JPH0435763B2 - - Google Patents
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- JPH0435763B2 JPH0435763B2 JP662783A JP662783A JPH0435763B2 JP H0435763 B2 JPH0435763 B2 JP H0435763B2 JP 662783 A JP662783 A JP 662783A JP 662783 A JP662783 A JP 662783A JP H0435763 B2 JPH0435763 B2 JP H0435763B2
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 4
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 11
- FFBHFFJDDLITSX-UHFFFAOYSA-N benzyl N-[2-hydroxy-4-(3-oxomorpholin-4-yl)phenyl]carbamate Chemical compound OC1=C(NC(=O)OCC2=CC=CC=C2)C=CC(=C1)N1CCOCC1=O FFBHFFJDDLITSX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 3
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- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B13/00—Adaptive control systems, i.e. systems automatically adjusting themselves to have a performance which is optimum according to some preassigned criterion
- G05B13/02—Adaptive control systems, i.e. systems automatically adjusting themselves to have a performance which is optimum according to some preassigned criterion electric
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
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- Evolutionary Computation (AREA)
- Medical Informatics (AREA)
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Automation & Control Theory (AREA)
- Feedback Control In General (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
［発明の属する技術分野］
この発明は閉ループ制御中にプロセスの動特性
を同定して、同定結果に基づいて最適な制御定数
を自動調整する機能を有するサンプル値PID制御
装置に関し、特に操業中のプロセスの特性変化を
検出して自動的に制御定数の再調整を行なうこと
のできるサンプル値PID制御装置に関する。
を同定して、同定結果に基づいて最適な制御定数
を自動調整する機能を有するサンプル値PID制御
装置に関し、特に操業中のプロセスの特性変化を
検出して自動的に制御定数の再調整を行なうこと
のできるサンプル値PID制御装置に関する。
［従来技術とその問題点］
従来のサンプル値PID制御装置は、オートチユ
ーニング機能の再スタート装置がないため、次の
ような問題があつた。さらに、オートチユーニン
グを行なうたびにそれまでのプロセスの制御定数
を消し去るため次のようなむだがあつた。
ーニング機能の再スタート装置がないため、次の
ような問題があつた。さらに、オートチユーニン
グを行なうたびにそれまでのプロセスの制御定数
を消し去るため次のようなむだがあつた。
(1) プロセスの操業中の特性変化を関視する作業
員とレコーダやモニターテレビなどの高価な監
視設備が要る。
員とレコーダやモニターテレビなどの高価な監
視設備が要る。
(2) プロセスの特性変化に気付かないで操業した
場合、製品の品質低下、プラントの効率の低下
安全性の低下があり問題である。
場合、製品の品質低下、プラントの効率の低下
安全性の低下があり問題である。
(3) プロセスの特性変化に気付いても、オートチ
ユーニングをスタートするのに人手をかけるた
め、速やかに調整することができない。さらに
このとき、今までのプロセスに関する情報を全
て消すため、オートチユーニングに必ず一定の
時間のかかるむだがある。
ユーニングをスタートするのに人手をかけるた
め、速やかに調整することができない。さらに
このとき、今までのプロセスに関する情報を全
て消すため、オートチユーニングに必ず一定の
時間のかかるむだがある。
［発明の目的］
本発明は、上記問題点を解決するためになされ
たもので、操業中のプロセスの特性変化のオンラ
イン監視と制御定数の再調整を全自動化して、製
品の品質低下、プラント効率低下、安全性の低下
等のないプラントの操業が行なえ、しかも、人手
を省力化できるサンプル値PID制御装置を提供す
ることを目的とする。
たもので、操業中のプロセスの特性変化のオンラ
イン監視と制御定数の再調整を全自動化して、製
品の品質低下、プラント効率低下、安全性の低下
等のないプラントの操業が行なえ、しかも、人手
を省力化できるサンプル値PID制御装置を提供す
ることを目的とする。
［発明の概要］
本発明は、制御対象となるプロセスをサンプル
値制御するサンプル値PID制御演算部を備え、こ
のサンプル値PID制御演算部で制御される制御ル
ープ内に所定の同定信号を印加し、それに基づい
て前記プロセスの動特性モデルのパラメータを同
定することで前記サンプル値PID制御演算部の制
御定数を自動的に算出してオートチユーニングす
るように構成されてなるサンプル値PID制御装置
において、 過去におけるプロセスの同定終了後の動特性モ
デルのパラメータを各々その時のプロセス特性と
関連付けて記憶する歴史テーブル手段と、 現在のプロセスの同定終了後の動特性モデルの
パラメータとプロセスの操作信号および出力信号
とから、プロセスの現在のモデル誤差を演算する
特性変化検出手段と、 を設け、 この特性変化検出手段で検出されたプロセスの
実際のモデル誤差がしきい値よりも大きいときに
プロセスの現在の特性変化が生じたと判断し、前
記歴史テーブル手段に記憶されている動特性モデ
ルのパラメータを用いて過去のモデル誤差を歴史
モデル誤差として複数演算するとともに、この演
算された複数の歴史モデル誤差の中から、最小の
値の歴史モデル誤差を選択し、この歴史モデル誤
差に対応する前記動特性モデルのパラメータを用
いて前記サンプル値PID制御演算部の制御定数を
調整することを特徴としている。
値制御するサンプル値PID制御演算部を備え、こ
のサンプル値PID制御演算部で制御される制御ル
ープ内に所定の同定信号を印加し、それに基づい
て前記プロセスの動特性モデルのパラメータを同
定することで前記サンプル値PID制御演算部の制
御定数を自動的に算出してオートチユーニングす
るように構成されてなるサンプル値PID制御装置
において、 過去におけるプロセスの同定終了後の動特性モ
デルのパラメータを各々その時のプロセス特性と
関連付けて記憶する歴史テーブル手段と、 現在のプロセスの同定終了後の動特性モデルの
パラメータとプロセスの操作信号および出力信号
とから、プロセスの現在のモデル誤差を演算する
特性変化検出手段と、 を設け、 この特性変化検出手段で検出されたプロセスの
実際のモデル誤差がしきい値よりも大きいときに
プロセスの現在の特性変化が生じたと判断し、前
記歴史テーブル手段に記憶されている動特性モデ
ルのパラメータを用いて過去のモデル誤差を歴史
モデル誤差として複数演算するとともに、この演
算された複数の歴史モデル誤差の中から、最小の
値の歴史モデル誤差を選択し、この歴史モデル誤
差に対応する前記動特性モデルのパラメータを用
いて前記サンプル値PID制御演算部の制御定数を
調整することを特徴としている。
［発明の効果］
本発明のサンプル値PID制御装置の効果を次に
示す。
示す。
(1) プロセスの特性変化の検出を自動的にオンラ
イン監視できるので、人手を省くことができ、
しかも高価な監視装置がいらない。
イン監視できるので、人手を省くことができ、
しかも高価な監視装置がいらない。
(2) プロセスの特性変化を見落しすることがない
ので、製品の高品質、プラントの安全性を常に
保つことができる。
ので、製品の高品質、プラントの安全性を常に
保つことができる。
(3) プロセスの特性が変化した場合、サンプル値
制御装置が今迄に経験したプロセスの状態であ
れば、オートチユーニングすることなく制御定
数を決定するので速やかな調整ができる。
制御装置が今迄に経験したプロセスの状態であ
れば、オートチユーニングすることなく制御定
数を決定するので速やかな調整ができる。
(4) オートチユーニング機能の再スタートが自動
的に行なえるので、全自動化したサンプル値
PID制御装置が提供できる。
的に行なえるので、全自動化したサンプル値
PID制御装置が提供できる。
［本発明の実施例］
本発明の一実施例を第１図を用いて説明する。
第１図は本発明のサンプル値PID制御装置の構成
を示すブロツク図である。
第１図は本発明のサンプル値PID制御装置の構成
を示すブロツク図である。
なお、本発明のサンプル値PID制御装置の前提
となる装置、すなわち、「制御対象となるプロセ
スをサンプル値制御するサンプル値PID制御演算
部を備え、このサンプル値PID制御演算部で制御
される制御ループ内に所定の同定信号を印加し、
それに基づいてプロセスの動特性モデルのパラメ
ータを同定することでサンプル値PID制御演算部
の制御定数を自動的に算出するオートチユーニン
グ機能を備えてなるサンプル値PID制御装置」に
ついては、例えば、特開昭57−39412号公報（特
公昭63−18202号公報）に詳細に記載されている
ため、本願明細書ではその詳細な説明は省略す
る。
となる装置、すなわち、「制御対象となるプロセ
スをサンプル値制御するサンプル値PID制御演算
部を備え、このサンプル値PID制御演算部で制御
される制御ループ内に所定の同定信号を印加し、
それに基づいてプロセスの動特性モデルのパラメ
ータを同定することでサンプル値PID制御演算部
の制御定数を自動的に算出するオートチユーニン
グ機能を備えてなるサンプル値PID制御装置」に
ついては、例えば、特開昭57−39412号公報（特
公昭63−18202号公報）に詳細に記載されている
ため、本願明細書ではその詳細な説明は省略す
る。
制御対象のプロセス１は図のようにサンプル値
制御演算部５と閉ループ系を構成する。図のｒ
（ｔ）は目標値、ｅ（ｔ）は偏差、ｕ（ｔ）は操作
信号、ｙ（ｔ）はプロセス出力、ｄ（ｔ）はプロセ
スの平衡点の変わるような外乱を示している。な
お（ ）の中の文字ｔは実時間の信号を示し、ｋ
はサンプラ４でサンブリングされた信号を示して
いる。操業中のプロセス１はサンプル周期ｋごと
に偏差信号* e(K)の小さくなるようにサンプル値制
御演算部５でPID演算した操作信号Ｕ（ｋ）｛U0
（ｋ）＝Ｕ（ｋ）｝をサンプルホールド２を介して加
えられて制御される。偏差信号ｅ（ｔ）は加算点
３で目標値ｒ（ｔ）とプロセス出力ｙ（ｔ）を加え
て得られる。
制御演算部５と閉ループ系を構成する。図のｒ
（ｔ）は目標値、ｅ（ｔ）は偏差、ｕ（ｔ）は操作
信号、ｙ（ｔ）はプロセス出力、ｄ（ｔ）はプロセ
スの平衡点の変わるような外乱を示している。な
お（ ）の中の文字ｔは実時間の信号を示し、ｋ
はサンプラ４でサンブリングされた信号を示して
いる。操業中のプロセス１はサンプル周期ｋごと
に偏差信号* e(K)の小さくなるようにサンプル値制
御演算部５でPID演算した操作信号Ｕ（ｋ）｛U0
（ｋ）＝Ｕ（ｋ）｝をサンプルホールド２を介して加
えられて制御される。偏差信号ｅ（ｔ）は加算点
３で目標値ｒ（ｔ）とプロセス出力ｙ（ｔ）を加え
て得られる。
次にサンプル値制御演算部５の制御定数を決め
るオートチユーニング機能は、サンプル値制御演
算部５に比例ゲイン、積分時定数、微分時定数の
初期値（Kco，Tio，Tdo）を与え、さらにパル
ス伝達関数同定部９のForgetting Factorλ、お
よび同定信号発生部７の同定信号の振幅を決め
て、サンプル値PID制御装置の各ブロツクに図の
点線のように起動をかける。このとき、プロセス
の入力信号Ｕ，ｋとサンプラ８でサンプリングし
たプロセス出力信号ｙ，ｋを後述するパルス伝達
関数同定部９で時系列処理することにより、Ｚ領
域のパルス伝達関数を演算し、その結果を伝達関
数演算部１０でＳ領域のパルス伝達関数のＳの低
次パラメータから、サンプル値制御定数演算部１
１でPID制御定数を演算して、サンプル値制御演
算部５に設定する。
るオートチユーニング機能は、サンプル値制御演
算部５に比例ゲイン、積分時定数、微分時定数の
初期値（Kco，Tio，Tdo）を与え、さらにパル
ス伝達関数同定部９のForgetting Factorλ、お
よび同定信号発生部７の同定信号の振幅を決め
て、サンプル値PID制御装置の各ブロツクに図の
点線のように起動をかける。このとき、プロセス
の入力信号Ｕ，ｋとサンプラ８でサンプリングし
たプロセス出力信号ｙ，ｋを後述するパルス伝達
関数同定部９で時系列処理することにより、Ｚ領
域のパルス伝達関数を演算し、その結果を伝達関
数演算部１０でＳ領域のパルス伝達関数のＳの低
次パラメータから、サンプル値制御定数演算部１
１でPID制御定数を演算して、サンプル値制御演
算部５に設定する。
このような処理をサンプル周規ｋごとに逐次行
なうことにより、制御対象のプロセスの特性に合
わせた最適な制御定数を決定することができる。
ここで、プロセスの同定が進んでいくに従つて、
Ｓ領域の伝達関数パラメータが一定値になるので
これを同定終了判定部１２で判定してオートチユ
ーニング機能を止める。つまり、同定信号発生部
７からの同定信号υ0，ｋの注入を止める。
なうことにより、制御対象のプロセスの特性に合
わせた最適な制御定数を決定することができる。
ここで、プロセスの同定が進んでいくに従つて、
Ｓ領域の伝達関数パラメータが一定値になるので
これを同定終了判定部１２で判定してオートチユ
ーニング機能を止める。つまり、同定信号発生部
７からの同定信号υ0，ｋの注入を止める。
次に、本発明の操業中のプロセス１の特性変化
を検出する方法と制御定数の再調整の方法を詳細
に説明する。
を検出する方法と制御定数の再調整の方法を詳細
に説明する。
まず、本発明の前提としては、プロセスの平衡
点Ｄ（ｔ）を含めてプロセスを同定するものであ
り、これにはパルス伝達関数同定部９を用いてい
る。パルス伝達関数同定部９のプロセスモデルを
第２図に示す。図のように、プロセスモデル、ノ
イズモデル、および平衡点を変えるような外乱モ
デルを定めている。ここでＵ（ｋ）は操作信号、
εkは白色雑音、Ｄは直流信号、ｙ（ｋ）はプロセ
ス出力とする。
点Ｄ（ｔ）を含めてプロセスを同定するものであ
り、これにはパルス伝達関数同定部９を用いてい
る。パルス伝達関数同定部９のプロセスモデルを
第２図に示す。図のように、プロセスモデル、ノ
イズモデル、および平衡点を変えるような外乱モ
デルを定めている。ここでＵ（ｋ）は操作信号、
εkは白色雑音、Ｄは直流信号、ｙ（ｋ）はプロセ
ス出力とする。
第２図のプロセスモデルの同定は次式のように
して行なうことができる。
して行なうことができる。
Ｙ（ｋ）＝−n
〓i=1
a^iY（ｋ−ｉ）＋n
〓i=1
b^iU（Ｋ−ｉ）＋n
〓i=1
c^iε（ｋ−ｉ）＋ε（ｋ）＋D^ …(1)
Ｄ＝（１＋n
〓i=1
a^i）Yo−n
〓i=1
b^iUo …(2)
ここで、Yoはプロセス出力の平衡点は、Uoは
プロセス入力の平衡点を示す。(1)式を変形して、 Ｙ（ｋ）＝θ^T T（ｋ−１）＋ε（ｋ）…(3) θ^T＝〔a^i，…，a^m，b^1，…，b^m，c^1，…，c^m
，
D^〕 …(4) T（ｋ）＝〔−Ｙ（ｋ−１），…，−Ｙ（ｋ−ｍ）
，
Ｕ（ｋ−ｌ−１），…，Ｕ（ｋ−ｌ−ｍ），ε（ｋ−
１），…，ε（ｋ−ｍ），１〕 …(5) のようにして、同定を行なう。
プロセス入力の平衡点を示す。(1)式を変形して、 Ｙ（ｋ）＝θ^T T（ｋ−１）＋ε（ｋ）…(3) θ^T＝〔a^i，…，a^m，b^1，…，b^m，c^1，…，c^m
，
D^〕 …(4) T（ｋ）＝〔−Ｙ（ｋ−１），…，−Ｙ（ｋ−ｍ）
，
Ｕ（ｋ−ｌ−１），…，Ｕ（ｋ−ｌ−ｍ），ε（ｋ−
１），…，ε（ｋ−ｍ），１〕 …(5) のようにして、同定を行なう。
プロセスのパルス伝達関数G^p（Ｚ）は次のよう
になる。
になる。
サンプル値PID制御定数はパラメータa^i（ｉ＝
１，…，ｍ），b^i（ｉ＝１，…，ｎ） によつて決定する。なお、プロセスの平衡点Ｄも
同定できる。
１，…，ｍ），b^i（ｉ＝１，…，ｎ） によつて決定する。なお、プロセスの平衡点Ｄも
同定できる。
ここで、プロセスの同定終了後はパラメータA^
（Z-1），B^（Z-1），Ｄは既知になり、しかもプロセ
スの特性が変化しないかぎり、あるいはプロセス
の平衡点の変わらないかぎり変化しない。さら
に、｛* y（ｋ）｝，｛* U（ｋ）｝のプロセス出力及び入
力は測定できる。
（Z-1），B^（Z-1），Ｄは既知になり、しかもプロセ
スの特性が変化しないかぎり、あるいはプロセス
の平衡点の変わらないかぎり変化しない。さら
に、｛* y（ｋ）｝，｛* U（ｋ）｝のプロセス出力及び入
力は測定できる。
そこで、同定終了後のA^（Z-1），B^（Z-1），D^と
｛* y（ｋ）｝，｛* U（ｋ）｝を使つて、次のようにモデ
ル誤差（モデルから推定した予測値と実際に観測
された制御量との差に基づいて特性変化を検出す
るためにモデル誤差を定義する。このモデル誤差
は予測残差、同定残差等とも呼ばれているが本明
細書ではモデル誤差と称する。）を演算すること
ができる。
｛* y（ｋ）｝，｛* U（ｋ）｝を使つて、次のようにモデ
ル誤差（モデルから推定した予測値と実際に観測
された制御量との差に基づいて特性変化を検出す
るためにモデル誤差を定義する。このモデル誤差
は予測残差、同定残差等とも呼ばれているが本明
細書ではモデル誤差と称する。）を演算すること
ができる。
η（ｋ）＝−* Y（ｋ）−n
〓i=1
a^i* Y（ｋ−ｉ）＋n
〓i=1
b^i* U
（ｋ−ｉ）＋D^ …(7)
モデル誤差はプロセスの特性が変わらないかぎ
り零であり、プロセスの特性が変わると直流成分
が発生する。
り零であり、プロセスの特性が変わると直流成分
が発生する。
ところで、従来のサンプル値PID制御装置では
オートチユーニングを行なうたびに今までのプロ
セスのパラメータA^（Z-1），B^（Z-1），D^をクリア
していた。
オートチユーニングを行なうたびに今までのプロ
セスのパラメータA^（Z-1），B^（Z-1），D^をクリア
していた。
そこで、本発明のサンプル値PID制御装置で
は、このA^（Z-1），B^（Z-1），D^をオートチユーニ
ングするたびに記憶してモデル誤差を演算する。
は、このA^（Z-1），B^（Z-1），D^をオートチユーニ
ングするたびに記憶してモデル誤差を演算する。
第１図の歴史テーブル１５にサンプル値PID制
御装置が過去に同定したプロセスの同定パラメー
タを順次その時のプロセスの特性と関連付けて記
憶し、この記憶した過去における全てのプロセス
のモデル誤差を特性変化検出部で演算する。この
ようにすると操業中のプロセスの特性の変化があ
つたときに、過去に同じ特性のプロセスを同定し
たことがあれば、歴史テーブル１５に記憶された
過去のプロセスパラメータのうちモデル誤差が零
になるものが存在する。これは、第(8)式に示され
る過去のプメセスは、サンプル周期のｋ倍の時
間、すなわち、ｉ＝１〜ｍステツプの期間の継続
的なモデルを示している。この過去のモデルが現
在のプロセスモデルと比較して一致（任意期間の
継続的な一致）すれば、これらのプロセス同士は
同一モデルといえる。その場合、歴史テーブル１
５に記憶されているプロセスのパラメータを用
い、現在のプロセスの同定テストを別途行うこと
なく制御定数が調整できる。
御装置が過去に同定したプロセスの同定パラメー
タを順次その時のプロセスの特性と関連付けて記
憶し、この記憶した過去における全てのプロセス
のモデル誤差を特性変化検出部で演算する。この
ようにすると操業中のプロセスの特性の変化があ
つたときに、過去に同じ特性のプロセスを同定し
たことがあれば、歴史テーブル１５に記憶された
過去のプロセスパラメータのうちモデル誤差が零
になるものが存在する。これは、第(8)式に示され
る過去のプメセスは、サンプル周期のｋ倍の時
間、すなわち、ｉ＝１〜ｍステツプの期間の継続
的なモデルを示している。この過去のモデルが現
在のプロセスモデルと比較して一致（任意期間の
継続的な一致）すれば、これらのプロセス同士は
同一モデルといえる。その場合、歴史テーブル１
５に記憶されているプロセスのパラメータを用
い、現在のプロセスの同定テストを別途行うこと
なく制御定数が調整できる。
また、歴史テーブル１５に記憶されているプロ
セスのパラメータから求まるモデル誤差が、全て
零とならないときには、過去に現在と同様の特性
のプロセスを同定したことがないものと見なし、
実際に同定テストを行つて制御定数の調整を行う
こともできる。
セスのパラメータから求まるモデル誤差が、全て
零とならないときには、過去に現在と同様の特性
のプロセスを同定したことがないものと見なし、
実際に同定テストを行つて制御定数の調整を行う
こともできる。
以上のように、本発明のサンプル値PID制御装
置はプロセスの同定を行なうに従つて、つまり使
用すればするほどオートチユーニング機能を使用
しないで制御定数の再調整ができるものである。
置はプロセスの同定を行なうに従つて、つまり使
用すればするほどオートチユーニング機能を使用
しないで制御定数の再調整ができるものである。
これは、同一のプロセスの操業条件（つまり特
性変化の原因）に対応して速やかに制御定数の調
整が行なえるので、製品の品質の向上、プラント
効率が向上できるものである。
性変化の原因）に対応して速やかに制御定数の調
整が行なえるので、製品の品質の向上、プラント
効率が向上できるものである。
第１図は本発明のサンプル値PID制御装置の構
成を示すブロツク図、第２図は本発明のサンプル
値PID制御装置で用いたパラメータ同定のプロセ
スモデルの説明図である。 １……プロセス、２……サンプルホールド、５
……サンプル値制御演算部、７……同定信号発生
部、９……パルス伝達関数同定部、１０……伝達
関数演算部、１１……サンプル値制御定数演算
部、１２……固定終了判定部、１３……特性変化
検出部、１４……コントロール部、１５……歴史
テーブル。
成を示すブロツク図、第２図は本発明のサンプル
値PID制御装置で用いたパラメータ同定のプロセ
スモデルの説明図である。 １……プロセス、２……サンプルホールド、５
……サンプル値制御演算部、７……同定信号発生
部、９……パルス伝達関数同定部、１０……伝達
関数演算部、１１……サンプル値制御定数演算
部、１２……固定終了判定部、１３……特性変化
検出部、１４……コントロール部、１５……歴史
テーブル。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 制御対象となるプロセスをサンプル値制御す
るサンプル値PID制御演算部を備え、このサンプ
ル値PID制御演算部で制御される制御ループ内に
所定の同定信号を印加し、それに基づいて前記プ
ロセスの動特性モデルのパラメータを同定するこ
とで前記サンプル値PID制御演算部の制御定数を
自動的に算出してオートチユーニングするように
構成されてなるサンプル値PID制御装置におい
て、 過去におけるプロセスの同定終了後の動特性モ
デルのパラメータを各々その時のプロセス特性と
関連付けて記憶する歴史テーブル手段と、 現在のプロセスの同定終了後の動特性モデルの
パラメータとプロセスの操作信号および出力信号
とから、プロセスの現在のモデル誤差を演算する
特性変化検出手段と、 を設け、 この特性変化検出手段で検出されたプロセスの
実際のモデル誤差がしきい値よりも大きいときに
プロセスの現在の特性変化が生じたと判断し、前
記歴史テーブル手段に記憶されている動特性モデ
ルのパラメータを用いて過去のモデル誤差を歴史
モデル誤差として複数演算するとともに、この演
算された複数の歴史モデル誤差の中から、最小の
値の歴史モデル誤差を選択し、この歴史モデル誤
差に対応する前記動特性モデルのパラメータを用
いて前記サンプル値PID制御演算部の制御定数を
調整することを特徴とするサンプル値PID制御装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP662783A JPS59133606A (ja) | 1983-01-20 | 1983-01-20 | サンプル値ｐｉｄ制御装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP662783A JPS59133606A (ja) | 1983-01-20 | 1983-01-20 | サンプル値ｐｉｄ制御装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59133606A JPS59133606A (ja) | 1984-08-01 |
| JPH0435763B2 true JPH0435763B2 (ja) | 1992-06-12 |
Family
ID=11643594
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP662783A Granted JPS59133606A (ja) | 1983-01-20 | 1983-01-20 | サンプル値ｐｉｄ制御装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59133606A (ja) |
-
1983
- 1983-01-20 JP JP662783A patent/JPS59133606A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS59133606A (ja) | 1984-08-01 |
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