満では効果はなく、一方0.100を超えると
誘電率が低下し実用的でなくなる。
【0018】さらに、結晶粒径を5〜10μmと小さく
することができる。 (実施例2)実施例1の原料の中で高純度のSrCO3
粉末に代えて、高純度のCaCO3粉末を用いて下記の
(表3)示す組成比になるように秤量し、以降の工程を
実施例1と同様に処理して(表3)の試料番号11〜2
0に示す組成比の誘電体磁器円板を得、実施例1と同様
に処理して電気特性および結晶粒径を測定した結果を試
料番号11〜20別に(表4)に示す。
することができる。 (実施例2)実施例1の原料の中で高純度のSrCO3
粉末に代えて、高純度のCaCO3粉末を用いて下記の
(表3)示す組成比になるように秤量し、以降の工程を
実施例1と同様に処理して(表3)の試料番号11〜2
0に示す組成比の誘電体磁器円板を得、実施例1と同様
に処理して電気特性および結晶粒径を測定した結果を試
料番号11〜20別に(表4)に示す。
【0019】
【表3】
【0020】
【表4】
【0021】また、図2は本発明にかかる主成分の組成
範囲を示す三元図であり、主成分の組成範囲を限定した
理由を図2を参照しながら説明する。すなわち、A領域
では誘電率が小さく、実用的でなくなる。また、B領域
ではキュリー点がマイナス側に大きくなりすぎ、温度特
性の静電容量温度変化率がプラス側に大きくはずれ実用
的でなくなる。さらに、C領域では焼結が著しく困難で
ある。さらにまた、D領域では誘電率が小さく、実用的
でなくなる。
範囲を示す三元図であり、主成分の組成範囲を限定した
理由を図2を参照しながら説明する。すなわち、A領域
では誘電率が小さく、実用的でなくなる。また、B領域
ではキュリー点がマイナス側に大きくなりすぎ、温度特
性の静電容量温度変化率がプラス側に大きくはずれ実用
的でなくなる。さらに、C領域では焼結が著しく困難で
ある。さらにまた、D領域では誘電率が小さく、実用的
でなくなる。
【0022】また、BaOをCaOで置換することによ
り、誘電率,絶縁破壊電圧およびCR積を大きく変える
ことなしに誘電損失を小さくする効果を有しているが、
その置換率mが0.005未満では効果はなく、一方0
.200を超えると焼結性が悪くなり、誘電率が低下し
実用的でなくなる。
り、誘電率,絶縁破壊電圧およびCR積を大きく変える
ことなしに誘電損失を小さくする効果を有しているが、
その置換率mが0.005未満では効果はなく、一方0
.200を超えると焼結性が悪くなり、誘電率が低下し
実用的でなくなる。
【0023】さらに、結晶粒径を5〜10μmと小さく
することができる。 (実施例3)実施例1に示す原料に高純度のNb2O5
粉末を加えて、下記の(表5)に示す組成比になるよう
に秤量し、以降の工程を実施例1と同様に処理して(表
5)の試料番号21〜30に示す組成比の誘電体磁器組
成物を得、実施例1と同様に処理して電気特性および結
晶粒径を測定した結果を試料番号21〜30別に(表6
)に示す。
することができる。 (実施例3)実施例1に示す原料に高純度のNb2O5
粉末を加えて、下記の(表5)に示す組成比になるよう
に秤量し、以降の工程を実施例1と同様に処理して(表
5)の試料番号21〜30に示す組成比の誘電体磁器組
成物を得、実施例1と同様に処理して電気特性および結
晶粒径を測定した結果を試料番号21〜30別に(表6
)に示す。
【0024】
【表5】
【0025】
【表6】
【0026】ここで主成分の組成範囲を限定した理由は
実施例1と同様であるので説明は省略する。そして、主
成分に対し、副成分としてのNb2O5を含有すること
により静電容量と絶縁抵抗の積(CR積)と絶縁破壊電
圧を向上させる効果を有しているが、その含有量が主成
分100重量部に対し、0.3重量部未満では含有効果
はなく、一方3.0重量部を超えるとキュリー点がマイ
ナス側にずれ、誘電率を低下させ実用的でなくなる。
実施例1と同様であるので説明は省略する。そして、主
成分に対し、副成分としてのNb2O5を含有すること
により静電容量と絶縁抵抗の積(CR積)と絶縁破壊電
圧を向上させる効果を有しているが、その含有量が主成
分100重量部に対し、0.3重量部未満では含有効果
はなく、一方3.0重量部を超えるとキュリー点がマイ
ナス側にずれ、誘電率を低下させ実用的でなくなる。
【0027】また、結晶粒径を3〜8μmと小さくする
ことができる。 (実施例4)実施例2に示す原料に高純度のNb2O5
粉末を加えて、下記の(表7)に示す組成比になるよう
に秤量し、以降の工程を実施例1と同様に処理して(表
7)の試料番号31〜40に示す組成比の誘電体磁器円
板を得、実施例1と同様に処理して電気特性および結晶
粒径を測定した結果を試料番号31〜40別に(表8)
に示す。
ことができる。 (実施例4)実施例2に示す原料に高純度のNb2O5
粉末を加えて、下記の(表7)に示す組成比になるよう
に秤量し、以降の工程を実施例1と同様に処理して(表
7)の試料番号31〜40に示す組成比の誘電体磁器円
板を得、実施例1と同様に処理して電気特性および結晶
粒径を測定した結果を試料番号31〜40別に(表8)
に示す。
【0028】
【表7】
【0029】
【表8】
【0030】ここで主成分の組成範囲を限定した理由は
実施例2と同様であるので説明は省略する。そして、主
成分に対し、副成分としてのNb2O5を含有すること
により静電容量と絶縁抵抗の積(CR積)と絶縁破壊電
圧を向上させる効果を有しているが、その含有量が主成
分100重量部に対し、0.3重量部未満では含有効果
はなく、一方3.0重量部を超えるとキュリー点がマイ
ナス側にずれ、誘電率を低下させ実用的でなくなる。
実施例2と同様であるので説明は省略する。そして、主
成分に対し、副成分としてのNb2O5を含有すること
により静電容量と絶縁抵抗の積(CR積)と絶縁破壊電
圧を向上させる効果を有しているが、その含有量が主成
分100重量部に対し、0.3重量部未満では含有効果
はなく、一方3.0重量部を超えるとキュリー点がマイ
ナス側にずれ、誘電率を低下させ実用的でなくなる。
【0031】また、結晶粒径を3〜8μmと小さくする
ことができる。なお、上記実施例における誘電体磁器組
成物の作製方法では、BaCO3,SrCO3,CaC
O3,TiO2,CeO2,Nb2O5およびMnO2
を使用したが、この方法に限定されるものではなく、所
望の組成比になるようにBaTiO3などの化合物、あ
るいは炭酸塩,水酸化物など空気中での加熱により、B
aO,SrO,CaO,TiO2,CeO2,Nb2O
5およびMnO2となる化合物を使用しても実施例と同
程度の特性を得ることができる。
ことができる。なお、上記実施例における誘電体磁器組
成物の作製方法では、BaCO3,SrCO3,CaC
O3,TiO2,CeO2,Nb2O5およびMnO2
を使用したが、この方法に限定されるものではなく、所
望の組成比になるようにBaTiO3などの化合物、あ
るいは炭酸塩,水酸化物など空気中での加熱により、B
aO,SrO,CaO,TiO2,CeO2,Nb2O
5およびMnO2となる化合物を使用しても実施例と同
程度の特性を得ることができる。
【0032】また、一般に使用されている工業用BaT
iO3のBa/Ti比は0.98以上であり、BaTi
O3を出発原料として使用した場合、不足分のBaOま
たはTiO2を添加しても実施例と同程度の特性を得る
ことができる。
iO3のBa/Ti比は0.98以上であり、BaTi
O3を出発原料として使用した場合、不足分のBaOま
たはTiO2を添加しても実施例と同程度の特性を得る
ことができる。
【0033】さらに、主成分をあらかじめ仮焼し、副成
分を添加しても実施例と同程度の特性を得ることができ
る。
分を添加しても実施例と同程度の特性を得ることができ
る。
【0034】さらにまた、誘電体磁器用として一般に使
用される工業用原料の二酸化チタン、例えばチタン工業
(株)製二酸化チタンKA−10、古河鉱業(株)製二
酸化チタンFA−55Wには最大0.45重量%のNb
2O5が含まれるが、これらの二酸化チタンを使用して
主成分の誘電体磁器を作成しても主成分100重量%に
対して、Nb2O5の含有量は最大で0.17重量%で
あり、本発明の範囲外であるが、工業用原料の酸化チタ
ン中のNb2O5量を考慮し、不足分のNb2O5を含
有させることにより、実施例と同程度の特性を得ること
ができる。
用される工業用原料の二酸化チタン、例えばチタン工業
(株)製二酸化チタンKA−10、古河鉱業(株)製二
酸化チタンFA−55Wには最大0.45重量%のNb
2O5が含まれるが、これらの二酸化チタンを使用して
主成分の誘電体磁器を作成しても主成分100重量%に
対して、Nb2O5の含有量は最大で0.17重量%で
あり、本発明の範囲外であるが、工業用原料の酸化チタ
ン中のNb2O5量を考慮し、不足分のNb2O5を含
有させることにより、実施例と同程度の特性を得ること
ができる。
【0035】そして、上述の基本組成のほかに、MnO
2,ZnO,SiO2,Fe2O3など、一般にフラッ
クスと考えられている塩類,酸化物などを特性を損なわ
ない範囲で加えることもできる。
2,ZnO,SiO2,Fe2O3など、一般にフラッ
クスと考えられている塩類,酸化物などを特性を損なわ
ない範囲で加えることもできる。
【0036】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、高い誘電
率を有しかつ誘電損失が小さく、さらに絶縁破壊電圧,
絶縁抵抗が大きく、また結晶粒径が小さい誘電体磁器が
得られるため誘電体厚みを薄くでき、製品の小型化,大
容量化が可能である。
率を有しかつ誘電損失が小さく、さらに絶縁破壊電圧,
絶縁抵抗が大きく、また結晶粒径が小さい誘電体磁器が
得られるため誘電体厚みを薄くでき、製品の小型化,大
容量化が可能である。
【図1】本発明の一実施例における誘電体磁器組成物の
主成分の組成範囲を示す三元図
主成分の組成範囲を示す三元図
【図2】本発明の他の実施例における誘電体磁器組成物
の主成分の組成範囲を示す三元図
の主成分の組成範囲を示す三元図
Claims (4)
- 【請求項1】一般式としてx[(BaO)(1−m)(
SrO)m]・yTiO2・zCeO2で表され、mの
値が0.005≦m≦0.100の範囲にある組成を有
し、かつx,yおよびzはモル比を表し、x+y+z=
1でx,y,zの値が、 aはx=0.430、y=0.525、z=0.045
、 bはx=0.475、y=0.490、z=0.035
、 cはx=0.490、y=0.505、z=0.005
、 dはx=0.450、y=0.545、z=0.005
、 で示すa,b,c,dで囲まれるモル比の範囲からなる
組成を有することを特徴とする誘電体磁器組成物。 - 【請求項2】ストロンチウム酸化物に代えて、カルシウ
ム酸化物がCaOの形に換算してmの値が0.005≦
m≦0.200の範囲からなる組成を有することを特徴
とする請求項1記載の誘電体磁器組成物。 - 【請求項3】副成分としてニオブがNb2O5の形に換
算して0.3〜3.0重量部添加されてなることを特徴
とする請求項1記載の誘電体磁器組成物。 - 【請求項4】副成分としてニオブがNb2O5の形に換
算して0.3〜3.0重量部添加されてなることを特徴
とする請求項2記載の誘電体磁器組成物。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3130999A JPH04357620A (ja) | 1991-06-03 | 1991-06-03 | 誘電体磁器組成物 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3130999A JPH04357620A (ja) | 1991-06-03 | 1991-06-03 | 誘電体磁器組成物 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04357620A true JPH04357620A (ja) | 1992-12-10 |
Family
ID=15047579
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3130999A Pending JPH04357620A (ja) | 1991-06-03 | 1991-06-03 | 誘電体磁器組成物 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04357620A (ja) |
-
1991
- 1991-06-03 JP JP3130999A patent/JPH04357620A/ja active Pending
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